JPH02110024U - - Google Patents

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JPH02110024U
JPH02110024U JP1587989U JP1587989U JPH02110024U JP H02110024 U JPH02110024 U JP H02110024U JP 1587989 U JP1587989 U JP 1587989U JP 1587989 U JP1587989 U JP 1587989U JP H02110024 U JPH02110024 U JP H02110024U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例による光磁気デイス
ク装置を示す略線図、第２図はそのフオトデイテ
クタを示す略線図、第３図は第２の実施例による
フオトデイテクタを示す略線図、第４図は第３の
実施例によるフオトデイテクタを示す略線図、第
５図は第４の実施例による光磁気デイスク装置を
示す略線図、第６図はそのフオトデイテクタ上の
誘電体多層膜を示す略線図、第７図は従来の光磁
気デイスク装置を示す略線図、第８図はその動作
に説明に供する特性曲線図である。 １，２０，５０…光磁気デイスク装置、２…光
磁気デイスク、５…レーザ光源、１１，１２，２
１，３１，５１…フオトデイテクタ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 光デイスクに光ビームを照射し、その反射光ビ
    ームに基づいて、上記光デイスクから記録情報を
    フオトデイテクタで検出するようになされた光ピ
    ツクアツプにおいて、 上記フオトデイテクタを、上記反射光ビームの
    Ｐ偏光成分とＳ偏光成分とを選択的に受光する微
    小領域に分割し、 上記Ｐ偏光成分を選択的に受光する微小領域の
    和信号と、上記Ｓ偏光成分を選択的に受光する微
    小領域の和信号との差信号に基づいて、上記記録
    情報を検出するようにした ことを特徴とする光ピツクアツプ。
JP1989015879U 1989-02-13 1989-02-13 光ピックアップ Expired - Lifetime JPH0743779Y2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62281146A (ja) * 1986-05-30 1987-12-07 Seiko Epson Corp 光磁気信号検出方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS62281146A (ja) * 1986-05-30 1987-12-07 Seiko Epson Corp 光磁気信号検出方法

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