JPS62281146A - 光磁気信号検出方法 - Google Patents

光磁気信号検出方法

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JPS62281146A
JPS62281146A JP12642886A JP12642886A JPS62281146A JP S62281146 A JPS62281146 A JP S62281146A JP 12642886 A JP12642886 A JP 12642886A JP 12642886 A JP12642886 A JP 12642886A JP S62281146 A JPS62281146 A JP S62281146A
Authority
JP
Japan
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magneto
photodetectors
photodetector
divided
polarization plane
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Pending
Application number
JP12642886A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeru Kogure
木暮 茂
Masatoshi Yonekubo
政敏 米窪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS62281146A publication Critical patent/JPS62281146A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 五 発明の詳)′Faな説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は′jt磁気記録再生装置の光磁気信号検出方法
に関する。
〔従来の技術〕
光磁気信号検出方法の従来例を第4図に示す。
これは本願発明者が最近発明したものである。
101は光磁気記録媒体を反射又は透過したレーザ光で
、102は光磁気記録媒体に入射する直線国政元の偏波
面方向を示す。この偏波面方向は光磁気ディスク面上に
おいて、トラック接線方向103を向いているとする。
105は4分lllft、検出器で、その分割線106
はトラック接線方向、分割[107!I′iトラック垂
直方向を向いている。
4分割された個々の光検出器が、105−a−Ll 0
5−a−2,105−b −1、105−b −2で、
その直曲に検光子1oa′、109,111゜110が
それぞれ配置されている。個々の検光子の透過軸は図中
に斜線で示されている方向である。
検光子を透過した光は分割された光検出器の各々に受光
され、図に示されている如く差動増幅器112により対
角和の差をとり、REF信号(光磁気信号〕が得られる
。この方法は、ビームスプリンタと別個の2個の光検出
Prを用いた差動検出法と比べ、元ヘッドの小型・軽量
・低コストを実現できるという利点が有る。
〔発明が解決しようとする間鴨点〕
しかし前述の従来技術では、光磁気記録媒体の基板上の
微細な凹凸の影響により差動検出法に比べ若干C7N比
が低下するという問題がある。ドライエツチング法によ
り表面に直接案内溝を形成したガラス基板では、微細な
凹凸(以下基板ノイズと略す〕の影響は少ないが、射出
成形法で作られた吐コストな案内溝付樹脂基板では基板
ノイズが若干大きくなる。そのため案内溝付樹脂基板を
用いた光磁気ディスクを従来の光磁気信号検出方法(第
4図)で検出すると、若干c / N比が低下するとい
う問題があった。
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところは低コストな案内溝付樹脂基板を用
いてもC/N比の低下がなく、シかも光磁気ヘッドの小
型11@攬・抵コストを実現できる光磁気イぎ号検出方
法ft提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の光磁気信号検出方法は、入射直線偏波光の偏波
面が光磁気記録媒体を反射もしくは透過することにより
回転を受け、偏波面の回転角を情報信号とする光磁気記
録再生装置において、a)  (扁彼面の回転角を検出
するための光検出器が4本の直線分割線により平面上で
8分割され(8分割された光検出器において、任意の位
j直にある光検出器から反時計回りに光検出器a、1)
e  C*  do  8*  f*  g* hとす
る〕、b)光検出器aと光検出器りを分割する直線分割
