JPS6228263A

JPS6228263A - 多値サ−マルプリンタ

Info

Publication number: JPS6228263A
Application number: JP60166840A
Authority: JP
Inventors: Tomohisa Mikami; 三上　知久
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1985-07-30
Filing date: 1985-07-30
Publication date: 1987-02-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概要〕多値記録を行うサーマルプリンタに於いて、サーマルヘ
ッドの発熱素子を、記録信号の印加後の冷却期間に、順
次選択して短時間電流を供給し、その電流を測定して発
熱素子の抵抗値を求め、発熱素子の経年変化による劣化
状態又は断線を検出し、且つ発熱素子の抵抗値をもとに
発熱素子に印加する記録信号を制御して、高精度の多値
記録を可能とするものである。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、発熱素子の抵抗値を算出して、劣化状態を判
定すると共に、高精度の多値記録を行う多値サーマルプ
リンタに関するものである。

サーマルプリンタとしては、感熱記録方式と熱転写記録
方式とがあり、前者は、熱によって変色する記録用紙に
直接サーマルヘッドを接触させ、そのサーマルヘッドの
発熱素子を加熱して記録用紙を変色させることによって
記録する方式であり、又後者は、サーマルヘッドにより
インクシートを加熱して溶融或いは昇華させ、それを記
録用紙に転写して記録する方式である。又発熱素子の走
査方式としては、ライン記録方式とシリアル記録方式と
に大別される。高速記録にはライン記録方式が用いられ
、低速記録にはシリアル記録方式が用いられる。又サー
マルヘッドに印加する記録信号の波高値又は印加時間を
制御することにより、多値記録が可能である。

〔従来の技術〕

ライン記録方式の熱転写サーマルプリンタは、第５図に
示すように、サーマルヘッド４１を、インクシート４２
と記録用紙４３を介してプラテン４４と対向配置し、イ
ンクシート４２をサーマルヘッド４１により加熱するこ
とにより、インクシート４２のインクが溶融して記録用
紙４３に転写され、記録が行われる構成である。サーマ
ルヘッド４１は、紙面と垂直方向に沿って配列された１
ライン分の発熱素子を有し、１ライン分の記録がほぼ同
時に行われ、この１ライン分の記録が終了すると、記録
用紙４３とインクシート４２とは同時に矢印方向に移送
される。

サーマルヘッド４１は、第６図に示すように、多層構造
を有し、基板５５上にグレーズ層５４、発熱体５３、電
極５２が形成され、記録用紙４３側の表面には保護層５
１が形成されている。又基板の裏面には放熱フィン５６
が設けられている。

ライン記録方式では、サーマルヘッドの発熱素子の数が
、例えば、Ａ４版、３ｍｍ／ドツトの場合に、１７２８
個のように多いものであるから、リード線引出しには、
ダイオードマトリクスを用いる方式、或いは３２〜６４
個の発熱素子に対するラッチ回路とドライブトランジス
タとを集積化した専用のドライブ集積回路を用いる方式
が実用化されている。前者をダイオードマトリクス（Ｄ
Ｍ）型、後者をダイレクトドライブ（ＤＤ）型と称する
もので、最近は、周辺回路を簡単化できるＤＤ型が主流
となっている。

このようなりＤ型のサーマルヘッドでは、その構造上、
発熱素子に印加する電圧を発熱素子毎に変化させること
は困難であるから、多値駆動する場合に、記録信号を細
分化してパルス幅制御を行う方式が採用されている。

第７図は従来例の要部ブロック図であり、ＤＤ型サーマ
ルヘッドに対する制御部の要部を示すものである。同図
に於いて、１１はカウンタ、１２はランダムアクセスメ
モリＲＡＭ、１３はリードオンリメモリＲＯＭ、１４は
比較回路、１５はアンド回路、１６はブロッキング回路
、ＳＢＬはサプライン値、ＣＬはスキャンクロック信号
、Ｄｎは階調データ、ＲＷは続出書込信号、ＰＥはイネ
ーブル信号、ＤＶＩ〜ＤＶ５４はドライブ集積回路の駆
動信号であり、発熱素子数を１７２８（Ａ４版、８ｍ　
ｍ　／ドツト）とし、１個のドライブ集積回路当り３２
個の発熱素子を駆動する場合についてのもので、５４個
のドライブ集積回路が設けられることになる。

