JPS62227035A - 連続ラインにおける高珪素鋼帯の製造方法 - Google Patents
連続ラインにおける高珪素鋼帯の製造方法Info
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Landscapes
- Solid-Phase Diffusion Into Metallic Material Surfaces (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Manufacturing Of Steel Electrode Plates (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、連続ラインにおける化学気相蒸着(以下、C
VDと称す)法による高珪素t’A帯の製造方法に関す
る。
VDと称す)法による高珪素t’A帯の製造方法に関す
る。
電磁銅板として高珪素鋼板が用いられている。この11
の鋼板はsiの含有量が増すほど鉄損が低減され、8k
: 6.5%では、磁歪がOとなり、最大透磁率もピ
ークとなる等量も優れた磁気特性を呈することが知られ
てぃ6゜ ′ 従来、高珪素鋼板を製造する方法として、圧延法、@接
錫造法及び滲珪法があるが、このうち圧延法ばSi含含
有量4程程までは製造可能であるが、それ以上のSi含
有量では加工性が著しく悪くなるため冷間加工は困難で
ある。また直接鋳造法、所謂ストリップキャスティング
は圧延法のような加工性の問題は生じないが、未だ開発
途上の技術であり、形状不良を起し易く、特に高珪素鋼
板の製造は困難である。
の鋼板はsiの含有量が増すほど鉄損が低減され、8k
: 6.5%では、磁歪がOとなり、最大透磁率もピ
ークとなる等量も優れた磁気特性を呈することが知られ
てぃ6゜ ′ 従来、高珪素鋼板を製造する方法として、圧延法、@接
錫造法及び滲珪法があるが、このうち圧延法ばSi含含
有量4程程までは製造可能であるが、それ以上のSi含
有量では加工性が著しく悪くなるため冷間加工は困難で
ある。また直接鋳造法、所謂ストリップキャスティング
は圧延法のような加工性の問題は生じないが、未だ開発
途上の技術であり、形状不良を起し易く、特に高珪素鋼
板の製造は困難である。
これに対し、滲珪法は低珪素鋼を溶製して圧延により薄
板とじた後、表面からSiを浸透させることにより高珪
素鋼板を製造するもので、これによれば加工性や形状不
良の問題を生じることなく高珪素鋼板を得ることができ
る。
板とじた後、表面からSiを浸透させることにより高珪
素鋼板を製造するもので、これによれば加工性や形状不
良の問題を生じることなく高珪素鋼板を得ることができ
る。
この滲珪法は、五弓、間部により提案され、三谷、大曲
らにより詳しく検討されたものであるが、従来提案され
た方法はいずれも浸透処理時間が30分以上と長く、ま
たCVD処理後に行われる拡散熱処理も、蒸着したsi
を゛母、材内部に均一に拡散させる必要から比較的長時
間を要し、事実上連続ラインには適用できないという根
本的な問題がある。またCVD処理温度も1230℃程
度と極めて高いことから浸透処理後の薄鋼板の形状が極
めて悪く、加えて処理温度が高過ぎるためエツジ部が過
加熱ζこよって溶解するおそれがあり、連続ラインでの
安定通板が期待できない。
らにより詳しく検討されたものであるが、従来提案され
た方法はいずれも浸透処理時間が30分以上と長く、ま
たCVD処理後に行われる拡散熱処理も、蒸着したsi
を゛母、材内部に均一に拡散させる必要から比較的長時
間を要し、事実上連続ラインには適用できないという根
本的な問題がある。またCVD処理温度も1230℃程
度と極めて高いことから浸透処理後の薄鋼板の形状が極
めて悪く、加えて処理温度が高過ぎるためエツジ部が過
加熱ζこよって溶解するおそれがあり、連続ラインでの
安定通板が期待できない。
また、滲珪法では蒸着反応により鋼板面のFeがFeC
Lz等の形で放散され、これζこよって板厚が減少する
。しかしこの種の処理では雰囲気ガス濃度分布の不均一
性等の原因で蒸着(膜厚)が不均一になり易く、この結
果板厚の減り方にバラツキを生じ、板厚が幅方向、長手
方向で不均一になり易いという問題がある。
Lz等の形で放散され、これζこよって板厚が減少する
。しかしこの種の処理では雰囲気ガス濃度分布の不均一
性等の原因で蒸着(膜厚)が不均一になり易く、この結
果板厚の減り方にバラツキを生じ、板厚が幅方向、長手
方向で不均一になり易いという問題がある。
加えて、Si含有量が4.0%以上の高珪素鋼板は脆性
てあり、処理後鋼板をコイルに捲取る場合44==h破
断し易いという問題もある。
てあり、処理後鋼板をコイルに捲取る場合44==h破
断し易いという問題もある。
本発明はこのような従来技術の欠点を改善するため番こ
なされたもので、滲珪法を用い、連続ラインにおいて短
時間でしかも高品質の高珪素鋼帯を安定して製造するこ
とができる方法の提供を目的とする。
なされたもので、滲珪法を用い、連続ラインにおいて短
時間でしかも高品質の高珪素鋼帯を安定して製造するこ
とができる方法の提供を目的とする。
このため本発明は、鋼帯を、5tc4をmo1分率で5
〜35チ含んだ無酸化性ガス雰囲気中で、化学気相蒸着
法により1023〜1200℃の温度で連続的に滲珪処
理し、次いでSiCl24を含まない無酸化性ガス雰囲
気中でSiを鋼帯内部に拡散させる拡散処理するに当り
、該拡散処理を表#Si譲度が鋼帯厚み方向中心部のS
i濃度よりも高い状態にあるうちに打ら切り、Si濃度
が厚み方向で不均一な鋼帯を得、をその基本的特徴とす
る・ し、次いで焼付処理するようにしたことを他の基本的特
徴とする・ 以下、本発明の詳細な説明する。
〜35チ含んだ無酸化性ガス雰囲気中で、化学気相蒸着
法により1023〜1200℃の温度で連続的に滲珪処
理し、次いでSiCl24を含まない無酸化性ガス雰囲
気中でSiを鋼帯内部に拡散させる拡散処理するに当り
、該拡散処理を表#Si譲度が鋼帯厚み方向中心部のS
i濃度よりも高い状態にあるうちに打ら切り、Si濃度
が厚み方向で不均一な鋼帯を得、をその基本的特徴とす
る・ し、次いで焼付処理するようにしたことを他の基本的特
徴とする・ 以下、本発明の詳細な説明する。
本発明において、母材たる鋼帯(出発薄鋼帯)の成分組
成は、特に限定はないが、優れた磁気特性を得るため以
下のように定めるのが好ましい。
成は、特に限定はないが、優れた磁気特性を得るため以
下のように定めるのが好ましい。
■3〜6.5%5i−Fe合金の場合
C:0.01%以下、Si:0〜4.0%、Mn :
2−以下、その他年可避不純物は極力低い方が望ましい
。
2−以下、その他年可避不純物は極力低い方が望ましい
。
■センダスト合金の場合
c:o、o1%以下、Sl:4%以下、At:3〜8%
