JPS62218803A - 光学式距離及び傾き測定装置 - Google Patents

光学式距離及び傾き測定装置

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JPS62218803A
JPS62218803A JP6076486A JP6076486A JPS62218803A JP S62218803 A JPS62218803 A JP S62218803A JP 6076486 A JP6076486 A JP 6076486A JP 6076486 A JP6076486 A JP 6076486A JP S62218803 A JPS62218803 A JP S62218803A
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JP
Japan
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measured
inclination
distance
light
light receiver
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JP6076486A
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English (en)
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Tetsuo Ikegaki
哲郎 生垣
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Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学式距離及び傾き測定装置の改良に関する
〔従来の技術〕
第5図及び第6図に、従来知られている光学式距離及び
傾き測定装置の光学系の一例を示す。
従来知られている光学式距離及び傾き測定装置の光学系
は、第5図に示すように、発光器31と集光レンズ32
とから成る投光器33と、投光器33からの光束34を
反射する被測定物35と、被測定物35からの反射光3
6を受光する受光器37と、反射光36を受光器37の
受光面に合焦する結像レンズ38とから成る。上記受光
器37としては、例えば第6図に示す如き細長いホトセ
ンサが用いられる。この受光器37に被測定物35から
の反射光36が照射されると、照射スポットの位置によ
って両端の電極37a、37bからの出力電力V、、V
、が変化し、 V、+V。
なる演算を行うことによって、反射光36の照射スポッ
トを求めることができる。
上記光学系を備えた従来の距離及び傾き計測装置は、被
測定物35が第7図に示すように、上下方向に距離dだ
け変位すると共に水平面から角度θだけ傾斜した場合、
結像レンズ38によって被測定物35の傾斜に基づく反
射光36の振れが補正され、被測定物35の上下方向の
変位に基づく反射光36の照射スポットの移動!pのみ
が受光器37で検出される。
〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、光デイスク駆動装置に光ディスクを装着して
回転駆動すると、レーザヘッドに対して光ディスクが上
下方向に変位する振動と、光ディスクがスピンドルを中
心として揺動する振動とが観察される。かかる振動は、
ホーカシングエラーやトラッキングエラーの原因となる
ので、掻力小さくする必要があるが、そのためには、ま
ず、各振動モードを厳密に解析する必要がある。
然るに、上記した従来の光学式距離及び傾き計測装置を
かかる被測定物の振動計測に適用した場合、被測定物3
5の変位dと傾きθとを同時に測定することができない
ので、測定効率が悪いばかりでなく、変位゛dと傾きθ
との相関などに関して厳密な振動解析を行うことが難し
く、当該振動体を含む装置の振動対策が難しいという問
題がある。
さらに、従来の光学式距離及び傾き計測装置は受光器3
7としてホトセンサ等を用いていたので、受光面の長手
方向の2点に光スポットが照射された場合、あたかもそ
れら両光スポットの位置と強度の加重平均位置に1つの
光スポットが照射された如く光スポツト位置が検出され
る。従って、光ディスクのように光源側の面とその反射
側の面から反射光が生ずる被測定物に適用した場合、高
精度の測定を行うことができないという問題がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記した従来技術の問題点を解消し、基準位
置からの距離及び傾きを同時に測定可能な光学式距離及
び傾き計測装置を提供するため、少なくとも光源及び受
光器の配設方向と平行な軸線を中心とする被測定物の傾
きの影響を除去するための円柱レンズを介して第1の受
光器に至る第1の反射光路と、上記円柱レンズを介して
上記第1の反射光路と平行に調整され、第2の受光器に
至る第2の反射光路を形成し、上記2つの受光器の出力
の差から光源及び受光器の配設方向と直交する軸線を中
心とする被測定物の傾きを求め、さらに、かかる傾きの
影響が除去された被測定物の基準位置からの距離を求め
るようにしたことを特徴とするものである。
〔実施例〕
以下、本発明の第1実施例を第1図及び第2図に基づい
て説明する。
本実施例に係る光学式距離及び傾き測定装置の光学系は
、第1図に示すように、レーザ光源1、集光レンズ2、
被測定物3、円柱レンズ4、ハーフミラ−5、反射鏡6
、第1の受光器7、第2の受光器8とから主に構成され
ている。
レーザ光源1としては、He−Neレーザが用いられ、
被測定物3に対して入射光束9を斜めに入射するように
配置される。集光レンズ2は、後記する第2の反射光路