線と光検l:1lll器すと光検出器Cを分割する直線
分割1i1Vc1−いて、一方の直線分割線がトラック
接線方向を向いており、他方の直線分割線がトラック垂
直方向を向いており、 C)光検出器a、c、e、 gの直前に入射直線国政元
の偏波面と透過軸が角度ψAをなした検光子が配置され
、 d)″/l、噴出器1)、d、f、hの直前に入射直線
rJfa彼光の閤彼面と透過軸が角度ψBをなした検光
子が配置され、 e)角度ψAと角度ψBが異なって設定され、f)光検
出器a、C,θ1gの出力の和をFA・光検出器b、d
、f、hの出力の和をPBとしたとき、FA とPBの
差をとる差動増幅器を備えていることを特徴とする。
〔作 用〕
第1図に本発明の光磁気信号検出方法の概念図を示す。
1はレーザ光で、2はその(Iii彼面を示しているが
、磁気光学回転角が微少であるため記録媒体に入射する
レーザ光の偏波面の方向とほぼ一致する。3は記録媒体
上に設けられたトラック接線方向、4はトラック垂直方
向である。この概念図では国政1fi2とトラック接線
方向が一致しているが、必ずしも一致する必要はない。
5は8分割元検出器で、直線分割線6,7はそれぞれト
ラック接線方向3、トラック垂直方向4の方向を向いて
いる。a 、 1) 、 Q −d * 6 o f 
+ f2. * hは分割された光検出器で、これらの
分割された元検出器の各々の直前に検光子8.9,10
,11,12゜13,14.15が配置されている。斜
線は透過軸方向を示している。図示されている通り設定
角は、ψ人、ψBである。光検出′aal C1so 
gの出力の和P人と光検出器b、d、f、hの出力の和
PB との差を差@増・嶋器16でとって、RP倍信号
得られる。
第4図の従来例と比べて光検出器の分割数が多くなって
いるため、基板の凹凸に関してはより高い空間周彼数成
分までその影響を除去することができ、C/N比の低下
が無くなるのである。
〔実施例1〕 第2図は本発明になる光磁気信号検出方法を用いた反射
型光ヘッドの構成図である。光学系について簡単に説明
する。半導レーザ17の出射″Jt、をコリメートレン
ズ18により平行光とし、ビーム整形プリズム19で真
円化し、ビームスプリンタ20tl−透過させ、ミラー
21により紙面に垂直な方向に反射させ、対物レンズ2
2により光磁気ディスク23に集光させる。光磁気ディ
スク23からの反射光は逆経路をたどり、ビームスプリ
ッタ20で反射され、ビームスプリッタ24に入射する
。ビームスプリンタ24の透過光はレンズ25、シリン
ドリカルレンズ26を経て、4分割PINフォトダイオ
ード27に入射する。トラッキングはプッシュプル法、
フォーカシングは非点収差法を用いている。ビームスプ
リンタ24の反射光は、lllii元板2Bを透過し、
8分割P工Nフォトダイオード29により検出される。
偏光板28は第1図に示す如く8個の偏光板(検光子)
t−接合したものである。透過軸角度9人、ψBは通常
0く19人 1 、1 ψB 1≦45゜にとられる。
本実施例では、 9人 =45° 、ψB=−45゜ (または、ψAココ−5° 、ψB−45° )とした
また、第2図中の矢印は直@偏/&元の偏波面方向を示
している。ただし光磁気記録媒体による微小な回転は無
視している。この図から光磁気ディスク23に入射する
偏波面はトラック接線方向を向いていることが判る。偏
光板28の接合部の2本の線と8分割P 工Nフォトダ
イオード29の2本の分割線がトラック接線方向、トラ
ック垂直方向を向いているため、トラッキング精度の影
響を受けない。匹に回転角を演出する光検出器(29〕
が8分割されているため、より微小な凹凸の影響まで除
去できるので、実質的に従来の差動検出法と同等のC/
N比が得られるのである。しかも、第4図の従来例と比
べても、部品の配電、大きさが変らないため、光ヘッド
の小型化、軽量化、低コスト化という点で従来列と同等
である。
〔実施例2〕 第3図は透過型光ヘッドに本発明になる光磁気信号検出
方法を適用した実施例である。実施例1と同様に8分割
P工Nフォトダイオード32の2本の直線分割線、偏光
板31の接合部の2本の線はトラック接線方向、トラッ
ク垂直方向を向いている。従って、実施例1と同じくト
ラッキング精度の影響を受けない。更に回転角を検出す
る光検出器(32)が8分割されているため、よシ微小
な凹凸の影響まで除去できるので、実質的に従来の差動
検出法と同等のC/N比が得られるのである。しかも、
光ヘッドの小型化、軽量化、圓コスト化も可能となる。
この実施例では、トラッキングはプッシュプル法、フォ
ーカシングはナイフェツジ法を用いている。本実施例に
おけるナイフェツジ34、レンズ55.49f−割フオ