、Ni:4%以下、Mn:2%以下、Or、Ti など
の耐食性を増す元素5%以下、その他の不可避不純物は
極力低い方が望ましい。
、Ni:4%以下、Mn:2%以下、Or、Ti など
の耐食性を増す元素5%以下、その他の不可避不純物は
極力低い方が望ましい。
鋼帯は熱間圧延−冷間圧延により得られるものに限らず
、直接鋳造、急冷凝固法により得られたものでもよい・ なお、上述したよう惇鋼帯はCVD処理により板厚が減
少するものであり、このため最終製品板厚に対し減少板
厚外を付加した板厚のものを用いる必要がある。
、直接鋳造、急冷凝固法により得られたものでもよい・ なお、上述したよう惇鋼帯はCVD処理により板厚が減
少するものであり、このため最終製品板厚に対し減少板
厚外を付加した板厚のものを用いる必要がある。
本発明は、このような鋼帯にCVD法による滲珪処理−
拡散処理を施すことにより高珪素鋼帯を得るものである
。
拡散処理を施すことにより高珪素鋼帯を得るものである
。
第1図は本発明法を実施するための連続処理ラインを示
すもので、(1)は加熱炉、(2)はCVD処理炉、(
3)は拡散処理炉、(4)は冷却炉である。
すもので、(1)は加熱炉、(2)はCVD処理炉、(
3)は拡散処理炉、(4)は冷却炉である。
鋼@(S)は加熱炉(1)でCVD処理温度またはその
近傍まで無酸化加熱された後、CVD処理炉(2)に導
かれ、SiCl4を含む無酸化性ガス雰囲気中でCVD
法による滲珪処理が施される。SiCl2を含む無酸化
性ガスとは、中性或いは還元性ガスを意味し、S iC
4のキャリアガスとしてはAr 、 N2 、 He
、 Ha + CI(4等を使用することができる。こ
れらキャリアガスのうち、排ガスの処理性を考慮した場
合、H鵞。
近傍まで無酸化加熱された後、CVD処理炉(2)に導
かれ、SiCl4を含む無酸化性ガス雰囲気中でCVD
法による滲珪処理が施される。SiCl2を含む無酸化
性ガスとは、中性或いは還元性ガスを意味し、S iC
4のキャリアガスとしてはAr 、 N2 、 He
、 Ha + CI(4等を使用することができる。こ
れらキャリアガスのうち、排ガスの処理性を考慮した場
合、H鵞。
CH,等はHClを発生させその処理の必要性が生じる
難点があり、このような問題を生じなtz)Ar 、
He 、 Nlが望ましく、さらに材料ノ窒化を防止す
るという観点からすればこれらのうちでも特にAr 、
Heが最も好ましい。
難点があり、このような問題を生じなtz)Ar 、
He 、 Nlが望ましく、さらに材料ノ窒化を防止す
るという観点からすればこれらのうちでも特にAr 、
Heが最も好ましい。
CVD処理における鋼帯表面の主反応は、5 Fe+
Si C4→Fes St + 2 Fe CL*↑で
ある。St 1原子が鋼帯面に蒸着してFe、 S 1
層を形成し、Fe 2原子がFeCL冨となり、 Fe
Ct怠の沸点1023℃以上の温度において気体状態で
鋼帯表面から放散される。したがってSi原子量が28
.086、Fe!−7−tが55.847であることか
ら、鋼帯は質量減少し、これに伴い板厚も減少すること
になる。ちなみに、St 3%鋼帯を母材とし、CVD
処理でSi6.5%鋼帯を製造すると、質量は8,7%
減少し、板厚は約7.1チ減少する。
Si C4→Fes St + 2 Fe CL*↑で
ある。St 1原子が鋼帯面に蒸着してFe、 S 1
層を形成し、Fe 2原子がFeCL冨となり、 Fe
Ct怠の沸点1023℃以上の温度において気体状態で
鋼帯表面から放散される。したがってSi原子量が28
.086、Fe!−7−tが55.847であることか
ら、鋼帯は質量減少し、これに伴い板厚も減少すること
になる。ちなみに、St 3%鋼帯を母材とし、CVD
処理でSi6.5%鋼帯を製造すると、質量は8,7%
減少し、板厚は約7.1チ減少する。
従来法においてCVD処理に時間がかかり過ぎるのは、
そのCVD処理条件に十分な検討が加えられていなかっ
たことによるものと考えられる。本発明者等が検討した
ところでは、CVD処理を迅速に行うための要素には次
のようなものがあることが判った。
そのCVD処理条件に十分な検討が加えられていなかっ
たことによるものと考えられる。本発明者等が検討した
ところでは、CVD処理を迅速に行うための要素には次
のようなものがあることが判った。
■雰囲気ガス中のSiC2,濃度の適正化。
■処理温度の適正化。
■S i C14の鋼帯表面への拡散及びF eC4の
鋼帯表面からの放散の促進。
鋼帯表面からの放散の促進。
このため本発明ではCVD処理における雰囲気ガス中の
Sia度及び処理温度を規定するものである。
Sia度及び処理温度を規定するものである。
まず、CVD処理における無酸化性ガス雰囲気中の5I
Ct4濃度をmo1分率で5〜35%に規定し、このよ
うな雰囲気中で鋼帯を連続的にCVD処理する。
Ct4濃度をmo1分率で5〜35%に規定し、このよ
うな雰囲気中で鋼帯を連続的にCVD処理する。
雰囲気中の5ict、が5%未満であると期待するst
g化効果が得られず、また、例えば鋼帯のStを1.0
%富化するために5分以上も必要となる等、処理に時間
がかかり過ぎ、連続プロセス化することが困難となる。
g化効果が得られず、また、例えば鋼帯のStを1.0
%富化するために5分以上も必要となる等、処理に時間
がかかり過ぎ、連続プロセス化することが困難となる。
一方、SiC2,を35−を超えて含有させても界面に
おける反応が律速になり、それ以上のsi富化効果が期
待できなくなる。
おける反応が律速になり、それ以上のsi富化効果が期
待できなくなる。
またCVD処理では、SiClz+濃度が高いほど所謂
カーケンダールボイドと称する大きなボイドが生成し易
い。このボイドは5tc4濃度が15−程度まではほと
んど見られないが、15%を超えると生成しはじめる。
カーケンダールボイドと称する大きなボイドが生成し易
い。このボイドは5tc4濃度が15−程度まではほと
んど見られないが、15%を超えると生成しはじめる。
しかし、5ICt、濃度が35−以下では、ボイドが生
成してもCVD処理に引き続き行われる拡散処理により
ほぼ完全に消失させることができる。
成してもCVD処理に引き続き行われる拡散処理により
ほぼ完全に消失させることができる。
ボイドが消滅するために要する時間は、拡散処理温度に
強く依存し、拡散開始後に表層St濃度の低下に応じて
処理温度を上げること)こより、短時間でボイドを消滅
させることができる。しかしながら、SICム濃度が3
5%を超えると、発生するボイドの径が大きくなり、ま
た隣接するボイドが合体してさらに大きなものとなり、
長時間拡散均熱処理を施してもボイドが残存してしまう
。これに対し、SiCl4濃度が35%以下であればあ
まり大きなボイドζこはならないため拡散処理で消滅可
能である。
強く依存し、拡散開始後に表層St濃度の低下に応じて
