JPS6222904Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、パンチ孔及びマークの双方をデー
タとして一方向に沿い混在して配列したカードを
データ配列方向に移送しながらデータを読み取る
カードリーダーにおいて、発光体及びカードの移
送経路を介して発光体の光を受光する受光体によ
り構成される検出手段をもち受光体の受光量の変
化によりカード面に形成したパンチ孔またはマー
クの有無を検出するカードリーダーのデータ読み
取り装置に関し、特に検出手段の受光体の受光量
変化に対応する電気量変化に関連してマークの有
無を判別するスレシヨールドレベルをカード面の
変化に追従して上下動可能としたものに関する。

従来、カードリーダーにおいては、たとえば第
１図に示すように、ホツパー１に積層したカード
２の下層の一枚をピッカー（図示しない）により
取り出して送りローラー３の作用により一方向へ
移送し、このカード２のカード面の移動経路に対
向して、その一側方に発光体４ａ及び受光体４ｂ
を配置し、カード２のカード面の移動経路を挾ん
で他側方に反射板５を配置した読み取りヘツド４
を設け、受光体４ｂは反射板５または移動するカ
ード２のカード面から反射する発光体４ａの光を
受光可能とし、この受光体４ｂの受光量に略比例
した電圧の検知信号を発生するようにしていた。
そしてこのような読み取り方式では、パンチ孔を
通過して反射板５から反射する光はカード面（白
紙部）から反射する光よりも光量が多くなるのに
対し、マークから反射する光はカード面（白紙
部）から反射する光よりも光量が少なくなり、従
つて検知信号の電圧はカード面を基準にしてパン
チ孔の検出時に高くなりマークの検出時に低くな
り、このためデータの有無を検出する場合にパン
チ孔とマークとでは判断基準が異なるので、別箇
の読み取りヘツドを要するが、これでは装置が大
型となり且つ部品点数が多くなり、双方のヘツド
の位置決め作業が煩雑となる等の欠点を生じた。
このため従来においては、単一の読み取りヘツド
によりパンチ孔とマークの検出を行なうために別
箇のスレシヨールドレベルを有する判断機能を設
け、特にマークの検出に際しては、カード面の汚
れ等のノイズによる誤判断を防ぐためにカード面
の白紙部の受光量を基準にしてマークスレシヨー
ルドレベルを上下に変化して保持するピークホー
ルド方式を採用するようにしていたが、これによ
れば次のような欠点を生じた。

即ち、たとえば第２図に示すように、カード移
動方向先方のカラムｌ１のパンチ孔が後方のカラ
ムｌ２にかかるように形成された場合、受光体の
検知信号はパンチ孔に対応して高電圧Ｐとなり、
それに追従してマークスレシヨールドレベルも高
くなり、カラム境界において一旦零電位にリセツ
トされるが次のカラムｌ２に入つてもパンチ孔Ｐ
が存在するのでマークスレシヨールドレベルは次
のカラム境界においてリセツトされるまで高電位
に保持され、これに対し検知信号はカードが移動
して発光体の光がカード面に反射するようになる
と電圧が下がり、マークが記されていないにも拘
らずマークスレシヨールドレベル以下に落ちて、
読み取りヘツドからの出力（読み取り信号）はパ
ンチ孔検出からカラムｌ２が終るまでデータ有
（高電位）の状態となり、エラーを生じて製品の
信頼性を著しく低下する欠点を生じた。

この考案は、上記欠点を除くことを目的とす
る。

この考案の実施例を図面により説明すると、受
光体４ｂの出力をアンプＥを介し、その出力（端
子Ｘ）を比較器Ａの非反転入力側に接続するとと
もに比較器Ｂの反転側入力に接続し、またアンプ
ＦびダイオードＤ及びコンデンサＣよりなるピー
クホールド回路を介して比較器Ｂの非反転入力側
（マークスレシヨールドレベル）に接続する。比
較器Ａの反転入力側にはパンチスレシヨールドレ
ベルの固定された電圧が入力し、比較器Ａは非反
転入力側の電圧（受光体４ｂ出力）が反転入力側
の電圧（パンチスレシヨールドレベル）を越えた
ときＨレベルの電圧（パンチデータ信号）を出力
し、また比較器Ｂは反転入力側の電圧（受光体４
ｂ出力）が非反転入力側の電圧（マークスレシヨ
ールドレベル）より降下したときにＨレベルの電
圧（マークデータ信号）を出力する。

