JPS6228263A - 多値サ−マルプリンタ - Google Patents
多値サ−マルプリンタInfo
- Publication number
- JPS6228263A JPS6228263A JP60166840A JP16684085A JPS6228263A JP S6228263 A JPS6228263 A JP S6228263A JP 60166840 A JP60166840 A JP 60166840A JP 16684085 A JP16684085 A JP 16684085A JP S6228263 A JPS6228263 A JP S6228263A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- heating element
- value
- current
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/35—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
- B41J2/355—Control circuits for heating-element selection
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Fax Reproducing Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
多値記録を行うサーマルプリンタに於いて、サーマルヘ
ッドの発熱素子を、記録信号の印加後の冷却期間に、順
次選択して短時間電流を供給し、その電流を測定して発
熱素子の抵抗値を求め、発熱素子の経年変化による劣化
状態又は断線を検出し、且つ発熱素子の抵抗値をもとに
発熱素子に印加する記録信号を制御して、高精度の多値
記録を可能とするものである。
ッドの発熱素子を、記録信号の印加後の冷却期間に、順
次選択して短時間電流を供給し、その電流を測定して発
熱素子の抵抗値を求め、発熱素子の経年変化による劣化
状態又は断線を検出し、且つ発熱素子の抵抗値をもとに
発熱素子に印加する記録信号を制御して、高精度の多値
記録を可能とするものである。
本発明は、発熱素子の抵抗値を算出して、劣化状態を判
定すると共に、高精度の多値記録を行う多値サーマルプ
リンタに関するものである。
定すると共に、高精度の多値記録を行う多値サーマルプ
リンタに関するものである。
サーマルプリンタとしては、感熱記録方式と熱転写記録
方式とがあり、前者は、熱によって変色する記録用紙に
直接サーマルヘッドを接触させ、そのサーマルヘッドの
発熱素子を加熱して記録用紙を変色させることによって
記録する方式であり、又後者は、サーマルヘッドにより
インクシートを加熱して溶融或いは昇華させ、それを記
録用紙に転写して記録する方式である。又発熱素子の走
査方式としては、ライン記録方式とシリアル記録方式と
に大別される。高速記録にはライン記録方式が用いられ
、低速記録にはシリアル記録方式が用いられる。又サー
マルヘッドに印加する記録信号の波高値又は印加時間を
制御することにより、多値記録が可能である。
方式とがあり、前者は、熱によって変色する記録用紙に
直接サーマルヘッドを接触させ、そのサーマルヘッドの
発熱素子を加熱して記録用紙を変色させることによって
記録する方式であり、又後者は、サーマルヘッドにより
インクシートを加熱して溶融或いは昇華させ、それを記
録用紙に転写して記録する方式である。又発熱素子の走
査方式としては、ライン記録方式とシリアル記録方式と
に大別される。高速記録にはライン記録方式が用いられ
、低速記録にはシリアル記録方式が用いられる。又サー
マルヘッドに印加する記録信号の波高値又は印加時間を
制御することにより、多値記録が可能である。
ライン記録方式の熱転写サーマルプリンタは、第5図に
示すように、サーマルヘッド41を、インクシート42
と記録用紙43を介してプラテン44と対向配置し、イ
ンクシート42をサーマルヘッド41により加熱するこ
とにより、インクシート42のインクが溶融して記録用
紙43に転写され、記録が行われる構成である。サーマ
ルヘッド41は、紙面と垂直方向に沿って配列された1
ライン分の発熱素子を有し、1ライン分の記録がほぼ同
時に行われ、この1ライン分の記録が終了すると、記録
用紙43とインクシート42とは同時に矢印方向に移送
される。
示すように、サーマルヘッド41を、インクシート42
と記録用紙43を介してプラテン44と対向配置し、イ
ンクシート42をサーマルヘッド41により加熱するこ
とにより、インクシート42のインクが溶融して記録用
紙43に転写され、記録が行われる構成である。サーマ
ルヘッド41は、紙面と垂直方向に沿って配列された1
ライン分の発熱素子を有し、1ライン分の記録がほぼ同
時に行われ、この1ライン分の記録が終了すると、記録
用紙43とインクシート42とは同時に矢印方向に移送
される。
サーマルヘッド41は、第6図に示すように、多層構造
を有し、基板55上にグレーズ層54、発熱体53、電
極52が形成され、記録用紙43側の表面には保護層5
1が形成されている。又基板の裏面には放熱フィン56
が設けられている。
