JPS62215801A - リニア・スケ−ル - Google Patents

リニア・スケ−ル

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Publication number
JPS62215801A
JPS62215801A JP5054186A JP5054186A JPS62215801A JP S62215801 A JPS62215801 A JP S62215801A JP 5054186 A JP5054186 A JP 5054186A JP 5054186 A JP5054186 A JP 5054186A JP S62215801 A JPS62215801 A JP S62215801A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
outputs
detectors
magnetic field
linear scale
Prior art date
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Granted
Application number
JP5054186A
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English (en)
Other versions
JPH0535962B2 (ja
Inventor
Akira Hirano
明 平野
Kazunari Yoneno
米納 和成
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP5054186A priority Critical patent/JPS62215801A/ja
Priority to KR1019860007048A priority patent/KR900004780B1/ko
Priority to US06/906,027 priority patent/US4810965A/en
Priority to DE8686112639T priority patent/DE3668692D1/de
Priority to EP86112639A priority patent/EP0215454B1/en
Publication of JPS62215801A publication Critical patent/JPS62215801A/ja
Publication of JPH0535962B2 publication Critical patent/JPH0535962B2/ja
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  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 リニア・スケールであって、逆の極性部分を存する閉磁
路の逆極性部分にそれぞれ近接して磁界検出器を設け、
両者の出力が同等となる位置を零点として補正すること
により、外乱による零点のドリフトを防止可能とする。
〔産業上の利用分野〕
本発明は絶対位置の検出を行なうリニア・スケールに関
するもので、さらに詳しく言えば、温度変化等の外乱が
あっても零点を正確に設定できるリニア・スケールに関
するものである。
〔従来の技術〕
近年、信頼性にすぐれた無接触型の絶対位置検出器の開
発が進められている。
第6図は従来の無接触型の絶対位置検出器であるリニア
・スケールを示す図である。これは2枚ノパーマロイ等
の軟磁性板1.1’の両端にアルニコ磁石2.2′が、
その極性が逆になるようにして挿入された閉磁路3と、
前記軟磁性4Iil、1に平行に移動可能に設けられた
主軸4と、該主軸に設けられた磁界検出器5とにより構
成され、閉磁路3からの磁束のもれを磁界検出器5によ
り検出し、主軸4を介して被測定物の位置を計測するこ
とができるようになっている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来のリニア・スケールでは、一方の磁路に近接し
た1つの磁界検出器5により位置測定を行なうため、温
度の上昇による磁石2,2′の飽和磁束密度の減少や磁
界検出器5の出力の変化及び不平衡電圧のドリフトによ
って零点が移動し、絶対位置の誤差を生ずる欠点があっ
た。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、外乱
にかかわらず絶対位置を測定できるリニア・スケールを
提供することを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
このため本発明においては、磁性体により構成された閉
磁路14と、該閉磁路14に近接し、且つ該閉磁路14
に対し相対的に可動する主軸15と、該主軸に装着され
た複数の磁界検出器16 、17と前記閉磁路14に磁
束を与える手段12 、13とを具備してなるリニア・
スケールにおいて、前記複数の磁界検出316 、17
の出力が同等か、又は大小関係が反転する位置を原点と
する補正機能を有することを特徴としている。
〔作 用〕
2個の磁界検出器を各々極性の異なる磁路に近接して設
けることにより、主軸が移動すると、一方の検出器の出
力は増加し、他方の検出器の出力は減小し同じ値となる
所が存在し、この点を零点とすれば、この点は、外乱や
温度の変化があっても2つの検出器の出力が同時に変化
するので零点のドリフト防止が可能となる。
〔実施例〕
第1図は本発明の第1の実施例を示す図である。
本実施例はパーマロイや磁性ステンレス等からなる2枚
の軟磁性板10 、11の間に、磁束を与える手段とし
て2個のアルニコ磁石12.13が極性が逆になる様に
して挿入された閉磁路14と、前記軟磁性板10 、1
1と平行方向に移動可能に設けられた主軸15と、該主
軸15の上に設けられ、それぞれ極性の異なる磁路に面
して配置された磁界検出器16 、17とを具備して構
成されている。なおこの磁界検出器16.17には磁界
の極性が検出でき、且つ出力の直線性の良いバーバーポ
ール型の磁気抵抗素子が最適である。
このように構成された本実施例は、第2図に示すように
■方向に主軸15が移動すると一方の検出器16の出力
は増加するのに対し、他方の検出317では減少する。
従って両者の出力が同じ値となる位置aが存在し、外乱
や温度によって出力レヘルが変化しても検出器16 、
17の出力が同時に変化するので基準となる零点の位置
a′はドリフトしないことになる。
第3図は本発明の第2の実施例を示す図である。
同図において第1図と同一部分は同一符号を付して示し
た。
本実施例の構成は、第1の実施例に加え、一方の磁界検
出器16からある間隔(1)を離して第3の磁界検出器
18を配置したものである。
アルニコ磁石(Fe−AI−Ni−Co)やSmCof
ff石は周囲の温度が上昇すると、飽和磁束密度が減小
してくるため、閉磁路からの磁束のもれが小さくなり見
かけ上感度が小さくなる場合がある。(但し第1の実施
例で述べた様に零点の位置は変化しない。)本実施例で
は、第4図に示すように検出器16と、該検出器から距
離(j’) #れた位置にある検出器18との出力の差
す、b’を読むことによって感度をb/1Fからb’/