オアゲートＡはアナログスイツチの作用を確実
にするための遅延回路を介する比較器Ａ出力と各
カラムの略境界線において発生するカラムリセツ
ト信号（Ｈレベル）とを入力し、その出力をピー
クホールド回路のコンデンサＣに並列に配置した
アナログスイツチSWのゲート入力とし、アナロ
グスイツチSWはゲート入力がＨレベルとなると
きオンする。オアゲートＢは比較器Ａ，Ｂ双方の
出力を入力しその出力を読み取り信号とする。

この考案は以上のような構成であり、 カード２が送りローラー３により検出ヘツド４と
反射板５との間に移動すると、受光体４ｂはカー
ド面（白紙部）に反射する発光体４ａの光を受光
しその出力（Ｘ端子）は第４図Ｓのレベルとな
る。パンチ孔がカラムｌ３とｌ４との双方にかか
るように形成されている場合、受光体４ｂはパン
チ孔を通り反射板５から反射する光を受光し高電
位の出力を発生する。このとき比較器Ａの出力は
ＨレベルとなりオアゲートＡをＨレベル出力と
し、このオアゲートＡ出力によりアナログスイツ
チSWをオン状態とし、ピークホールド回路の出
力（Ｙ端子）をリセツト状態に保持し、受光体４
ｂがカラム４ｂでパンチ孔の検知を終えるとその
出力は低電圧に戻り、比較器ＡはＬレベル出力と
なつてアナログスイツチSWをオフとし、ピーク
ホールド回路の出力をカード面（白紙部）検出時
と同レベルに戻す。従つてこの間比較器ＢはＬレ
ベルに保持されオアゲートＢは比較器Ａの出力に
よつてのみＨレベルの読み取り信号を発生する。

以上のようにこの考案によれば、パンチ孔検出
時にはその検知信号によりマークスレシヨールド
レベルをリセツト状態とするようにしたので、パ
ンチ孔が二つのカラムにかかるように形成されて
いても、パンチ孔の検出信号が復帰したときにマ
ークスレシヨールドレベルをカード面（白紙部）
の検出レベルにすることができるから、常に確実
にパンチ孔またはマークの検出を行なえ、製品に
高い信頼性を付与する等の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はカードリーダーの機構の略正面図、第
２図は従来欠点を説明するタイムチヤート、第３
図は本実施例の電気回路図、第４図は本実施例の
タイムチヤートである。 図において、アンプＦ、ダイオードＤ、コンデ
ンサＣはピークホールド回路、遅延回路、オアゲ
ートＡ、アナログスイツチSWはリセツト回路で
ある。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 カード面に一直線に沿い等間隔に複数のデータ
   エリアを配列し各データエリア内に単一のパンチ
   孔またはマークのみを形成可能とし且つカード上
   にパンチ孔及びマークを混在させたカード２と、 カードをデータエリアの配列方向へ移動可能と
   したカード送り手段３と、 カードの移動経路上に配置しカードに向け発光
   する発光体及び発光体の光を受光可能とした受光
   体とをしてカードの白紙部からの受光時の電圧値
   に対しパンチ孔を介する受光時には高電圧またマ
   ークを介する受光時には低電圧の検知信号を発生
   する検知手段４とをもつカードリーダーにおい
   て、 固定電圧のパンチスレシヨールドレベルと検知
   信号との電圧を比較し検知信号がパンチスレシヨ
   ールドレベルより高電圧のときパンチデータ信号
   を発生しパンチ孔の有無を判別するようにした第
   一の比較回路Ａと、 検知信号の電圧に対応して変化し各データエリ
   ア毎にピーク電圧の包絡線を形成する電圧を発生
   するピークホールド回路と、 ピークホールド回路の電圧をしてマークスレシ
   ヨールドレベルとＬマークスレシヨールドレベル
   と検知信号との電圧を比較し検知信号がマークス
   レシヨールドレベルより低電圧のときマークデー
   タ信号を発生しマークの有無を判別するようにし
   た第二の比較回路Ｂと、 パンチデータ信号の発生に関連しピークホール
   ド回路の電圧を常に低電圧状態の検知信号よりも
   低く設定するように双方の間に配置したリセツト
   回路とを備えたカードリーダーのデータ読み取り
   装置。