を有し、基板55上にグレーズ層54、発熱体53、電
極52が形成され、記録用紙43側の表面には保護層5
1が形成されている。又基板の裏面には放熱フィン56
が設けられている。
ライン記録方式では、サーマルヘッドの発熱素子の数が
、例えば、A4版、3mm/ドツトの場合に、1728
個のように多いものであるから、リード線引出しには、
ダイオードマトリクスを用いる方式、或いは32〜64
個の発熱素子に対するラッチ回路とドライブトランジス
タとを集積化した専用のドライブ集積回路を用いる方式
が実用化されている。前者をダイオードマトリクス(D
M)型、後者をダイレクトドライブ(DD)型と称する
もので、最近は、周辺回路を簡単化できるDD型が主流
となっている。
、例えば、A4版、3mm/ドツトの場合に、1728
個のように多いものであるから、リード線引出しには、
ダイオードマトリクスを用いる方式、或いは32〜64
個の発熱素子に対するラッチ回路とドライブトランジス
タとを集積化した専用のドライブ集積回路を用いる方式
が実用化されている。前者をダイオードマトリクス(D
M)型、後者をダイレクトドライブ(DD)型と称する
もので、最近は、周辺回路を簡単化できるDD型が主流
となっている。
このようなりD型のサーマルヘッドでは、その構造上、
発熱素子に印加する電圧を発熱素子毎に変化させること
は困難であるから、多値駆動する場合に、記録信号を細
分化してパルス幅制御を行う方式が採用されている。
発熱素子に印加する電圧を発熱素子毎に変化させること
は困難であるから、多値駆動する場合に、記録信号を細
分化してパルス幅制御を行う方式が採用されている。
第7図は従来例の要部ブロック図であり、DD型サーマ
ルヘッドに対する制御部の要部を示すものである。同図
に於いて、11はカウンタ、12はランダムアクセスメ
モリRAM、13はリードオンリメモリROM、14は
比較回路、15はアンド回路、16はブロッキング回路
、SBLはサプライン値、CLはスキャンクロック信号
、Dnは階調データ、RWは続出書込信号、PEはイネ
ーブル信号、DVI〜DV54はドライブ集積回路の駆
動信号であり、発熱素子数を1728(A4版、8m
m /ドツト)とし、1個のドライブ集積回路当り32
個の発熱素子を駆動する場合についてのもので、54個
のドライブ集積回路が設けられることになる。
ルヘッドに対する制御部の要部を示すものである。同図
に於いて、11はカウンタ、12はランダムアクセスメ
モリRAM、13はリードオンリメモリROM、14は
比較回路、15はアンド回路、16はブロッキング回路
、SBLはサプライン値、CLはスキャンクロック信号
、Dnは階調データ、RWは続出書込信号、PEはイネ
ーブル信号、DVI〜DV54はドライブ集積回路の駆
動信号であり、発熱素子数を1728(A4版、8m
m /ドツト)とし、1個のドライブ集積回路当り32
個の発熱素子を駆動する場合についてのもので、54個
のドライブ集積回路が設けられることになる。
1ラインの記録周期は、通常100〜1000分割され
、分割された1期間をサプラインと称し、ライン記録周
期開始時のサプライン値SELを0とし、以下順次1,
2,3. ・・・とする。又1サプラインの中で全発
熱素子を走査する為、これを発熱素子数で等分する。こ
の等分された各期間をスキャンと称し、サプライン開始
時のスキャン値をOとし、以下1,2,3. ・・・
とする。
、分割された1期間をサプラインと称し、ライン記録周
期開始時のサプライン値SELを0とし、以下順次1,
2,3. ・・・とする。又1サプラインの中で全発
熱素子を走査する為、これを発熱素子数で等分する。こ
の等分された各期間をスキャンと称し、サプライン開始
時のスキャン値をOとし、以下1,2,3. ・・・
とする。
カウンタ11はスキャンクロック信号CLをカウントと
して、スキャン値をRAM12のアドレス信号として加
えるものである。
して、スキャン値をRAM12のアドレス信号として加
えるものである。
ライン記録周期の開始から1サプライン前に、全発熱素
子に対する階調データDnが準備され、書込みを示す続
出書込信号RWが加えられると、全発熱素子に対する階
調データDnがRAM12に書込まれる。この書込後、
続出書込信号RWは“1”となって読出しを示すことに
なり、又1サプラインでスキャン値はO〜1727とな
るから、RAM12に対して、カウンタ11からのスキ
ャン値をアドレス信号として繰り返し階調データDnの
読出しが行われる。
子に対する階調データDnが準備され、書込みを示す続
出書込信号RWが加えられると、全発熱素子に対する階
調データDnがRAM12に書込まれる。この書込後、
続出書込信号RWは“1”となって読出しを示すことに
なり、又1サプラインでスキャン値はO〜1727とな
るから、RAM12に対して、カウンタ11からのスキ
ャン値をアドレス信号として繰り返し階調データDnの
読出しが行われる。
RAM12から読出された階調データDnは、ROM1
3によって駆動信号が“1”から“0”に変化すべきサ
プライン値に変換される。即ち、階調データDnはパル
ス幅に相当するサプライン数に変換される。このROM
13の出力のサプライン値と、入力されたサプライン値
SELとが比較回路14で比較され、このサプライン値
