JPS6222539U - - Google Patents
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- JPS6222539U JPS6222539U JP10307686U JP10307686U JPS6222539U JP S6222539 U JPS6222539 U JP S6222539U JP 10307686 U JP10307686 U JP 10307686U JP 10307686 U JP10307686 U JP 10307686U JP S6222539 U JPS6222539 U JP S6222539U
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- scattered light
- measurement chamber
- light measurement
- preamplifier
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- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000005065 mining Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
-
- G—PHYSICS
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
-
- G—PHYSICS
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- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
- G01N2021/151—Gas blown
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第1図は測定チヤンバ及び信号伝送部に分割さ
れた塵埃測定装置の概要図である。第2図は電子
回路部のブロツク回路図である。第3図は信号伝
送部及び測定値ドキユメンテーシヨン装置を有す
る塵埃測定装置の概要図である。第4図ないし第
7図は後に接続されている測定ドキユメンテーシ
ヨン及び調節装置用の電子回路部のブロツク回路
図である。第8図は一つの測定チヤンバの断面図
である。第9図は上方に開いた測定チヤンバの断
面図である。第10図は較正装置の簡単化された
原理図である。 1…粉塵測定装置、2…電圧―周波数変換器、
3…遠方伝送装置、4…前置増幅器、5…ケーブ
ル、6…主増幅器、7…デイジタル部、8…信号
出力部、9…電圧マツチング部、10…電源部、
11…制御入力、12…データ出力、13…マイ
クロプロセツサ、15…散乱光測定チヤンバ、1
6…流入、17…流出、18…内壁、19,20
…環状間隙ノズル、22…測定領域、23…孔付
き板、25…送光器、26…受光器、27…光ト
ラツプ、29…送光器筒、30…光導波路、31
…断続器、32…受光器筒、33…ドキユメンテ
ーシヨン装置、34…限界値発信器、35…信号
―警報装置、36…インタフエース、37…電子
式データ処理装置、38…状態指示部、39…多
位置測定装置、40…調節器、41…操作端、4
2…制御対象、43…外乱量、44…操作量。
れた塵埃測定装置の概要図である。第2図は電子
回路部のブロツク回路図である。第3図は信号伝
送部及び測定値ドキユメンテーシヨン装置を有す
る塵埃測定装置の概要図である。第4図ないし第
7図は後に接続されている測定ドキユメンテーシ
ヨン及び調節装置用の電子回路部のブロツク回路
図である。第8図は一つの測定チヤンバの断面図
である。第9図は上方に開いた測定チヤンバの断
面図である。第10図は較正装置の簡単化された
原理図である。 1…粉塵測定装置、2…電圧―周波数変換器、
3…遠方伝送装置、4…前置増幅器、5…ケーブ
ル、6…主増幅器、7…デイジタル部、8…信号
出力部、9…電圧マツチング部、10…電源部、
11…制御入力、12…データ出力、13…マイ
クロプロセツサ、15…散乱光測定チヤンバ、1
6…流入、17…流出、18…内壁、19,20
…環状間隙ノズル、22…測定領域、23…孔付
き板、25…送光器、26…受光器、27…光ト
ラツプ、29…送光器筒、30…光導波路、31
…断続器、32…受光器筒、33…ドキユメンテ
ーシヨン装置、34…限界値発信器、35…信号
―警報装置、36…インタフエース、37…電子
式データ処理装置、38…状態指示部、39…多
位置測定装置、40…調節器、41…操作端、4
2…制御対象、43…外乱量、44…操作量。
Claims (1)
- 信号出力部と清浄空気流により内壁を保護する
清浄状態保持装置とを有する固定型散乱光測定チ
ヤンバと、測定値を処理する中央装置とを有し、
坑内の採鉱およびトンネル工事中に散乱光法によ
り微細粉塵を測定するための装置に於いて、散乱
光測定チヤンバ15が筒状又は半筒状に構成され
ており、また合致して取付けられており流入16
及び流出17側に対応付けられており内壁18に
対して平行に向けられている環状間隙ノズル又は
孔付き板19,20,23を有し、散乱光測定チ
ヤンバに対応付けられている送光器筒29及び受
光器筒32が一次光を導く一つの光導波路30を
介して機械的断続器31と接続されており、また
散乱光測定チヤンバの受光器26に一つの前置増
幅器4が対応付けられており、この前置増幅器が
ケーブル5を介して一つの主増幅器6とマイクロ
プロセツサ13を有する一つのデイジタル部7と
に接続されていることを特徴とする散乱光法によ
る微細粉塵測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853524119 DE3524119A1 (de) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | Stationaeres tyndallometer |
DE19853524118 DE3524118A1 (de) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | Stationaeres tyndallometer fuer unter tage |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6222539U true JPS6222539U (ja) | 1987-02-10 |
JPH0348521Y2 JPH0348521Y2 (ja) | 1991-10-16 |
Family
ID=25833761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986103076U Expired JPH0348521Y2 (ja) | 1985-07-05 | 1986-07-04 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0208646B1 (ja) |
JP (1) | JPH0348521Y2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4133452A1 (de) * | 1990-10-16 | 1992-04-23 | Volkswagen Ag | Vorrichtung zur dynamischen messung der partikeldichte in einer gasstroemung |
DE102004018534B4 (de) * | 2004-04-14 | 2006-10-26 | Enotec Gmbh, Prozess- Und Umweltmesstechnik | Optisches System mit Spülgaszufuhr zum Sichtfenster |
DE102004028420B3 (de) | 2004-06-04 | 2006-02-09 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Detektion von in Abgasen chemischer Prozesse enthaltenen Stoffen |
EP2081010B1 (de) | 2008-01-16 | 2014-03-12 | SICK Engineering GmbH | Modulare Staubmessung |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57199943A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Hitachi Ltd | Measuring device for wetness of steam |
JPS59155741A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 粒子検出装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1115477B (de) * | 1959-08-12 | 1961-10-19 | Lentia Gmbh | Ortsfestes, industrielles Aerosolmessgeraet |
DE2051546A1 (de) * | 1970-10-21 | 1972-05-04 | Bergwerksverband Gmbh, 4300 Essen | Gerät zur Bestimmung von Feinstaubkonzentrationen |
DE2260313C2 (de) * | 1972-12-09 | 1982-07-29 | Bergwerksverband Gmbh, 4300 Essen | Verfahren und Gerät zur Bestimmung von Feinstaubkonzentrationen |
FR2272387B1 (ja) * | 1974-05-20 | 1976-10-15 | Rech Ind Liants Hy Centre Et | |
DE3425710A1 (de) * | 1984-07-12 | 1986-01-16 | Bergwerksverband Gmbh, 4300 Essen | Vorrichtung zur bestimmung der feinstaubkonzentration |
-
1986
- 1986-07-02 EP EP19860630110 patent/EP0208646B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-07-04 JP JP1986103076U patent/JPH0348521Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57199943A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Hitachi Ltd | Measuring device for wetness of steam |
JPS59155741A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 粒子検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0348521Y2 (ja) | 1991-10-16 |
EP0208646B1 (de) | 1991-01-23 |
EP0208646A2 (de) | 1987-01-14 |
EP0208646A3 (en) | 1988-01-07 |
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