JPH0527549B2 - - Google Patents
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- JPH0527549B2 JPH0527549B2 JP59250602A JP25060284A JPH0527549B2 JP H0527549 B2 JPH0527549 B2 JP H0527549B2 JP 59250602 A JP59250602 A JP 59250602A JP 25060284 A JP25060284 A JP 25060284A JP H0527549 B2 JPH0527549 B2 JP H0527549B2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/35—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
- B41J2/355—Control circuits for heating-element selection
- B41J2/36—Print density control
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
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- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/35—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
- B41J2/355—Control circuits for heating-element selection
- B41J2/36—Print density control
- B41J2/365—Print density control by compensation for variation in temperature
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- Electronic Switches (AREA)
- Fax Reproducing Arrangements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、サーマルヘツドを用いて画情報を熱
的に記録またはデイスプレイ（以下単に表示とい
う。）する装置に使用されるサーマルヘツド駆動
装置に関する。
的に記録またはデイスプレイ（以下単に表示とい
う。）する装置に使用されるサーマルヘツド駆動
装置に関する。
「従来の技術」
感熱記録紙や転写型感熱記録媒体を用いて熱的
に記録画の作成を行う記録装置は、フアクシミリ
やプリンタ、あるいはワードプロセツサ等に広く
用いられている。また熱的に磁化潜像の形成を行
いこれを光学像としてデイスプレイするデイスプ
レイ装置も存在する。これらの表示装置には、表
示画の構成要素としての各ドツトを形成するため
の熱源として、サーマルヘツドが広く用いられて
いる。サーマルヘツドはその駆動により熱エネル
ギを発生させるので、このエネルギに起因する画
質劣化の問題がある。
に記録画の作成を行う記録装置は、フアクシミリ
やプリンタ、あるいはワードプロセツサ等に広く
用いられている。また熱的に磁化潜像の形成を行
いこれを光学像としてデイスプレイするデイスプ
レイ装置も存在する。これらの表示装置には、表
示画の構成要素としての各ドツトを形成するため
の熱源として、サーマルヘツドが広く用いられて
いる。サーマルヘツドはその駆動により熱エネル
ギを発生させるので、このエネルギに起因する画
質劣化の問題がある。
第６図は、このような画質劣化を低減させるた
めに提案された特願昭59−088438号特許出願にお
ける記録装置の要部を表わしたものである。この
記録装置は、印字データ１１からサーマルヘツド
１２を構成するそれぞれの単位発熱体の現時点に
おける蓄熱量を演算する蓄熱量演算手段１４と、
印字データ１１のうち将来の印字に用いられるデ
ータからこれら単位発熱体１３の印字状況の将来
を予測する未来予測手段１５と、サーマルヘツド
１２の基板温度を測定する基板温度測定手段１
６、それに各単位発熱体１３の抵抗値を測定する
抵抗値測定手段１７とを備えている。印字エネル
ギ演算手段１８はこれらの手段１４〜１７の作成
