JPS62283895A - 単結晶の引上げ装置 - Google Patents

単結晶の引上げ装置

Info

Publication number
JPS62283895A
JPS62283895A JP12772186A JP12772186A JPS62283895A JP S62283895 A JPS62283895 A JP S62283895A JP 12772186 A JP12772186 A JP 12772186A JP 12772186 A JP12772186 A JP 12772186A JP S62283895 A JPS62283895 A JP S62283895A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crucible
melt
furnace body
raw material
single crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12772186A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukichi Horioka
佑吉 堀岡
Masayoshi Masuda
増田 正義
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Metal Corp
Original Assignee
Mitsubishi Metal Corp
Japan Silicon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Metal Corp, Japan Silicon Co Ltd filed Critical Mitsubishi Metal Corp
Priority to JP12772186A priority Critical patent/JPS62283895A/ja
Publication of JPS62283895A publication Critical patent/JPS62283895A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 「産業上の利用分野」 この発明は、たとえば多結晶シリコンの溶融液から単結
晶シリコンを成長させつつ引上げる単結晶の引上げ装置
に関するものである。
「従来の技術」 従来、単結晶シリコンを製造する際には、第2図に示す
ようないわゆるチョクラルスキー法(CZ法)による引
上げ装置が広く用いられている。
この従来の装置は、炉本体lとその上部に連設された取
出室2、および種結晶の昇降機構3とにより構成されて
いる。炉本体1内には石英ルツボ4およびその周囲に黒
鉛ヒーター5が配設され、ルツボ4内に充填した原料の
多結晶シリコンおよびそれに所定量混入した不純物(ド
ープ材)を、黒鉛ヒーター5によって加熱溶融するよう
になっている。ルツボ4は、昇降杆6の上部に固定され
たルツボホルダー7内に配されており、その昇降杆6は
図示しない昇降機構によって昇降できるとともに回転す
るようになっていて、ルツボ4を図中の矢印で示すよう
に炉本体I内において昇降させるとともに回転さけるよ
うになっている。また、種結晶の昇降機構3は、ケーブ
ル8の先端にシードヂャック9を介して把持した種結晶
(シード)IOを、ケーブル8を巻き」=1デること1
こよってルツボ4の上方において昇降させるようになっ
ているとともに、この昇降機構3自体も水平面内におい
てルツボ4の回転とは逆方向に回転できるようにされて
いる。そして、ルツボ4内の溶融液に接触させた種結晶
10を回転させつつ徐々に上昇させることにより、単結
晶シリコン11を円柱状に成長させつつ引き上げ、所定
長さに成長した単結晶シリコン11を取出室2に設けた
開口部12から取り出すようになっている。
なお第2図において符号13は黒鉛ヒーター5の外側に
配置された保温筒、14は黒鉛ヒーター5の電極、15
は単結晶シリコン11を取り出す際に炉本体lと取出室
2とを仕切るゲート、16は種結晶の昇降機構3の巻き
上げ用モーター、17は同じく回転用のモーターである
[発明が解決しようとする問題点」 ところで上記従来の引上げ装置では、ルツボ4内で原料
とともに溶融した不純物の濃度が、結晶成長時の偏析作
用によって次第に高まるように変化するものである。し
たがって、成長した単結晶シリコンll中の不純物濃度
もその長さ方向で均一にならずに、次第に高くなってし
まうことが避けられないものであった。このため所望の
不純物濃度の単結晶シリコン11を、効率良く得ること
が困難であるという問題があった。
また上記の引上げ装置においては、ルツボ4内の溶融液
の液面レベルを基準として単結晶シリコン11の径を制
御するようにしており、したがってその液面レベルを常
に所定の位置に正確に保っておく必要がある。このため
、従来においてはルツボ4を昇降させることによって液
面レベルを所定位置に保つように制御しているが、その
ような手段ではヒーター5に対する溶融位置の高精度な
制御は難しく、このため従来においては単結晶シリコン
Ifの品質を正確に均一にすることも困難であった。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、不純物
の偏析による結晶成長方向の不純物濃度の不拘−性を防
