JPS62206830A - レジスト液塗布方法 - Google Patents

レジスト液塗布方法

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Publication number
JPS62206830A
JPS62206830A JP4823686A JP4823686A JPS62206830A JP S62206830 A JPS62206830 A JP S62206830A JP 4823686 A JP4823686 A JP 4823686A JP 4823686 A JP4823686 A JP 4823686A JP S62206830 A JPS62206830 A JP S62206830A
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JP
Japan
Prior art keywords
resist liquid
resist
vessel
resist solution
liquid
Prior art date
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Pending
Application number
JP4823686A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Imoto
幸男 井本
Tatsumi Suganuma
菅沼 達美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS62206830A publication Critical patent/JPS62206830A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、レジスト液塗布方法の改良に関1−る。
(従来の技術) 一般に、レジスト液の製造過程には、加圧ろ過工程のよ
うに空気や窒素がレジスト液中粘度が高く、その取り扱
い中に周囲の気体を取り込み易いという特性がある。そ
のため、レジスト液中には、かなりの■の溶存ガスが含
まれていることがある。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、従来のレジスト液塗布方法にあっては、この
溶存ガスを含むレジスト液をそのままレジスト液供給装
置によりつ1ハ上に供給してスピンコードしていた。そ
のため、レジスト液供給装置内やレジスト液配管内での
圧力変動やかくはん作用によって容易に気泡が生じCし
まい、この気泡の発生がレジスト液塗布時(スピンコ−
ト時)の塗布むらの大きな原因となり、このため、均一
な膜厚のレジスト膜を得ることが困難であっIこ。
本発明は、上記事情を考慮してなされたもので塗布むら
がなく、均一な膜厚のレジスト膜を得ることのできるレ
ジメi〜液塗イ1i方法を提供する事を目的とする。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 本発明によるレジスト液塗布方法は、レジスト液を塗布
する前に気泡の核を形成しなからレジスト液中脱気して
レジスト液中の溶存ガスを除去し。
ておくことにより、溶存ガスに起因する気泡の発生を防
止することを特徴とする。
(作 用) 本発明のレジスト液塗布方法によれば気泡の核を形成し
ながらレジスト液を脱気するためレジスト液中の溶存ガ
スをほぼ完全に除去でき、塗布むらをなくずことができ
る。
(発明の実施例) 以下、本発明を図示する実施例に基づいて詳述づる。
第1図に本発明によるレジスト液塗布方法の一実施例が
適用されるレジスト液脱気装置10を示す。第1図にお
いて、脱気用レジスト液2中1にはレジスト液2が収容
さ゛れている。この脱気用レジスト液容器1を密閉する
蓋3には管4が取り付けられ、この管4の一端側は脱気
用レジスト液容器1内の気相部にて間口し、他端側はバ
キュームライン等の減圧源5に接続されている。また、
管4の途中には]−ラップ6が設けられている。
このようなレジスト液脱気装置10を用いて、レジスト
液容器1内の気相部を溶液の沸騰が起らない程度ででき
るだけ低圧、例えば60m11gに減圧することにより
、レジスト液2中の溶存ガスが常温下でも活発に気化し
てレジスト液2の脱気が行、!Dれる。この際、レジス
ト液容器1を矢印で示すように振ることによって空気を
巻き込むようにし、気泡形成の際の核を形成しやすくし
で、溶存ガスの脱気を一層促進させている。
また、この容器の内面は表面を粗面化しであることが気
泡形成の核を形成しやすいため望ましい。
第2図に、このようにして脱気されたレジスト液2が用
いられるレジスト液供給装置20を示す。
第2図において、供給用レジスト液容器11内には脱気
済のレジスト液2が収容され、このレジス]・液2はデ
ィスベンザ−12によって管路13の先端の吐出口14
からウェハ15上に供給されるようになっている。供給
後、ウェハ15はスピンチャック16に固定された状態
でスピンモータ17により回転され、レジスト液2のウ
ェハ15へのスピンコード(塗布)が行われる。
このような本実施例によれば、ウェハ15ヘレジスト液
2を供給する際のレジスト液2の発泡を防止することが
できる。またスピンコード時に塗布むらが発生せず、均
一な膜厚のレジスト膜を得ることができる。
例えば、同一のレジスト供給装置20を用いながら、レ
ジスト液2を予め脱気しないで用いるとぎ(従来方法)
とレジスト液を予め脱気して用いるとき(本実施例)と
を比較した実験例によれば、レジスト液2がポジ型の場
合には、塗布むらの発生率が従来方法では5.5%であ
ったのが本実施例では0%であった。また、レジスト液
2がネガ型の場合には、同発生率が従来方法では2.1
%であったのが本実施例では0%になった。
また、レジスト液2を予め、脱気しない場合にはディス
ベンザ−12や管路13内で目視により確認できる程の
気泡が発生していたが、レジスト液2を予め脱気した場
合には気泡の発生を確認することはできない。
なお、レジスト液の脱気方法は前記実施例の方法に限ら
れず、容器を振るかわりに適当な振動を加える方法等で
もよく、この際周囲温度を高めたりする等、脱泡を容易
にするための種々の工夫を併用するようにしてもよい。
(5′!!明の効果〕 以上の通り、本発明によれば、塗布前にレジスト液を脱
気しているため塗布むらがなく、均一な膜厚のレジスト
膜を得ることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるレジスト液塗布方法の一実施例が
適用されるレジスト液脱気装置を示す正面図、第2図は
そのレジスト液脱気装置により脱気されたレジスト液が
用いられるレジスト液供給装置を示ず正面図である。 1・・・脱気用レジスト液容器、2・・・レジスト液、
5・・・減圧源5.6・・・1−ラップ、10・・・レ
ジスト液脱気装置、11・・・供給用レジスト液容器、
12・・・Yイスベンサー、15・・・つ1ハ、20・
・・レジスト液供給装置。 出願人代理人  佐  藤  −雄 も 1 区 も2 凹

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、レジスト液を塗布する前に気泡の核を形成しながら
    前記レジスト液を脱気しておくことを特徴とするレジス
    ト液塗布方法。 2、核を形成する方法がレジスト液容器を揺動させるも
    のである特許請求の範囲第1項記載のレジスト液塗布方
    法。 3、核を形成する方法が内面の表面を粗面化したレジス
    ト液容器を用いるものである特許請求の範囲第1項記載
    のレジスト液塗布方法。
JP4823686A 1986-03-07 1986-03-07 レジスト液塗布方法 Pending JPS62206830A (ja)

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