したデータ１９〜２２から各単位発熱体に供給す
べき印加エネルギを演算するようになつている。
演算された印加エネルギは、補助パルス幅設定手
段２３によつて印字比率あるいは黒比率に応じた
時間幅の補助パルスを付加され、サーマルヘツド
に供給される。すなわち補助パルス幅設定手段２
３は、記録時の電圧変動に対する印加エネルギの
補償手段である。
めに提案された特願昭59−088438号特許出願にお
ける記録装置の要部を表わしたものである。この
記録装置は、印字データ１１からサーマルヘツド
１２を構成するそれぞれの単位発熱体の現時点に
おける蓄熱量を演算する蓄熱量演算手段１４と、
印字データ１１のうち将来の印字に用いられるデ
ータからこれら単位発熱体１３の印字状況の将来
を予測する未来予測手段１５と、サーマルヘツド
１２の基板温度を測定する基板温度測定手段１
６、それに各単位発熱体１３の抵抗値を測定する
抵抗値測定手段１７とを備えている。印字エネル
ギ演算手段１８はこれらの手段１４〜１７の作成
したデータ１９〜２２から各単位発熱体に供給す
べき印加エネルギを演算するようになつている。
演算された印加エネルギは、補助パルス幅設定手
段２３によつて印字比率あるいは黒比率に応じた
時間幅の補助パルスを付加され、サーマルヘツド
に供給される。すなわち補助パルス幅設定手段２
３は、記録時の電圧変動に対する印加エネルギの
補償手段である。
「発明が解決しようとする問題点」
さてこのような記録装置あるいは表示装置で
は、サーマルヘツドのそれぞれの単位発熱体１３
に対する印加エネルギの制御を印加パルスの時間
幅や印加電圧の調整によつて行つている。ところ
が例えばサーマルヘツド１２の基板温度の変化が
検出されるたびに印加電圧を変化させると、特に
中間調の再現を行う高画質の記録画等で表示画上
に濃淡の縞模様が見受けられることがあつた。こ
れは、（）デイジタル演算処理が行われる結果
として単位発熱体１３に供給される印加電圧が量
子化されていることと、（）印加電圧の変動は
個々の単位発熱体に対するパルス幅の個別制御と
異なりすべての単位発熱体１３に一斉に濃度変化
としての影響を及ぼすため、濃度の相違が顕著に
表われるためであつた。人間の目はこの種の濃度
むらについて大変敏感なため、印加電圧をかなり
小刻みに変化させても、濃度変化を十分滑らかに
することができないばかりでなく、印加エネルギ
補正のためのデイジタル演算に用いるデータのビ
ツト数をこのために増加させることは、装置のコ
ストの面でも不利であつた。
は、サーマルヘツドのそれぞれの単位発熱体１３
に対する印加エネルギの制御を印加パルスの時間
幅や印加電圧の調整によつて行つている。ところ
が例えばサーマルヘツド１２の基板温度の変化が
検出されるたびに印加電圧を変化させると、特に
中間調の再現を行う高画質の記録画等で表示画上
に濃淡の縞模様が見受けられることがあつた。こ
れは、（）デイジタル演算処理が行われる結果
として単位発熱体１３に供給される印加電圧が量
子化されていることと、（）印加電圧の変動は
個々の単位発熱体に対するパルス幅の個別制御と
異なりすべての単位発熱体１３に一斉に濃度変化
としての影響を及ぼすため、濃度の相違が顕著に
表われるためであつた。人間の目はこの種の濃度
むらについて大変敏感なため、印加電圧をかなり
小刻みに変化させても、濃度変化を十分滑らかに
することができないばかりでなく、印加エネルギ
補正のためのデイジタル演算に用いるデータのビ
ツト数をこのために増加させることは、装置のコ
ストの面でも不利であつた。
本発明はこのような事情に鑑み、ページ内で濃
度むらが表われない印加エネルギ制御を可能とす
るサーマルヘツド駆動装置を提供することをその
目的とする。
度むらが表われない印加エネルギ制御を可能とす
るサーマルヘツド駆動装置を提供することをその
目的とする。
「発明が解決しようとする問題点」
本発明では第１図に原理的に示すように、サー
マルヘツド１２の基板温度を測定する基板温度測
定手段３１と、基板温度測定手段３１の測定した
基板温度に応じてサーマルヘツド１２の各単位発
熱体にドツト形成のために印加する電圧を表示画
の作成を行うページの先頭位置で設定する印加電
圧設定手段３２と、基板温度測定手段３１によつ
て測定された基板温度のページ内における変化に
応じて各単位発熱体に印加する印加パルスの時間
幅をページの途中で調整し、形成されるドツトの
濃度を所望の値に保持させる印加エネルギ補正手
段３３とをサーマルヘツド駆動装置に具備させ