止できるとともに、ルツボ内の溶融液の液面レベルの制
御を正確にかつ容易に行うことのできる単結晶の引上げ
装置を提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段」 この発明は、内部の真空度を調節可能な第1の炉体と、
その第1の炉体の内部に配設された第1のルツボと、そ
の第1のルツボの上方に位置して設けられた種結晶の昇
降装置と、前記第1の炉体の下方に連設され内部の真空
度を調節可能な第2の炉体と、その第2の炉体の内部に
前記第1のルツボの下方に位置して設けられた第2のル
ツボと、その第2のルツ、ポの周囲に配設されて第2の
ルツボ内に供給された原料を加熱溶融するヒーターと、
前記第1のルツボの底部から下方に延びてその下端部が
前記第2のルツボ内の原料溶融液中に位置し、第2のル
ツボ内の原料溶融液を第1のルツボに導く溶融液供給管
とを具備してなることを特徴としている。
「作用」 この発明の単結晶の引上げ装置は、第1の炉体内の真空
度を第2の炉体内の真空度より高く(すなわち圧力を低
く)保持することによって、第2のルツボ内において溶
融した原料溶融液を溶融液供給管を通して第1のルツボ
内に吸引して導き、その第1のルツボ内の溶融液に種結
晶を接触さ仕てそれを昇降機構により上昇させることに
より、単結晶を成長させつつ引上げる。
「実施例」 以下、この発明の一実施例を第1図を参照して説明する
この実施例の引上げ装置は、上述した従来の引上げ装置
(第2図参照)と同様の取出室2の下部に、第1の炉体
20および第2の炉体21が連設され、また取出室2の
上部にはこれも従来と同様の種結晶の昇降機構3が設け
られた構成とされている。
したがって、取出室2および昇降機構3については説明
を省略し、従来のものと同様の構成要素については、第
1図に第2図と同一符号を付すことにする。
上記の第1および第2の炉体20,21は、それぞれ密
閉状態を保持し得る容器であって、真空ポンプ22,2
3、および圧力調整バルブ43.44によって内部の真
空度をそれぞれ調節できるようになっている。
第1の炉体20の内部には、石英からなる第1のルツボ
24が配設されており、この第1めルツボ24の周囲に
は第1のヒーター25が設けられ、さらにその外側には
保温筒26が設けられている。
また、第2の炉体2Iの内部には、上記第1のルツボ2
4の下方に位置して第2のルツボ27が配設され、その
外側には第2のヒーター28、保温筒29がそれぞれ設
けられている。また各ヒーター25.28はそれぞれ黒
鉛により形成されていて電極30.31により通電され
て発熱するようになっている。第1のヒーター25は第
1のルツボ24内の溶融液32の温度が低下しないよう
に保温するためのものであり、また第2のヒーター28
は第2のルツボ27内に供給された原料42を加熱溶融
するものである。
上記第1のルツボ24の底部からは溶融液供給管33が
垂設され、この供給管33は第1の炉体20の底面およ
び第2の炉体21の上面を貫通し、その先端(下端)は
第2のルツボ27内に位置するようになっている。この
供給管33はその下端部を除いて保温筒34により被覆
され、さらにその外側には外管35が被せられている。
この外管35は、第1および第2の炉体20,2+の貫
通部に設けられた気密シール36.36に回転自在に支
持されており、図示しない回転駆動源によって内部の供
給管33とともに図中の矢印で示すように回転すること
によって、第1のルツボ24を回転させることができる
ようになっている。また、この外管35の下端部周囲に
は、供給管33内の溶融液32を保温するコイル状の第
3のヒーター37が配設されている。この第3のヒータ
ー37は第2の炉体21を貫通していてその貫通部には
絶縁シール38.38が取り付けられている。
また、第2の炉体21には、原料を第2のルツボ24内
に供給するだめの原料供給機構39が備えられている。
この原料供給機構39は、漏斗状のホッパー40とその
内方に配されたスクリューフィーダー41からなり、こ
のスクリューフィーダー41を回転させることによりホ
ッパー40内の原料42を所定量ずつ第2のルツボ27
に供給するようにされている。なおこの原料42は、多
結晶シリコンと所定量の不純物とを混合したものである
以上でこの実施例の装置の構成を説明したか、次に使用
方法を説明する。
まず、原料供給機構39によって第2のルツボ27内に
所定量の原料42を供給し、第2のヒーター28によっ
てそれを加熱して溶融する。それから真空ポンプ22.
23を作動させて第1および第2の炉体20.21の内
部を所定の真空度とする。このとき、第1の炉体20内
の真空度が、第2の炉体21内の真空度より高く(すな
わち圧−+1人JI111−)Aン−プb二】−半ツ 
イー7ψしb) ム111−の差圧によって第2のルツ
ボ27内の溶融液32が、図中の矢印で示すように供給
管33内を吸引されて上昇していくので、第1のルツボ
24内の液面レベルが所定の位置になるように差圧を制
御してその状態に保持する。たとえば差圧を1/4気圧
とすれば、溶融液32を約1メートル上昇させることが
できる。また、第1のヒーター25によって第1のルツ
ボ24内の溶融液32を加熱して保温するとともに、第
3のヒーター37によって供給管33中の溶融液32も
加熱保温する。
それから、第1図に示すように、ケーブル8の先端にシ
ードチャック9に把持して取り付けた種結晶10を、昇