12上の点12aに反射光束10が集魚を結ぶように配
置される。
円柱レンズ4は、被測定物3を介して上記レーザ光源l
及び集光レンズ2と反射側に配置されており、被測定物
3が上記レーザ光源1及び後に詳述する受光器7.8の
配設方向と平行な軸線(第1図のX−X線)を中心とし
て傾斜した場合にも、被測定物6からの反射光束10が
受光器7.8の一定位置に照射されるように配設されて
いる。
第1の受光器7及び第2の受光器8は、C0D(チャー
ジカップルドデバイス)によって構成されており、被測
定物3と略平行の一直線上に配置される。
ハーフミラ−5及び反射鏡6は、円柱レンズ4を出て第
1の受光器7に至る第1の反射光路11と、反射鏡6か
ら第2の受光器8に至る第2の反射光路12とが平行に
なるように設定される。また、ハーフミラ−5は、反射
鏡6の設定位置と受光器7.8の設定位置の中央部に設
定されており、第2図に示すように、第1の受光器7上
の照射スボ゛ントと反射鏡6上の照射スポット6aとを
常に受光器7.8を結ぶ線分A−Aの垂直3JIAB−
B上に合致するようになっている。
上記光学系は図示外の移動テーブル上に搭載されており
、被測定物3に対して任意の方向に移動できるようにな
っている。また、被測定物3はスピンドル13に取付け
られており、任意の速度で回転駆動するようになってい
る。
以下、上記実施例にかかる光学式距離及び傾き測定装置
の動作について説明する。
レーザ光源1から照射された入射光束9は被測定物3に
て反射され、円柱レンズ4及びハーフミラ−5を介して
第1の受光器7に照射されると共に、円柱レンズ4、ハ
ーフミラ−5、反射鏡6を介して第2の受光器8に照射
される。被測定物3が基準位置に水平に保持されている
ときには、それぞれの照射スポットxl+ xZは、第
2図に破線にて示すような位置にある。被測定物3が基
準位置より垂直方向に距離Cだけ移動し、かつ軸線X−
Xを中心として角度ψだけ傾斜したときには、照射スポ
ラ) ” I r xZは、第2図に実線で示す位置に
移動する。
受光器7,8を結ぶ線分A−Aに対する入射光束90角
度をθ、線分A−Aから基準位置にある一被測定物3ま
での距離をり、線分A−Aから移動後の被測定物3の照
射スポットまでの距離をl、基準位置にある被測定物3
の照射スポットから線分A−Aに下した垂線の足を0(
基準点)、基準点0から光源1までの距離a1線分A−
Aから反射鏡6までの距離をbとすると、受光器7.8
上の照射スポット” l + x!の位置は、と表わさ
れる。
従って、照射スポット” In xtの距離Sは、第(
2)式より、 となり、被測定物3の基準位置からの垂直移動距離Cに
関りなく、照射スポットx1.x!から被測定物の角度
を求めることができる。
また、光源1から照射スポットX+までの距離をdとす
ると、dwx、+aであるから、第(1)式の演算を行
うことによって、被測定物3の基準位置からの垂直移動
距離Cを求めることができる。
従って、スピンドル13を回転駆動することによって、
被測定物3の回転駆動時の振動等を測定することができ
る。また、図示外の移動テーブルを移動することによっ
て、被測定物3上の任意の位置の変位や傾きを測定する
ことができる。
以上説明してように、上記実施例の光学式距離及び傾き
測定装置は、被測定物3からの反射光束10を2つに分
割したので、被測定物3の傾斜角度ψのみの関数である
各照射スポットxI r X 2の距離Sから被測定物
3の傾斜角度ψ及び基準位置からの垂直移動11cを演
算によって同時に求めることができる。この場合、入射
光束9が一本であるため、同一測定点における傾斜角度
ψと垂直移動量Cとを求めることができ、測定精度が高
い。
上記実施例の光学式距離及び傾き測定装置は、入射光束
9の入射角度θを34度、受光器7.8を結ぶ線分A−
Aから反射鏡6までの距離すを30鶴、受光器7.8を
構成するCODの一画素の大きさを14μmとした場合
、垂直移動距離4.7μm傾斜角度0.004degの
測定精度を得ることができる。
上記実施例の光学式距離及び傾き測定装置は、受光器7
.8としてCODを用いたので、被測定物6として例え
ば光ディスクのような透明体を用いた場合、入射光束の
入射側の面及びそれと反対側の面より2つの反射光が反
射されたとしてもそのそれぞれについて振れを測定する
ことが可能であり、従来例のように受光器としてホトセ
ンサ等を用いた場合に比べてより高精度の測定を行うこ
とができる。
また、光源としてレーザを用いたので、光束の径を小径
に調整することができ、その骨分解能を向上することも
できる。
次に、本発明の第2実施例を第3図及び第4図に基づい
て説明する。
これらの図において、21はハーフミラ−122はハー
フミラ−21によって分割された第3の反射光路、23
は円柱レンズ、24は第3の受光器を示し、その他第1
図に示したと同様の部材につ、いては、同一の符号をも
って表示されている。
ハーフミラ−21は、当該ハーフミラ−21を出た反射
光束10が、上記第1実施例にて説明したと全く同様の
反射光路11.12と、該反射光路とは別異の方向に向
かう第3の反射光路22とに分割されるように設定され
る。
また、円柱レンズ23は、被測定物3が受光器7.8の
配設方向(A−A)と直交する方向の軸線(第3図のY
−Y線)を中心として傾斜した場合にも、第3の反射光
路22を通る光束が第3の受光器24の一定位置に照射
されるように配設される。
上記第2実施例の光学式距離及び傾き測定装置において
、被測定物3の垂直移動距離C及び軸線X−X方向の傾
斜角度ψは、上記第1実施例の場合と全く同様にして求
められる。また、被測定物3のY−Y方向の傾斜角度ψ
は、第4図に示すように、第3の受光器24上に照射さ
れる第3の照射スポットx3の移動量W及びハーフミラ
