JPS62204436A - 光学式ピツクアツプ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、複屈折を右する基板の複屈折の影響によるＣ
／Ｈの劣化を防止できる光学式ピックアップに関する。

［従来の技術］ 近年、情報に関連する産業の進展が目ざましく、取扱わ
れる情報ｍが飛躍的に拡大する状況にある。

このため、従来の磁気ヘッドに代ってレーザ光を用いて
記録媒体に情報を光学的に高密度に記録したり、高速度
で再生したりすることができる光学的情報記録再１装δ
が注目されている。

前記光学的情報記録再生装置においては、磁気記録媒体
上に磁化の向きの）ａいとして記録された情報を磁気光
学効果（カー効果、ファラデー効果）を利用して読み出
す光磁気方式のものが、記録情報を古き換えて記録ある
いは再生ずることができるため、今後広く用いられると
考えられる。

このような光磁気方式の情報記録再生装置に用いられる
光学式ピックアップでは、基板に記録層が形成されて成
る光磁気記録媒体に、半導体レーデ笠から出射された偏
光したレーザビームを対物レンズで集光して照射する。

基板を通って記録層で反射した光は、記録層の光の照射
部分における磁化の方向に応じて偏光方向が回転する（
磁気カー効果）ので、この反射光を検光子に通し、光検
出器で受光して、偏光方向が回転したことを検知して、
再生信号を得る。

従来、このような光学式ピックアップは種々ＪＰ案され
ており、例えば、特開昭５８−１２８０３７号公報ある
いは特開昭５９−１２１６３９＠公報に示されるような
ものがある。

ところで、従来、前記基板としては、ポリメヂルアクリ
レーｈ　（ＰＭＭＡ）　？７のアクリル樹脂が使われる
ことが多かった。しかしながら、アクリル樹脂は吸湿性
が大きく媒体自体が反つでしまうという欠点を有してい
た。

一方、近年このような基板としてポリカーボネート（以
下ＰＣと略記する。）樹脂が注目されている。ＰＣ樹脂
は反りに対して強く、この点に関してはアクリル樹脂に
比べて優れた性質を持っている。

［発明が解決しようとする問題点〕 ところで、射出成形したＰＣ板を前記基板に用いた場合
、この基板は複屈折を示し、一般に盤面に対して垂直な
方向に光学軸を持つ。

従って、この基板に、光学軸（板面に対して垂直な方向
）に対して傾いて入射した直線偏光は、その偏光方向と
入射面のなす角度が特定の角度以外では複屈折のため位
相差を生じ、その結果楕円化（直線偏光が楕円偏光にな
る。）が生じる。

第７図は、直線偏光のビームが集光されて記録媒体に入
射する様子を示づ”斜視図である。この図において符号
１は記録媒体であり、この記録媒体１は基板２と、この
基板２上に形成された記録層３とで構成されている。

この図において、レーザビーム４は、偏光方向が符号５
で示されるように基板２の半径方向６に直交する直線偏
光であり、偏光方向に対して直交して入射するビーム部
分（Ｓ偏光）１１と、偏光方向に対して平行に入射する
ビーム部分（Ｐ偏光）１２と、例えばこのビーム部分１
１．１２に対してそれぞれ４５度傾いて入射づ゛るビー
ム部分１３゜１４を含んでいる。このビーム部分１３．
１４はＳ偏光とＰ偏光の両成分を含む偏光となる。

前記基板２に射出成形したＩ）　Ｃ板等の複屈折を有す
るものを用いた場合、この基板２に入射したＳ偏光のビ
ーム部分１１及びＰ偏光のビーム部分１２は直線偏光を
保持するが、例えばビーム部分１３．１４等のＳ偏光と
Ｐ偏光との両成分を含む偏光では、Ｓ偏光成分とＰ偏光
成分とで位相差が生じ、直線偏光から楕円偏光になる。

前記位相差は、入射角が大きくなるほど大きくなる。

第８図は、記録媒体で反射した後、対物レンズを透過し
たビームの断面における位置と楕円偏光の度合の関係を
示す説明図である。なお、図中符号２０は記録媒体に入
射するビームの偏光方向である。

同図において、ビームの端はど位相差が大きくなり、ま
た方位角（入射面と偏光方向のなす角）が４５度のとこ
ろで楕円化は最大になる。すなわら、矢印１９の方向に
行くほど楕円偏光の度合が大きくなる。図中、斜線部２
１は、この楕円偏光の度合の大きい部分を表わしている
。

上述したＪ、うに、拮板２にＰＣ板のような複屈折を右
するものを用いた場合、記録媒体１で反射したビームは
部分的に楕円偏光成分を含んでいる。

ところが、従来のピックアップでは、この楕円偏光成分
も含めて検出している。ビームが楕円偏光成分を含ｌυ
でいると、検光子により十分に消光できなくなり、情報
信号のＣ／Ｎが劣化するという問題点がある。