処理温度を上げること)こより、短時間でボイドを消滅
させることができる。しかしながら、SICム濃度が3
5%を超えると、発生するボイドの径が大きくなり、ま
た隣接するボイドが合体してさらに大きなものとなり、
長時間拡散均熱処理を施してもボイドが残存してしまう
。これに対し、SiCl4濃度が35%以下であればあ
まり大きなボイドζこはならないため拡散処理で消滅可
能である。
CVD処理温度は1023〜1200℃の範囲みする。
CVD処理反応は鋼帯表面における反応であるから、こ
の処理温度は厳密には鋼帯表面温度である。
の処理温度は厳密には鋼帯表面温度である。
CVD処理による反応生成物であるFeCl2の沸点は
1023℃であり、この温度以下ではF6Ct2が鋼帯
表面から気体状態で放散されず、鋼帯表面に液体状に付
着しそ蒸着反応を阻害してしまう。本発明者らが行った
基礎実験の結果では、このFeCtzの沸点を項番こ、
単位時間当りのSiの富化割合が著しく異なり、 10
23℃以下では蒸着速度が小さいため連続プロセスへの
適用は困難である。このため処理温度の下限は1023
℃とする。
1023℃であり、この温度以下ではF6Ct2が鋼帯
表面から気体状態で放散されず、鋼帯表面に液体状に付
着しそ蒸着反応を阻害してしまう。本発明者らが行った
基礎実験の結果では、このFeCtzの沸点を項番こ、
単位時間当りのSiの富化割合が著しく異なり、 10
23℃以下では蒸着速度が小さいため連続プロセスへの
適用は困難である。このため処理温度の下限は1023
℃とする。
一方、上限を1200℃と規定する理由は次の通りであ
る・Fe3Siの融点は、第4図に示すFe−8i状態
図から明らかなように1250℃であるが、発明者等の
実験によれば、1250℃より低い1230℃程度で処
理した場合でも、鋼帯表面が部分的に溶解し、また、鋼
帯エツジ部分が過加熱のため溶解する。このように12
50℃以下でも鋼帯が溶解するのは、鋼帯表面ではFe
5st相当のSt濃度1tss以上にsiが蒸着されて
いるためであると推定される。
る・Fe3Siの融点は、第4図に示すFe−8i状態
図から明らかなように1250℃であるが、発明者等の
実験によれば、1250℃より低い1230℃程度で処
理した場合でも、鋼帯表面が部分的に溶解し、また、鋼
帯エツジ部分が過加熱のため溶解する。このように12
50℃以下でも鋼帯が溶解するのは、鋼帯表面ではFe
5st相当のSt濃度1tss以上にsiが蒸着されて
いるためであると推定される。
これに対し処理温度が1200C以下であれば鋼帯表面
は溶解は全く認められず、また、エツジの過加熱も、鋼
帯中心部の平均温度を1200℃とすることで、122
0℃程度におさえることが可能であり、微量な溶解で済
むことが実験的に確認できた。以上の理由から、CVD
処理温度は1023℃〜1200℃と規定する。
は溶解は全く認められず、また、エツジの過加熱も、鋼
帯中心部の平均温度を1200℃とすることで、122
0℃程度におさえることが可能であり、微量な溶解で済
むことが実験的に確認できた。以上の理由から、CVD
処理温度は1023℃〜1200℃と規定する。
以上のようにしてCVD処理された鋼帯(S)は、引き
続き拡散炉(3)に導かれ51cz、を含まない無酸化
性ガス雰囲気中で拡散処理される・すなわち、CVD処
理直後では、鋼帯表面近くは中心部に較べSi濃度が極
めて高く、鋼帯を均熱することによって表面番こ過濃状
態にあるSiを鋼帯内部に拡散させる処理をする。
続き拡散炉(3)に導かれ51cz、を含まない無酸化
性ガス雰囲気中で拡散処理される・すなわち、CVD処
理直後では、鋼帯表面近くは中心部に較べSi濃度が極
めて高く、鋼帯を均熱することによって表面番こ過濃状
態にあるSiを鋼帯内部に拡散させる処理をする。
しかし、本発明では、この拡散熱処理によりSiを鋼帯
内に均一に拡散させるようなことはせず、表層Si濃度
が鋼帯厚み方向中心部のSi濃度よりも高い状態にある
うちに拡散処理を打ち切り、Si濃度が厚み方向で不均
一な鋼帯とするものである、 本発明者等が拡散処理時間を短縮化するという観点から
CVD処理鋼材のSt a度分布と磁気特性との関係等
について検討を加えた結果、高珪素鋼材の磁気特性は鋼
材表層部の結晶粒径とSi濃度に大きく支配され、表層
部を所定の粒度とSi濃度に調整することにより、Si
濃度を板厚方向で均一としなくとも十分な磁気特性が得
られることを見い出した。
内に均一に拡散させるようなことはせず、表層Si濃度
が鋼帯厚み方向中心部のSi濃度よりも高い状態にある
うちに拡散処理を打ち切り、Si濃度が厚み方向で不均
一な鋼帯とするものである、 本発明者等が拡散処理時間を短縮化するという観点から
CVD処理鋼材のSt a度分布と磁気特性との関係等
について検討を加えた結果、高珪素鋼材の磁気特性は鋼
材表層部の結晶粒径とSi濃度に大きく支配され、表層
部を所定の粒度とSi濃度に調整することにより、Si
濃度を板厚方向で均一としなくとも十分な磁気特性が得
られることを見い出した。
そして、このような順向は特に高周波磁気特性において
顕著であることも判った。
顕著であることも判った。
このため本発明では、CVD処理に続く拡散処理を、表
層Sta度が鋼帯厚み方向中心部のSi濃度よりも高い
状態にあるうちに打ち切り、Si濃度が厚み方向で不均
一な鋼帯を得るようにしたものである。
層Sta度が鋼帯厚み方向中心部のSi濃度よりも高い
状態にあるうちに打ち切り、Si濃度が厚み方向で不均
一な鋼帯を得るようにしたものである。
このような方法番こよれば短時間の拡散熱処理により磁
気特性が十分確保された鋼帯を得ることができる。加え
て、このようにして得を適切に防ぐことができる。
気特性が十分確保された鋼帯を得ることができる。加え
て、このようにして得を適切に防ぐことができる。
第5図は本発明法における鋼帯板厚方向のSia度分布
の変化を示すものであり、3%Si添加銅の鋼帯を母材
とし、これをCVD処理−拡散処理した場合を示してい
る。(A)はCVD処理直後の状態を示しており、鋼帯
表面にはFe5Si相当(St : 14.5 % )
のStが蒸着している。本発明ではこのような鋼帯をC
B)の状態まで拡散熱処理し、板厚方向で81211度
が不均一なf//:4帝を得る。(B)に示す例では表
層の5ifiiが6.5%になるまで拡散熱処理が施さ
れたものであり、板厚中心部はほぼ母材Si鏝度たる3
%ζこ維持されている。
の変化を示すものであり、3%Si添加銅の鋼帯を母材
とし、これをCVD処理−拡散処理した場合を示してい
る。(A)はCVD処理直後の状態を示しており、鋼帯
表面にはFe5Si相当(St : 14.5 % )
のStが蒸着している。本発明ではこのような鋼帯をC
B)の状態まで拡散熱処理し、板厚方向で81211度