−21から第3の受光器24までの距離りとから、ψ=
□ L の演算を行うことによって求めることができる。
上記第2実施例の光学式距離及び傾き測定装置は、被測
定物3の垂直移動距離C及び軸線X−X方向の傾斜角度
ψに加えて、軸線X−Xと直交する軸線Y−Y方向の傾
斜角度ψを合せて測定することができるので、一層実用
性を充実することができる。
尚、上記第2実施例においては、1つの受光器24上を
移動する反射光束22の照射スポットx。
の移動量を測定することによって傾斜角度ψと測定する
場合について説明したが、傾斜角度ψを測定する反射光
路11.12と同様、第3の反射光路22を2つに分割
し、これら2つの照射スポットの距離から傾斜角度ψを
測定することもできる。
尚、上記各実施例においては、光源としてレーザを用い
た場合のみについて説明したが、本発明の要旨はこれに
限定されるものではなく、他の任意の光源を使用可能で
あることは勿論である。
また、上記実施例においては、受光器としてCODを用
いた場合についてのみ説明したが、本発明の要旨はこれ
に限定されるものではなく、邊像′管及び固体撮像素子
などの一次元センサあるいは二次元センサ、その他公知
に属する他の任意の受光素子を用いることが可能である
さらに、上記実施例においては被測定物をスピンドルに
取り付け、回転駆動自在に構成した場合について説明し
たが、本発明の要旨はこれに限定されるものではなく、
被測定物を所要の固定部材に固定することもできる。
加えて、上記実施例においては被測定物を定置し、光学
系を被測定物に対して相対的に移動するようにした場合
について説明したが、本発明の要旨はこれに限定される
ものではなく、光学系を定置し、被測定物を光学系に対
して相対的に移動するようにすることもできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の光学式距離及び傾き測定
装置は、−条の入射光束を被測定物に照射し、被測定物
からの反射光束を2つに分割したので、被測定物の傾斜
角度のみの関数である各照射スポットの距離を測定する
ことによって、被測定物の傾斜角度及び基準位置からの
垂直移動距離を求めることができる。従って、上下方向
の振動成分と回転方向の振動成分を含む被測定物の振動
解析が容易になり、この種振動モードを有する振動体の
振動対策が容易になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1実施例の光学式距離及び傾き測定装置の光
学系を示す斜視図、第2図は第1実施例の光学式距離及
び傾き測定装置の測定原理を示す光学回路図、第3図は
第2実施例の光学式距離及び傾き測定装置の光学系を示
す斜視図、第4図は第゛2実施例の光学式距離及び傾き
測定装置の測定原理を示す光学回路図、第5図は従来の
光学式距離及び傾き測定装置の光学系を示す光学回路図
、第6図は受光器の構成を示す平面図、第7図は従来の
光学式距離及び傾き測定装置を用いた距離及び傾きの測
定方法を示す説明図である。 1・・・・・・レーザ光源、2・・・・・・集光レンズ
、3・・・・・・被測定物、4・・・・・・円柱レンズ
、5・・・・・・ハーフミラ−26・・・・・・反射鏡
、7・・・・・・第1の受光器、8・・・・・・第2の
受光器、9・・・・・・入射光束、10・・・・・・反
射光束、11・・・・・・第1の反射光路、12・・・
・・・第2の反射光路、13・・・・・・スピンドル、
21・・・・・・ハーフミ。 ラー、22・・・・・・第3の反射光路、23・・・・
・・円柱し第1rlA 1ニレ−γ光源      7.8: 受光器2:X光
レンス゛     9:入射光束3:板測定物    
 10:反射光束4:円柱レンズ゛     11:I
llの反射光路5:ハーフミラ−12:第2の反射光路
6:反]村喀見        13ニスピンドル第3
rlA 第6図 第7図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物に光束を照射する光源と、被測定物から
    の反射光を受光する受光器から成る光学系を備えた光学
    式距離及び傾き測定装置において、少なくとも上記光源
    及び受光器の配設方向と平行な軸線を中心とする上記被
    測定物の傾きの影響を除去するための円柱レンズを介し
    て第1の受光器に至る第1の反射光路と、上記円柱レン
    ズを介して上記第1の反射光路と平行に調整され、第2
    の受光器に至る第2の反射光路とを有することを特徴と
    する光学式距離及び傾き測定装置。
  2. (2)光源及び受光器の配設方向と直交する軸線を中心
    とする被測定物の傾きの影響を除去するための円柱レン
    ズを介して第3の受光器に至る第3の反射光路を備えた
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光学式距
    離及び傾き測定装置。
  3. (3)受光器として、1次元イメージセンサを用いたこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項及び第2項記載の
    光学式距離及び傾き測定装置。
  4. (4)被測定物を回転可能に保持する回転駆動手段を備
    えたことを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項
    記載の光学式距離及び傾き測定装置。
JP6076486A 1986-03-20 1986-03-20 光学式距離及び傾き測定装置 Pending JPS62218803A (ja)

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