る。すなわち本発明では、ページの先頭で印加電
圧を設定し、そのページ内ではこの電圧を保持す
るので、電圧変化に起因する濃度むらは発生しな
い。しかもページ内における印加エネルギの制御
は印加パルスの時間幅を変化させることにより行
うので、中間調等の画像も十分高画質で作成する
ことができる。
マルヘツド１２の基板温度を測定する基板温度測
定手段３１と、基板温度測定手段３１の測定した
基板温度に応じてサーマルヘツド１２の各単位発
熱体にドツト形成のために印加する電圧を表示画
の作成を行うページの先頭位置で設定する印加電
圧設定手段３２と、基板温度測定手段３１によつ
て測定された基板温度のページ内における変化に
応じて各単位発熱体に印加する印加パルスの時間
幅をページの途中で調整し、形成されるドツトの
濃度を所望の値に保持させる印加エネルギ補正手
段３３とをサーマルヘツド駆動装置に具備させ
る。すなわち本発明では、ページの先頭で印加電
圧を設定し、そのページ内ではこの電圧を保持す
るので、電圧変化に起因する濃度むらは発生しな
い。しかもページ内における印加エネルギの制御
は印加パルスの時間幅を変化させることにより行
うので、中間調等の画像も十分高画質で作成する
ことができる。
「実施例」
以下実施例につき本発明を詳細に説明する。
第２図は本発明の一実施例におけるサーマルヘ
ツド駆動装置を使用した記録部の要部を表わした
ものである。記録ヘツドとしてのサーマルヘツド
１２の放熱基板４１には、そのほぼ中央に温度検
出素子としてサーミスタ４２が取り付けられてい
る。サーミスタ４２は負の温度係数をもつてお
り、温度の上昇につれて抵抗値が減少するように
なつている。サーミスタ４２の抵抗値は抵抗およ
びコンデンサによつて構成された電圧変換回路４
３によつて電圧に変換され、Ａ／Ｄコンバータ４
４に入力される。Ａ／Ｄコンバータ４４は入力さ
れたアナログ信号をデイジタル信号に変換し、シ
リアルな温度表示信号４５として出力する。シリ
アル・パラレル変換器４６はこの温度表示信号４
５を以後のデータ処理に適当なパラレルデータ４
７に変換し、第１のラツチ回路４８にラツチさせ
る。Ａ／Ｄ変換器４４が直接パラレルデータを出
力するときには、シリアル・パラレル変換器４６
が不要であることはもちろんである。
ツド駆動装置を使用した記録部の要部を表わした
ものである。記録ヘツドとしてのサーマルヘツド
１２の放熱基板４１には、そのほぼ中央に温度検
出素子としてサーミスタ４２が取り付けられてい
る。サーミスタ４２は負の温度係数をもつてお
り、温度の上昇につれて抵抗値が減少するように
なつている。サーミスタ４２の抵抗値は抵抗およ
びコンデンサによつて構成された電圧変換回路４
３によつて電圧に変換され、Ａ／Ｄコンバータ４
４に入力される。Ａ／Ｄコンバータ４４は入力さ
れたアナログ信号をデイジタル信号に変換し、シ
リアルな温度表示信号４５として出力する。シリ
アル・パラレル変換器４６はこの温度表示信号４
５を以後のデータ処理に適当なパラレルデータ４
７に変換し、第１のラツチ回路４８にラツチさせ
る。Ａ／Ｄ変換器４４が直接パラレルデータを出
力するときには、シリアル・パラレル変換器４６
が不要であることはもちろんである。
さて第１のラツチ回路４８が温度測定のたびに
ラツチした基板温度信号４９は、第２のラツチ回
路５１のデータ入力端子INと基板温度情報演算
回路５２の双方に供給される。第２のラツチ回路
５１はそのクロツク入力端子CKにラツチ用クロ
ツク５３の供給を受けるようになつており、各ペ
ージの記録開始位置で基板温度信号４９の取り込
みを行う。
ラツチした基板温度信号４９は、第２のラツチ回
路５１のデータ入力端子INと基板温度情報演算
回路５２の双方に供給される。第２のラツチ回路
５１はそのクロツク入力端子CKにラツチ用クロ
ツク５３の供給を受けるようになつており、各ペ
ージの記録開始位置で基板温度信号４９の取り込
みを行う。
２つのデイレイド・フリツプフロツプ回路（Ｄ
−Ｆ・Ｆ）５４，５５とナンド回路５６はこのラ
ツチ用クロツク５３の作成を行う回路部分であ
る。この回路部分の第１のＤ−Ｆ・Ｆ５４の入力
端子Ｄには各ページの記録開始に先立つてＨ（ハ
イ）レベルのページ同期信号５７（第３図ａ）が
供給される。第１のＤ−Ｆ・Ｆ５４はページ同期
信号５７が立ち上がつた後のクロツク５８（第３
図ｂ）の立ち上がりでセツトされ、その出力端子
ＱからＨレベルの遅延パルス５９（第３図ｃ）が
出力される。遅延パレス５９はナンド回路５６の
