JPS6223376B2 - - Google Patents
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- JPS6223376B2 JPS6223376B2 JP4909481A JP4909481A JPS6223376B2 JP S6223376 B2 JPS6223376 B2 JP S6223376B2 JP 4909481 A JP4909481 A JP 4909481A JP 4909481 A JP4909481 A JP 4909481A JP S6223376 B2 JPS6223376 B2 JP S6223376B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は位置検出装置、特に光を回折する部分
を有する対象物上の前記回折効果を有する部分か
ら光スポツトがずれているトラツキング誤差を正
確に検出するようにした位置検出装置に関するも
のである。
を有する対象物上の前記回折効果を有する部分か
ら光スポツトがずれているトラツキング誤差を正
確に検出するようにした位置検出装置に関するも
のである。
一般に、前記の回折効果を有する部分は帯状に
設けられ、あるいは制御対象となる低周波領域で
実質的に帯状に形成されているとみなせるので、
光スポツトを、その帯状の上に位置するように制
御することをトラツキング制御と呼ぶことにす
る。
設けられ、あるいは制御対象となる低周波領域で
実質的に帯状に形成されているとみなせるので、
光スポツトを、その帯状の上に位置するように制
御することをトラツキング制御と呼ぶことにす
る。
トラツキング誤差を検出する手段として、対象
物上のトラツクの位置から回折反射される光の遠
視野像（フアーフイールドパターン）上の不平衡
量を検出する方法がある。これをフアーフイール
ド方式と呼ぶ。
物上のトラツクの位置から回折反射される光の遠
視野像（フアーフイールドパターン）上の不平衡
量を検出する方法がある。これをフアーフイール
ド方式と呼ぶ。
第１図は、フアーフイールド方式の原理を説明
するための図である。第１図において、１は対物
レンズ、２は対象物であるデイスク、３はデイス
ク２上に凹凸の形で記録された情報のいわゆるピ
ツト部である。
するための図である。第１図において、１は対物
レンズ、２は対象物であるデイスク、３はデイス
ク２上に凹凸の形で記録された情報のいわゆるピ
ツト部である。
入射光束４は、対物レンズ１によりデイスク２
の上に集束されているものと仮定する。
の上に集束されているものと仮定する。
もし、光スポツトがピツト上に左右のずれなく
乗つているとすると、第１図ａに実線５で示した
ように、デイスクからの反射光は左右対象とな
る。勿論、ピツトがないところでは、第１図ｂに
示すように左右対象である。しかし、光スポツト
がピツトからはずれると、第１図ｃに実線７で示
すように、デイスク２からの反射光は左右の光量
に不平衡が生ずる。
乗つているとすると、第１図ａに実線５で示した
ように、デイスクからの反射光は左右対象とな
る。勿論、ピツトがないところでは、第１図ｂに
示すように左右対象である。しかし、光スポツト
がピツトからはずれると、第１図ｃに実線７で示
すように、デイスク２からの反射光は左右の光量
に不平衡が生ずる。
このように、光スポツトがピツト部分からずれ
る時に生ずるフアーフイールドパターン上の左右
の不平衡成分によりトラツキング誤差を検出する
のがフアーフイールド方式の原理である。
る時に生ずるフアーフイールドパターン上の左右
の不平衡成分によりトラツキング誤差を検出する
のがフアーフイールド方式の原理である。
第２図は、フアーフイールド方式の代表的な光
学系を示す図であり、第１図と同一のものは同一
の符号を付し、ここでの重複する説明は省略す
る。
学系を示す図であり、第１図と同一のものは同一
の符号を付し、ここでの重複する説明は省略す
る。
第２図において、２１は半導体レーザダイオー
ド、２２はコリメートレンズ、２３はビームスプ
リツタ、２４は２分割光検出器である。半導体レ
ーザダイオード２１から出た光（破線で示す）は
コリメートレンズ２２で平行光にされ、ビームス
プリツタ２３、対物レンズ１を通り、デイスク２
のトラツク部（ビツト部３）に集束される。デイ
スク２からの反射光（実線で示す）は再び対物レ
ンズ１、ビームスプリツタ２３を通り、２分割光
検出器２４に入射する。
ド、２２はコリメートレンズ、２３はビームスプ
リツタ、２４は２分割光検出器である。半導体レ
ーザダイオード２１から出た光（破線で示す）は
コリメートレンズ２２で平行光にされ、ビームス
プリツタ２３、対物レンズ１を通り、デイスク２
のトラツク部（ビツト部３）に集束される。デイ
スク２からの反射光（実線で示す）は再び対物レ
ンズ１、ビームスプリツタ２３を通り、２分割光
検出器２４に入射する。
以上のように、フアーフイールド方式は光学系
が簡単であるので、すぐれているが、その反面、
次のような欠点がある。それは、デイスクの反射
面の傾きにより、誤つたトラツキング信号を発生
