JPS62213051A - 線状電子線発生装置 - Google Patents
線状電子線発生装置Info
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- JPS62213051A JPS62213051A JP5754386A JP5754386A JPS62213051A JP S62213051 A JPS62213051 A JP S62213051A JP 5754386 A JP5754386 A JP 5754386A JP 5754386 A JP5754386 A JP 5754386A JP S62213051 A JPS62213051 A JP S62213051A
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 abstract description 3
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Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、大面積の電子ビームを用いて金属。
半導体などの材料を加熱処理する線状電子線発生装置に
関するものである。
関するものである。
?、を来、線状電子ビームを線状カソードから取出す技
術が、例えは、雑誌[ジャーナル・オブ・アプライド・
フィジックス(Journal of Applied
Physics)+ 、 Vol、581985.PI
’25+14−2592のジェー・工・す・・lプ(J
、A、Knapp)の論文に記載されている。すなわち
、この線状の電子ビームを線状のカソードから取り出す
場合、線状電子ビームの短辺方向の分布は、はぼガウス
分布に近い形状をしている。
術が、例えは、雑誌[ジャーナル・オブ・アプライド・
フィジックス(Journal of Applied
Physics)+ 、 Vol、581985.PI
’25+14−2592のジェー・工・す・・lプ(J
、A、Knapp)の論文に記載されている。すなわち
、この線状の電子ビームを線状のカソードから取り出す
場合、線状電子ビームの短辺方向の分布は、はぼガウス
分布に近い形状をしている。
1発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、この様な従来の技術では、線状電子ビー
ムをその短辺方向に走査するか、あるいは試料を線状電
子ビームの短辺方向に移動させて試料を加熱処理する場
合、線状電子ビームが照射された領域の温度の上昇特性
、あるいは冷却特性は、線状電子ビームの照射時間及び
試料構造によって決定されるため、制御が困難であると
いう欠点があった。
ムをその短辺方向に走査するか、あるいは試料を線状電
子ビームの短辺方向に移動させて試料を加熱処理する場
合、線状電子ビームが照射された領域の温度の上昇特性
、あるいは冷却特性は、線状電子ビームの照射時間及び
試料構造によって決定されるため、制御が困難であると
いう欠点があった。
本発明の目的は、このような従来の問題を解決し、試料
の加熱あるいは冷却特性を制御する手段として、線状電
子ビームの短辺方向内分布を容易に制御できるようにし
た電子銃を備えた線状電子線発生装置を提供することに
ある。
の加熱あるいは冷却特性を制御する手段として、線状電
子ビームの短辺方向内分布を容易に制御できるようにし
た電子銃を備えた線状電子線発生装置を提供することに
ある。
〔問題点を解決するための手段1
本発明の線状電子線発生装置の構成は、電子放出面形状
が矩形であるカソードをその矩形の短辺方向に2本並列
に配置しこれらカッ−1への電子放出面の面方位が異な
るものを用いたカソード組立と、前記2本のカソードに
はそれぞれ独立にバイアスが印加できこれらカソード全
体囲む様な矩形状の孔をもつ一体のウニネル1〜電極と
を有する電子銃を備えることを特徴とする7 1作In ] 本発明の構成のように、カソードをその短辺方向に2本
並列に配置することにより、その短辺方向に2本のビー
ムが形成できることが実験的に確認できた。しかし、こ
の場合、2本のビームの強度は同一であり、加熱あるい
は冷却特性を制御しようとした場合には、2本のビーム
の強度を変化さぜたいことになる。そのビーム強度の制
御手段としては、2つの手段がある。
が矩形であるカソードをその矩形の短辺方向に2本並列
に配置しこれらカッ−1への電子放出面の面方位が異な
るものを用いたカソード組立と、前記2本のカソードに
はそれぞれ独立にバイアスが印加できこれらカソード全
体囲む様な矩形状の孔をもつ一体のウニネル1〜電極と
を有する電子銃を備えることを特徴とする7 1作In ] 本発明の構成のように、カソードをその短辺方向に2本
並列に配置することにより、その短辺方向に2本のビー
ムが形成できることが実験的に確認できた。しかし、こ
の場合、2本のビームの強度は同一であり、加熱あるい