Itに補正して絶対位置を検出することができる。この
補正にはマイクロプロセッサを用いる。
なお閉磁路の構成法や用いる材料及び検出器の位置等は
実施例に限定されない。又検出器としてホール素子を使
用しても同様の効果を得ることができる。また本実施例
によれば外乱や温度変化等による零点や感度のドリフト
を補正することができるので信頬性の高い絶対位置の計
測を行うことが可能である。
第5図は本発明の第3の実施例を示す図である。
同図において、第1図と同一部分は同一符号を付して示
した。
本実施例の構成は第1の実施例の磁界検出器16 、1
7を並べて同一極性の面に近接して配置し、その2つの
検出器16 、17の出力■eを逆極性にして増幅する
ようにしたものである。
このように構成された本実施例は、2つの検出器16 
、17の出力が同等か、又は大小関係が反転する位置が
外乱にかかわらず存在するので、この位置が原点となる
様に補正する。磁束密度の変化を補正する場合には一定
距離離してもう一つの検出器を設は勾配を検知すれば良
い。又は上記の検出器16 、17の出力を同極性にし
、両者の出力の差から勾配を検知する方法もある。
なお本実施例では主軸15を可動としたが、主軸15を
固定し閉磁路14を移動させても同様の効果を出し得る
のは勿論である。
さらにバーバーポール型検出器の極性が逆になる様に素
子を装着しても良い。
〔発明の効果〕
以上述べてきたように、本発明によれば、極めて簡易な
構成により外乱にかかわらず絶対位置を測定することが
でき、実用的には極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示す図、第2図は本発
明の第1の実施例の原理を説明するための図、 第3図は本発明の第2の実施例を示す図、第4図は本発
明の第2の実施例の原理を説明するための図、 第5図は本発明の第3の実施例を示す図、第6図は従来
のリニア・スケールを示す図である。 第1図、第3図、第5図において、 10.11は軟磁性板、 12 、13はアルニコ磁石(閉磁路に磁束を与える手
段)、 14は閉磁路、     15は主軸、16 、17 
、18は磁界検出器である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、磁性体により構成された閉磁路(14)と、該閉磁
    路(14)に近接し、且つ該閉磁路(14)に対し相対
    的に可動する主軸(15)と、該主軸に装着された複数
    の磁界検出器(16、17)と、前記閉磁路(14)に
    磁束を与える手段(12、13)とを具備してなるリニ
    ア・スケールにおいて、 前記複数の磁界検出器(16、17)の出力が同等か、
    又は大小関係が反転する位置を原点とする補正機能を有
    することを特徴とするリニア・スケール。 2、上記複数の磁界検出器(16、17)が各々極性の
    異なる磁路に近接して設けられたことを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載のリニア・スケール。 3、上記複数の磁界検出器(16、17)が同一極性の
    磁路に近接し、且つその出力極性が逆になるように設け
    られたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のリ
    ニア・スケール。
JP5054186A 1985-09-13 1986-03-10 リニア・スケ−ル Granted JPS62215801A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5054186A JPS62215801A (ja) 1986-03-10 1986-03-10 リニア・スケ−ル
KR1019860007048A KR900004780B1 (ko) 1985-09-13 1986-08-25 자기(磁氣) 센서를 사용한 위치 검출장치
US06/906,027 US4810965A (en) 1985-09-13 1986-09-11 Position detecting apparatus using a magnetic sensor and a closed magnetic circuit with non-uniform magnetic flux distribution
DE8686112639T DE3668692D1 (de) 1985-09-13 1986-09-12 Positionsdetektor mit magnetischem sensor.
EP86112639A EP0215454B1 (en) 1985-09-13 1986-09-12 Position detecting apparatus utilizing a magnetic sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5054186A JPS62215801A (ja) 1986-03-10 1986-03-10 リニア・スケ−ル

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62215801A true JPS62215801A (ja) 1987-09-22
JPH0535962B2 JPH0535962B2 (ja) 1993-05-27

Family

ID=12861870

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5054186A Granted JPS62215801A (ja) 1985-09-13 1986-03-10 リニア・スケ−ル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62215801A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232055A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Tokai Rika Co Ltd シフト操作位置検出装置
JP2008076193A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 位置検出装置、位置検出装置を有する光学系と撮像装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232055A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Tokai Rika Co Ltd シフト操作位置検出装置
JP2008076193A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 位置検出装置、位置検出装置を有する光学系と撮像装置

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Publication number Publication date
JPH0535962B2 (ja) 1993-05-27

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