JPS6223121A - ワイヤボンデイング装置 - Google Patents
ワイヤボンデイング装置Info
- Publication number
- JPS6223121A JPS6223121A JP60161949A JP16194985A JPS6223121A JP S6223121 A JPS6223121 A JP S6223121A JP 60161949 A JP60161949 A JP 60161949A JP 16194985 A JP16194985 A JP 16194985A JP S6223121 A JPS6223121 A JP S6223121A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base
- elastic member
- bonded
- bonding
- sample stand
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78313—Wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/787—Means for aligning
- H01L2224/78743—Suction holding means
- H01L2224/78744—Suction holding means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85001—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector involving a temporary auxiliary member not forming part of the bonding apparatus, e.g. removable or sacrificial coating, film or substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
- H01L2224/85205—Ultrasonic bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、半導体装置のワイヤボンディング技術に関す
るもので特に、超音波ワイヤボンディング技術に関する
ものである。
るもので特に、超音波ワイヤボンディング技術に関する
ものである。
被ボンディング体であるセラミックパッケージ(以下、
ペースという)に搭載したベレットの主表面上のパッド
電極と外部電極とをボンディングワイヤ(以下単にワイ
ヤという)にて接続する場合、一般に超音波ワイヤボン
ディング装置を用いているが、前後パッド電極の下地の
基板にクラックが入ったり、ワイヤがパッド電極と良好
に接続されないという問題があった。そこで、本発明者
がその原因を追求したところ、ベースの裏面にそりがあ
った場合、ペースに超音波出力が効率よく伝達されない
ために前述のような問題が発生していることを見い出し
た。また第6図のような平坦な試料台1上に板状のゴム
2を敷いただけではベースの裏面のそりを吸収しきれて
いないことを見い出した。なお、超音波ワイヤボンディ
ング装置については、工業調査会発行電子材料11月号
別冊、超LSI製造・試験装置ガイドブック、1985
年版p、1]4〜p、I20に記載されている。
ペースという)に搭載したベレットの主表面上のパッド
電極と外部電極とをボンディングワイヤ(以下単にワイ
ヤという)にて接続する場合、一般に超音波ワイヤボン
ディング装置を用いているが、前後パッド電極の下地の
基板にクラックが入ったり、ワイヤがパッド電極と良好
に接続されないという問題があった。そこで、本発明者
がその原因を追求したところ、ベースの裏面にそりがあ
った場合、ペースに超音波出力が効率よく伝達されない
ために前述のような問題が発生していることを見い出し
た。また第6図のような平坦な試料台1上に板状のゴム
2を敷いただけではベースの裏面のそりを吸収しきれて
いないことを見い出した。なお、超音波ワイヤボンディ
ング装置については、工業調査会発行電子材料11月号
別冊、超LSI製造・試験装置ガイドブック、1985
年版p、1]4〜p、I20に記載されている。
本発明の目的は、安定したワイヤボンディングを行なう
ための技術を提供することである。
ための技術を提供することである。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば下記の通りである。
を簡単に説明すれば下記の通りである。
すなわち、被ボンディング体を載置する試料台に、前記
被ボンディング体の裏面のそりを吸収できる形状の弾性
部材を敷設することにより、被ボンディング体が試料台
から浮く状態を防止することができるので、安定したワ
イヤボンディングを行なうことを可能にするものである
。
被ボンディング体の裏面のそりを吸収できる形状の弾性
部材を敷設することにより、被ボンディング体が試料台
から浮く状態を防止することができるので、安定したワ
イヤボンディングを行なうことを可能にするものである
。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例であるワイヤボンディング装
置の概略図、第2図は第1図のワイヤボンディング装置
に用いられた弾性部材、第3図は第1図の主要部説明図
、第4図及び第5図は第3図の一部拡大断面図である。
置の概略図、第2図は第1図のワイヤボンディング装置
に用いられた弾性部材、第3図は第1図の主要部説明図
、第4図及び第5図は第3図の一部拡大断面図である。
以下、図に基づいて本発明の一実施例について説明する
。3は図示しないボンディングヘッドに回転自在に取り
付けられた上下動可能なボンディングアームで、図示し
ない超音波発振子により先端部が所定の振動数で振動す
るようになっている。前記先端部にはアルミニウム(A
i線等のワイヤ4を保持するウェッジ5が取り付けられ
ている。6はベース7とほぼ同じ面積を有する試料台で
