JPS62231264A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPS62231264A JPS62231264A JP7526786A JP7526786A JPS62231264A JP S62231264 A JPS62231264 A JP S62231264A JP 7526786 A JP7526786 A JP 7526786A JP 7526786 A JP7526786 A JP 7526786A JP S62231264 A JPS62231264 A JP S62231264A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08278—Depositing methods
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は表面保護層にシリコンカーバイド層を用いた電
子写真感光体の改良に係り、高硬度特性及び高速成膜性
を達成した電子写真感光体に関するものである。
子写真感光体の改良に係り、高硬度特性及び高速成膜性
を達成した電子写真感光体に関するものである。
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、超高速複写
機やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進めら
れており、これらの機器に用いられてる感光体は長期間
、高速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要
求されている。現在、Se、CdS、ZnO等の光電材
料が一般的に使用されているが、アモルファスシリコン
は耐熱性、耐摩耗性、無公害性、光感度特性等に優れて
いるという理由から、アモルファスシリコン(以下、a
−5tと略す)の電子写真感光体への応用が注目されて
いる。
機やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進めら
れており、これらの機器に用いられてる感光体は長期間
、高速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要
求されている。現在、Se、CdS、ZnO等の光電材
料が一般的に使用されているが、アモルファスシリコン
は耐熱性、耐摩耗性、無公害性、光感度特性等に優れて
いるという理由から、アモルファスシリコン(以下、a
−5tと略す)の電子写真感光体への応用が注目されて
いる。
かかるa−Si感光体は、第1図に示すような積層型が
最も感光体特性上価れていることが判っている。
最も感光体特性上価れていることが判っている。
即ち、第1図によれば、アルミニウムやNESAガラス
などの導電性の基板(1)上にキャリア注入阻止1i(
2)、光導電層(3)及び表面保護層(4)を順次積層
しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1)
からのキャリアの注入を阻止し、且つ残留電位を低下さ
せるために形成されており、そして、表面像m1層(4
)は感光体の耐久性を高めるために高硬度特性を得るよ
うにすることが第1の目的で形成されており、その他に
は対コロナ性、化学的安定性、反射防止という特性も要
求されている。
などの導電性の基板(1)上にキャリア注入阻止1i(
2)、光導電層(3)及び表面保護層(4)を順次積層
しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1)
からのキャリアの注入を阻止し、且つ残留電位を低下さ
せるために形成されており、そして、表面像m1層(4
)は感光体の耐久性を高めるために高硬度特性を得るよ
うにすることが第1の目的で形成されており、その他に
は対コロナ性、化学的安定性、反射防止という特性も要
求されている。
この表面像111(4)には上記緒特性を得るためにグ
ロー放電分解法により形成したシリコンカーバイド層を
用いることが提案されている。
ロー放電分解法により形成したシリコンカーバイド層を
用いることが提案されている。
しかしながら、感光体の耐久性を決定する表面保護層の
硬度特性に対して原料ガスの選択や成膜条件などを決め
た報告は未だ発表されていない。
硬度特性に対して原料ガスの選択や成膜条件などを決め
た報告は未だ発表されていない。
また、この表面保護層をグロー放電分解法により形成す
るに当たって、製造効率を高めるために高い成+1Q速
度が得られることが望まれる。