が不均一なf//:4帝を得る。(B)に示す例では表
層の5ifiiが6.5%になるまで拡散熱処理が施さ
れたものであり、板厚中心部はほぼ母材Si鏝度たる3
%ζこ維持されている。
このようにして得られる鋼帯は、拡散熱処理温度と処理
時間を選択して表層部を適当な粒径とSi濃度に調整す
ることにより優れた磁気特性、特に高周波磁気特性を確
保することができる。
時間を選択して表層部を適当な粒径とSi濃度に調整す
ることにより優れた磁気特性、特に高周波磁気特性を確
保することができる。
この拡散処理は、鋼帯表面を酸化させない為に、無酸化
雰囲気中で行う必要があり、また高温で行うほど処理時
間が少なくて済む。
雰囲気中で行う必要があり、また高温で行うほど処理時
間が少なくて済む。
拡散処理は1.−宮温度で行ってもよいが、第4図のF
e−8i状態図から判るように、拡散の進行とともに鋼
帯表層部のSl濃度が減少しその融点が上がることから
、拡散の進行に伴い鋼帯を溶解させない程度に徐々に昇
温させる(例えば複数段階で昇温−させる)こと1こよ
り、処理を短時間で行うことができる。
e−8i状態図から判るように、拡散の進行とともに鋼
帯表層部のSl濃度が減少しその融点が上がることから
、拡散の進行に伴い鋼帯を溶解させない程度に徐々に昇
温させる(例えば複数段階で昇温−させる)こと1こよ
り、処理を短時間で行うことができる。
このような拡散処理後、鋼帯(S)は冷却炉(4)で冷
却され、しかる後捲取られるが、本発明動炉の具体的な
構造例を示すもので、冷却炉(4)の途中には中間室(
8)が設けられ、この中間室(8)にスキンバスミル(
9)が配設されている。
却され、しかる後捲取られるが、本発明動炉の具体的な
構造例を示すもので、冷却炉(4)の途中には中間室(
8)が設けられ、この中間室(8)にスキンバスミル(
9)が配設されている。
拡散炉(3)を出た鋼帯(S)は冷却炉(4)の前部冷
却室(41)で温間状態まで冷却された後、中間室(8
)のスキンバスミル(9)で圧延され、最終冷却される
ことなく温間状態でそのまま捲取られるか或いは引き続
き後部冷却室(42)で室温まで冷却された後捲取られ
る・ 上述したようにCVD処理では蒸着反応により鋼帯面の
FeがFeCl4の形で放散され、その分板厚が減少す
ることになるが、CVD処理炉(2)内での雰囲気ガス
濃度分布の不均−iとよりst蒸着が不均一になり易く
、このためCVD処理−拡散処理後の鋼帯(S)は幅方
向、長手方向で板厚にバラツキを生じている。そこで本
発明では温間状態番こある鋼帯(S)に圧延(スキンパ
ス圧延または通常圧延)を施すことにより、板厚を均一
化するものであり、かかる圧延により形状矯正と表面粗
さの調整も合せて行うことができる。なお、圧延はスキ
ンパス圧延のような軽圧下ではなく、板厚の減少を目的
としてより大きな圧下量(通常の圧延)で行ってもよい
。本発明は高珪素鋼帯を製造対象とするもので、このた
め鋼帯(S)の温度が200〜600℃程度の温間状態
でスキンパス圧延を行う。すなわち鋼帯温度が200℃
未満では所望の塑性加工性が得られない。
却室(41)で温間状態まで冷却された後、中間室(8
)のスキンバスミル(9)で圧延され、最終冷却される
ことなく温間状態でそのまま捲取られるか或いは引き続
き後部冷却室(42)で室温まで冷却された後捲取られ
る・ 上述したようにCVD処理では蒸着反応により鋼帯面の
FeがFeCl4の形で放散され、その分板厚が減少す
ることになるが、CVD処理炉(2)内での雰囲気ガス
濃度分布の不均−iとよりst蒸着が不均一になり易く
、このためCVD処理−拡散処理後の鋼帯(S)は幅方
向、長手方向で板厚にバラツキを生じている。そこで本
発明では温間状態番こある鋼帯(S)に圧延(スキンパ
ス圧延または通常圧延)を施すことにより、板厚を均一
化するものであり、かかる圧延により形状矯正と表面粗
さの調整も合せて行うことができる。なお、圧延はスキ
ンパス圧延のような軽圧下ではなく、板厚の減少を目的
としてより大きな圧下量(通常の圧延)で行ってもよい
。本発明は高珪素鋼帯を製造対象とするもので、このた
め鋼帯(S)の温度が200〜600℃程度の温間状態
でスキンパス圧延を行う。すなわち鋼帯温度が200℃
未満では所望の塑性加工性が得られない。
鋼帯(S)は通常、常温ないし300℃までの温間状態
で捲取られる。一般にSt含有量が多く(例えば4.0
チ以上)、板厚が比較的厚い鋼帯番識間で捲取ることが
好ましい、したがって、鋼帯(S)は熱間状態から冷却
炉(4)で上記温度域まで冷却された後圧延による塑性
加工が施され、そのまま温間状態で捲取られるか、或い
は室温で捲取なお、実ラインにおいてはミルの上流に板
厚計、プロフィル計を設け、これによる板厚、板形状の
検出lこ基づきミルが制御される。
で捲取られる。一般にSt含有量が多く(例えば4.0
チ以上)、板厚が比較的厚い鋼帯番識間で捲取ることが
好ましい、したがって、鋼帯(S)は熱間状態から冷却
炉(4)で上記温度域まで冷却された後圧延による塑性
加工が施され、そのまま温間状態で捲取られるか、或い
は室温で捲取なお、実ラインにおいてはミルの上流に板
厚計、プロフィル計を設け、これによる板厚、板形状の
検出lこ基づきミルが制御される。
CVD処理速度を鋼帯の連続処理を可能ならしめるまで
高めるには、上述したよう番こ雰囲気ガス中の5icL
4濃度と処理温度の適正化を図ることが必要であるが、
これに加え鋼帯表面へのSiClt4拡散とFe cM
ゞz2とによりCVD処理速度をより高めることが可能
となる。
高めるには、上述したよう番こ雰囲気ガス中の5icL
4濃度と処理温度の適正化を図ることが必要であるが、
これに加え鋼帯表面へのSiClt4拡散とFe cM
ゞz2とによりCVD処理速度をより高めることが可能
となる。
従来では、CVD処理で反応ガスを大きく流動させると
、蒸着力にボイドが発生し、また蒸M層の純度も低下す
るとされ、このためガス流動は必要最小限にとどめると
いう考え方が定着していた。しかし本発明者等の研究で
は、このようにガス流動が抑えられることにより、反応
ガスの母材界面への拡散移動、及び反応副生成物の界面
表層からの離脱がスムースに行われず、このため処理に
長時間を要すること、さらにはガス流動が抑えられるた
めCVD処理炉内の反応ガス濃度に分布を生じ、この結
果蒸着膜厚の不均一化を招くことが判った。
、蒸着力にボイドが発生し、また蒸M層の純度も低下す
るとされ、このためガス流動は必要最小限にとどめると
いう考え方が定着していた。しかし本発明者等の研究で
は、このようにガス流動が抑えられることにより、反応
ガスの母材界面への拡散移動、及び反応副生成物の界面
表層からの離脱がスムースに行われず、このため処理に
長時間を要すること、さらにはガス流動が抑えられるた
めCVD処理炉内の反応ガス濃度に分布を生じ、この結
果蒸着膜厚の不均一化を招くことが判った。