、回転軸8により所望な角度で回転できるようになって
いる。9はゴム等の弾性部材で、ベース7の底面の縁部
と当接するようにリング形状忙形成され、かつ第4図に
示すように、弾性部材9の外側局部に溝部1oを設けて
断面略コ字状となっている。なお、11は真空吸着孔で
ある。
。3は図示しないボンディングヘッドに回転自在に取り
付けられた上下動可能なボンディングアームで、図示し
ない超音波発振子により先端部が所定の振動数で振動す
るようになっている。前記先端部にはアルミニウム(A
i線等のワイヤ4を保持するウェッジ5が取り付けられ
ている。6はベース7とほぼ同じ面積を有する試料台で
、回転軸8により所望な角度で回転できるようになって
いる。9はゴム等の弾性部材で、ベース7の底面の縁部
と当接するようにリング形状忙形成され、かつ第4図に
示すように、弾性部材9の外側局部に溝部1oを設けて
断面略コ字状となっている。なお、11は真空吸着孔で
ある。
次に動作について説明する。まず弾性部材9を表面に接
着した試料台6上にベース7を搬送し載置する。第3図
はこの状態を示しており、便宜上ベース7のリード13
は省略している。このとき。
着した試料台6上にベース7を搬送し載置する。第3図
はこの状態を示しており、便宜上ベース7のリード13
は省略している。このとき。
ベース7の裏面がそっていると第4図にて拡大図示する
ようにベース7の縁部にスキ間が生じている。このよう
なベース7を真空吸着孔11を介して真空引きを行なう
と、ベース7は矢印入方向に引っ張られる。例えばベー
ス底面縁部が中央部に比べてへこんでいる場合には、真
空引きにより弾性部材9のリング内側部分が押圧されて
沈み込む。
ようにベース7の縁部にスキ間が生じている。このよう
なベース7を真空吸着孔11を介して真空引きを行なう
と、ベース7は矢印入方向に引っ張られる。例えばベー
ス底面縁部が中央部に比べてへこんでいる場合には、真
空引きにより弾性部材9のリング内側部分が押圧されて
沈み込む。
この作用で前記弾性部材9のリング外側部分の先端部1
2が矢印B方向にそり上がってベース7のへこんでいる
部分を固定することになる。また逆に、ベース底面中央
部が縁部に比べてへこんでいる場合には、真空引きによ
り弾性部材9のリング外側部分の先端部分が縁部に押圧
されて沈み込み、そりを吸収することになる。従って、
ベース底面のそりかたに関係することな(そりを吸収で
きるので、ウェッジ5にてワイヤ先端をバッド電極(図
示せず)あるいはり−ド13aに当接したときの衝撃で
ベース7がぐらつくことはなく、はぼ水平な状態にベー
スを保っておくことができ、安定した超音波ワイヤボン
ディングが可能となる。
2が矢印B方向にそり上がってベース7のへこんでいる
部分を固定することになる。また逆に、ベース底面中央
部が縁部に比べてへこんでいる場合には、真空引きによ
り弾性部材9のリング外側部分の先端部分が縁部に押圧
されて沈み込み、そりを吸収することになる。従って、
ベース底面のそりかたに関係することな(そりを吸収で
きるので、ウェッジ5にてワイヤ先端をバッド電極(図
示せず)あるいはり−ド13aに当接したときの衝撃で
ベース7がぐらつくことはなく、はぼ水平な状態にベー
スを保っておくことができ、安定した超音波ワイヤボン
ディングが可能となる。
(1)試料台の表面に被ボンディング体の裏面のそりを
吸収できる弾性部材な配設することにより、被ボンディ
ング体が試料台に確実に固定されるので、安定したワイ
ヤボンディングを行なうことができ、ボンダビリティを
向上できるという効果が得られる。
吸収できる弾性部材な配設することにより、被ボンディ
ング体が試料台に確実に固定されるので、安定したワイ
ヤボンディングを行なうことができ、ボンダビリティを
向上できるという効果が得られる。
(2)試料台の表面に被ボンディング体の裏面のそりを
吸収できる弾性部材を配役することにより、被ボンディ
ング体が試料台に確実に固定されるので、超音波振動で
ワイヤを接続する場合でありても、超音波出力が被ボン
ディング体に効率よく伝達される為、良好なワイヤボン
ディングが行なえるという効果が得られる。
吸収できる弾性部材を配役することにより、被ボンディ
ング体が試料台に確実に固定されるので、超音波振動で
ワイヤを接続する場合でありても、超音波出力が被ボン
ディング体に効率よく伝達される為、良好なワイヤボン
ディングが行なえるという効果が得られる。
(3)リング状で、外側外周部に溝を形成した断面略コ
字状の弾性部材を試料台に取り付けることにより、被ボ
ンディング体の中央部と縁部との厚みが異なっていても
、被ボンディング体が真空吸着により沈み込んだ際、被
ボンディング体のそりに合わせて前記弾性部材の先端部
が屈曲するので、被ボンディング体のそり部分をも押え
て確実に試料台に固定することができ、安定したワイヤ
ボンディングを行うことができるという効果が得られる
。
字状の弾性部材を試料台に取り付けることにより、被ボ
ンディング体の中央部と縁部との厚みが異なっていても
、被ボンディング体が真空吸着により沈み込んだ際、被
ボンディング体のそりに合わせて前記弾性部材の先端部
が屈曲するので、被ボンディング体のそり部分をも押え
て確実に試料台に固定することができ、安定したワイヤ
ボンディングを行うことができるという効果が得られる
。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもな〜\。
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもな〜\。
たとえば、弾性部材の断面形状は略コ字状に限らず、逆
り字状等であっても良い。
り字状等であっても良い。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である半導体装置のワイヤ
ボンディング技術に適用した場合について説明したが、
それに限定されるものではなく、その他のボンディング
にも種々適用することが可能である。
をその背景となった利用分野である半導体装置のワイヤ
ボンディング技術に適用した場合について説明したが、