SBLがROM13の出力サブライン値より小さいと、
比較回路14の出力は”■”となり、ROM13の出力
のサプライン値に等しいサプライン値SBLとなるまで
、比較回路14の出力は“1”となる。従って、階調デ
ータDnはパルス幅に変換されることになる。
3によって駆動信号が“1”から“0”に変化すべきサ
プライン値に変換される。即ち、階調データDnはパル
ス幅に相当するサプライン数に変換される。このROM
13の出力のサプライン値と、入力されたサプライン値
SELとが比較回路14で比較され、このサプライン値
SBLがROM13の出力サブライン値より小さいと、
比較回路14の出力は”■”となり、ROM13の出力
のサプライン値に等しいサプライン値SBLとなるまで
、比較回路14の出力は“1”となる。従って、階調デ
ータDnはパルス幅に変換されることになる。
又ライン記録周期の開始から所定時間イネーブル信号P
Eが“1”となり、それによって、アンド回路15が開
かれて、ブロッキング回路16に比較回路14の出力が
加えられる。ブロッキング回路工6は、スキャンクロツ
タ信号CLに同期して、アンド回路15の出力信号をブ
ロッキングし、サーマルヘッドに搭載された54個のド
ライブ集積回路に対する駆動信号DVI〜DV54を出
ノjする。従って、各ドライブ集積回路に接続された3
2個の発熱素子に、それぞれ階調データDnに対応して
サプラインを単位長としたパルス幅の記録信号が印加さ
れることになり、多値記録が行われる。
Eが“1”となり、それによって、アンド回路15が開
かれて、ブロッキング回路16に比較回路14の出力が
加えられる。ブロッキング回路工6は、スキャンクロツ
タ信号CLに同期して、アンド回路15の出力信号をブ
ロッキングし、サーマルヘッドに搭載された54個のド
ライブ集積回路に対する駆動信号DVI〜DV54を出
ノjする。従って、各ドライブ集積回路に接続された3
2個の発熱素子に、それぞれ階調データDnに対応して
サプラインを単位長としたパルス幅の記録信号が印加さ
れることになり、多値記録が行われる。
又前述のブロッキング回路16についてN単に説明する
。ブロッキング回路16は、各サプライン期間に於いて
、毎回1〜1728番目までの発熱体に対する2値デー
タBDi (i=1.2.3・・・1728)を1番
目から順番に入力する。
。ブロッキング回路16は、各サプライン期間に於いて
、毎回1〜1728番目までの発熱体に対する2値デー
タBDi (i=1.2.3・・・1728)を1番
目から順番に入力する。
一方、サーマルヘッドに搭載されている54個のドライ
ブ集積回路は、それぞれ1〜32.33〜64、・・・
1697〜1728番目の発熱体の駆動を受は持ってお
り、ドライブ集積回路の駆動信号DVIは2値駆動デー
タBDI〜BD32、駆動信号DV2は2値駆動データ
BD33〜BD64、・・・、駆動信号DV54は2値
駆動データBD1697〜BD1728を順番に入力し
なければならない。しかも、転送可能速度は、スキャン
クロック信号CLの周波数に比べて通常1桁以上遅いも
のである。
ブ集積回路は、それぞれ1〜32.33〜64、・・・
1697〜1728番目の発熱体の駆動を受は持ってお
り、ドライブ集積回路の駆動信号DVIは2値駆動デー
タBDI〜BD32、駆動信号DV2は2値駆動データ
BD33〜BD64、・・・、駆動信号DV54は2値
駆動データBD1697〜BD1728を順番に入力し
なければならない。しかも、転送可能速度は、スキャン
クロック信号CLの周波数に比べて通常1桁以上遅いも
のである。
そこで、ブロッキング回路16は54個の32×1ビツ
トのFIFOCファースト・イン・ファースト・アウト
・メモリ)2Miで構成され、2値駆動データBDiが
高速にシリアルに書込まれ、駆動信号DVI〜DV54
が低速にパラレルに読出されるものである。この書込時
は、54個のFIFOが総て直列に接続され、54X3
2X1ビツト、即ち、1728X1ビツトのFIFOと
等価となる。そして、2値駆動データBDI〜BD17
28が書込まれた後、続出モードとなり、各FIFOは
切り離されてパラレル読出しが可能の構成となる。従っ
て、最初の続出データは、BDl、BD33. ・・
・BD1697となり、次の続出データは、BD2.B
D34. ・・・・BD1698となる。そして、最
終の続出データ、即ち、32番目の出力は、BD32.
BD64. ・・・BD1728となって、各FIF
Oの出力は、所望の駆動信号DVI〜DV54となる。
トのFIFOCファースト・イン・ファースト・アウト
・メモリ)2Miで構成され、2値駆動データBDiが
高速にシリアルに書込まれ、駆動信号DVI〜DV54
が低速にパラレルに読出されるものである。この書込時
は、54個のFIFOが総て直列に接続され、54X3
2X1ビツト、即ち、1728X1ビツトのFIFOと
等価となる。そして、2値駆動データBDI〜BD17
28が書込まれた後、続出モードとなり、各FIFOは
切り離されてパラレル読出しが可能の構成となる。従っ
て、最初の続出データは、BDl、BD33. ・・
・BD1697となり、次の続出データは、BD2.B
D34. ・・・・BD1698となる。そして、最
終の続出データ、即ち、32番目の出力は、BD32.