は冷却特性を制御しようとした場合には、2本のビーム
の強度を変化さぜたいことになる。そのビーム強度の制
御手段としては、2つの手段がある。
第1の手段としては、カソードに用いる午結晶材f]の
面方位を変え、その電子放出割合を変化されることであ
る。また、第2の手段としては、カソードのバイアスを
それぞれ独立に制御し、カッ−1〜温度を変え、電子放
出の割合を変えることである。すなわち、第1の手段で
は、ビーム強度を大幅に変えられるが、微調はできず、
一方、第2の手段では、微調はできるがビーム強度を大
幅に変化させることができない。しかし、これら2つの
手段を組合せて用いることにより、任意に2つのビーム
強度を制御することができる。
面方位を変え、その電子放出割合を変化されることであ
る。また、第2の手段としては、カソードのバイアスを
それぞれ独立に制御し、カッ−1〜温度を変え、電子放
出の割合を変えることである。すなわち、第1の手段で
は、ビーム強度を大幅に変えられるが、微調はできず、
一方、第2の手段では、微調はできるがビーム強度を大
幅に変化させることができない。しかし、これら2つの
手段を組合せて用いることにより、任意に2つのビーム
強度を制御することができる。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例に用いた電子
銃の主要部の断面図及びその平面図を示す。図中、カソ
ード1及び2はそれぞれシート状に加工したcaB6’
4結晶からなり、幅0.7mm、長さ5mmの短形状の
電子放出面を形成し、この電子放出面の面方位は、(]
On)と(110)のものを用いた。これらカソード
1,2はそれぞれ0.5mm厚のカーボン板3で挟み込
まれ、金属押え板4により、絶縁ガイシ5に固定された
。
銃の主要部の断面図及びその平面図を示す。図中、カソ
ード1及び2はそれぞれシート状に加工したcaB6’
4結晶からなり、幅0.7mm、長さ5mmの短形状の
電子放出面を形成し、この電子放出面の面方位は、(]
On)と(110)のものを用いた。これらカソード
1,2はそれぞれ0.5mm厚のカーボン板3で挟み込
まれ、金属押え板4により、絶縁ガイシ5に固定された
。
また、カソード面は、ウェネルト面よりいづれも7 /
100 m m引っ込んだ位置とした。またカソード
1,2は、それぞれ独立したバイアス電源6゜7により
それぞれ電圧が印加できるようにした。
100 m m引っ込んだ位置とした。またカソード
1,2は、それぞれ独立したバイアス電源6゜7により
それぞれ電圧が印加できるようにした。
このようなカソードの構成で、バイアス電圧をそれぞれ
独立に調整することにより、2つのビームの強度は、相
対的に25%変化させることができた。
独立に調整することにより、2つのビームの強度は、相
対的に25%変化させることができた。
第2図は第1図の電子銃を用いた線状電子ビームアニー
ル装置の構成図である。この装置のカソード組立11は
第1図に示した2つのカソード1゜2から成り、ウェネ
ルト12の電位により、ビーム電流を制御している。こ
のカソード組立11から放出された電子ビームは、アノ
ード14により加速され、レンズコイル14により、試
料17上に集束される。また、電子ビームは、偏向コイ
ル15により、試料17の面内に走査することかできる
。さらに、試料17は試料加熱装置により加熱すること
もできる。
ル装置の構成図である。この装置のカソード組立11は
第1図に示した2つのカソード1゜2から成り、ウェネ
ルト12の電位により、ビーム電流を制御している。こ
のカソード組立11から放出された電子ビームは、アノ
ード14により加速され、レンズコイル14により、試
料17上に集束される。また、電子ビームは、偏向コイ
ル15により、試料17の面内に走査することかできる
。さらに、試料17は試料加熱装置により加熱すること
もできる。
今回実験に用いた試料としては、SOI構造のものを用
い、電子ビームアニールの条件としては加速電圧]、
5 k V、ビーム電流118mA、走査速度86 c
1/ s e c 、基板温度300℃とした。
い、電子ビームアニールの条件としては加速電圧]、
5 k V、ビーム電流118mA、走査速度86 c
1/ s e c 、基板温度300℃とした。
この様な条件でSOT膜を溶融し再結晶化した結果、基
板温度が300℃と低くても、Sol膜の形成には特に
問題がなかった。
板温度が300℃と低くても、Sol膜の形成には特に
問題がなかった。
この理由としては、線状電子ビームがその短辺方向に2
つ形成できるが、まずビーム強度の低いビームがまず試
料に照射されることにより、試料が加熱される。この時
、ビーム強度はそれ程強くないので、SOI膜は溶融さ
れず、試料温度が」1昇するだけの効果である。次に、
ビーム強度の強いビームが引き続き照射される。このた
め試料はまずビーム強度の低いビームにより実効的に高