することである。第３図は、その様子を説明する
ための図である。
が簡単であるので、すぐれているが、その反面、
次のような欠点がある。それは、デイスクの反射
面の傾きにより、誤つたトラツキング信号を発生
することである。第３図は、その様子を説明する
ための図である。
第３図に示すように、デイスク２の反射面が、
入射光の光軸に対し垂直位置からずれて傾いてい
ると、光スポツトが第３図ａのように丁度トラツ
ク上にあつても反射光３１は左右不平均になる。
トラツク上のピツトとピツトの間の部分でも第３
図ｂのように、反射光は左右不平衡になる。
入射光の光軸に対し垂直位置からずれて傾いてい
ると、光スポツトが第３図ａのように丁度トラツ
ク上にあつても反射光３１は左右不平均になる。
トラツク上のピツトとピツトの間の部分でも第３
図ｂのように、反射光は左右不平衡になる。
このため、トラツキングサーボは、この傾きの
誤差信号を打ち消すように働くから、光スポツト
はデイスク上のトラツク位置からずれてしまう。
誤差信号を打ち消すように働くから、光スポツト
はデイスク上のトラツク位置からずれてしまう。
本発明は、上記の傾きによる誤つたトラツキン
グ誤差信号の影響を著しく軽減せしめる位置検出
装置を提供するものである。即ち、本発明は、光
源と、その光源から出た光を対象物体上に集束す
る光集束手段と、前記対象物からの反射光を検出
する光検出手段と、前記光検出手段の出力信号か
ら対象物体上の光学的に凹凸の記録信号を再生す
る凹凸の信号再生手段と、前記光検出手段の出力
信号から集束スポツトが対象物体上の情報トラツ
クからずれたことを示すトラツキング誤差信号を
差動的に抽出する差動トラツキング誤差抽出手段
と、前記凹凸信号によりトラツクの無ピツト部の
みのトラツキング誤差信号を抽出する無ピツト部
トラツキング誤差抽出手段を具備し、前記無ピツ
ト部トラツキング誤差抽出信号に応じて前記差動
トラツキング誤差抽出手段の２つの入力間の利得
を可変制御し、前記差動トラツキング誤差抽出手
段の出力信号をトラツキング誤差信号とするもの
である。
グ誤差信号の影響を著しく軽減せしめる位置検出
装置を提供するものである。即ち、本発明は、光
源と、その光源から出た光を対象物体上に集束す
る光集束手段と、前記対象物からの反射光を検出
する光検出手段と、前記光検出手段の出力信号か
ら対象物体上の光学的に凹凸の記録信号を再生す
る凹凸の信号再生手段と、前記光検出手段の出力
信号から集束スポツトが対象物体上の情報トラツ
クからずれたことを示すトラツキング誤差信号を
差動的に抽出する差動トラツキング誤差抽出手段
と、前記凹凸信号によりトラツクの無ピツト部の
みのトラツキング誤差信号を抽出する無ピツト部
トラツキング誤差抽出手段を具備し、前記無ピツ
ト部トラツキング誤差抽出信号に応じて前記差動
トラツキング誤差抽出手段の２つの入力間の利得
を可変制御し、前記差動トラツキング誤差抽出手
段の出力信号をトラツキング誤差信号とするもの
である。
即ち、第３図ｂの無ピツト部のフアーフイール
ドパターンは正確にデイスクの傾き情報のみを有
しているので、この無ピツト部のトラツキング誤
差信号からトラツキング誤差信号を補正するよう
にしたものである。
ドパターンは正確にデイスクの傾き情報のみを有
しているので、この無ピツト部のトラツキング誤
差信号からトラツキング誤差信号を補正するよう
にしたものである。
以下、第４図を参照して本発明をさらに詳しく
説明する。対象物であるデイスク上には記録情報
がほぼ一直線上（トラツク）に第４図ａのように
記録されている。第４図ａにおいて、４１〜４１
がピツトと呼ばれているものである。
説明する。対象物であるデイスク上には記録情報
がほぼ一直線上（トラツク）に第４図ａのように
記録されている。第４図ａにおいて、４１〜４１
がピツトと呼ばれているものである。
第４図ｂは光スポツトが丁度トラツクの上にあ
り、かつデイスクの傾きがない場合のトラツキン
グ誤差信号を示しており、トラツキング誤差信号
は零である。
り、かつデイスクの傾きがない場合のトラツキン
グ誤差信号を示しており、トラツキング誤差信号
は零である。
第４図ｃでは光スポツトは丁度トラツクの上に
あるが、デイスクが傾いている場合のトラツキン
グ誤差信号を示している。本来ならば、光スポツ
トが丁度トラツク上にあるから、このトラツキン
グ誤差信号も零であるべきである。
あるが、デイスクが傾いている場合のトラツキン
グ誤差信号を示している。本来ならば、光スポツ
トが丁度トラツク上にあるから、このトラツキン
グ誤差信号も零であるべきである。
一方、記録信号を再生した凹凸信号は第４図ｄ
のようにピツト部で小さく、ピツト部以外では大
きい。
のようにピツト部で小さく、ピツト部以外では大
きい。
第４図ｃの無ピツト部のトラツキング誤差信号
は第３図ｂから明らかなように、デイスクの傾き
の情報のみを含んでいる。それ故、第４図ｃとｄ
の対応より、凹凸信号の零クロス点を検出し、ピ
ツト部と無ピツト部を判断し、第４図ｃのトラツ
キング誤差の無ピツト部の量を抽出し、利得制御
をすれば、デイスクの傾きの影響を著しく軽減で
きる。