BD64. ・・・BD1728となって、各FIF
Oの出力は、所望の駆動信号DVI〜DV54となる。
従来の多値サーマルプリンタに於いては、サーマルヘッ
ドの蓄熱の問題や、発熱素子の抵抗値のばらつき等の問
題等がある為に、充分な精度で多値記録を行うことは困
難であった。例えば、発熱素子の抵抗値は、薄膜型サー
マルヘッドの場合に±15%、厚膜型サーマルヘッドの
場合±25%のばらつきがあり、同一条件の記録信号を
印加した場合に、温度上昇が抵抗値のばらつきに対応し
てばらつくことになる。その為、抵抗値が大きい発熱素
子に対してはパルス幅を大きくし、抵抗値が小さい発熱
素子に対してはパルス幅を小さくしで、同一階調レベル
の記録を行う場合に、抵抗値のばらつきに関係なく発熱
素子の駆動電力が同じになるように制御する必要がある
。
ドの蓄熱の問題や、発熱素子の抵抗値のばらつき等の問
題等がある為に、充分な精度で多値記録を行うことは困
難であった。例えば、発熱素子の抵抗値は、薄膜型サー
マルヘッドの場合に±15%、厚膜型サーマルヘッドの
場合±25%のばらつきがあり、同一条件の記録信号を
印加した場合に、温度上昇が抵抗値のばらつきに対応し
てばらつくことになる。その為、抵抗値が大きい発熱素
子に対してはパルス幅を大きくし、抵抗値が小さい発熱
素子に対してはパルス幅を小さくしで、同一階調レベル
の記録を行う場合に、抵抗値のばらつきに関係なく発熱
素子の駆動電力が同じになるように制御する必要がある
。
記録動作中に発熱素子の抵抗値を測定するには、一定の
電圧をそれぞれの発熱素子に供給して、流れる電流から
求めることができる。しかし、A4版の8mm/ドツト
の記録を行う場合のサーマルヘッドは、1728個の発
熱素子を有することになり、簡単に抵抗値を測定するこ
とは困難である。従って、従来は、ばらつきの少ないサ
ーマルヘッドを選別して使用するか、又は予め抵抗値を
測定してリードオンリメモリ (ROM)に書込んでお
く等の手段が採用されている。その場合、前者の手段に
よると、サーマルヘッドの歩留りが低くなり、コストア
ンプの原因となる。又後者の手段によると、サーマルヘ
ッドの経年変化に対応できないから、高精度の多値記録
が困難となる。
電圧をそれぞれの発熱素子に供給して、流れる電流から
求めることができる。しかし、A4版の8mm/ドツト
の記録を行う場合のサーマルヘッドは、1728個の発
熱素子を有することになり、簡単に抵抗値を測定するこ
とは困難である。従って、従来は、ばらつきの少ないサ
ーマルヘッドを選別して使用するか、又は予め抵抗値を
測定してリードオンリメモリ (ROM)に書込んでお
く等の手段が採用されている。その場合、前者の手段に
よると、サーマルヘッドの歩留りが低くなり、コストア
ンプの原因となる。又後者の手段によると、サーマルヘ
ッドの経年変化に対応できないから、高精度の多値記録
が困難となる。
本発明は、簡単な回路構成でもって、発熱素子の抵抗値
を測定し、高精度な多値記録を可能とすることを目的と
するものである。
を測定し、高精度な多値記録を可能とすることを目的と
するものである。
本発明のサーマルヘッドの多値駆動方式は、第1図を参
照して説明すると、発熱素子1に記録信号を印加するド
ライブ集積回路等からなる駆動部2と、この駆動部2に
、階調データDnに対応した記録制御信号pcを加える
と共に、発熱素子1への記録信号印加後の冷却期間に、
発熱素子1を順次選択して短時間電流を供給する為の制
御信号MCを加える制御部3と、選択された発熱素子1
に流れる電流を測定する電流測定部4と、測定された電
流値からその発熱素子1の抵抗値を算出し、その抵抗値
が所定範囲内であるか否か判定し、断線或いは劣化が進
行したと判定された場合は、アラーム信号ALを出力し
、又算出された抵抗値情報を制御部3に加える抵抗算出
部5とを備えたものであり、制御部3は、抵抗算出部5
からの抵抗値情報を発熱素子対応に記憶しておくことが
できるものである。
照して説明すると、発熱素子1に記録信号を印加するド
ライブ集積回路等からなる駆動部2と、この駆動部2に
、階調データDnに対応した記録制御信号pcを加える
と共に、発熱素子1への記録信号印加後の冷却期間に、
発熱素子1を順次選択して短時間電流を供給する為の制
御信号MCを加える制御部3と、選択された発熱素子1
に流れる電流を測定する電流測定部4と、測定された電
流値からその発熱素子1の抵抗値を算出し、その抵抗値
が所定範囲内であるか否か判定し、断線或いは劣化が進
行したと判定された場合は、アラーム信号ALを出力し
、又算出された抵抗値情報を制御部3に加える抵抗算出
部5とを備えたものであり、制御部3は、抵抗算出部5
からの抵抗値情報を発熱素子対応に記憶しておくことが
できるものである。
制御部3は、階調データDnに対応し、且つ抵抗算出部
5で求めた抵抗情報に従って駆動部2へ記録制御信号P
Cを加えると共に、発熱素子1への記録信号印加後の冷
却期間に、発熱素子1を順次選択して短時間の電流供給
の為の制御信号MCを出力するもので、駆動部2は、制
御信号MCに従って、選択された発熱素子1に記録が行
われない程度の短時間の電流を供給し、その電流を電流
測定部4で測定する。抵抗算出部5は、電流測定部4で
測定した電流値から抵抗値を算出し、その抵抗値が所定
範囲内であるか否か判定して、断線や劣化進行と判定し
た場合は、アラーム信号ALを出力することができる。
5で求めた抵抗情報に従って駆動部2へ記録制御信号P
Cを加えると共に、発熱素子1への記録信号印加後の冷
却期間に、発熱素子1を順次選択して短時間の電流供給
の為の制御信号MCを出力するもので、駆動部2は、制
御信号MCに従って、選択された発熱素子1に記録が行
われない程度の短時間の電流を供給し、その電流を電流
測定部4で測定する。抵抗算出部5は、電流測定部4で
