JPS6222487A - GaAs電界効果トランジスタ - Google Patents
GaAs電界効果トランジスタInfo
- Publication number
- JPS6222487A JPS6222487A JP16220485A JP16220485A JPS6222487A JP S6222487 A JPS6222487 A JP S6222487A JP 16220485 A JP16220485 A JP 16220485A JP 16220485 A JP16220485 A JP 16220485A JP S6222487 A JPS6222487 A JP S6222487A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gaas
- substrate
- layer
- type active
- active layer
- Prior art date
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- Pending
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- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はマイクロ波帯の発振器、増幅器に使用するGa
As電界効果トランジスタに関し、特にRF特性及び量
産性のすぐれたGaAs電界効果トランジスタの構造に
関する。
As電界効果トランジスタに関し、特にRF特性及び量
産性のすぐれたGaAs電界効果トランジスタの構造に
関する。
従来、この種のGaAs電界効果トランジスタ(以下G
aAsFETと記す)は例えば、第3図に示すように、
絶縁性GaAs基板17上に放炎したn型活性層16上
に(中間lこバッファ一層を含む場合もある)ゲート電
極14.ソース電極15.ドレイノミ極13を構成して
いた。又、高出力GaAsFETは第4図の上面図に示
すように、多数の単位FETを接続する構成となってい
るため第4図ではソース電極18の配線部とゲート電極
20の配線部がクロス配線部221に生ずる。
aAsFETと記す)は例えば、第3図に示すように、
絶縁性GaAs基板17上に放炎したn型活性層16上
に(中間lこバッファ一層を含む場合もある)ゲート電
極14.ソース電極15.ドレイノミ極13を構成して
いた。又、高出力GaAsFETは第4図の上面図に示
すように、多数の単位FETを接続する構成となってい
るため第4図ではソース電極18の配線部とゲート電極
20の配線部がクロス配線部221に生ずる。
上述したGaAsFETの構造は以下のような欠点を有
している。
している。
(tl 高出力GaAs F FJTでは多数の単位
FET =i並列に動作させる九めチップ上に多数の単
位FET i配すが、ゲート・ソース・ドレイン各々の
電極をまとめてひきだしてボンディング本数を少くする
のが通常である。しかしこの引き出す際に図4に示すよ
うにクロス配線が必要になり、製造プロセスが複雑にな
る。
FET =i並列に動作させる九めチップ上に多数の単
位FET i配すが、ゲート・ソース・ドレイン各々の
電極をまとめてひきだしてボンディング本数を少くする
のが通常である。しかしこの引き出す際に図4に示すよ
うにクロス配線が必要になり、製造プロセスが複雑にな
る。
(2)上記のひきだしたソース電極にボノディノグして
ソースをアース電極に接続するが、このボンディング線
によるインダクタンスは比較的大きく、マイクロ波帯で
は利得の劣化要因になる。
ソースをアース電極に接続するが、このボンディング線
によるインダクタンスは比較的大きく、マイクロ波帯で
は利得の劣化要因になる。
本発明は上述した従来の欠点を除去し、製造プロセスが
簡単になると共に、ボンディング線によるインダクタン
スはほとんどなく、高周波での利得の改善され2GaA
s電界効果トランジスタを提供することを目的とする。
簡単になると共に、ボンディング線によるインダクタン
スはほとんどなく、高周波での利得の改善され2GaA
s電界効果トランジスタを提供することを目的とする。
本発明のGaAs[界効果トランジスタは、導電性を有
するn+GaAs基板と、該n+GaAs基板上に埋め
込まれた絶縁性GaAs層と、該絶縁性Ga As層並
びに前記n+GaAs基板の表面に形成されたn型活性
層と、絶縁性QIAs層の領域上のn型活性層上に形成
されたゲート電極部、ドレイン電極部及びテヤノネル部
と、前記n+GaAs基板の裏面に形成されたソース電
極とを有して構成される。
するn+GaAs基板と、該n+GaAs基板上に埋め
込まれた絶縁性GaAs層と、該絶縁性Ga As層並
びに前記n+GaAs基板の表面に形成されたn型活性
層と、絶縁性QIAs層の領域上のn型活性層上に形成
されたゲート電極部、ドレイン電極部及びテヤノネル部
と、前記n+GaAs基板の裏面に形成されたソース電
極とを有して構成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する、第1図
は本発明の一実施例の縦断面図である。第1図において
5はn+GaAs基板で従来の絶縁性GaAsに対し本
実施例では導電性基板を使用する、また3はn+GaA
s基板5の一部に埋め込まれた絶縁性GaAs層3で、
この絶縁性GaAs層3及び絶縁性GaAs層3の形成
されていないn+GaAs基板5の表面にはn型活性層
4が形成されている。そして絶縁性GaAs層3の形成
領域上のn型活性層上にはドレイ/を極lとゲート電極
2が形成されている。一方ソース電極6はn+GaAs
基板の裏面に形成されている。
は本発明の一実施例の縦断面図である。第1図において
5はn+GaAs基板で従来の絶縁性GaAsに対し本
実施例では導電性基板を使用する、また3はn+GaA
s基板5の一部に埋め込まれた絶縁性GaAs層3で、
この絶縁性GaAs層3及び絶縁性GaAs層3の形成
されていないn+GaAs基板5の表面にはn型活性層
4が形成されている。そして絶縁性GaAs層3の形成
領域上のn型活性層上にはドレイ/を極lとゲート電極
2が形成されている。一方ソース電極6はn+GaAs
基板の裏面に形成されている。
上記構成によるQa A s電界効果トランジスタにお
いてはソース電極6を裏面から取出すのでn+GaAs
基板は導電性である必要がありこのとき基板抵抗が高い
と損失を生ずるので低抵抗である必要があり l X
l 018 crn −3以上の不純物濃度の基板が望
ましい。一方n型活性鳥4の不純物濃度はlX1016
〜5 X 1017cm−3程度でよい。
いてはソース電極6を裏面から取出すのでn+GaAs
基板は導電性である必要がありこのとき基板抵抗が高い
と損失を生ずるので低抵抗である必要があり l X
l 018 crn −3以上の不純物濃度の基板が望