なお、本出願人は、特願昭６０−２６０６１５号におい
て、ピックアップの光路内に十文字状の切欠きを有する
マスクを介挿し、このマスクによりＳ偏光、Ｐ偏光の両
方を含む偏光成分を除去することにより、情報信号のＣ
／Ｎの劣化を防止できるピックアップを提案している。

［発明の目的］ 本発明は、上述した点に鑑みてなされたものであり、基
板の複屈折による情報信号のＣ／Ｎの劣化を防止し、Ｃ
／Ｎの高い情報信号が得られる光学式ピックアップを提
供することを目的としている。

Ｌ問題点を解決するための手段コ 本発明による光学式ピックアップは、記録媒体からの反
射光または透過光の光路上に、」−文字状の光透過部を
有する、前記記録媒体へ入射する光の集束位置を制御２
Ｉ１１Ｊる信号を得るための制御信号用光検出器を設け
、前記光透過部を透過した光を情報信号用光検出器で受
光づるものである。

［作用］ ｎＱ記記文文字状光透過部を有する制御信号用光検出器
によって、記録媒体からの反射光または透過光のうち楕
円偏光の度合の大ぎい成分を除去し、略直線偏光成分の
みを情報信号の検出に用いるので、情報信号のＣ／Ｎが
向上する。

また、前記楕円偏光の度合の大きい成分は、記録媒体へ
入射する光の集束位置を制御する信号の検出に用いられ
る。

［実施例１ 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図ないし第５図は本発明の第１実施例に係り、第１
図は光学式ピックアップの構成図、第２図は第１図にお
ける対物レンズ周辺を示す側面図、第３図は制御信号用
光検出器の正面図、第４図は制御信号用光検出器に記録
媒体からの反射光束が入射する様子を示す説明図、第５
図は第１実施例の変形例を示す第４図と同様な説明図で
ある。

本実施例は、フォーカスエラー信号を臨界角法ににり検
出する光学式ピックアップに本発明を適用したものであ
る。図において、光源としての半導体レーザ３１から出
射される心線偏光の光束は、コリメータレンズ３２で平
行光束にされた後、整形プリズム３３によって円形の光
束に整形されてビームスプリッタ３４に入射されるよう
になっている。このビームスプリッタ３４を透過した光
束は、第２図に示すように全反射ミラー３５で反射され
、対物レンズ３６で集光されて、スピンドルモータ８に
より回転駆動される光磁気記録媒体１に照射されるにう
になっている。この記録媒体１は、第７図に示されるよ
うに、ＰＣ板等の複回折を右する基板２に記録層３が形
成されて構成されている。この記録媒体１の記録層３で
反射した光は、対物レンズ３６で集光され、全反射ミラ
ー２５で反射されて、ビームスプリッタ３４に入射され
、一部がこのビームスプリッタ３４で反射されると共に
、この反射光束は臨界角プリズム３７で反射され、制御
信号用光検出器３８に入射されるように構成されている
。

この制御信号用光検出器３８は、第３図に示されるよう
に、十文字状の光透過部３９と、この光透過部３９によ
り４分割された受光部４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄ
とで構成されている。前記光透過部３つは、ガラス等の
透明な材質より成るか、あ８　イハ前記受光部４．０ａ
、　Ｉ！ｌＯｂ、４０ｃ。

４Ｏｄ間の空間として形成されている。まに１この制御
信号用光検出器３８は、記録媒体１に入射する光束の偏
光方向及びこれに直交する方向に、前記光透過部３９の
長さ方向が一致するように配置されている。

前記光透過部３９を透過したト文字状の光束は、検光子
４１を経て、情報信号用光検出器４２で受光され、この
情報信号用光検出器４２の出力から情報信号を得るよう
になっている。

このような構成では、第４図に示されるように、前記制
御信号用光検出器３８に入射する記録媒体１からの反射
光束４３のうち、図中斜線で示される楕円偏光の度合の
大きい部分４３ａは、この制御信号用光検出器３８の各
受光部４０ａ、４０ｂ。

／ＩＯｃ、４０ｄにより遮られる。一方、前記光透過部
３９を透過した十文字状の光束は、略直線偏光のみを含
み、検光子４１で良く消光され、この光束を受光する情
報信号用光検出器４２により検出される情報信号のＣ／
Ｎが向上する。

ざらに、前記記録媒体１からの反射光束４３のうら、楕
円偏光の度合の大きい部分４３ａを含む部分は、制御信
号用光検出器３８の各受光部４０ａ、／Ｊｏｂ、４０ｃ
、４０ｄにＪ：り受光され、臨界角法にＪ：るフォーカ
スエラー信号とプッシュプル法によるトラッキングエラ
ー信号検出に用いられる。本実施例では、フォーカスエ
ラー信号は、受光部４０ａと４０ｃで得られる出力の和
と、受光部４０ｂと４０ｄで得られる出力の和との差動
出力により得られ、１〜ラツキング工ラー信号は、受光
部４０ａと４０ｂで得られる出力の和と、受光部４０Ｃ
と４０ｄで得られる出力の和との差動出力により得られ
る。