るに当たって、製造効率を高めるために高い成+1Q速
度が得られることが望まれる。
従って、本発明の目的は高硬度特性を有するシリコンカ
ーバイド層を得んがために製造条件を見い出して一層優
れた高硬度表面保護層を形成し、これにより、耐久性に
優れた電子写真感光体を提供することにある。
ーバイド層を得んがために製造条件を見い出して一層優
れた高硬度表面保護層を形成し、これにより、耐久性に
優れた電子写真感光体を提供することにある。
本発明の他の目的は上記シリコンカーバイド層を高い成
膜速度で形成して生産性及び製造効率を高めることがで
きる電子写真感光体を提供することにある。
膜速度で形成して生産性及び製造効率を高めることがで
きる電子写真感光体を提供することにある。
本発明によれば、シリコンカーバイド生成用ガスを用い
てグロー放電分解法によりシリコンカーバイドから成る
表面保護層を形成した電子写真感光体において、前記ガ
スにシランガスとアセチレンガスを用いると共に表面保
護層のシリコン原子とカーボン原子の原子比率をSi
(1−XI CXと表して0.2≦x≦0.9の範囲
内になるようにしたことを特徴とする電子写真感光体が
提供される。
てグロー放電分解法によりシリコンカーバイドから成る
表面保護層を形成した電子写真感光体において、前記ガ
スにシランガスとアセチレンガスを用いると共に表面保
護層のシリコン原子とカーボン原子の原子比率をSi
(1−XI CXと表して0.2≦x≦0.9の範囲
内になるようにしたことを特徴とする電子写真感光体が
提供される。
本発明の電子写真感光体に係る表面保護層を形成するに
際してシリコンカーバイド生成用ガスにシランガス(S
iH4)を用いてグロー放電分解するという点では従来
のものと軌を−にしているが、カーバイド生成ガスのう
ちでもアセチレンガス(Czll□)を選択してグロー
放電分解に供し、更に表面保護層のシリコン原子とカー
ボン原子の原子比率を5t(1−x) cXと表して
0.2≦x≦0.9の範囲内になるように成膜条件を設
定することが、従来の技術に対する顕著な特徴である。
際してシリコンカーバイド生成用ガスにシランガス(S
iH4)を用いてグロー放電分解するという点では従来
のものと軌を−にしているが、カーバイド生成ガスのう
ちでもアセチレンガス(Czll□)を選択してグロー
放電分解に供し、更に表面保護層のシリコン原子とカー
ボン原子の原子比率を5t(1−x) cXと表して
0.2≦x≦0.9の範囲内になるように成膜条件を設
定することが、従来の技術に対する顕著な特徴である。
シリコンカーバイド生成用ガスにはシリコン元素供給ガ
スとして従来周知の通り、シランガスがあり、他方カー
バイド供給ガスとして一般にCB、、。
スとして従来周知の通り、シランガスがあり、他方カー
バイド供給ガスとして一般にCB、、。
C211、がコスト及びシリコンカーバイドの特性の点
から選択されている。
から選択されている。
本発明者はこのカーバイド供給ガスとしてC,H。
ガスを選択すれば、他の0114ガス及びCz II
sガスに比べて顕著な高硬度特性と高速成膜性が得られ
ることを知見した。
sガスに比べて顕著な高硬度特性と高速成膜性が得られ
ることを知見した。
更に本発明においては、このシリコンカーバイド生成用
ガスの選択に加えてシリコン原子とカーボン原子の原子
比率を5in−x+ CIと表して0.2≦x≦0.
9の範囲内から成るように表面保護層を形成すると、こ
の高硬度特性が顕著になり、好適には0.3≦x≦0.
8の範囲内に設定すればよい。
ガスの選択に加えてシリコン原子とカーボン原子の原子
比率を5in−x+ CIと表して0.2≦x≦0.
9の範囲内から成るように表面保護層を形成すると、こ
の高硬度特性が顕著になり、好適には0.3≦x≦0.
8の範囲内に設定すればよい。
更に本発明者が行った実験によれば、グロー放電分解装
置の反応容器の内部圧力がシリコンカーバイド層の硬度
及び成膜速度に及ぼす要因となることが判った。
置の反応容器の内部圧力がシリコンカーバイド層の硬度
及び成膜速度に及ぼす要因となることが判った。
即ち、上述した通りの高硬度特性を得るためにグロー放
電分解装置の反応容器の内部ガス圧力を0.1乃至0.
6Torrに設定するのが望ましく、0.1Torr未
満であると成膜速度が小さくなって実用性に欠け、0.
6Torrを超えると硬度特性が小さくなり、好適には
0.2乃至0.4Torrに設定すればよい。
電分解装置の反応容器の内部ガス圧力を0.1乃至0.
6Torrに設定するのが望ましく、0.1Torr未
満であると成膜速度が小さくなって実用性に欠け、0.