ましい。一方n型活性鳥4の不純物濃度はlX1016
〜5 X 1017cm−3程度でよい。
第2図は本発明の構造による高出力GaAsFETの一
実施例の上面図を示す。第2図において8はドレイン電
極、10はn+基板上に直接n型活性層が成長しである
領域であり裏面のソース電極と電気的に接続している。
実施例の上面図を示す。第2図において8はドレイン電
極、10はn+基板上に直接n型活性層が成長しである
領域であり裏面のソース電極と電気的に接続している。
11はゲート電極である。
12はメサエッチされに境界線を示し7がメサエッチに
より絶縁性GaAsが露出している領域である。第2図
よりわかるように、ドレイン電極及びゲート電極はそれ
ぞれ並列に接続されているが、それぞれ反対側で接続さ
れ、しかもソース電極は裏面から取られているのでそれ
らの配線のクロス配線部は発生することはない。
より絶縁性GaAsが露出している領域である。第2図
よりわかるように、ドレイン電極及びゲート電極はそれ
ぞれ並列に接続されているが、それぞれ反対側で接続さ
れ、しかもソース電極は裏面から取られているのでそれ
らの配線のクロス配線部は発生することはない。
以上説明したように本発明によるGaAsFETはソー
ス電極がGaAsFETの裏面(通常アース面となって
いる。)にある友め、ソース電極は直接アース面に接続
されソース・インダクタンスはほとんどない。このため
高周波での利得の改善が可能である。又第2図に示すよ
うに単位FETの各ソース領域は裏面で接続されており
、ドレイン電極、ゲート電極のようにまとめてひき出す
必要がないのでクロス配線は不要であり製造プロセスが
非常に簡単になる。
ス電極がGaAsFETの裏面(通常アース面となって
いる。)にある友め、ソース電極は直接アース面に接続
されソース・インダクタンスはほとんどない。このため
高周波での利得の改善が可能である。又第2図に示すよ
うに単位FETの各ソース領域は裏面で接続されており
、ドレイン電極、ゲート電極のようにまとめてひき出す
必要がないのでクロス配線は不要であり製造プロセスが
非常に簡単になる。
第1図は本発明の一実施例の縦断面図、第2図は本発明
の他の実施例で、高出力GaAsFETを構成した場合
の上面図、第3図は従来のGaAsFETの一例の縦断
面図、第4図は従来の高出力GaAsFETの一例の上
面図である。 1・・・・・・ドレイン電極、2・・・・・・ゲート電
極、3・・・・・・絶縁性GaAs14・・・・・・n
型活性層、5・・・・・・n+Ga A 8基板、6・
・・・・・ソース電極、7・・・・・・絶縁性Qa人3
.8−−−−−−ドレイン電極、10°”−n+GaA
s基板上にn型活性層のみのっている領域、11・・・
・・・ケート電極、12・・・・・・メサエッチの境界
線、13・・・・・・ドレイン電極、14・・・・・・
ゲート電極、15・・・・・・ソース電極、16・・・
・・・n型活性層、17・・・・・・絶縁性GaAs基
板、18・・・・・・ソース電極、19・・・・・・ド
レイン電極、20・・・・・・ゲート電極、21・・・
・・・メサエッチの境界線、22・・・・・・クロス配
線部。
の他の実施例で、高出力GaAsFETを構成した場合
の上面図、第3図は従来のGaAsFETの一例の縦断
面図、第4図は従来の高出力GaAsFETの一例の上
面図である。 1・・・・・・ドレイン電極、2・・・・・・ゲート電
極、3・・・・・・絶縁性GaAs14・・・・・・n
型活性層、5・・・・・・n+Ga A 8基板、6・
・・・・・ソース電極、7・・・・・・絶縁性Qa人3
.8−−−−−−ドレイン電極、10°”−n+GaA
s基板上にn型活性層のみのっている領域、11・・・
・・・ケート電極、12・・・・・・メサエッチの境界
線、13・・・・・・ドレイン電極、14・・・・・・
ゲート電極、15・・・・・・ソース電極、16・・・
・・・n型活性層、17・・・・・・絶縁性GaAs基
板、18・・・・・・ソース電極、19・・・・・・ド
レイン電極、20・・・・・・ゲート電極、21・・・
・・・メサエッチの境界線、22・・・・・・クロス配
線部。
Claims (1)
- 導電性を有するn^+GaAs基板と、該n^+GaA
s基板上に埋め込まれた絶縁性GaAs層と、該絶縁性
GaAs層並びに前記n^+GaAs基板の表面に形成
されたn型活性層と、絶縁性GaAs層の領域上のn型
活性層上に形成されたゲート電極部、ドレイン電極部及
びチャンネル部と、前記n^+GaAs基板の裏面に形
成されたソース電極とを有することを特徴とするGaA
s電界効果トランジスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16220485A JPS6222487A (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 | GaAs電界効果トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16220485A JPS6222487A (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 | GaAs電界効果トランジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6222487A true JPS6222487A (ja) | 1987-01-30 |
Family
ID=15749953
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16220485A Pending JPS6222487A (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 | GaAs電界効果トランジスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6222487A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5848469A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Nec Corp | 電界効果トランジスタ |
-
1985
- 1985-07-22 JP JP16220485A patent/JPS6222487A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5848469A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Nec Corp | 電界効果トランジスタ |
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