温に加熱され、第2のビーム強度の強いビームにより溶
融される。従って、溶融時の温度」二昇の割合が通常の
1つのビームに比べて緩和されているなめ、填板加熱の
温度が30 +)τ゛と低くても、良好にS (−)
I膜の溶融かできたと4疋f′、れる。
つ形成できるが、まずビーム強度の低いビームがまず試
料に照射されることにより、試料が加熱される。この時
、ビーム強度はそれ程強くないので、SOI膜は溶融さ
れず、試料温度が」1昇するだけの効果である。次に、
ビーム強度の強いビームが引き続き照射される。このた
め試料はまずビーム強度の低いビームにより実効的に高
温に加熱され、第2のビーム強度の強いビームにより溶
融される。従って、溶融時の温度」二昇の割合が通常の
1つのビームに比べて緩和されているなめ、填板加熱の
温度が30 +)τ゛と低くても、良好にS (−)
I膜の溶融かできたと4疋f′、れる。
さらに、カソードを2つ使用してら、電子光学系の[1
1Yを大きくして、収差の影響を極力小さくした構成と
することができるので、電子光学系に関しては、それ以
外、特別のことは必要なかった。
1Yを大きくして、収差の影響を極力小さくした構成と
することができるので、電子光学系に関しては、それ以
外、特別のことは必要なかった。
また、カソード1,2のCa、 B 6の面方位を(1
00)や(110)以外σ)(1,11)、(210)
や(31(’))と組み合わせることにより、ビーム強
度を相対的に約3倍までは変化させることか可能である
ことが確認できた。
00)や(110)以外σ)(1,11)、(210)
や(31(’))と組み合わせることにより、ビーム強
度を相対的に約3倍までは変化させることか可能である
ことが確認できた。
1発明の効果1
以ト説明したように、本発明の構成によれば、線状電子
ビームの短辺方向の2つのビームの強度を変え、まずビ
ーム強度の小さいビーム、次にビーノ、強度の大きいビ
ームが試料に照射される様にその短辺方向に走査した場
合、1つのビームを用いて加熱する場合に比べて、試料
の温度の上がり方がゆるやかになり、従って、基板温度
を十分低温にしたままその基板温度を実効的に高くしな
場合と同等の効果が得られる。さらに基板温度は実効的
に高くなるがその加熱されている時間は、ビームが照射
されている通常数10m5ec以下の時間だけであり、
不純物等の拡散などにも特に間圧はない。さらにこの様
にビームの走査方向を変えることにより、試料加熱にお
ける温度−に昇あるいは冷却時における温度分配を2つ
のビーム強度を変えて制御でき、加熱状態の制御が極め
て容易になる。
ビームの短辺方向の2つのビームの強度を変え、まずビ
ーム強度の小さいビーム、次にビーノ、強度の大きいビ
ームが試料に照射される様にその短辺方向に走査した場
合、1つのビームを用いて加熱する場合に比べて、試料
の温度の上がり方がゆるやかになり、従って、基板温度
を十分低温にしたままその基板温度を実効的に高くしな
場合と同等の効果が得られる。さらに基板温度は実効的
に高くなるがその加熱されている時間は、ビームが照射
されている通常数10m5ec以下の時間だけであり、
不純物等の拡散などにも特に間圧はない。さらにこの様
にビームの走査方向を変えることにより、試料加熱にお
ける温度−に昇あるいは冷却時における温度分配を2つ
のビーム強度を変えて制御でき、加熱状態の制御が極め
て容易になる。
また、本装置においては、2つのビームの強度を変化さ
せる手段として、カソードの面方位及びバイアス電源の
電圧変化という2つの手段を用いているために、その制
御できる範囲が広く、かつ一度カソードを装置内部に固
定した後でも、カソードのバイアス電圧を変えるといっ
た電気的な制御も行なえるため、その操作は容易である
という効果もある。
せる手段として、カソードの面方位及びバイアス電源の
電圧変化という2つの手段を用いているために、その制
御できる範囲が広く、かつ一度カソードを装置内部に固
定した後でも、カソードのバイアス電圧を変えるといっ
た電気的な制御も行なえるため、その操作は容易である
という効果もある。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例に用いた電子
銃の−L要部の断面図及び平面図、第2図は本実施例の
線状電子ビー1、アニール装置の構成図である。 1.2・・・カソード、3・・・カーボン、4・・・令
属押え板、5・・・ガイシボルダ−16,7・・・バイ
アス電源、8・・ウニネル1−19・・・ビーム通過孔
、11・・カソード、12・・・ウェネルト、13・・
・線状電子ビーム、14・・・アノード、15・・・レ
ンズコイル、16・・・偏向コイル、17・・・試料。 □2 牛l 傅
銃の−L要部の断面図及び平面図、第2図は本実施例の
線状電子ビー1、アニール装置の構成図である。 1.2・・・カソード、3・・・カーボン、4・・・令
属押え板、5・・・ガイシボルダ−16,7・・・バイ