6Torrを超えると硬度特性が小さくなり、好適には
0.2乃至0.4Torrに設定すればよい。
次に、a−5t層を生成するための容量結合型グロー放
電分解装置を第2図に基づいて説明する。
電分解装置を第2図に基づいて説明する。
図中、第1、第2、第3、第4タンク(5) (6)
(7)(8)には、それぞれ5i11*、C,ll□又
はC114,BzHa、NzOガスが密封されおり、5
it14ガス、BzHhガスの何れも水素をキャリアー
ガスとして用いている。これらのガスは対応する第1.
第2第3及び第4調整弁(9) (10) (11)
(12)を開放することにより放出され、その流量がマ
スフローコントローラ(13) (14) (15)(
16)により制御され、第1.第2及び第3タンク(5
)(6) (7)からのガスは第1主管(17)へ、ま
た第4タンク(8)からのNzOガスは第2主管(18
)へ送られる。尚、(19) (20)は止め弁である
。第1.第2主管(17) (18)を通じて流れるガ
スは反応管(21)へと送り込まれるが、この反応管の
内部には容量結合型放電用電極(22)が設置されてお
り、それに印加される高周波電力は50Wa t ts
乃至3KilowaLtsが、また周波数は1MIIz
乃至10MIIzが適当である。反応管(21)の内部
には、例えばアルミニウムやNUSAガラスなどから成
る筒状の成膜用基板(23)が試料保持台(25)の上
に載置されており、そして、この保持台(25)はモー
ター(24)により回転駆動されるようになっており、
また、基板(23)は適当な加熱手段により、約50乃
至400℃好ましくは約150乃至300℃の温度に均
一加熱される。更に、反応管(21)の内部はa−Si
膜形成時に高度の真空状B(放電圧0.1乃至2,0T
orr)を必要とすることにより回転ポンプ(26)と
拡散ポンプ(27)に連結されている。
(7)(8)には、それぞれ5i11*、C,ll□又
はC114,BzHa、NzOガスが密封されおり、5
it14ガス、BzHhガスの何れも水素をキャリアー
ガスとして用いている。これらのガスは対応する第1.
第2第3及び第4調整弁(9) (10) (11)
(12)を開放することにより放出され、その流量がマ
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16)により制御され、第1.第2及び第3タンク(5
)(6) (7)からのガスは第1主管(17)へ、ま
た第4タンク(8)からのNzOガスは第2主管(18
)へ送られる。尚、(19) (20)は止め弁である
。第1.第2主管(17) (18)を通じて流れるガ
スは反応管(21)へと送り込まれるが、この反応管の
内部には容量結合型放電用電極(22)が設置されてお
り、それに印加される高周波電力は50Wa t ts
乃至3KilowaLtsが、また周波数は1MIIz
乃至10MIIzが適当である。反応管(21)の内部
には、例えばアルミニウムやNUSAガラスなどから成
る筒状の成膜用基板(23)が試料保持台(25)の上
に載置されており、そして、この保持台(25)はモー
ター(24)により回転駆動されるようになっており、
また、基板(23)は適当な加熱手段により、約50乃
至400℃好ましくは約150乃至300℃の温度に均
一加熱される。更に、反応管(21)の内部はa−Si
膜形成時に高度の真空状B(放電圧0.1乃至2,0T
orr)を必要とすることにより回転ポンプ(26)と
拡散ポンプ(27)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、N20を含有するa−Si膜を基板(23)上
に形成するときは、第1及び第4調整弁(9)(12)
を解放して第1タンク(5)より5il14ガスを、第
4タンク(8)よりNzOガスを、また硼素も含有させ
るときは第3調整弁(11)をも解放して、第3タンク
(7)より82116ガスを放出する。放出量はマスフ
ローコントローラ(13) (15) (16)により
規制され、5il14ガス或いは、それに8211 、
ガスが混合されたガスが第1主管(17)を介して、ま
た、それとともにSiH*に対し一定のモル比にあるN
、Oガスが第2主管(18)を介して反応管(21)へ
と送り込まれる。
例えば、N20を含有するa−Si膜を基板(23)上
に形成するときは、第1及び第4調整弁(9)(12)
を解放して第1タンク(5)より5il14ガスを、第
4タンク(8)よりNzOガスを、また硼素も含有させ
るときは第3調整弁(11)をも解放して、第3タンク
(7)より82116ガスを放出する。放出量はマスフ