一方の入力端子と第２のＤ−Ｆ・Ｆ５５の入力端
子Ｄに供給される。この結果第２のＤ−Ｆ・Ｆ５
５の出力端子からは、次のクロツク５８の立ち
上がりでＬ（ロー）レベルに変化する遅延パルス
６１（第３図ｄ）が出力される。
−Ｆ・Ｆ）５４，５５とナンド回路５６はこのラ
ツチ用クロツク５３の作成を行う回路部分であ
る。この回路部分の第１のＤ−Ｆ・Ｆ５４の入力
端子Ｄには各ページの記録開始に先立つてＨ（ハ
イ）レベルのページ同期信号５７（第３図ａ）が
供給される。第１のＤ−Ｆ・Ｆ５４はページ同期
信号５７が立ち上がつた後のクロツク５８（第３
図ｂ）の立ち上がりでセツトされ、その出力端子
ＱからＨレベルの遅延パルス５９（第３図ｃ）が
出力される。遅延パレス５９はナンド回路５６の
一方の入力端子と第２のＤ−Ｆ・Ｆ５５の入力端
子Ｄに供給される。この結果第２のＤ−Ｆ・Ｆ５
５の出力端子からは、次のクロツク５８の立ち
上がりでＬ（ロー）レベルに変化する遅延パルス
６１（第３図ｄ）が出力される。
この遅延パルス６１はナンド回路５６の他方の
入力端子に供給され、前記した遅延パルス５９と
論理がとられる。この結果としてページ同期信号
５７が発生してから最初のクロツク５８の立ち上
がりでＬレベルに変化するラツチ用クロツク５３
（第３図ｅ）が作成されることになる。
入力端子に供給され、前記した遅延パルス５９と
論理がとられる。この結果としてページ同期信号
５７が発生してから最初のクロツク５８の立ち上
がりでＬレベルに変化するラツチ用クロツク５３
（第３図ｅ）が作成されることになる。
このラツチ用クロツク５３がＬレベルに変化し
た時点で、第２のラツチ回路５１は基板温度信号
４９をラツチし、以後そのページの記録が終了す
るまでこれを保持する。第２のラツチ回路５１か
ら出力される基板温度初期信号６３は電源電圧制
御回路６４に供給される。電源電圧制御回路６４
は基板温度初期信号６３を入力すると印加電圧用
電源６５に対して電圧制御信号６６を出力し、印
加電圧用電源６５の出力電圧VOUTを基板温度に
応じて制御する。
た時点で、第２のラツチ回路５１は基板温度信号
４９をラツチし、以後そのページの記録が終了す
るまでこれを保持する。第２のラツチ回路５１か
ら出力される基板温度初期信号６３は電源電圧制
御回路６４に供給される。電源電圧制御回路６４
は基板温度初期信号６３を入力すると印加電圧用
電源６５に対して電圧制御信号６６を出力し、印
加電圧用電源６５の出力電圧VOUTを基板温度に
応じて制御する。
第４図はこの制御特性を表わしたものである。
基板温度が高いほど各単位発熱体に印字のために
印加するエネルギは少なくてよい。そこで印加パ
ルスの通電時間を一定とすれば、印加電圧用電源
６５の出力電圧VOUTはこの図のように基板温度
が高いほど低下するように制御される。例えばあ
るページの記録開始時に基板温度が25℃のとき、
出力電圧VOUTは19ボルトに設定され、基板温度
が次のページの記録開始時に40℃まで上昇したと
すれば、この記録開始時点で出力電圧VOUTは15
ボルトに再設定される。
基板温度が高いほど各単位発熱体に印字のために
印加するエネルギは少なくてよい。そこで印加パ
ルスの通電時間を一定とすれば、印加電圧用電源
６５の出力電圧VOUTはこの図のように基板温度
が高いほど低下するように制御される。例えばあ
るページの記録開始時に基板温度が25℃のとき、
出力電圧VOUTは19ボルトに設定され、基板温度
が次のページの記録開始時に40℃まで上昇したと
すれば、この記録開始時点で出力電圧VOUTは15
ボルトに再設定される。
一方、基板温度情報演算回路５２は第１のラツ
チ回路４８が温度測定のたびにラツチした基板温
度信号４９と、第２のラツチ回路５１が１ページ
にわたつて保持する基板温度初期信号６３の双方
を入力し、後者の表示する基板温度から前者の表
示する基板温度を差し引いた基板温度差情報６８
を作成する。基板温度差情報６８は１ページの記
録途中で温度測定が行われるたびに通電時間補正
制御回路６９に供給される。通電時間補正制御回
路６９は、各単位発熱体の蓄熱等を考慮して単位
発熱体ごとに決定された印加パルスの通電情報７
１を入力しており、基板温度差情報６８を基にし
て各記録時点における印加パルスの通電時間を補
正し、これを補正後の通電情報７２として出力す
るようになつている。
チ回路４８が温度測定のたびにラツチした基板温
度信号４９と、第２のラツチ回路５１が１ページ
にわたつて保持する基板温度初期信号６３の双方