は第３図ｂから明らかなように、デイスクの傾き
の情報のみを含んでいる。それ故、第４図ｃとｄ
の対応より、凹凸信号の零クロス点を検出し、ピ
ツト部と無ピツト部を判断し、第４図ｃのトラツ
キング誤差の無ピツト部の量を抽出し、利得制御
をすれば、デイスクの傾きの影響を著しく軽減で
きる。
第５図は、本発明を用いたトラツキングサーボ
系の一例のブロツク図を示すものであり、光学系
としては第２図のものを使うこととし、図示は省
略している。
系の一例のブロツク図を示すものであり、光学系
としては第２図のものを使うこととし、図示は省
略している。
第５図において、２はデイスク、２４は２分割
光検出器、５１は凹凸信号再生部、５２は無ピツ
ト部トラツキング誤差抽出部、５３は利得調整
部、５４は利得制御可能な利得制御部、５５は差
動トラツキング誤差抽出部、５６は増幅部、５７
はトラツキングアクチユエータである。
光検出器、５１は凹凸信号再生部、５２は無ピツ
ト部トラツキング誤差抽出部、５３は利得調整
部、５４は利得制御可能な利得制御部、５５は差
動トラツキング誤差抽出部、５６は増幅部、５７
はトラツキングアクチユエータである。
第５図において、デイスク２の凹凸信号は２分
割光検出器２４に入り、その和により凹凸信号が
凹凸信号再生部５１で再生される。一方、２分割
光検出器２４の差信号が無ピツト部トラツキング
誤差抽出部５２に入り、凹凸信号再生部５１の出
力信号により、無ピツト部のみのトラツキング誤
差が抽出される。この信号は利得調整部５３に入
り、所定の関係で変換され、その出力が利得制御
部５４の利得を制御する。
割光検出器２４に入り、その和により凹凸信号が
凹凸信号再生部５１で再生される。一方、２分割
光検出器２４の差信号が無ピツト部トラツキング
誤差抽出部５２に入り、凹凸信号再生部５１の出
力信号により、無ピツト部のみのトラツキング誤
差が抽出される。この信号は利得調整部５３に入
り、所定の関係で変換され、その出力が利得制御
部５４の利得を制御する。
２分割光デイテクタ２４の出力信号は、一方は
直接に、他方は利得制御部５４を介して差動トラ
ツキング誤差抽出部５５に入力される。差動トラ
ツキング誤差抽出部５５の出力信号は増幅部５６
を介してトラツキングアクチユエータ５７を制御
する。
直接に、他方は利得制御部５４を介して差動トラ
ツキング誤差抽出部５５に入力される。差動トラ
ツキング誤差抽出部５５の出力信号は増幅部５６
を介してトラツキングアクチユエータ５７を制御
する。
このように、無ピツト部トラツキング誤差（５
２の出力）がデイスクの傾き情報しか含まないこ
とを利用し、サーボループ内のトラツキング誤差
信号の中よりデイスクの傾き成分の影響を除去し
ようとするのが本発明の目的とするところであ
る。
２の出力）がデイスクの傾き情報しか含まないこ
とを利用し、サーボループ内のトラツキング誤差
信号の中よりデイスクの傾き成分の影響を除去し
ようとするのが本発明の目的とするところであ
る。
第６図は、本発明を用いたトラツキングサーボ
系の他の例を示す要部ブロツク図であり、第５図
のものを改良したものである。
系の他の例を示す要部ブロツク図であり、第５図
のものを改良したものである。
第６図において第５図と同一のものは同一の符
号を付し、対応するものは同一符号にダツシユを
付して示している。
号を付し、対応するものは同一符号にダツシユを
付して示している。
第４図ｃから明らかなように、デイスクの傾き
の影響は無ピツト部の方が極めて大きく、この部
分はトラツキング誤差情報を含んでいないから、
第５図において差動トラツキング誤差抽出部５５
から無ピツト部のトラツキング誤差信号を捨て去
る方が、より正確なトラツキング誤差信号を得る
ことができる。
の影響は無ピツト部の方が極めて大きく、この部
分はトラツキング誤差情報を含んでいないから、
第５図において差動トラツキング誤差抽出部５５
から無ピツト部のトラツキング誤差信号を捨て去
る方が、より正確なトラツキング誤差信号を得る
ことができる。
このような考えから、第６図では差動トラツキ
ング誤差抽出部５５′を凹凸信号再生部５１の信
号により制御し、ピツト部のみのトラツキング誤
差信号を得るようにしている。
ング誤差抽出部５５′を凹凸信号再生部５１の信
号により制御し、ピツト部のみのトラツキング誤
差信号を得るようにしている。
以上のように、本発明はトラツキング信号に及
ぼすデイスクの傾きの影響を極めて小さくするこ
とが出来るもので、極めて有用なものである。
ぼすデイスクの傾きの影響を極めて小さくするこ
とが出来るもので、極めて有用なものである。
第１図ａ，ｂ，ｃおよび第２図は従来のトラツ
キング誤差信号抽出方法を説明するための概略
図、第３図ａ，ｂはトラツキング信号への対象物
の傾きの影響を説明するための概略図、第４図
ａ，ｂ，ｃ，ｄは本発明の原理を説明するための
図、第５図および第６図は本発明を用いたトラツ
キングサーボ系の各例を示す要部ブロツク構成図
である。 １……対物レンズ、２……デイスク、２１……
半導体レーザダイオード、２２……コリメートレ
ンズ、２３……ビームスプリツタ、２４……２分