測定した電流値から抵抗値を算出し、その抵抗値が所定
範囲内であるか否か判定して、断線や劣化進行と判定し
た場合は、アラーム信号ALを出力することができる。
又算出した抵抗値情報を制御部5に加える。従って、制
御部5は、この抵抗値情報を基に次の階調データDnに
対応した記録信号のパルス幅を補正する処理を行うこと
ができ、高精度の多値記録が可能となる。
御部5は、この抵抗値情報を基に次の階調データDnに
対応した記録信号のパルス幅を補正する処理を行うこと
ができ、高精度の多値記録が可能となる。
以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。
する。
第2図は本発明の実施例のブロック図であり、第7図と
同一符号は同一部分を示し、17はカウンタ、18.1
9は比較回路、20は定数回路、21はアンド回路、2
2はオア回路である。スキャンクロック信号CLをカウ
ンタ11でカウントし、そのカウント出力をアドレス信
号とし、階調データDnを続出書込信号RWに従ってラ
イン記録周期の初期に書込み、その後に繰り返し階調デ
ータDnの読出しが行われる。RAM12から読出され
た階調データDnは、ROM13に加えられ、階調デー
タDnに対応した長さを示すサプライン値が読出される
。この続出出力のサプライン値とサプライン値SBLと
が比較回路14で比較され、サプライン値SELが小さ
いと、“1”の信号が出力され、イネーブル信号PEが
“1”の時に、アンド回路15.オア回路22を介して
ブロッキング回路16に加えられる。ブロッキング回路
16はスキャンクロック信号CLに同期して、ドライブ
集積回路に駆動信号DVI〜DV54を加えるものであ
る。それによって、階調データDnに対応したパルス幅
の記録信号が発熱素子に印加されて、多値記録が行われ
る。
同一符号は同一部分を示し、17はカウンタ、18.1
9は比較回路、20は定数回路、21はアンド回路、2
2はオア回路である。スキャンクロック信号CLをカウ
ンタ11でカウントし、そのカウント出力をアドレス信
号とし、階調データDnを続出書込信号RWに従ってラ
イン記録周期の初期に書込み、その後に繰り返し階調デ
ータDnの読出しが行われる。RAM12から読出され
た階調データDnは、ROM13に加えられ、階調デー
タDnに対応した長さを示すサプライン値が読出される
。この続出出力のサプライン値とサプライン値SBLと
が比較回路14で比較され、サプライン値SELが小さ
いと、“1”の信号が出力され、イネーブル信号PEが
“1”の時に、アンド回路15.オア回路22を介して
ブロッキング回路16に加えられる。ブロッキング回路
16はスキャンクロック信号CLに同期して、ドライブ
集積回路に駆動信号DVI〜DV54を加えるものであ
る。それによって、階調データDnに対応したパルス幅
の記録信号が発熱素子に印加されて、多値記録が行われ
る。
又カウンタ17は、発熱素子カウントクロック信号SC
Lをカウントし、そのカウント出力は、抵抗値を算出す
べき発熱素子を示すものとなる。
Lをカウントし、そのカウント出力は、抵抗値を算出す
べき発熱素子を示すものとなる。
このカウンタ17のカウント出力と、スキャンクロック
信号CLをカウントするカウンタ11のカウント出力と
が比較回路18で比較され、比較一致により“1”が出
力される。
信号CLをカウントするカウンタ11のカウント出力と
が比較回路18で比較され、比較一致により“1”が出
力される。
又サプライン値SELと定数回路20からの定数とが比
較回路19で比較され、比較一致により“l”が出力さ
れる。従って、アンド回路21の“1”の出力信号は、
カウンタ17で示される発熱素子に対する短時間の電流
供給の制御信号MCとなり、ブロッキング回路16にオ
ア回路22を介して加えられるから、選択された発熱素
子に短時間の電流が供給されることになる。
較回路19で比較され、比較一致により“l”が出力さ
れる。従って、アンド回路21の“1”の出力信号は、
カウンタ17で示される発熱素子に対する短時間の電流
供給の制御信号MCとなり、ブロッキング回路16にオ
ア回路22を介して加えられるから、選択された発熱素
子に短時間の電流が供給されることになる。
カウンタ11のカウント出力のスキャン値は、駆動信号
DVI〜DV54によって制御されるドライブ集積回路
に接続された発熱素子を選択するものであり、又発熱素
子カンウトクロソク信号SCLを、ライン記録周期と同
一の周期とすると、カウンタ17のカウント出力は、ラ
イン記録周期毎に+1されて、抵抗値を算出すべき発熱
素子を示すものとなる。この場合は、ライン記録周期毎
に1個の発熱素子が選択されて、短時間の電流供給が行
われることになる。なお、ライン記録周期毎に複数の発
熱素子を順次選択するようにすることも可能である。即
ち、カウンタ17が、発熱素子に記録信号を印加した後
の冷却期間に、複数の発熱素子カウントクロック信号S
CLをカウントアツプする構成とすれば良いことになる
。
DVI〜DV54によって制御されるドライブ集積回路
に接続された発熱素子を選択するものであり、又発熱素
子カンウトクロソク信号SCLを、ライン記録周期と同
一の周期とすると、カウンタ17のカウント出力は、ラ
イン記録周期毎に+1されて、抵抗値を算出すべき発熱
素子を示すものとなる。この場合は、ライン記録周期毎
に1個の発熱素子が選択されて、短時間の電流供給が行
われることになる。なお、ライン記録周期毎に複数の発
熱素子を順次選択するようにすることも可能である。即
ち、カウンタ17が、発熱素子に記録信号を印加した後
の冷却期間に、複数の発熱素子カウントクロック信号S
CLをカウントアツプする構成とすれば良いことになる
。
第3図は動作説明図であり、(a]は低階調レベルの記
録信号と短時間の電流、(b)は高階調レベルの記録信