降機構3(第2図参照)によって降下させて第1のルツ
ボ24内の溶融液32に接触させ、これを回転させつつ
所定の速度で徐々に引き上げていく。また同時に外管3
5を回転させて、第1のルツボ24も種結晶IOの回転
方向と逆方向に回転させる。こうすることにより、単結
晶シリコン11か円柱状に成長しつつ引き上げられるの
で、これが所定の番さに酸霧したら取出室2の開口部1
1から取り出す。
この引上げ装置によれば、第2のルツボ27内において
原料42を溶融し、その溶融液32を第1のルツボ24
内に吸引して供給するようにしたので、第1のルツボ2
4内で溶融液32に不純物の偏析が生じたとしても、第
2のルツボ27に供給する不純物の量を制御することに
よって濃度が均一となるように調整することができる。
したがって、第1のルツボ24から成長する単結晶シリ
コン11はその長さ方向の不純物濃度が均一となり、所
望の比抵抗値を有する高品質の単結晶シリコンを得るこ
とができる。
また、この引上げ装置では、第1.第2の炉体20.2
1内の差圧を常に一定の値に保持しておくことにより、
単結晶シリコン11の成長に伴って自動的に第2のルツ
ボ27から第1のルツボ24に溶融液32が吸引されて
供給され、第1のルツボ24内の液面レベルは変動する
ことなく常に一定位置に保たれる。したがって、液面レ
ベルの制御が極めて確実かつ容易であり、単結晶シリコ
ン11の径を常に一定にすることが可能となる。
また、原料供給機構39によって原料42を連続的に第
2のルツボ27に供給するようにすれば、単結晶シリコ
ン11の引上げを連続的に行うことが可能であり、長尺
の単結晶シリコン11を得ることもできる。
さらに、第1のヒーター25によって第1のルツボ24
内の溶融液32を、また第3のヒーター37によって供
給管33中の溶融液32をそれぞれ保温するようにした
ので、溶融液32の温度が低下して単結晶の成長が損な
われることを防止できるとともに、これらによって溶融
液32の温度を制御することにより単結晶シリコンl!
の成長速度を制御することも可能である。
以上でこの発明の一実施例を説明したが、この発明は上
記に限定されるものではない。たとえば、上記では第1
のルツボ24内の溶融液32を保温する第1のヒーター
25と、供給管33中の溶融、ff132を保温する第
3のヒーター37を備えるようにしたが、それらは必ず
しも備えることはない。
また原料供給機構39についても同様である。
なお、上記では単結晶シリコンの引上げ装置に適用した
場合について述べたが、シリコンに限らず同種の他の材
料に対しても同様に適用できることは勿論である。
「発明の効果」 以上詳細に説明したように、この発明によれば、第1お
よび第2の炉体の差圧を調節することにより、第2のル
ツボ内で溶融した原料を溶融液供給管を通して第1のル
ツボに導くように構成したので、第1のルツボ内での不
純物の偏析による結晶成長方向の不均一性を防止するこ
とができ、また、第1のルツボ内の溶融液の液面レベル
を常に一定に保持することができ、したがって高品質の
単結晶を効率良く製造することかできるという効果を奏
する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例の引上げ装置の要部の概略構
成を示す立断面図である。 す立断面図である。 3・・・・・・種結晶の昇降機構、10・・・・・・種
結晶、20・・・・・・第1の炉体、21・・・・・第
2の炉体、24・・・・・・第1のルツボ、27・・・
・・・第2のルツボ、28・・・・・・第2のヒーター
(ヒーター)、32・・・・・・溶融液、33・・・・
・溶融液供給管。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  内部の真空度を調節可能な第1の炉体と、その第1の
    炉体の内部に配設された第1のルツボと、その第1のル
    ツボの上方に位置して設けられた種結晶の昇降機構と、
    前記第1の炉体の下方に連設され内部の真空度を調節可
    能な第2の炉体と、その第2の炉体の内部に前記第1の
    ルツボの下方に位置して設けられた第2のルツボと、そ
    の第2のルツボの周囲に配設されて第2のルツボ内に供
    給された原料を加熱溶融するヒーターと、前記第1のル
    ツボの底部から下方に延びてその下端部が前記第2のル
    ツボ内の原料溶融液中に位置し、第2のルツボ内の原料
    溶融液を第1のルツボに導く溶融液供給管とを具備して
    なることを特徴とする単結晶の引上げ装置。
JP12772186A 1986-06-02 1986-06-02 単結晶の引上げ装置 Pending JPS62283895A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12772186A JPS62283895A (ja) 1986-06-02 1986-06-02 単結晶の引上げ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12772186A JPS62283895A (ja) 1986-06-02 1986-06-02 単結晶の引上げ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62283895A true JPS62283895A (ja) 1987-12-09