ローコントローラ(13) (15) (16)により
規制され、5il14ガス或いは、それに8211 、
ガスが混合されたガスが第1主管(17)を介して、ま
た、それとともにSiH*に対し一定のモル比にあるN
、Oガスが第2主管(18)を介して反応管(21)へ
と送り込まれる。
そして、反応管(21)の内部が0.1乃至2.0To
rr程度の真空状態、基板温度が50乃至400℃、容
量型放電用電極(22)の高周波電力が10Watts
乃至3にiowatts、また周波数が1乃至10M1
lzに設定されていることに相俟ってグロー放電が起こ
り、ガスが分解して、基板上に酸素及び水素を含有した
a−3i膜、或いはそれに加えて適量の硼素を含有した
a−Si膜が約10乃至2500人/分の成膜速度で形
成される。
rr程度の真空状態、基板温度が50乃至400℃、容
量型放電用電極(22)の高周波電力が10Watts
乃至3にiowatts、また周波数が1乃至10M1
lzに設定されていることに相俟ってグロー放電が起こ
り、ガスが分解して、基板上に酸素及び水素を含有した
a−3i膜、或いはそれに加えて適量の硼素を含有した
a−Si膜が約10乃至2500人/分の成膜速度で形
成される。
次に本発明の実施例を詳細に述べる。
ダイヤモンドバイトを用いた超精密旋盤により鏡面に仕
上げた基板用アルミニウム製ドラムをアルカリ脱脂、水
洗、乾燥を行って清浄し、第2図に示した容量結合型グ
ロー放電分解装置の反応管(21)内に設置した。そし
て、第1タンク(5)より5il14 ガスを、第3
タンク(7)よりB、H,ガスを、第4タンク(8)よ
りNZOガスをそれぞれ100cc/w+in0.2c
c/min 、、 4cc/minの流量で、更に11
□ガスを400cc/minの流量で放出し、グロー放
電分解法により厚み3μmのキャリア注入阻止層(2)
を形成した。
上げた基板用アルミニウム製ドラムをアルカリ脱脂、水
洗、乾燥を行って清浄し、第2図に示した容量結合型グ
ロー放電分解装置の反応管(21)内に設置した。そし
て、第1タンク(5)より5il14 ガスを、第3
タンク(7)よりB、H,ガスを、第4タンク(8)よ
りNZOガスをそれぞれ100cc/w+in0.2c
c/min 、、 4cc/minの流量で、更に11
□ガスを400cc/minの流量で放出し、グロー放
電分解法により厚み3μmのキャリア注入阻止層(2)
を形成した。
次いで、同様の操作にてSil+、ガス、lhl+、ガ
ス及びIl、ガスをそれぞれ300cc/r@in 、
39X10−’cc/+in及び300cc/+ni
nの流量で放出し、グロー放電分解法により20μmの
厚みの光導電N(3)を形成した。
ス及びIl、ガスをそれぞれ300cc/r@in 、
39X10−’cc/+in及び300cc/+ni
nの流量で放出し、グロー放電分解法により20μmの
厚みの光導電N(3)を形成した。
然る後、本実施例においては、SiH,ガスとC,H。
から成る混合ガスを全量で6005CCMの流量に設定
して反応室内部へ導入し、また、これらのガスの混合比
を幾通りにも設定して組成比の異なるシリコンカーバイ
ド層を形成し、これにより、表面保Kit’!(4)の
違いによる幾種類もの感光体ドラムを製作した。
して反応室内部へ導入し、また、これらのガスの混合比
を幾通りにも設定して組成比の異なるシリコンカーバイ
ド層を形成し、これにより、表面保Kit’!(4)の
違いによる幾種類もの感光体ドラムを製作した。
尚、この表面保護層の製造条件は基板温度が300℃に
、ガス圧力が0.3Torr又は0.5Torrに、高
周波電力が0.2W/ cd(100W)又は0.4W
/ cd(200W)になるように設定した。
、ガス圧力が0.3Torr又は0.5Torrに、高
周波電力が0.2W/ cd(100W)又は0.4W
/ cd(200W)になるように設定した。
かくして得られた各々の感光体ドラムについて1、その
表面に加重をかけたダイヤモンド針が感光体表面を移動
し、これにより生じる引っかき傷の有無を調べて、その
加重量を相対値として示すようにし、この方法により、
感光体の硬度特性を確かめたところ、第3図に示す通り
の結果を得た。
表面に加重をかけたダイヤモンド針が感光体表面を移動
し、これにより生じる引っかき傷の有無を調べて、その
加重量を相対値として示すようにし、この方法により、
感光体の硬度特性を確かめたところ、第3図に示す通り
の結果を得た。
図中、Δ印、O印、口印はそれぞれガス圧力を0.3T
orrにして高周波電力をO,i/cdした場合、Q、
3Torrにして0.214/ c+jに設定した場合
、0.5Torrにして0.2W/ CIAに設定した