１ラインの記録周期は、通常１００〜１０００分割され
、分割された１期間をサプラインと称し、ライン記録周
期開始時のサプライン値ＳＥＬを０とし、以下順次１，
２，３．　　・・・とする。又１サプラインの中で全発
熱素子を走査する為、これを発熱素子数で等分する。こ
の等分された各期間をスキャンと称し、サプライン開始
時のスキャン値をＯとし、以下１，２，３．　　・・・
とする。

カウンタ１１はスキャンクロック信号ＣＬをカウントと
して、スキャン値をＲＡＭ１２のアドレス信号として加
えるものである。

ライン記録周期の開始から１サプライン前に、全発熱素
子に対する階調データＤｎが準備され、書込みを示す続
出書込信号ＲＷが加えられると、全発熱素子に対する階
調データＤｎがＲＡＭ１２に書込まれる。この書込後、
続出書込信号ＲＷは“１”となって読出しを示すことに
なり、又１サプラインでスキャン値はＯ〜１７２７とな
るから、ＲＡＭ１２に対して、カウンタ１１からのスキ
ャン値をアドレス信号として繰り返し階調データＤｎの
読出しが行われる。

ＲＡＭ１２から読出された階調データＤｎは、ＲＯＭ１
３によって駆動信号が“１”から“０”に変化すべきサ
プライン値に変換される。即ち、階調データＤｎはパル
ス幅に相当するサプライン数に変換される。このＲＯＭ
１３の出力のサプライン値と、入力されたサプライン値
ＳＥＬとが比較回路１４で比較され、このサプライン値
ＳＢＬがＲＯＭ１３の出力サブライン値より小さいと、
比較回路１４の出力は”■”となり、ＲＯＭ１３の出力
のサプライン値に等しいサプライン値ＳＢＬとなるまで
、比較回路１４の出力は“１”となる。従って、階調デ
ータＤｎはパルス幅に変換されることになる。

又ライン記録周期の開始から所定時間イネーブル信号Ｐ
Ｅが“１”となり、それによって、アンド回路１５が開
かれて、ブロッキング回路１６に比較回路１４の出力が
加えられる。ブロッキング回路工６は、スキャンクロツ
タ信号ＣＬに同期して、アンド回路１５の出力信号をブ
ロッキングし、サーマルヘッドに搭載された５４個のド
ライブ集積回路に対する駆動信号ＤＶＩ〜ＤＶ５４を出
ノｊする。従って、各ドライブ集積回路に接続された３
２個の発熱素子に、それぞれ階調データＤｎに対応して
サプラインを単位長としたパルス幅の記録信号が印加さ
れることになり、多値記録が行われる。

又前述のブロッキング回路１６についてＮ単に説明する
。ブロッキング回路１６は、各サプライン期間に於いて
、毎回１〜１７２８番目までの発熱体に対する２値デー
タＢＤｉ　　（ｉ＝１．２．３・・・１７２８）を１番
目から順番に入力する。

一方、サーマルヘッドに搭載されている５４個のドライ
ブ集積回路は、それぞれ１〜３２．３３〜６４、・・・
１６９７〜１７２８番目の発熱体の駆動を受は持ってお
り、ドライブ集積回路の駆動信号ＤＶＩは２値駆動デー
タＢＤＩ〜ＢＤ３２、駆動信号ＤＶ２は２値駆動データ
ＢＤ３３〜ＢＤ６４、・・・、駆動信号ＤＶ５４は２値
駆動データＢＤ１６９７〜ＢＤ１７２８を順番に入力し
なければならない。しかも、転送可能速度は、スキャン
クロック信号ＣＬの周波数に比べて通常１桁以上遅いも
のである。