Family

ID=14967067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12772186A Pending JPS62283895A (ja) 1986-06-02 1986-06-02 単結晶の引上げ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62283895A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113308739A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的系统
CN113308738A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的方法
CN115652409A (zh) * 2022-10-25 2023-01-31 浙江晶盛机电股份有限公司 晶体生长炉断电保护方法及晶体生长炉

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113308739A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的系统
CN113308738A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的方法
CN113308738B (zh) * 2021-06-01 2022-06-17 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的方法
CN115652409A (zh) * 2022-10-25 2023-01-31 浙江晶盛机电股份有限公司 晶体生长炉断电保护方法及晶体生长炉
CN115652409B (zh) * 2022-10-25 2023-09-05 浙江晶盛机电股份有限公司 晶体生长炉断电保护方法及晶体生长炉

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110257901B (zh) 大直径高效n型单晶硅的制备工艺
JPH0777995B2 (ja) 単結晶の比抵抗コントロール方法
US20180187330A1 (en) Method for producing silicon single crystals
WO2022071014A1 (ja) シリコン単結晶の製造方法
CN103361727A (zh) 蓝宝石单晶及其制备方法
JPS62283895A (ja) 単結晶の引上げ装置
CN106676630A (zh) 硅片提拉装置及其控制方法
JPH04154687A (ja) 半導体単結晶製造装置
JP2001240485A (ja) 単結晶引上方法及び単結晶引上装置
JPS62283896A (ja) 単結晶の引上げ装置
TW202132633A (zh) 單晶矽的製造方法
TW200528592A (en) Method for manufacturing single crystal semiconductor
JP2606046B2 (ja) 単結晶引き上げ時における単結晶酸素濃度の制御方法
JPS5910960B2 (ja) 連続引上式単結晶製造法および装置
JP3719336B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置及びその引上げ方法
JP3642175B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置及びその引上げ方法
JPH09202685A (ja) 単結晶引き上げ装置
JP3085072B2 (ja) 単結晶引上装置
JP7082550B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法
JPS61261288A (ja) シリコン単結晶引上装置
JP7359241B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法
JPH09315887A (ja) 単結晶の製造方法及びそれに用いられる単結晶製造装置
JP2849537B2 (ja) 単結晶引き上げ方法
JP2531875B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
JP2003300791A (ja) 酸化物単結晶の育成方法および育成装置