アス電源、8・・ウニネル1−19・・・ビーム通過孔
、11・・カソード、12・・・ウェネルト、13・・
・線状電子ビーム、14・・・アノード、15・・・レ
ンズコイル、16・・・偏向コイル、17・・・試料。 □2 牛l 傅
Claims (1)
- 電子放出面形状が矩形であるカソードをその矩形の短辺
方向に2本並列に配置しこれらカソードの電子放出面の
面方位が異なるものを用いたカソード組立と、前記2本
のカソードにはそれぞれ独立にバイアスが印加できこれ
らカソード全体囲む様な矩形状の孔をもつ一体のウェネ
ルト電極とを有する電子銃を備えることを特徴とする線
状電子線発生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5754386A JPH0610965B2 (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 線状電子線発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5754386A JPH0610965B2 (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 線状電子線発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62213051A true JPS62213051A (ja) | 1987-09-18 |
JPH0610965B2 JPH0610965B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=13058678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5754386A Expired - Lifetime JPH0610965B2 (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 線状電子線発生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0610965B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018131109A1 (ja) * | 2017-01-12 | 2018-07-19 | 株式会社アドバンテスト | 三次元積層造形装置の電子ビームカラム、三次元積層造形装置、および三次元積層造形方法 |
CN111769029A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-10-13 | 江苏亚威艾欧斯激光科技有限公司 | 一种电子束退火设备及多晶硅薄膜的制造方法 |
-
1986
- 1986-03-14 JP JP5754386A patent/JPH0610965B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018131109A1 (ja) * | 2017-01-12 | 2018-07-19 | 株式会社アドバンテスト | 三次元積層造形装置の電子ビームカラム、三次元積層造形装置、および三次元積層造形方法 |
CN109716480A (zh) * | 2017-01-12 | 2019-05-03 | 爱德万测试株式会社 | 三维分层建模装置的电子束列、三维分层建模装置、以及三维分层建模方法 |
CN109716480B (zh) * | 2017-01-12 | 2021-02-19 | 爱德万测试株式会社 | 三维分层建模装置的电子束列、三维分层建模装置、以及三维分层建模方法 |
US11458561B2 (en) | 2017-01-12 | 2022-10-04 | Advantest Corporation | Electron beam column for three-dimensional printing device, three-dimensional printing device, and three-dimensional printing method |
CN111769029A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-10-13 | 江苏亚威艾欧斯激光科技有限公司 | 一种电子束退火设备及多晶硅薄膜的制造方法 |
CN111769029B (zh) * | 2020-07-31 | 2023-08-08 | 江苏亚威艾欧斯激光科技有限公司 | 一种电子束退火设备及多晶硅薄膜的制造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0610965B2 (ja) | 1994-02-09 |
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