場合であり、^、B、Cはそれぞれの特性曲線である。
orrにして高周波電力をO,i/cdした場合、Q、
3Torrにして0.214/ c+jに設定した場合
、0.5Torrにして0.2W/ CIAに設定した
場合であり、^、B、Cはそれぞれの特性曲線である。
比較例として示す・印は、CJzガスに代えてCH4ガ
スを用いて同じ条件により作製したものであって、ガス
圧力を0.3Torr 、、高周波電力を0.4W/
ciに設定した場合であり、Dはその特性曲線である。
スを用いて同じ条件により作製したものであって、ガス
圧力を0.3Torr 、、高周波電力を0.4W/
ciに設定した場合であり、Dはその特性曲線である。
第3図に示す通り、C)I4ガスに比べて0211□ガ
スを用いるとガス圧力及び電力が同じであれば、硬度が
顕著に向上することが判る。
スを用いるとガス圧力及び電力が同じであれば、硬度が
顕著に向上することが判る。
また、Czllzガスを用いてもガス圧力によって硬度
が変わることが判り、本発明者が繰り返し行った実験に
よれば、0.1乃至0.6Torrの範囲内に設定する
のがよいことが判明した。
が変わることが判り、本発明者が繰り返し行った実験に
よれば、0.1乃至0.6Torrの範囲内に設定する
のがよいことが判明した。
更にまた、本発明者が行った実験によれば、シリコンカ
ーバイトiを形成するに当たって、C114ガスを用い
ると成膜速度が約0.3乃至0.6 μm/時であるの
に対して同一条件でC,H,ガスを用いた場合の成膜速
度は約7もしくは8μll1Z時となり、10倍以上の
高速成膜が達成できることを確認した。
ーバイトiを形成するに当たって、C114ガスを用い
ると成膜速度が約0.3乃至0.6 μm/時であるの
に対して同一条件でC,H,ガスを用いた場合の成膜速
度は約7もしくは8μll1Z時となり、10倍以上の
高速成膜が達成できることを確認した。
また本発明者はシリコンカーバイト層の暗導電率を測定
したところ、第4図に示す通りの結果を得た。
したところ、第4図に示す通りの結果を得た。
即ち、第4図によれば、○印及びム印はそれぞれCzH
zガス及びCI+、ガスを用いてガス圧力を0.3To
rr、高周波電力を0.4W/ cdに設定した場合の
暗導電率を示しており、E及びFはそれぞれの特性曲線
である。
zガス及びCI+、ガスを用いてガス圧力を0.3To
rr、高周波電力を0.4W/ cdに設定した場合の
暗導電率を示しており、E及びFはそれぞれの特性曲線
である。
第4図から明らか通り、本発明により得られるシリコン
力カーバイト層を用いれば、その組成を51(1−11
1CXと表してXが0.6以上となると0114ガスに
より得られたシリコンカーバイト層と比べて大きな暗抵
抗値を示しており、更に優れた電子写真特性が得られる
。
力カーバイト層を用いれば、その組成を51(1−11
1CXと表してXが0.6以上となると0114ガスに
より得られたシリコンカーバイト層と比べて大きな暗抵
抗値を示しており、更に優れた電子写真特性が得られる
。
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、より一
層の高硬度特性を有するシリコンカーバイト層を表面保
ilNとすることができ、しかも、このシリコンカーバ
イト層の組成を選択すると暗抵抗値を高めることができ
、これにより、耐久性及び長寿命が達成できて超高速複
写機やレーザービームプリンタに好適な高信φ■性且つ
高性能の電子写真感光体が提供できる。また、本発明の
電子写真感光体を製作するに当たってシリコンカーバイ
ト層が著しく高い成膜速度で得られるので生産性及び製
造効率を高めて製造コストの低減をもたらす。
層の高硬度特性を有するシリコンカーバイト層を表面保
ilNとすることができ、しかも、このシリコンカーバ
イト層の組成を選択すると暗抵抗値を高めることができ
、これにより、耐久性及び長寿命が達成できて超高速複
写機やレーザービームプリンタに好適な高信φ■性且つ
高性能の電子写真感光体が提供できる。また、本発明の
電子写真感光体を製作するに当たってシリコンカーバイ
ト層が著しく高い成膜速度で得られるので生産性及び製
造効率を高めて製造コストの低減をもたらす。
第1図は本発明の実施例に用いられる電子写真感光体の
断面図、第2図は本発明の実施例に用いられるグロー放
電分解装置の概略図、第3図は本発明の電子写真感光体
に係る表面保護層のシリコン原子とカーボン原子の原子
比率に対する相対的硬度を示す線図、第4図は本発明の
電子写真感光体に係る表面保護層のシリコン原子とカー
ボン原子の原子比率に対する暗導電率を示す線図である
。 1・・・基板 2・・・キャリア注入阻止層。