このように、情報信ｑのＣ／Ｎを劣化さぼる楕円偏光の
度合の大きい部分を用いて制御信号を（ｑるため、光の
利用効率を向上Ｊることができる。

また、従来のように、フォーカスエラー信号及びトラッ
キングエラー信ｑを得るために光路を分割する必要がな
くなるため、ビームスプリッタ等の光分割手段が不要に
なり、部品点数を減らずことができる。

第５図は、記録媒体１に入射する光束の偏光方向を前記
実施例における偏光方向に対して４５１！！：傾けた場
合における第４図と同様な説明図である。

この場合、制御信号用光検出器３８も４５度傾けて配置
する。なお、この場合、フォーカスエラー化Ｆ３は、受
光部４０ａと受光部４０ｄとの差動出力によりトラッキ
ングエラー信号は、受光部４ｏｂと受光部４０Ｇとの差
動出力にＪ：り得られ、フォーカスエラー化ｑ及びトラ
ッキングエラー信号の感度が向上１゛る。

第６図は、本発明の第２実施例の光学式ピックアップの
構成図である。

本実施例は、フォーカスエラー信号を非点収差法にＪ：
り検出する光学式ピックアップに本実施例を適用したも
のである。

図にＪ３いて第１実施例と同じ部材には同一の符号をイ
リし説明を省略する。

本実施例では、記録媒体１からの反射光は、対物レンズ
３６で集光され、全反則ミラー３５で反射されて、ビー
ムスプリッタ３４に入射され、一部がこのビームスプリ
ッタ３４で反射されるＪ：うになっている。この反射光
束は、集光レンズ５１で集束された後、シリンドリカル
レンズ５２を透過し、制御信号用光検出器３８に入口・
１される。この制御信号用光検出器３８は、第１実施例
と同様第３図に示されるように構成され、かつ、記録媒
体１に入ＩＡする光束の偏光方向及びこれに直交りる方
向に、光透過部３９の艮ざ方向が一致するＪ：うに配置
されている。

そして、この光透過部３９を透過した十文字状の光束は
、検光子４１を経て情報信号用光検出器−４２により受
光される。

本実施例では、フォーカスエラー信号は、受光部４０ａ
と４０６で得られる出力の和と、受光部４０ｔ）と４０
ｃで１ｑられる出力の和との差動出力により（りられ、
トラッキングエラー信号は、受光部４０ａと４０ｂｒｉ
ｆられる出力の和と、受光部４０ｃと４０ｄで得られる
出力の和との差動出力により得られる。

その他の作用及び効果は第１実施例と同様である。

なお、本発明は上述した実施例に限定されず、種々の変
更が可能である。例えば、上述した実施例では、記録媒
体からの反射光を検出する例を説明したが、本発明は記
録媒体からの透過光を検出１６タイプのピックアップに
・ｂ適用できる。また、）Ａ−カスエラー信号及びｌ・
ラッキングエラー信号の検出方法は実施例における方法
に限定されない。

また、実施例では、直線偏光を用いる光磁気記録媒体に
対する例を説明したが、本発明は、円偏光を用いる光デ
ィスクに対するピックアップ等にも適用できる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれば、基板の複屈折によ
る情報信号のＣ／Ｎの劣化を防止でき、Ｃ／Ｎの高い情
報信号が得られるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第５図は本発明の第１実施例に係り、第１
図ｔま光学式ピックアップの構成図、第２図は第１図に
おける対物レンズ周辺を示す側面図、第３図は制御信号
用光検出器の正面図、第４図は制御信号用光検出器に記
録媒体からの反射光束が入射する様子を示す説明図、第
５図は第１実論例の変形例を示″ｉＪ第４図と同様な説
明図、第６図（，１本発明の第２実施例の光学式ピック
アップの構成図、第７図は直ａ偏先のビームが集光され
て記録媒体に入射する様子を示寸斜祝図、第８図は記録
媒体で反射した後、対物レンズを透過したごの断面にお
ける位置と楕円偏光の度合の関係す説明図である。 １・・・記録媒体　　　　２・・・基板３・・・記録層
　　　　　３１・・・半導体レー畳ア３２・・・コリメ
ータレンズ ３３・・・整形プリズム　３４・・・ビームスブリ３５
・・・全反射ミラー　３６・・・対物レンズ３７・・・
臨界角プリズム ３８・・・制御信号用光検出器 ３９・・・光透過部 ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄ・・・受光部４１・・
・検光子 ４２・・・情報信号用光検出器 代理人　弁理士　　伊　藤　　進 −ム　　　　　　　　第１図 第３図 第４図　　　　　第５図 第６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光源から出射される光を記録媒体に照射し、この記録媒
   体からの反射光または透過光より情報を検出する光学式
   ピックアップにおいて、前記記録媒体からの反射光また
   は透過光の光路上に設けられた、十文字状の光透過部を
   有する、前記記録媒体へ入射する光の集束位置を制御す
   る信号を得るための制御信号用光検出器と、この制御信
   号用光検出器の前記光透過部を透過した光を受光する情
   報信号用光検出器とを具備したことを特徴とする光学式
   ピックアップ。