号と短時間の電流とを示し、低階調レベルの記録信号を
印加した発熱素子の温度は曲線aに示すように変化し、
又高階調レベルの記録信号を印加した発熱素子の温度は
曲線すに示すように変化する。又(C)は続出書込信号
RW、(dlは抵抗値を算出する為に短時間電流を供給
する制御信号MCを示す。
録信号と短時間の電流、(b)は高階調レベルの記録信
号と短時間の電流とを示し、低階調レベルの記録信号を
印加した発熱素子の温度は曲線aに示すように変化し、
又高階調レベルの記録信号を印加した発熱素子の温度は
曲線すに示すように変化する。又(C)は続出書込信号
RW、(dlは抵抗値を算出する為に短時間電流を供給
する制御信号MCを示す。
記録信号は、サプラインを単位として、階調データDn
に対応したサプライン数のパルス幅に形成されるもので
あり、それによって、多値記録が行われる。又制御信号
MCのタイミングで発熱素子に流れる電流を測定するこ
とによって、その発熱素子の抵抗値が算出される。
に対応したサプライン数のパルス幅に形成されるもので
あり、それによって、多値記録が行われる。又制御信号
MCのタイミングで発熱素子に流れる電流を測定するこ
とによって、その発熱素子の抵抗値が算出される。
算出された抵抗値情報は、図示を省略したランダムアク
セスメモリ (RAM)に、発熱素子対応に記憶させ、
RAM12から発熱素子対応に階調データDnを読出し
た時に、その発熱素子対応の記憶抵抗値情報を読出して
、パルス幅変換する時の補正情報とすることができる。
セスメモリ (RAM)に、発熱素子対応に記憶させ、
RAM12から発熱素子対応に階調データDnを読出し
た時に、その発熱素子対応の記憶抵抗値情報を読出して
、パルス幅変換する時の補正情報とすることができる。
例えば、ROM13に、RAM12から発熱素子対応の
階調データDnを読出して加えると共に、その発熱素子
対応の抵抗値情報を加えて、補正されたサプライン値を
読出すように構成することができる。それによって、経
年変化で発熱素子の抵抗値が変化しても、その抵抗値の
変化に対応した記録信号を発熱素子に印加することがで
きるから、高精度の多値記録が可能となる。
階調データDnを読出して加えると共に、その発熱素子
対応の抵抗値情報を加えて、補正されたサプライン値を
読出すように構成することができる。それによって、経
年変化で発熱素子の抵抗値が変化しても、その抵抗値の
変化に対応した記録信号を発熱素子に印加することがで
きるから、高精度の多値記録が可能となる。
なお、発熱素子の抵抗値は、温度によっても変化するが
、本実施例のように、発熱素子が冷却した時点で抵抗値
を測定する限り、その変化の大きさは経年変化に比べて
充分に小さく、本発明の実施に於いては無視できる。又
この性質をより積極的に用いて、本実施例の抵抗測定値
から温度を算出し、サーマルヘッド内の蓄熱補正を行う
こともできるが、その場合には、電流測定部及び抵抗算
出部の精度を1桁程度高くする必要がある。しかし、非
常に高速で且つ高精度に多値記録を行う場合には有効で
ある。即ち、高速記録時には、蓄熱の影響が大きく、蓄
熱量の演算だけでは充分な精度が得られず、しかも演算
回路は高価なものとなるが、本発明の実施例に於ける抵
抗測定回路を高精度化した時に、それに見合う経済的且
つ性能的効果を期待できることになる。この抵抗測定値
に基づ(蓄熱補正手段についても提案した。
、本実施例のように、発熱素子が冷却した時点で抵抗値
を測定する限り、その変化の大きさは経年変化に比べて
充分に小さく、本発明の実施に於いては無視できる。又
この性質をより積極的に用いて、本実施例の抵抗測定値
から温度を算出し、サーマルヘッド内の蓄熱補正を行う
こともできるが、その場合には、電流測定部及び抵抗算
出部の精度を1桁程度高くする必要がある。しかし、非
常に高速で且つ高精度に多値記録を行う場合には有効で
ある。即ち、高速記録時には、蓄熱の影響が大きく、蓄
熱量の演算だけでは充分な精度が得られず、しかも演算
回路は高価なものとなるが、本発明の実施例に於ける抵
抗測定回路を高精度化した時に、それに見合う経済的且
つ性能的効果を期待できることになる。この抵抗測定値
に基づ(蓄熱補正手段についても提案した。
第4図は本発明の実施例の要部ブロック図であり、1は
発熱素子、30は駆動回路、31は電流測定回路、32
はホールド回路、33はリードオンリメモリ (ROM
) 、34は遅延回路、35〜37は比較回路、38は
アンド回路である。又Qは駆動トランジスタ、rは電流
検出用の低抵抗、■は電源電圧である。
発熱素子、30は駆動回路、31は電流測定回路、32
はホールド回路、33はリードオンリメモリ (ROM
) 、34は遅延回路、35〜37は比較回路、38は
アンド回路である。又Qは駆動トランジスタ、rは電流
検出用の低抵抗、■は電源電圧である。
駆動回路30に記録制御信号PCが加えられ、そのパル
ス幅に対応して駆動トランジスタQがオンとなり、発熱
素子1に記録信号が印加される。
ス幅に対応して駆動トランジスタQがオンとなり、発熱
素子1に記録信号が印加される。
又この記録信号印加後の冷却期間に、制?111信号M
Cが加えられ、発熱素子1に短時間の電流が供給される
。又この制御信号MCは、遅延回路34により駆動回路
30等に於ける遅延を補正されてホールド回路32に加
えられる。
Cが加えられ、発熱素子1に短時間の電流が供給される
。又この制御信号MCは、遅延回路34により駆動回路
30等に於ける遅延を補正されてホールド回路32に加
えられる。
発熱素子1には抵抗rを介して電流Iが流れるので、そ
の抵抗rの電圧降下eとして電流測定回路31で検出し
、ewl−rの関係から電流■の測定を行い、測定電流
値をホールド回路32に加える。従って、短時間の電流
供給時に測定された電流値がホールド回路32にホール