そして、このような事実に基づきさらに検討を加えた結
果、CVD処理処理炉詰いて吹込ノズルにより雰囲気ガ
スを被処理材に吹付け、或いはファン等により雰囲気を
強制循環させることによりSiClt4の鋼帯表面への
拡散及び反応生成物たるFect、の鋼帯表面からの放
散を著しく促進し、高い蒸着速度でしかも蒸着膜の不均
一化を抑えつつCVD処理できることが判った。
果、CVD処理処理炉詰いて吹込ノズルにより雰囲気ガ
スを被処理材に吹付け、或いはファン等により雰囲気を
強制循環させることによりSiClt4の鋼帯表面への
拡散及び反応生成物たるFect、の鋼帯表面からの放
散を著しく促進し、高い蒸着速度でしかも蒸着膜の不均
一化を抑えつつCVD処理できることが判った。
このようなCVD処理性の向上は、吹付ノズルにより雰
囲気ガスを鋼帯表面(こ吹付ける方法が特に有効である
。第6図はこのノズル吹付方式による実施状況を示すも
ので、CVD処理炉(2)内に鋼帯(S)に面して吹付
ノズル(5)が配置され、鋼帯表面にS i Ct、を
含む雰囲気ガスが吹付けられる。第7図(イ)及び(0
)は、吹付ノズル(5)による吹付状況を示すもので、
(イ)に示すように鋼帯面に対して直角に、或いは(0
)に示すように斜め方向から吹付けることができる。
囲気ガスを鋼帯表面(こ吹付ける方法が特に有効である
。第6図はこのノズル吹付方式による実施状況を示すも
ので、CVD処理炉(2)内に鋼帯(S)に面して吹付
ノズル(5)が配置され、鋼帯表面にS i Ct、を
含む雰囲気ガスが吹付けられる。第7図(イ)及び(0
)は、吹付ノズル(5)による吹付状況を示すもので、
(イ)に示すように鋼帯面に対して直角に、或いは(0
)に示すように斜め方向から吹付けることができる。
このようなノズル吹付による単位時間当りのSi富化割
合は、ガスの鋼帯表面に対する衝突流速の増大に比例し
て大きくなるが、流速を過剰に大きくしても界面におけ
る反応律速となるためそれ以上のSt富化効果は期待で
き5Nm/sec以下 ない・一般的#占rωTrf’−1−分な効果が得られ
る。
合は、ガスの鋼帯表面に対する衝突流速の増大に比例し
て大きくなるが、流速を過剰に大きくしても界面におけ
る反応律速となるためそれ以上のSt富化効果は期待で
き5Nm/sec以下 ない・一般的#占rωTrf’−1−分な効果が得られ
る。
コーティングを施し、焼付処理後捲取るようにすること
ができる。第2図はこのための連続処理ラインを示すも
ので、(6)はコーティング装置、(7)は焼付炉であ
る。
ができる。第2図はこのための連続処理ラインを示すも
ので、(6)はコーティング装置、(7)は焼付炉であ
る。
電磁鋼板鳩は通常積層状態で使用され、この場合積層さ
れる各鋼板はそれぞれ絶縁される必要がある。このため
電磁鋼板には絶縁皮膜コーティングが施される− St含有量が4.0%以上の鋼帯は、常温状態ではぜい
性材料であり、はとんど塑性変形しない。このため絶縁
皮膜コーティングをCVD処理ラインと別ラインで行っ
た場合、コイルの捲戻し、捲取り時に鋼帯が破断するお
それがある。そこで、本発明は拡散処理−冷却及び圧延
塑性加工後、鋼帯(S)にコーティング装置 (6)
で絶縁塗料を塗布し、次いで塗装焼付炉(7)で焼付処
理する。
れる各鋼板はそれぞれ絶縁される必要がある。このため
電磁鋼板には絶縁皮膜コーティングが施される− St含有量が4.0%以上の鋼帯は、常温状態ではぜい
性材料であり、はとんど塑性変形しない。このため絶縁
皮膜コーティングをCVD処理ラインと別ラインで行っ
た場合、コイルの捲戻し、捲取り時に鋼帯が破断するお
それがある。そこで、本発明は拡散処理−冷却及び圧延
塑性加工後、鋼帯(S)にコーティング装置 (6)
で絶縁塗料を塗布し、次いで塗装焼付炉(7)で焼付処
理する。
絶縁塗料としては、無機系、有機系の適宜なものを用い
ることができる。無機系塗料としては、例えばリン酸マ
グネシウム、無水クロム酸、シリカゾル等が、また有機
系塗料としてはプラスチック樹脂等が用いられる。塗料
はロールコータ方式、スプレ一方式等により鋼帯(S)
に塗布され、無機系塗料の場合には約soo′cii度
、有機系塗料の場合には200〜300℃程度で焼付処
理する。
ることができる。無機系塗料としては、例えばリン酸マ
グネシウム、無水クロム酸、シリカゾル等が、また有機
系塗料としてはプラスチック樹脂等が用いられる。塗料
はロールコータ方式、スプレ一方式等により鋼帯(S)
に塗布され、無機系塗料の場合には約soo′cii度
、有機系塗料の場合には200〜300℃程度で焼付処
理する。
なお前記加熱炉(1)では無酸化加熱が行われるもので
あり、このため電気間接加熱、誘導加熱、ラジアントチ
ューブ間接加熱、直火還元加熱等の加熱方式を単独また
は適当に組み合せた加熱方法が採られる。なお、間接加
熱方式を採る場合、加熱に先立ち電気洗浄等の前処理が
行われる。前処理を含めた加熱方式として例えば次のよ
うなものを採用できる。
あり、このため電気間接加熱、誘導加熱、ラジアントチ
ューブ間接加熱、直火還元加熱等の加熱方式を単独また
は適当に組み合せた加熱方法が採られる。なお、間接加
熱方式を採る場合、加熱に先立ち電気洗浄等の前処理が
行われる。前処理を含めた加熱方式として例えば次のよ
うなものを採用できる。
■前処理−〔予熱〕−電気間接加熱(または誘導加熱)
■前処理−〔予熱〕−ラジアントチューブ加熱−電気間
接加熱(または誘導加熱)■〔予熱〕−直火還元加熱−
電気間接加熱(または誘導加熱) ■前処理−〔予熱〕−ラジアントチューブ間接加熱(セ
ラミックラジアントチューブ方式) %式% また、冷却炉(4)での冷却方式に特に限定はなくガス
ジェット冷却、ミスト冷却、放射冷却等の各種冷却方式
を単独または組合せた形で採用することができる。
接加熱(または誘導加熱)■〔予熱〕−直火還元加熱−
電気間接加熱(または誘導加熱) ■前処理−〔予熱〕−ラジアントチューブ間接加熱(セ
ラミックラジアントチューブ方式) %式% また、冷却炉(4)での冷却方式に特に限定はなくガス
ジェット冷却、ミスト冷却、放射冷却等の各種冷却方式
を単独または組合せた形で採用することができる。
本発明は、6.5%SL鋼帝の鋼帯な珪素含有量が極め
て高い鋼帯の製造に好適なものであることは以上述べた
通りであるが、従来、圧延法で製造する場合に変形が多
(歩留りが悪かったSt : 2〜4チ程度の高珪素鋼
帯も容易に製造できる利点がある。
て高い鋼帯の製造に好適なものであることは以上述べた
通りであるが、従来、圧延法で製造する場合に変形が多
(歩留りが悪かったSt : 2〜4チ程度の高珪素鋼
帯も容易に製造できる利点がある。
0実施例−1
小型のCVD処理炉を用い、C’VD処理性に対する5
ict4濃度及びCVD処理温度の影響を調べた。その
結果を第8図及び第9図に示す。