割光検出器、５１……凹凸信号再生部、５２……
トラツキング誤差信号抽出部、５３……利得調整
部、５４……利得制御部、５５，５５′……差動
トラツキング誤差信号抽出部。
キング誤差信号抽出方法を説明するための概略
図、第３図ａ，ｂはトラツキング信号への対象物
の傾きの影響を説明するための概略図、第４図
ａ，ｂ，ｃ，ｄは本発明の原理を説明するための
図、第５図および第６図は本発明を用いたトラツ
キングサーボ系の各例を示す要部ブロツク構成図
である。 １……対物レンズ、２……デイスク、２１……
半導体レーザダイオード、２２……コリメートレ
ンズ、２３……ビームスプリツタ、２４……２分
割光検出器、５１……凹凸信号再生部、５２……
トラツキング誤差信号抽出部、５３……利得調整
部、５４……利得制御部、５５，５５′……差動
トラツキング誤差信号抽出部。
Claims (1)
- １ 光源と、その光源から出た光を対象物体上に
集束する光集束手段と、前記対象物からの反射光
を検出する光検出手段と、前記光検出手段の出力
信号から対象物体上の光学的に凹凸の記録信号を
再生する凹凸信号再生手段と、前記光検出手段の
出力信号から集束スポツトが対象物体上の情報ト
ラツクからずれたことを示すトラツキング誤差信
号を差動的に抽出する差動トラツキング誤差抽出
手段と、前記凹凸信号によりトラツクの無ピツト
部のみのトラツキング誤差信号を抽出する無ピツ
ト部トラツキング誤差抽出手段を具備し、前記無
ピツト部トラツキング誤差抽出信号に応じて前記
差動トラツキング誤差抽出手段の２つの入力間の
利得を可変制御し、前記差動トラツキング誤差抽
出手段の出力信号をトラツキング誤差信号とする
ごとく構成したことを特徴とする位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4909481A JPS57164448A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Position detecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4909481A JPS57164448A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Position detecting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57164448A JPS57164448A (en) | 1982-10-09 |
| JPS6223376B2 true JPS6223376B2 (ja) | 1987-05-22 |
Family
ID=12821502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4909481A Granted JPS57164448A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Position detecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57164448A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH029973U (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-23 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58125242A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-26 | Victor Co Of Japan Ltd | 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 |
| JPS58194146A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-12 | Sharp Corp | 光学式デイスクプレ−ヤにおけるトラツキング制御装置 |
| JPS6040534A (ja) * | 1983-08-16 | 1985-03-02 | Ricoh Co Ltd | トラツキング制御方法及び装置 |
-
1981
- 1981-03-31 JP JP4909481A patent/JPS57164448A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH029973U (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-23 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57164448A (en) | 1982-10-09 |
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