を入力し、後者の表示する基板温度から前者の表
示する基板温度を差し引いた基板温度差情報６８
を作成する。基板温度差情報６８は１ページの記
録途中で温度測定が行われるたびに通電時間補正
制御回路６９に供給される。通電時間補正制御回
路６９は、各単位発熱体の蓄熱等を考慮して単位
発熱体ごとに決定された印加パルスの通電情報７
１を入力しており、基板温度差情報６８を基にし
て各記録時点における印加パルスの通電時間を補
正し、これを補正後の通電情報７２として出力す
るようになつている。
第５図はこの通電時間補正制御回路の補正内容
を図解したものである。印加パルスの補正前の通
電時間をtpとし、基板温度差情報６８の表わす温
度差を△Ｔとする。この場合補正後の通電時間tp
は通電情報７１と基板温度差情報６８の双方をア
ドレス情報として、第５図に示す内容のROMテ
ーブルから読み出される。
を図解したものである。印加パルスの補正前の通
電時間をtpとし、基板温度差情報６８の表わす温
度差を△Ｔとする。この場合補正後の通電時間tp
は通電情報７１と基板温度差情報６８の双方をア
ドレス情報として、第５図に示す内容のROMテ
ーブルから読み出される。
例えば基板温度初期信号６３が記録開始時点の
基板温度として25℃を表示していたとする。記録
の進行と共に基板温度が28.5℃に上昇したとし、
この時点で通電情報７１がある単位発熱体につい
て通電時間tpを0.8mSに指示したとすれば、補正
後の通電時間tpは0.7mSに短縮され、通電情報７
２として図示しないサーマルヘツドへ供給される
ことになる。すなわちこの場合には該当する単位
発熱体は19ボルトの印加電圧で0.7mSの時間幅の
印加パルスによつて通電され、所望の濃度のドツ
トが形成されることになる。反対に記録の進行と
共に放熱が進み基板温度が22℃まで低下した場合
には、同一条件の単位発熱体に印加される印加パ
ルスの時間幅は0.9mSに延長されることになる。
基板温度として25℃を表示していたとする。記録
の進行と共に基板温度が28.5℃に上昇したとし、
この時点で通電情報７１がある単位発熱体につい
て通電時間tpを0.8mSに指示したとすれば、補正
後の通電時間tpは0.7mSに短縮され、通電情報７
２として図示しないサーマルヘツドへ供給される
ことになる。すなわちこの場合には該当する単位
発熱体は19ボルトの印加電圧で0.7mSの時間幅の
印加パルスによつて通電され、所望の濃度のドツ
トが形成されることになる。反対に記録の進行と
共に放熱が進み基板温度が22℃まで低下した場合
には、同一条件の単位発熱体に印加される印加パ
ルスの時間幅は0.9mSに延長されることになる。
各単位発熱体に与えられる印加パルスは通電情
報７１によつて異なるので、通電時間が通電時間
補正制御回路７２の演算結果として仮に量子化さ
れていたとしても、これはドツト単位の濃度のバ
ラツキとして表現されるにすぎず、濃度むらとし
ては現われない。従つて印加パルスの電圧値をあ
る記録時点から一斉に変化させた場合のような画
質劣化は生じない。
報７１によつて異なるので、通電時間が通電時間
補正制御回路７２の演算結果として仮に量子化さ
れていたとしても、これはドツト単位の濃度のバ
ラツキとして表現されるにすぎず、濃度むらとし
ては現われない。従つて印加パルスの電圧値をあ
る記録時点から一斉に変化させた場合のような画
質劣化は生じない。
なお以上説明した実施例では補正前の通電情報
７１を蓄熱補正後の通電情報としたが、第６図に
示した従来例のように各種補正（基板温度の補正
を除く。）を行つた後の通電情報であつてもよい。
もちろん例えば蓄熱が問題とならない低速度の表
示装置では、このような補正を行つていない通電
情報を使用することもできる。
７１を蓄熱補正後の通電情報としたが、第６図に
示した従来例のように各種補正（基板温度の補正
を除く。）を行つた後の通電情報であつてもよい。
もちろん例えば蓄熱が問題とならない低速度の表
示装置では、このような補正を行つていない通電
情報を使用することもできる。
「発明の効果」
以上説明したように本発明によれば同一ページ
内で印加電圧の切り換えが行われることがないの
で、ページ内の印加エネルギの急激な変動を防ぐ
ことができ、比較的低価格で高画質の表示装置を
作成することができる。またドツト形成のための
印加パルスを電圧と通電時間の双方で制御するの
で、印加エネルギの広範囲の制御が可能となる。
内で印加電圧の切り換えが行われることがないの