そこで、ブロッキング回路１６は５４個の３２×１ビツ
トのＦＩＦＯＣファースト・イン・ファースト・アウト
・メモリ）２Ｍｉで構成され、２値駆動データＢＤｉが
高速にシリアルに書込まれ、駆動信号ＤＶＩ〜ＤＶ５４
が低速にパラレルに読出されるものである。この書込時
は、５４個のＦＩＦＯが総て直列に接続され、５４Ｘ３
２Ｘ１ビツト、即ち、１７２８Ｘ１ビツトのＦＩＦＯと
等価となる。そして、２値駆動データＢＤＩ〜ＢＤ１７
２８が書込まれた後、続出モードとなり、各ＦＩＦＯは
切り離されてパラレル読出しが可能の構成となる。従っ
て、最初の続出データは、ＢＤｌ、ＢＤ３３．　　・・
・ＢＤ１６９７となり、次の続出データは、ＢＤ２．Ｂ
Ｄ３４．　　・・・・ＢＤ１６９８となる。そして、最
終の続出データ、即ち、３２番目の出力は、ＢＤ３２．
ＢＤ６４．　　・・・ＢＤ１７２８となって、各ＦＩＦ
Ｏの出力は、所望の駆動信号ＤＶＩ〜ＤＶ５４となる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の多値サーマルプリンタに於いては、サーマルヘッ
ドの蓄熱の問題や、発熱素子の抵抗値のばらつき等の問
題等がある為に、充分な精度で多値記録を行うことは困
難であった。例えば、発熱素子の抵抗値は、薄膜型サー
マルヘッドの場合に±１５％、厚膜型サーマルヘッドの
場合±２５％のばらつきがあり、同一条件の記録信号を
印加した場合に、温度上昇が抵抗値のばらつきに対応し
てばらつくことになる。その為、抵抗値が大きい発熱素
子に対してはパルス幅を大きくし、抵抗値が小さい発熱
素子に対してはパルス幅を小さくしで、同一階調レベル
の記録を行う場合に、抵抗値のばらつきに関係なく発熱
素子の駆動電力が同じになるように制御する必要がある
。

記録動作中に発熱素子の抵抗値を測定するには、一定の
電圧をそれぞれの発熱素子に供給して、流れる電流から
求めることができる。しかし、Ａ４版の８ｍｍ／ドツト
の記録を行う場合のサーマルヘッドは、１７２８個の発
熱素子を有することになり、簡単に抵抗値を測定するこ
とは困難である。従って、従来は、ばらつきの少ないサ
ーマルヘッドを選別して使用するか、又は予め抵抗値を
測定してリードオンリメモリ　（ＲＯＭ）に書込んでお
く等の手段が採用されている。その場合、前者の手段に
よると、サーマルヘッドの歩留りが低くなり、コストア
ンプの原因となる。又後者の手段によると、サーマルヘ
ッドの経年変化に対応できないから、高精度の多値記録
が困難となる。

本発明は、簡単な回路構成でもって、発熱素子の抵抗値
を測定し、高精度な多値記録を可能とすることを目的と
するものである。

〔問題点を解決するだめの手段〕

本発明のサーマルヘッドの多値駆動方式は、第１図を参
照して説明すると、発熱素子１に記録信号を印加するド
ライブ集積回路等からなる駆動部２と、この駆動部２に
、階調データＤｎに対応した記録制御信号ｐｃを加える
と共に、発熱素子１への記録信号印加後の冷却期間に、
発熱素子１を順次選択して短時間電流を供給する為の制
御信号ＭＣを加える制御部３と、選択された発熱素子１
に流れる電流を測定する電流測定部４と、測定された電
流値からその発熱素子１の抵抗値を算出し、その抵抗値
が所定範囲内であるか否か判定し、断線或いは劣化が進
行したと判定された場合は、アラーム信号ＡＬを出力し
、又算出された抵抗値情報を制御部３に加える抵抗算出
部５とを備えたものであり、制御部３は、抵抗算出部５
からの抵抗値情報を発熱素子対応に記憶しておくことが
できるものである。

〔作用〕

制御部３は、階調データＤｎに対応し、且つ抵抗算出部
５で求めた抵抗情報に従って駆動部２へ記録制御信号Ｐ
Ｃを加えると共に、発熱素子１への記録信号印加後の冷
却期間に、発熱素子１を順次選択して短時間の電流供給
の為の制御信号ＭＣを出力するもので、駆動部２は、制
御信号ＭＣに従って、選択された発熱素子１に記録が行
われない程度の短時間の電流を供給し、その電流を電流
測定部４で測定する。抵抗算出部５は、電流測定部４で
測定した電流値から抵抗値を算出し、その抵抗値が所定
範囲内であるか否か判定して、断線や劣化進行と判定し
た場合は、アラーム信号ＡＬを出力することができる。