ict4濃度及びCVD処理温度の影響を調べた。その
結果を第8図及び第9図に示す。
図中、Aが雰囲気法、すなわちノズル吹付を行わないで
CVD処理した場合、またBがノズル吹付法、すなわち
第6図1こ示すように雰囲気ガスを鋼帯面に0−5 ”
/ sの速度で吹き付けつつCVD処理した場合を示す
、なお、Eii富化割合とは、母材当初の5iffiに
対するCVD処理のSt量増加分を示す。
CVD処理した場合、またBがノズル吹付法、すなわち
第6図1こ示すように雰囲気ガスを鋼帯面に0−5 ”
/ sの速度で吹き付けつつCVD処理した場合を示す
、なお、Eii富化割合とは、母材当初の5iffiに
対するCVD処理のSt量増加分を示す。
これによれば、5ict、濃度5チ以上、CVD処理温
度1023℃以上において大きなSi富化効果が得られ
ている。また同じ条件でも、吹付ノズルにより雰囲気ガ
スを吹付ける方法の場合、単に雰囲気中で鋼帯を通板せ
しめる場合に較べ格段に優れたSi富化効果(CVD処
理性)が得られていることが判る。
度1023℃以上において大きなSi富化効果が得られ
ている。また同じ条件でも、吹付ノズルにより雰囲気ガ
スを吹付ける方法の場合、単に雰囲気中で鋼帯を通板せ
しめる場合に較べ格段に優れたSi富化効果(CVD処
理性)が得られていることが判る。
第10図は同様のCVD処理炉を用い、雰囲気法Aとノ
ズル吹付法Bの蒸着時間と鋼帯中St Da (母材S
t f!、+ W=M Si 量) トノ関係を、Si
:3襲、板厚0.5−の鋼帯を5IC4#度21チ、処
理温度1150℃でCVD処理した場合について調べた
ものである。なお、ノズル吹付法では、スリットノズル
により鋼帯に対し垂直方向から0.2 Nm/ !11
!(!の流速で雰囲気ガスを吹付けた。同図から判るよ
うζこ、6.5%St鋼相尚のSi蒸着量を得るため雰
囲気法人では7分かかるのに対し、ノズル吹付法Bでは
1.5分で処理することができたー 第11図はノズル吹付法における衝突ガス流速と鋼帯の
St富化割合(第8図及び第9図と同様)との関係を示
すものであり、所定レベルまでは衝突ガス流速に比例し
て鋼帯の一1\ ゝ\、 0実施例−2 第1図に示す連続プロセスにより、それぞれ同量のsi
蒸着量で拡散処理時間を変えた鋼帯を製造し、これらの
鋼帯の81拡散の度合い及び磁気特性を調べた。
ズル吹付法Bの蒸着時間と鋼帯中St Da (母材S
t f!、+ W=M Si 量) トノ関係を、Si
:3襲、板厚0.5−の鋼帯を5IC4#度21チ、処
理温度1150℃でCVD処理した場合について調べた
ものである。なお、ノズル吹付法では、スリットノズル
により鋼帯に対し垂直方向から0.2 Nm/ !11
!(!の流速で雰囲気ガスを吹付けた。同図から判るよ
うζこ、6.5%St鋼相尚のSi蒸着量を得るため雰
囲気法人では7分かかるのに対し、ノズル吹付法Bでは
1.5分で処理することができたー 第11図はノズル吹付法における衝突ガス流速と鋼帯の
St富化割合(第8図及び第9図と同様)との関係を示
すものであり、所定レベルまでは衝突ガス流速に比例し
て鋼帯の一1\ ゝ\、 0実施例−2 第1図に示す連続プロセスにより、それぞれ同量のsi
蒸着量で拡散処理時間を変えた鋼帯を製造し、これらの
鋼帯の81拡散の度合い及び磁気特性を調べた。
具体的には、板厚0.35電、板@900 mのSi3
%含有鋼帯を素材とし、ラインスピードを5〜s o
mpmの範囲で変化させることにより拡散炉の通過時間
を変え、CVD処理を行った。なお、ラインスピードの
違いによって81蒸着量が変化しないようにするため、
ラインスピードに応じCVD雰囲気ガス中の5lct、
濃度、及びガス吹付ノズルからの雰囲気ガス吹付量を変
え、Slの蒸着量がラインスピードに関係なく一定とな
るよらDaした。
%含有鋼帯を素材とし、ラインスピードを5〜s o
mpmの範囲で変化させることにより拡散炉の通過時間
を変え、CVD処理を行った。なお、ラインスピードの
違いによって81蒸着量が変化しないようにするため、
ラインスピードに応じCVD雰囲気ガス中の5lct、
濃度、及びガス吹付ノズルからの雰囲気ガス吹付量を変
え、Slの蒸着量がラインスピードに関係なく一定とな
るよらDaした。
本実施例では母材を含めた平均Sl濃度が6.5wt’
l となるような蒸着量でSiを蒸着させ、また一連
の処理は第12図に示す熱サイクルで行った。なお、拡
散処理時間が短い#4帯については、表層部のSltが
非常に多いことから、表層のひび割れを防止するため温
間(250〜300°C)で巻取った。
l となるような蒸着量でSiを蒸着させ、また一連
の処理は第12図に示す熱サイクルで行った。なお、拡
散処理時間が短い#4帯については、表層部のSltが
非常に多いことから、表層のひび割れを防止するため温
間(250〜300°C)で巻取った。
第13図はCVD処理ままの鋼帯、及び拡散時間が各5
分、10分、20分、40分の上記鋼帯について、板厚
方向断面のSt e!度及びFe濃度をXMAにより測
定したもので、約40分の拡散処理(1200o )で
、はぼ均一に81が拡散されている。
分、10分、20分、40分の上記鋼帯について、板厚
方向断面のSt e!度及びFe濃度をXMAにより測
定したもので、約40分の拡散処理(1200o )で
、はぼ均一に81が拡散されている。
第14図は上記と同様条件により拡散時間を変えて得ら
れたサンプルについて、磁気特性たる鉄損を測定した結
果を示すもので、拡散処理時間10分外匣、すなわち第
13図(C)程度の81拡散状態でStを均一拡散させ
た場合とほぼ同等の十分に高い磁気特性が得られている
ことが判る。
れたサンプルについて、磁気特性たる鉄損を測定した結
果を示すもので、拡散処理時間10分外匣、すなわち第
13図(C)程度の81拡散状態でStを均一拡散させ
た場合とほぼ同等の十分に高い磁気特性が得られている
ことが判る。
O実施例1−3
実施例−2と同様の素材鋼帯について、連続プロセスに
より各棟SiC2,濃度の雰囲気でCVD処理をし、引
き続き1200’0X10分の拡散均熱処理を施し、ボ
イドの残存度合いを調べた。その結果を第1表に示す。
より各棟SiC2,濃度の雰囲気でCVD処理をし、引
き続き1200’0X10分の拡散均熱処理を施し、ボ
イドの残存度合いを調べた。その結果を第1表に示す。
第 1 表
このようにs i ct、濃度304.35%ではボイ
ドの残存が認められた。そこで5lct、濃度30%、
35qbについて、処理温度を、A) 1200°〇一
定XIO分 B) 1200 ’OX 5分→1250 ’OX S
分C) 1200°OX3分−$1250°OX3分→
128Q’OX4分 の3水準に設定して鋼帯を製造し、それらのボイド残存
を調査した。その結果を第2表に示す。
ドの残存が認められた。そこで5lct、濃度30%、