ドされることになる。このホールドされた測定電流値を
アドレス信号としてROM33をアクセスし、抵抗値を
続出するものであり、読出された抵抗値情報は制御部3
(第1図参照)に加えられる。
の抵抗rの電圧降下eとして電流測定回路31で検出し
、ewl−rの関係から電流■の測定を行い、測定電流
値をホールド回路32に加える。従って、短時間の電流
供給時に測定された電流値がホールド回路32にホール
ドされることになる。このホールドされた測定電流値を
アドレス信号としてROM33をアクセスし、抵抗値を
続出するものであり、読出された抵抗値情報は制御部3
(第1図参照)に加えられる。
スホールドされた測定電流値は、比較回路35〜37に
加えられ、下限値、上限値及び断線判定値とそれぞれ比
較される。測定電流値が下限値以上であると、発熱素子
1の抵抗値が上限値以下であり、その場合は、比較回路
35から“1”の信号が出力され、又測定電流値が上限
値以下であると、発熱素子の抵抗値は下限値以上であっ
て、比較回路36から“1”の信号が出力される。従っ
て、下限値以上で且つ上平値以下の場合に、アンド回路
38の出力の非劣化信号は“1”となり、正常状態であ
ることを示すものとなる。又測定電流値が下限値以下又
は上限値以上となると、比較回路35.36の出力は“
0″となるから、アンド回路38の出力の非劣化信号は
“0”となり、発熱素子が劣化したことを示すものとな
る。
加えられ、下限値、上限値及び断線判定値とそれぞれ比
較される。測定電流値が下限値以上であると、発熱素子
1の抵抗値が上限値以下であり、その場合は、比較回路
35から“1”の信号が出力され、又測定電流値が上限
値以下であると、発熱素子の抵抗値は下限値以上であっ
て、比較回路36から“1”の信号が出力される。従っ
て、下限値以上で且つ上平値以下の場合に、アンド回路
38の出力の非劣化信号は“1”となり、正常状態であ
ることを示すものとなる。又測定電流値が下限値以下又
は上限値以上となると、比較回路35.36の出力は“
0″となるから、アンド回路38の出力の非劣化信号は
“0”となり、発熱素子が劣化したことを示すものとな
る。
又比較回路37に於いて、測定電流値と断線判定値とが
比較され、測定電流値が断線判定値以下であると、断線
判定信号が比較回路37から出力される。この断線判定
信号又は“0”の非劣化信号が出力された時に、アラー
ム信号AL(第1図−参照)を出力するように構成する
ことができる。
比較され、測定電流値が断線判定値以下であると、断線
判定信号が比較回路37から出力される。この断線判定
信号又は“0”の非劣化信号が出力された時に、アラー
ム信号AL(第1図−参照)を出力するように構成する
ことができる。
又断線酸いは劣化した発熱素子の番号を、カウンタ17
(第2図参照)のカウント出力を利用して表示するこ
とも可能である。
(第2図参照)のカウント出力を利用して表示するこ
とも可能である。
発熱素子の抵抗値の上限値及び下限値は、当然温度の関
数である。しかし、前述のように、通常は経年変化に比
べれば温度による変化分は十分に小さく、本発明の実施
に於いては無視しても支障はない。勿論、サーミスタ等
の温度計測手段或いは温度演算手段を用いて温度を検出
し、その検出値をA/D変換し、上限値及び下限値を格
納したROMのアドレスとして入力することにより、容
易に上限値及び下限値を温度の関数として発生させるこ
とも可能である。このような手段を採用すれば、より速
(発熱素子の劣化を検出し得ることは言うまでもない。
数である。しかし、前述のように、通常は経年変化に比
べれば温度による変化分は十分に小さく、本発明の実施
に於いては無視しても支障はない。勿論、サーミスタ等
の温度計測手段或いは温度演算手段を用いて温度を検出
し、その検出値をA/D変換し、上限値及び下限値を格
納したROMのアドレスとして入力することにより、容
易に上限値及び下限値を温度の関数として発生させるこ
とも可能である。このような手段を採用すれば、より速
(発熱素子の劣化を検出し得ることは言うまでもない。
発熱素子1に流れる電流の検出は、低抵抗rを用いる以
外に周知の各種の手段を採用することが可能である。又
全発熱素子に対する電源線を1本とすると、電流測定回
路3Iは1個で良いことになる。しかし、DD型サーマ
ルヘッドに於いては、全発熱素子に対する電a線を1本
とすると、電流が大きくなり過ぎるので、2〜4分割す
ることが多いものである。この場合には、各電源線に対
応して電流測定回路31を設ければ良いことになる。
外に周知の各種の手段を採用することが可能である。又
全発熱素子に対する電源線を1本とすると、電流測定回
路3Iは1個で良いことになる。しかし、DD型サーマ
ルヘッドに於いては、全発熱素子に対する電a線を1本
とすると、電流が大きくなり過ぎるので、2〜4分割す
ることが多いものである。この場合には、各電源線に対
応して電流測定回路31を設ければ良いことになる。
以上説明したように、本発明は、発熱素子1に記録信号
を印加した後の冷却期間に於いて、順次選択された発熱
素子1に、短時間の電流を供給し、その電流を測定して
発熱素子1の抵抗値を算出するものであり、電流測定部
4及び抵抗算出部5は、発熱素子1数が多い場合でも、
1〜数本の電源線数に対応した構成で済むから、面単且
つ経済的な構成で、全発熱素子1の抵抗値を測定するこ
とができる。更に、経年変化による発熱素子の抵抗値の
変化が所定範囲内であるか否か、即ち、劣化の進行状態
の判定並びに断線の判定も可能であるから、常に高精度
の多値記録を保証できる利点がある。
を印加した後の冷却期間に於いて、順次選択された発熱
素子1に、短時間の電流を供給し、その電流を測定して
発熱素子1の抵抗値を算出するものであり、電流測定部
4及び抵抗算出部5は、発熱素子1数が多い場合でも、