ドダイオード36は紙面に■直な側に実際には配置され
て訃シ、本図よシも薄型光ヘッドになっている。
〔発明の効果〕
以上述べた妬く本発明にな’b−yt−気信号検出方法
を用いれば、従来の光磁気信号検出方法よりもC/ N
比が良く、差動検出法と変わらぬc / N比が得られ
るという効果がある。
尚、本発明は上記実1A例に限定さ九ること、よく、幾
多の変更を加えうろことは勿論である。列えば、記録媒
体の形状なディスク型でなくカード盟のものでもよい。
更に、光検出器の分割数をもつと多くすることも可能で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の光磁気信号検出方法の概念図。 第2図は、本発明の反射を光ヘッドの構成図。 第3図は、本発明の透過型光ヘッドの構成図。 第4図は、従来の光磁気信号検出方法の概念図。 1・・・・・・レーザ光 2・・・・・・0iil彼面 3・・・・・・トラック接線方向 4・・・・・・トラック垂直方向 5・・・・・・8分割元検出器 6・・・・・・トラック接線方向を向いた分割線7・・
・・・・トラック垂直方向を向いた分割線8、9.10
.11.12.13.14.15・・・検光子16・・
・・・・差動増幅器 17・・・・・・半導体レーザ 18・・・・・・コリメートレンズ 19・・・・・・ビーム整形プリズム 20・・・・・・ビームスプリンタ 21・・・・・・ミラー 22・・・・・・対物レンズ 23・・・・・・光磁気ディスク 24・・・・・・ビームスプリッタ 25・・・・・・レンズ 26・・・・・・シリンドリカルレンズ27・・・・・
・4分割P工Nフォトダイオード28・・・・・・偏光
板 29・・・・・・8分割P工Nフォトダイオード30・
・・・・・偏波面 31・・・・・・偏光板 32・・・・・・8分割P工Nフォトダイオード33・
・・・・・8分割PINフォトダイオードの正面図 34・・・・・・ナイフェツジ 35・・・・・・レンズ 66・・・・・・4分割フォトダイオード101・・・
・・・レー・ザ元 102・・・・・・偏逃面 103・・・・・・トラック接線方向 104・・・・・・トラック垂直方向 105・・・・・・4分割党検出器 1G 5−a −1、105−a−2,105−b−1
,105−b−2・・・・・・分割された光検出器10
6・・・・・・トラック接線方向を向いた分割線107
・・・・・・トラック垂直方向を向いた分割線108.
109,110,111・・・・・・検光子112・・
・・・・差動増幅器 以   上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 最上 務 他1名 バ・・・4L版 葛20 躬3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入射直線偏波光の偏波面が光磁気記録媒体を反射
    もしくは透過することにより回転を受け、偏波面の回転
    角を情報信号とする光磁気記録再生装置において、 a)前記偏波面の回転角を検出するための光検出器が4
    本の直線分割線により平面上で 8分割され(8分割された光検出器におい て、任意の位置にある光検出器から反時計 回りに光検出器a、b、c、d、e、f、 g、hとする)、 b)前記光検出器aと前記光検出器hを分割する直線分
    割線と前記光検出器bと前記光 検出器cを分割する直線分割線において、 一方の前記分割線がトラック接線方向を向 いており、他方の前記直線分割線がトラッ ク垂直方向を向いており、 c)前記光検出器a、c、e、gの直前に前記入射直線
    偏波光の偏波面と透過軸が角度 ψAをなした検光子が配置され、 d)前記光検出器b、d、f、hの直前に前記入射直線
    偏波光の偏波面と透過軸が角度 ψBをなした検光子が配置され、 e)前記角度ψAと前記角度ψBが異なつて設定され、 f)前記光検出器a、c、e、gの出力の和をP_A、
    前記光検出器b、d、f、hの出力の和をP_Bとした
    とき、P_AとP_Bの差をとる差動増幅器を備えてい
    ることを特徴 とする光磁気信号検出方法。
JP12642886A 1986-05-30 1986-05-30 光磁気信号検出方法 Pending JPS62281146A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02110024U (ja) * 1989-02-13 1990-09-03

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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