35qbについて、処理温度を、A) 1200°〇一
定XIO分 B) 1200 ’OX 5分→1250 ’OX S
分C) 1200°OX3分−$1250°OX3分→
128Q’OX4分 の3水準に設定して鋼帯を製造し、それらのボイド残存
を調査した。その結果を第2表に示す。
」
第 2 表
このように波数処理条件を選択することにより、SiC
lL、 35 ’1でもある程度満足し得る製品が得ら
れる。但し、実際には若干の温度制御によりボイドを消
滅させることができる8iCL、6度304以下が好ま
しい。
lL、 35 ’1でもある程度満足し得る製品が得ら
れる。但し、実際には若干の温度制御によりボイドを消
滅させることができる8iCL、6度304以下が好ま
しい。
0実施例−4
第1図に示す連続プロセスに第3図のスキンパスミルを
組み込んだプロセスラインにおいて、板厚0.33wの
si3.s%含有鋼帯を母材とし、50mpmのライン
スピードにより、目標板厚0.30m、+iu 900
+sの8i6.5%含有鋼帯を製造した。この際、次の
4条件によりそれぞれ鋼帯を製造した。なお、いずれも
拡散処理は1200°oxio分で行った。
組み込んだプロセスラインにおいて、板厚0.33wの
si3.s%含有鋼帯を母材とし、50mpmのライン
スピードにより、目標板厚0.30m、+iu 900
+sの8i6.5%含有鋼帯を製造した。この際、次の
4条件によりそれぞれ鋼帯を製造した。なお、いずれも
拡散処理は1200°oxio分で行った。
A)CVD処理を、Ar80%、SiC’t、20%の
雰囲気中で実施し、スキンパス圧延 を実施しない。
雰囲気中で実施し、スキンパス圧延 を実施しない。
B)A)と同様のCVD処理を行いスキンパス圧延を実
施。
施。
C)CVD処理を、Ar80%、5icz、zoL4の
反応ガスをノズル吹付法で鋼帯に対 し、0.5 Nm/aのガス流速で衝突させることによ
り実施し、スキンパス圧延 を実施しない。
反応ガスをノズル吹付法で鋼帯に対 し、0.5 Nm/aのガス流速で衝突させることによ
り実施し、スキンパス圧延 を実施しない。
D)CVD処理をC)と同様に行い、スキンパス圧延を
Si4施。
Si4施。
第3表は、これらの各ケースのサンプルについて、板厚
偏差(目標板厚に対する増減)及び表面用さを測定した
結果を示したもので、スキンパス圧延を’AMすること
により板厚が精度良く均一化していることが判る。
偏差(目標板厚に対する増減)及び表面用さを測定した
結果を示したもので、スキンパス圧延を’AMすること
により板厚が精度良く均一化していることが判る。
以上述べた本発明によれば、連続ラインにおいて短時間
のCVD処理及び拡散熱処理により優れた磁気特性の高
珪素鋼帯を得ることができ、また1 200 ’O以下
の温度でcvn処理を行うため鋼帯の形状不良やエツジ
部溶解等の問題を生じさせることがなく、加えて鋼帯の
磁気特性を損うことなく優れた靭性を確保し且つ板厚を
均一化させることができ、このためラインの長大化を招
くことなく高品質の高珪素鋼板を能率的に製造すること
ができる。
のCVD処理及び拡散熱処理により優れた磁気特性の高
珪素鋼帯を得ることができ、また1 200 ’O以下
の温度でcvn処理を行うため鋼帯の形状不良やエツジ
部溶解等の問題を生じさせることがなく、加えて鋼帯の
磁気特性を損うことなく優れた靭性を確保し且つ板厚を
均一化させることができ、このためラインの長大化を招
くことなく高品質の高珪素鋼板を能率的に製造すること
ができる。
第1図及び第2図はそれぞれ本発明法を実施するための
連続処理ラインを示す説明図である。第3図は第1図及
び第2図における冷却炉の具体的構成列を示す説明図で
ある。@4図はFe−81系状態図である。 @5図(A)、(B)は本発明の拡散熱処理におけるv
!4帯板厚方向の81濃度分布の変化を示すものである
。第6図及び第7図(イ)、(ロ)はノズル吹付方式に
よるCVD処理状況を示すもので、第6図は全体説明図
、第7図(イ)及び(ロ)はそれぞれノズル吹付方法を
示す説明図である。第8図はCVD処理におけるガス中
S t ct、 p度と鋼帯S1富化割合との関係、第
9図はCVD処理温度と鋼帯S1富化割合との関係をそ
れぞれ示すものである。第10図は本発明におけろSi
蒸着時間と鋼帯中81濃度との関係を、雰囲気法及びノ
ズル吹付法で比較して示したものである。第11図はノ
ズル吹付法によるCVD処理において、雰囲気ガスの鋼
帯に対する衝突ガスi運と鋼帯Si富化割合との関係を
示すものである。第12図は実施例で採った熱サイクル
を示すものである。 i13図(1k)〜(e)は実権例における各供試材の
Si 濃[分布を示すものである。第14図は実施例に
おける各供試材の磁気特性を示すものである。 図において、(1)は加熱炉、(2)はCVD処理炉、
(3)は拡散処理炉、(4)は冷却炉、(6)はコーテ
ィング装置、(7)は焼付炉、(9)はスキンパスミル
、(S)はA帯である。
連続処理ラインを示す説明図である。第3図は第1図及
び第2図における冷却炉の具体的構成列を示す説明図で
ある。@4図はFe−81系状態図である。 @5図(A)、(B)は本発明の拡散熱処理におけるv
!4帯板厚方向の81濃度分布の変化を示すものである
。第6図及び第7図(イ)、(ロ)はノズル吹付方式に
よるCVD処理状況を示すもので、第6図は全体説明図
、第7図(イ)及び(ロ)はそれぞれノズル吹付方法を
示す説明図である。第8図はCVD処理におけるガス中
S t ct、 p度と鋼帯S1富化割合との関係、第
9図はCVD処理温度と鋼帯S1富化割合との関係をそ
れぞれ示すものである。第10図は本発明におけろSi
蒸着時間と鋼帯中81濃度との関係を、雰囲気法及びノ
ズル吹付法で比較して示したものである。第11図はノ
ズル吹付法によるCVD処理において、雰囲気ガスの鋼
帯に対する衝突ガスi運と鋼帯Si富化割合との関係を
示すものである。第12図は実施例で採った熱サイクル
を示すものである。 i13図(1k)〜(e)は実権例における各供試材の
Si 濃[分布を示すものである。第14図は実施例に
おける各供試材の磁気特性を示すものである。 図において、(1)は加熱炉、(2)はCVD処理炉、
(3)は拡散処理炉、(4)は冷却炉、(6)はコーテ
ィング装置、(7)は焼付炉、(9)はスキンパスミル
、(S)はA帯である。
Claims (2)
- (1)鋼帯を、SiCl_4をmol分率で5〜35%
含んだ無酸化性ガス雰囲気中で、化学気相蒸着法により
1023〜1200℃の温度で連続的に滲珪処理し、次
いでSiCl_4を含まない無酸化性ガス雰囲気中でS
iを鋼帯内部に拡散させる拡散処理するに当り、該拡散
処理を、表層Si濃度が鋼帯厚み方向中心部のSi濃度
よりも高い状態にあるうちに打ち切り、Si濃度が厚み
方向で不均一な鋼帯を得、続く冷却過程の途中または冷