1〜数本の電源線数に対応した構成で済むから、面単且
つ経済的な構成で、全発熱素子1の抵抗値を測定するこ
とができる。更に、経年変化による発熱素子の抵抗値の
変化が所定範囲内であるか否か、即ち、劣化の進行状態
の判定並びに断線の判定も可能であるから、常に高精度
の多値記録を保証できる利点がある。
第1図は本発明の原理ブロック図、第2図は本発明の実
施例のブロック図、第3図は動作説明図、第4図は本発
明の実施例の要部ブロック図、第5図は熱転写サーマル
プリンタの説明図、第6図はサーマルヘッドの概略断面
図、第7図は従来例のブクブク図である。 1は発熱素子、2は駆動部、3は制御部、4は電流測定
部、5は抵抗算出部、Dnは階調データ、PCは記録制
御信号、MCは電流測定用の制御信号、11.17はカ
ウンタ、12はランダムアクセスメモリ (RAM)
、13はリードオンリメモリ (ROM)、14,18
.19は比較回路、15.21はアンド回路、16はブ
ロッキング回路、22はオア回路、30は駆動回路、3
1は電流測定回路、32はホールド回路、33はリード
オンリメモリ (ROM) 、34は遅延回路、35〜
37は比較回路、38はアンド回路である。
施例のブロック図、第3図は動作説明図、第4図は本発
明の実施例の要部ブロック図、第5図は熱転写サーマル
プリンタの説明図、第6図はサーマルヘッドの概略断面
図、第7図は従来例のブクブク図である。 1は発熱素子、2は駆動部、3は制御部、4は電流測定
部、5は抵抗算出部、Dnは階調データ、PCは記録制
御信号、MCは電流測定用の制御信号、11.17はカ
ウンタ、12はランダムアクセスメモリ (RAM)
、13はリードオンリメモリ (ROM)、14,18
.19は比較回路、15.21はアンド回路、16はブ
ロッキング回路、22はオア回路、30は駆動回路、3
1は電流測定回路、32はホールド回路、33はリード
オンリメモリ (ROM) 、34は遅延回路、35〜
37は比較回路、38はアンド回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 階調データに対応した記録信号をサーマルヘッドの発熱
素子(1)に印加し、該発熱素子(1)の発熱温度に対
応した記録濃度で記録媒体へ記録する多値サーマルプリ
ンタに於いて 前記発熱素子(1)に記録信号を印加する駆動部(2)
と、 該駆動部(2)に、入力された前記階調データに対応し
た記録制御信号を加えると共に、前記発熱素子(1)へ
の記録信号印加後の冷却期間に、前記発熱素子(1)を
順次選択し、選択された発熱素子(1)に短時間電流を
供給する為の制御信号を加える制御部(3)と、 前記選択された発熱素子(1)に流れる電流を測定する
電流測定部(4)と、 該電流測定部(4)による測定値から発熱素子(1)の
抵抗値を求め、所定範囲内か否かを判定し、抵抗値情報
を前記制御部(3)へ加える抵抗算出部(5)と を備えたことを特徴とする多値サーマルプリンタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60166840A JPS6228263A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 多値サ−マルプリンタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60166840A JPS6228263A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 多値サ−マルプリンタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6228263A true JPS6228263A (ja) | 1987-02-06 |
Family
ID=15838625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60166840A Pending JPS6228263A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 多値サ−マルプリンタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6228263A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01156080A (ja) * | 1987-12-14 | 1989-06-19 | Ricoh Co Ltd | 感熱ヘッド駆動装置 |
JPH02235769A (ja) * | 1989-03-10 | 1990-09-18 | Sharp Corp | 印画装置 |
JPH07243265A (ja) * | 1994-03-07 | 1995-09-19 | Fujio Itagaki | 建築物の沈下修正工法 |
-
1985
- 1985-07-30 JP JP60166840A patent/JPS6228263A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01156080A (ja) * | 1987-12-14 | 1989-06-19 | Ricoh Co Ltd | 感熱ヘッド駆動装置 |
JPH02235769A (ja) * | 1989-03-10 | 1990-09-18 | Sharp Corp | 印画装置 |
JPH07243265A (ja) * | 1994-03-07 | 1995-09-19 | Fujio Itagaki | 建築物の沈下修正工法 |
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