又算出した抵抗値情報を制御部５に加える。従って、制
御部５は、この抵抗値情報を基に次の階調データＤｎに
対応した記録信号のパルス幅を補正する処理を行うこと
ができ、高精度の多値記録が可能となる。

〔実施例〕

以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。

第２図は本発明の実施例のブロック図であり、第７図と
同一符号は同一部分を示し、１７はカウンタ、１８．１
９は比較回路、２０は定数回路、２１はアンド回路、２
２はオア回路である。スキャンクロック信号ＣＬをカウ
ンタ１１でカウントし、そのカウント出力をアドレス信
号とし、階調データＤｎを続出書込信号ＲＷに従ってラ
イン記録周期の初期に書込み、その後に繰り返し階調デ
ータＤｎの読出しが行われる。ＲＡＭ１２から読出され
た階調データＤｎは、ＲＯＭ１３に加えられ、階調デー
タＤｎに対応した長さを示すサプライン値が読出される
。この続出出力のサプライン値とサプライン値ＳＢＬと
が比較回路１４で比較され、サプライン値ＳＥＬが小さ
いと、“１”の信号が出力され、イネーブル信号ＰＥが
“１”の時に、アンド回路１５．オア回路２２を介して
ブロッキング回路１６に加えられる。ブロッキング回路
１６はスキャンクロック信号ＣＬに同期して、ドライブ
集積回路に駆動信号ＤＶＩ〜ＤＶ５４を加えるものであ
る。それによって、階調データＤｎに対応したパルス幅
の記録信号が発熱素子に印加されて、多値記録が行われ
る。

又カウンタ１７は、発熱素子カウントクロック信号ＳＣ
Ｌをカウントし、そのカウント出力は、抵抗値を算出す
べき発熱素子を示すものとなる。

このカウンタ１７のカウント出力と、スキャンクロック
信号ＣＬをカウントするカウンタ１１のカウント出力と
が比較回路１８で比較され、比較一致により“１”が出
力される。

又サプライン値ＳＥＬと定数回路２０からの定数とが比
較回路１９で比較され、比較一致により“ｌ”が出力さ
れる。従って、アンド回路２１の“１”の出力信号は、
カウンタ１７で示される発熱素子に対する短時間の電流
供給の制御信号ＭＣとなり、ブロッキング回路１６にオ
ア回路２２を介して加えられるから、選択された発熱素
子に短時間の電流が供給されることになる。

カウンタ１１のカウント出力のスキャン値は、駆動信号
ＤＶＩ〜ＤＶ５４によって制御されるドライブ集積回路
に接続された発熱素子を選択するものであり、又発熱素
子カンウトクロソク信号ＳＣＬを、ライン記録周期と同
一の周期とすると、カウンタ１７のカウント出力は、ラ
イン記録周期毎に＋１されて、抵抗値を算出すべき発熱
素子を示すものとなる。この場合は、ライン記録周期毎
に１個の発熱素子が選択されて、短時間の電流供給が行
われることになる。なお、ライン記録周期毎に複数の発
熱素子を順次選択するようにすることも可能である。即
ち、カウンタ１７が、発熱素子に記録信号を印加した後
の冷却期間に、複数の発熱素子カウントクロック信号Ｓ
ＣＬをカウントアツプする構成とすれば良いことになる
。

第３図は動作説明図であり、（ａ］は低階調レベルの記
録信号と短時間の電流、（ｂ）は高階調レベルの記録信
号と短時間の電流とを示し、低階調レベルの記録信号を
印加した発熱素子の温度は曲線ａに示すように変化し、
又高階調レベルの記録信号を印加した発熱素子の温度は
曲線すに示すように変化する。又（Ｃ）は続出書込信号
ＲＷ、（ｄｌは抵抗値を算出する為に短時間電流を供給
する制御信号ＭＣを示す。

記録信号は、サプラインを単位として、階調データＤｎ
に対応したサプライン数のパルス幅に形成されるもので
あり、それによって、多値記録が行われる。又制御信号
ＭＣのタイミングで発熱素子に流れる電流を測定するこ
とによって、その発熱素子の抵抗値が算出される。