で、ページ内の印加エネルギの急激な変動を防ぐ
ことができ、比較的低価格で高画質の表示装置を
作成することができる。またドツト形成のための
印加パルスを電圧と通電時間の双方で制御するの
で、印加エネルギの広範囲の制御が可能となる。
第１図は本発明の原理を示すブロツク図、第２
図〜第５図は本発明の一実施例を説明するための
もので、このうち第２図はサーマルヘツド駆動装
置を使用した記録部の要部を示すブロツク図、第
３図はラツチ用クロツク発生用の回路部分の動作
を説明するための各種波形図、第４図はサーマル
ヘツドの基板温度と印加パルスの出力電圧との関
係を表わした制御特性図、第５図は印加パルスの
通電時間決定のための演算内容を表わした説明
図、第６図は従来のサーマルヘツド駆動装置を使
用した記録装置の要部を示すブロツク図である。 １２……サーマルヘツド、３１……基板温度測
定手段、３２……印加電圧設定手段、３３……印
加エネルギ補正手段、４２……サーミスタ、５２
……基板温度情報演算回路、６４……電源電圧制
御回路、６９……通電時間補正制御回路。
図〜第５図は本発明の一実施例を説明するための
もので、このうち第２図はサーマルヘツド駆動装
置を使用した記録部の要部を示すブロツク図、第
３図はラツチ用クロツク発生用の回路部分の動作
を説明するための各種波形図、第４図はサーマル
ヘツドの基板温度と印加パルスの出力電圧との関
係を表わした制御特性図、第５図は印加パルスの
通電時間決定のための演算内容を表わした説明
図、第６図は従来のサーマルヘツド駆動装置を使
用した記録装置の要部を示すブロツク図である。 １２……サーマルヘツド、３１……基板温度測
定手段、３２……印加電圧設定手段、３３……印
加エネルギ補正手段、４２……サーミスタ、５２
……基板温度情報演算回路、６４……電源電圧制
御回路、６９……通電時間補正制御回路。
Claims (1)
- １ サーマルヘツドの基板温度を測定する基板温
度測定手段と、この基板温度測定手段の測定した
基板温度に応じてサーマルヘツドの各単位発熱体
にドツト形成のために印加する電圧を表示画の作
成を行うページの先頭位置で設定する印加電圧設
定手段と、基板温度測定手段によつて測定された
基板温度のページ内における変化に応じて各単位
発熱体に印加する印加パルスの時間幅をページの
途中で調整し、形成されるドツトの濃度を所望の
値に保持させる印加エネルギ補正手段とを具備す
ることを特徴とするサーマルヘツド駆動装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59250602A JPS61130064A (ja) | 1984-11-29 | 1984-11-29 | サ−マルヘツド駆動装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59250602A JPS61130064A (ja) | 1984-11-29 | 1984-11-29 | サ−マルヘツド駆動装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61130064A JPS61130064A (ja) | 1986-06-17 |
| JPH0527549B2 true JPH0527549B2 (ja) | 1993-04-21 |
Family
ID=17210312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59250602A Granted JPS61130064A (ja) | 1984-11-29 | 1984-11-29 | サ−マルヘツド駆動装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61130064A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2624317B2 (ja) * | 1988-11-21 | 1997-06-25 | 松下電送株式会社 | 記録装置 |
-
1984
- 1984-11-29 JP JP59250602A patent/JPS61130064A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61130064A (ja) | 1986-06-17 |
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