それに限定されるものではなく、その他のボンディング
にも種々適用することが可能である。
第1図は本発明の一実施例であるワイヤボンディング装
置の概略図、 第2図は第1図のワイヤボンディング装置に用いられる
弾性部材、 第3図は第1図の主要部説明図、 第4図及び第5図は第3図の一部拡大断面図、第6図は
従来のワイヤボンディング装置の試料台斜視図である。 1.6・・・試料台、2・・・板状のゴム、3・・・ボ
ンディングアーム、4・・・ワイヤ、5・・・ウェッジ
、7・・・ベース、8・・・回転軸、9・・・弾性部材
、1o・・・溝部、11・・・真空吸着孔、12・・・
先端部。 \ミ−
置の概略図、 第2図は第1図のワイヤボンディング装置に用いられる
弾性部材、 第3図は第1図の主要部説明図、 第4図及び第5図は第3図の一部拡大断面図、第6図は
従来のワイヤボンディング装置の試料台斜視図である。 1.6・・・試料台、2・・・板状のゴム、3・・・ボ
ンディングアーム、4・・・ワイヤ、5・・・ウェッジ
、7・・・ベース、8・・・回転軸、9・・・弾性部材
、1o・・・溝部、11・・・真空吸着孔、12・・・
先端部。 \ミ−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ボンディングワイヤを保持するボンディングツール
を先端部に配設したボンディングアームと、前記ボンデ
ィングアームに近接して設けられ、ボンディングワイヤ
を挾持できるクランパと、被ボンディング体を載置する
ための試料台を有するワイヤボンディング装置において
、前記試料台の表面に被ボンディング体の裏面のそりを
吸収するための弾性部材を配設したことを特徴とするワ
イヤボンディング装置。 2、前記弾性部材はリング状でかつ断面略コ字状である
ことを特徴とす特許請求の範囲第1項記載のボンディン
グ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60161949A JPS6223121A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | ワイヤボンデイング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60161949A JPS6223121A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | ワイヤボンデイング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6223121A true JPS6223121A (ja) | 1987-01-31 |
Family
ID=15745107
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60161949A Pending JPS6223121A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | ワイヤボンデイング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6223121A (ja) |
-
1985
- 1985-07-24 JP JP60161949A patent/JPS6223121A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2003077310A1 (fr) | Dispositif a semi-conducteur et son procede de fabrication | |
JP2003264203A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US6731012B1 (en) | Non-planar surface for semiconductor chips | |
JP2005057158A (ja) | エキスパンド方法及びエキスパンド装置 | |
JP2001110946A (ja) | 電子デバイスおよびその製造方法 | |
JP2006351848A (ja) | コレット、角錐コレット、ダイボンディング装置、及びダイボンディング方法 | |
JPS6223121A (ja) | ワイヤボンデイング装置 | |
JP2009117867A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH11135574A (ja) | 超音波ボンディング用コレットおよびボンディング方法 | |
JP2003340787A (ja) | 基板の固定装置及び固定方法 | |
JP2003318216A (ja) | ワイヤボンディング方法 | |
JP3796943B2 (ja) | ワイヤボンディング装置及びワイヤボンディング方法 | |
JPH05299425A (ja) | ボールバンプボンダ | |
WO2024194931A1 (ja) | チップ保持具、チップ保持装置、および半導体装置の製造装置 | |
JP4491321B2 (ja) | 超音波実装方法およびこれに用いる超音波実装装置 | |
JPS592331A (ja) | チヤツク方法 | |
JPH0632682Y2 (ja) | ボンディング装置の基板固定用受台 | |
JP2712592B2 (ja) | ボンディング・ツールとその固定方法 | |
JP3589159B2 (ja) | バンプ付き電子部品のボンディング装置およびボンディング方法 | |
JP2003264202A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS63228637A (ja) | 取付治具 | |
TW202437444A (zh) | 晶片保持具、晶片保持裝置和半導體裝置的製造裝置 | |
JP2021190533A (ja) | ハブ型の切削ブレード | |
TW202128357A (zh) | 附帶基台之刀片 | |
JP3407742B2 (ja) | バンプ付電子部品の実装方法 |