算出された抵抗値情報は、図示を省略したランダムアク
セスメモリ　（ＲＡＭ）に、発熱素子対応に記憶させ、
ＲＡＭ１２から発熱素子対応に階調データＤｎを読出し
た時に、その発熱素子対応の記憶抵抗値情報を読出して
、パルス幅変換する時の補正情報とすることができる。

例えば、ＲＯＭ１３に、ＲＡＭ１２から発熱素子対応の
階調データＤｎを読出して加えると共に、その発熱素子
対応の抵抗値情報を加えて、補正されたサプライン値を
読出すように構成することができる。それによって、経
年変化で発熱素子の抵抗値が変化しても、その抵抗値の
変化に対応した記録信号を発熱素子に印加することがで
きるから、高精度の多値記録が可能となる。

なお、発熱素子の抵抗値は、温度によっても変化するが
、本実施例のように、発熱素子が冷却した時点で抵抗値
を測定する限り、その変化の大きさは経年変化に比べて
充分に小さく、本発明の実施に於いては無視できる。又
この性質をより積極的に用いて、本実施例の抵抗測定値
から温度を算出し、サーマルヘッド内の蓄熱補正を行う
こともできるが、その場合には、電流測定部及び抵抗算
出部の精度を１桁程度高くする必要がある。しかし、非
常に高速で且つ高精度に多値記録を行う場合には有効で
ある。即ち、高速記録時には、蓄熱の影響が大きく、蓄
熱量の演算だけでは充分な精度が得られず、しかも演算
回路は高価なものとなるが、本発明の実施例に於ける抵
抗測定回路を高精度化した時に、それに見合う経済的且
つ性能的効果を期待できることになる。この抵抗測定値
に基づ（蓄熱補正手段についても提案した。

第４図は本発明の実施例の要部ブロック図であり、１は
発熱素子、３０は駆動回路、３１は電流測定回路、３２
はホールド回路、３３はリードオンリメモリ　（ＲＯＭ
）　、３４は遅延回路、３５〜３７は比較回路、３８は
アンド回路である。又Ｑは駆動トランジスタ、ｒは電流
検出用の低抵抗、■は電源電圧である。

駆動回路３０に記録制御信号ＰＣが加えられ、そのパル
ス幅に対応して駆動トランジスタＱがオンとなり、発熱
素子１に記録信号が印加される。

又この記録信号印加後の冷却期間に、制？１１１信号Ｍ
Ｃが加えられ、発熱素子１に短時間の電流が供給される
。又この制御信号ＭＣは、遅延回路３４により駆動回路
３０等に於ける遅延を補正されてホールド回路３２に加
えられる。

発熱素子１には抵抗ｒを介して電流Ｉが流れるので、そ
の抵抗ｒの電圧降下ｅとして電流測定回路３１で検出し
、ｅｗｌ−ｒの関係から電流■の測定を行い、測定電流
値をホールド回路３２に加える。従って、短時間の電流
供給時に測定された電流値がホールド回路３２にホール
ドされることになる。このホールドされた測定電流値を
アドレス信号としてＲＯＭ３３をアクセスし、抵抗値を
続出するものであり、読出された抵抗値情報は制御部３
　（第１図参照）に加えられる。

スホールドされた測定電流値は、比較回路３５〜３７に
加えられ、下限値、上限値及び断線判定値とそれぞれ比
較される。測定電流値が下限値以上であると、発熱素子
１の抵抗値が上限値以下であり、その場合は、比較回路
３５から“１”の信号が出力され、又測定電流値が上限
値以下であると、発熱素子の抵抗値は下限値以上であっ
て、比較回路３６から“１”の信号が出力される。従っ
て、下限値以上で且つ上平値以下の場合に、アンド回路
３８の出力の非劣化信号は“１”となり、正常状態であ
ることを示すものとなる。又測定電流値が下限値以下又
は上限値以上となると、比較回路３５．３６の出力は“
０″となるから、アンド回路３８の出力の非劣化信号は
“０”となり、発熱素子が劣化したことを示すものとな
る。