断面図、第2図は本発明の実施例に用いられるグロー放
電分解装置の概略図、第3図は本発明の電子写真感光体
に係る表面保護層のシリコン原子とカーボン原子の原子
比率に対する相対的硬度を示す線図、第4図は本発明の
電子写真感光体に係る表面保護層のシリコン原子とカー
ボン原子の原子比率に対する暗導電率を示す線図である
。 1・・・基板 2・・・キャリア注入阻止層。
Claims (1)
- シリコンカーバイド生成用ガスを用いてグロー放電分解
法によりシリコンカーバイドから成る表面保護層を形成
した電子写真感光体において、前記ガスにシランガスと
アセチレンガスを用いると共に表面保護層のシリコン原
子とカーボン原子の原子比率をSi_(_1_−_x_
)C_xと表して0.2≦x≦0.9の範囲内になるよ
うにしたことを特徴とする電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7526786A JPS62231264A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7526786A JPS62231264A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62231264A true JPS62231264A (ja) | 1987-10-09 |
Family
ID=13571274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7526786A Pending JPS62231264A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62231264A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03144459A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-19 | Mita Ind Co Ltd | 感光体ドラムの製造方法 |
US5240802A (en) * | 1991-12-31 | 1993-08-31 | Eastman Kodak Company | Aggregate photoconductive element and method of making same |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57115551A (en) * | 1981-01-09 | 1982-07-19 | Canon Inc | Photoconductive material |
JPS59184360A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子写真用感光体 |
JPS6014248A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子写真用感光体 |
-
1986
- 1986-03-31 JP JP7526786A patent/JPS62231264A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57115551A (en) * | 1981-01-09 | 1982-07-19 | Canon Inc | Photoconductive material |
JPS59184360A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子写真用感光体 |
JPS6014248A (ja) * | 1983-07-06 | 1985-01-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子写真用感光体 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03144459A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-19 | Mita Ind Co Ltd | 感光体ドラムの製造方法 |
US5240802A (en) * | 1991-12-31 | 1993-08-31 | Eastman Kodak Company | Aggregate photoconductive element and method of making same |
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