却後、鋼帯を温間状態で圧延により塑性加工することを
特徴とする連続ラインにおける高珪素鋼帯の製造方法。 - (2)鋼帯を、SiCl_4をmol分率で5〜35%
含んだ無酸化性ガス雰囲気中で、化学気相蒸着法により
1023〜1200℃の温度で連続的に滲珪処理し、次
いでSiCl_4を含まない無酸化性ガス雰囲気中でS
iを鋼帯内部に拡散させる拡散処理するに当り、該拡散
処理を、表層Si濃度が鋼帯厚み方向中心部のSi濃度
よりも高い状態にあるうちに打ち切り、Si濃度が厚み
方向で不均一な鋼帯を得、続く冷却過程の途中または冷
却後、鋼帯を温間状態で圧延により塑性加工し、次いで
絶縁皮膜コーティング及び焼付処理することを特徴とす
る連続ラインにおける高珪素鋼帯の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61071491A JPH0643610B2 (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | 連続ラインにおける高珪素鋼帯の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61071491A JPH0643610B2 (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | 連続ラインにおける高珪素鋼帯の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62227035A true JPS62227035A (ja) | 1987-10-06 |
JPH0643610B2 JPH0643610B2 (ja) | 1994-06-08 |
Family
ID=13462181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61071491A Expired - Lifetime JPH0643610B2 (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | 連続ラインにおける高珪素鋼帯の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0643610B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5089061A (en) * | 1986-03-28 | 1992-02-18 | Nkk Corporation | Method for producing high silicon steel strip in a continuously treating line |
JPH05214496A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-08-24 | Hoogovens Groep Bv | 電気的用途のためのシリコン−含有鉄シート及びその製造法 |
US5614034A (en) * | 1990-07-16 | 1997-03-25 | Nippon Steel Corporation | Process for producing ultrahigh silicon electrical thin steel sheet by cold rolling |
US5993568A (en) * | 1998-03-25 | 1999-11-30 | Nkk Corporation | Soft magnetic alloy sheet having low residual magnetic flux density |
US6527876B2 (en) * | 1998-03-12 | 2003-03-04 | Nkk Corporation | Silicon steel sheet and method for producing the same |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5342019A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-17 | Hitachi Ltd | Floating type magnetic head |
-
1986
- 1986-03-28 JP JP61071491A patent/JPH0643610B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5342019A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-17 | Hitachi Ltd | Floating type magnetic head |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5089061A (en) * | 1986-03-28 | 1992-02-18 | Nkk Corporation | Method for producing high silicon steel strip in a continuously treating line |
US5614034A (en) * | 1990-07-16 | 1997-03-25 | Nippon Steel Corporation | Process for producing ultrahigh silicon electrical thin steel sheet by cold rolling |
JPH05214496A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-08-24 | Hoogovens Groep Bv | 電気的用途のためのシリコン−含有鉄シート及びその製造法 |
US6527876B2 (en) * | 1998-03-12 | 2003-03-04 | Nkk Corporation | Silicon steel sheet and method for producing the same |
US5993568A (en) * | 1998-03-25 | 1999-11-30 | Nkk Corporation | Soft magnetic alloy sheet having low residual magnetic flux density |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0643610B2 (ja) | 1994-06-08 |
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