又比較回路３７に於いて、測定電流値と断線判定値とが
比較され、測定電流値が断線判定値以下であると、断線
判定信号が比較回路３７から出力される。この断線判定
信号又は“０”の非劣化信号が出力された時に、アラー
ム信号ＡＬ（第１図−参照）を出力するように構成する
ことができる。

又断線酸いは劣化した発熱素子の番号を、カウンタ１７
　（第２図参照）のカウント出力を利用して表示するこ
とも可能である。

発熱素子の抵抗値の上限値及び下限値は、当然温度の関
数である。しかし、前述のように、通常は経年変化に比
べれば温度による変化分は十分に小さく、本発明の実施
に於いては無視しても支障はない。勿論、サーミスタ等
の温度計測手段或いは温度演算手段を用いて温度を検出
し、その検出値をＡ／Ｄ変換し、上限値及び下限値を格
納したＲＯＭのアドレスとして入力することにより、容
易に上限値及び下限値を温度の関数として発生させるこ
とも可能である。このような手段を採用すれば、より速
（発熱素子の劣化を検出し得ることは言うまでもない。

発熱素子１に流れる電流の検出は、低抵抗ｒを用いる以
外に周知の各種の手段を採用することが可能である。又
全発熱素子に対する電源線を１本とすると、電流測定回
路３Ｉは１個で良いことになる。しかし、ＤＤ型サーマ
ルヘッドに於いては、全発熱素子に対する電ａ線を１本
とすると、電流が大きくなり過ぎるので、２〜４分割す
ることが多いものである。この場合には、各電源線に対
応して電流測定回路３１を設ければ良いことになる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、発熱素子１に記録信号
を印加した後の冷却期間に於いて、順次選択された発熱
素子１に、短時間の電流を供給し、その電流を測定して
発熱素子１の抵抗値を算出するものであり、電流測定部
４及び抵抗算出部５は、発熱素子１数が多い場合でも、
１〜数本の電源線数に対応した構成で済むから、面単且
つ経済的な構成で、全発熱素子１の抵抗値を測定するこ
とができる。更に、経年変化による発熱素子の抵抗値の
変化が所定範囲内であるか否か、即ち、劣化の進行状態
の判定並びに断線の判定も可能であるから、常に高精度
の多値記録を保証できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理ブロック図、第２図は本発明の実
施例のブロック図、第３図は動作説明図、第４図は本発
明の実施例の要部ブロック図、第５図は熱転写サーマル
プリンタの説明図、第６図はサーマルヘッドの概略断面
図、第７図は従来例のブクブク図である。１は発熱素子、２は駆動部、３は制御部、４は電流測定
部、５は抵抗算出部、Ｄｎは階調データ、ＰＣは記録制
御信号、ＭＣは電流測定用の制御信号、１１．１７はカ
ウンタ、１２はランダムアクセスメモリ　（ＲＡＭ）　
、１３はリードオンリメモリ　（ＲＯＭ）、１４，１８
．１９は比較回路、１５．２１はアンド回路、１６はブ
ロッキング回路、２２はオア回路、３０は駆動回路、３
１は電流測定回路、３２はホールド回路、３３はリード
オンリメモリ　（ＲＯＭ）　、３４は遅延回路、３５〜
３７は比較回路、３８はアンド回路である。

Claims

【特許請求の範囲】階調データに対応した記録信号をサーマルヘッドの発熱
素子（１）に印加し、該発熱素子（１）の発熱温度に対
応した記録濃度で記録媒体へ記録する多値サーマルプリ
ンタに於いて前記発熱素子（１）に記録信号を印加する駆動部（２）
と、該駆動部（２）に、入力された前記階調データに対応し
た記録制御信号を加えると共に、前記発熱素子（１）へ
の記録信号印加後の冷却期間に、前記発熱素子（１）を
順次選択し、選択された発熱素子（１）に短時間電流を
供給する為の制御信号を加える制御部（３）と、前記選択された発熱素子（１）に流れる電流を測定する
電流測定部（４）と、該電流測定部（４）による測定値から発熱素子（１）の
抵抗値を求め、所定範囲内か否かを判定し、抵抗値情報
を前記制御部（３）へ加える抵抗算出部（５）とを備えたことを特徴とする多値サーマルプリンタ。