JPS6220372A - 光電素子およびこれを組み込んだ光電子装置 - Google Patents

光電素子およびこれを組み込んだ光電子装置

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JPS6220372A
JPS6220372A JP60158162A JP15816285A JPS6220372A JP S6220372 A JPS6220372 A JP S6220372A JP 60158162 A JP60158162 A JP 60158162A JP 15816285 A JP15816285 A JP 15816285A JP S6220372 A JPS6220372 A JP S6220372A
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JP
Japan
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optical
light
light receiving
layer
optical fiber
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JP60158162A
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English (en)
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Yuji Takamizawa
高見沢 雄二
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は光電素子、たとえば、光通信システムにおける
光中継部を構成するモノリシックな光電素子、またはこ
のような光電素子部を有する集積化光デバイス(○EI
C素子)等を組み込んだ光電子装置に関する。
〔背景技術〕
光通信における光信号の伝送損失による減衰を補填する
ために、伝送網の随所に中#lIa (光中継a)が配
設されている。従来、この種光中継機は、たとえば、日
経マグロウヒル社発行「日経エレクI−ロニクスJ 1
985年4月8日号、P185〜P2O3に記載されて
いるように、減衰した光信号を受光する受光素子および
増幅された光信号を発光する発光素子はそれぞれ個別部
品となっている。
〔発明の目的〕
本発明の目的は受光素子および発光素子をモノリシック
に組め込んだ構造の光電素子を提供することにある。
本発明の他の目的は光jmmクシステムおける光信号中
継に冗長性を持たせることのできる光電素子を提供する
ことにある。
本発明の他の目的は光通信システムの信頼度向上が達成
できる光電子装置を提供することにある。
本発明の他の目的は光通信システムにおいて寿命の長い
光中組機を提供することにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明によれば、光通信システムにおける光
通信中継素子(光電素子)として、受光部と発光部が複
数モノリシックに設けられた光電素子が用いられている
とともに、通信回線用光ファイバに対する各受光部と発
光部との切り換えは自由に変更できるため、光中継に支
障を来たした時は、直ちに切り換えを行って他の受光部
およびまたは発光部を使用することができるため、常に
確実な光通信状他が維持でき、光通信システムの信頼度
向上が達成できる。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例による光通信システムにおけ
る光中相部を示す模式図、第2図は同じく第1図のn−
n線に沿う断面図、第3図〜第7は同じく光中継素子で
ある光電素子の製造方法を示す図であって、第3図はウ
ェハを示す断面図、第4図はウェハの一面に受光素子形
成のための拡散領域が形成された状態を示す断面図、第
5図は受光素子が形成されたウェハの拡大断面図、第6
図はウェハの他面にレーザダイオード形成のための多層
成長層および拡散層が形成された状態を示す拡大断面図
、第7図はレーザダイオードの電極およびメサエッチン
グが施されたウェハを示す拡大断面図である。
この実施例では、受光素子と発光素子がそれぞれ3個モ
ノリシックに設けられた光信号中継素子(光電素子)に
よる光中継装置(光電子装置)について説明する。光電
子装置は、第1図に示されるように、n形1nPからな
る基板1の両面にそれぞれ多層成長層2,3を有してい
て、−面の多層成長層2にメサエッチングによって相互
にアイソレートされた受光素子4. 5. 6が設けら
れているとともに、他面の多層成長層3にメサエッチン
グによって相互にアイソレートされたレーザダイオード
(半導体レーザ) 7. 8. 9がそれぞれ設けられ
ている。また前記受光素子4. 5. 6゜の受光面に
はそれぞれ分岐光ファイバ10,11゜12の一端が臨
んでいる。これら光ファイバ10゜11.12の他端は
通信回線用光ファイバ13の端末に配設された光学的切
換ユニット14に接続され、制御部15による光学的切
換ユニット14の切換えによって一本の分岐光ファイバ
は前記通信回線用光ファイバ13と光学的に結線される
ようになっている。また前記各受光素子4. 5. 6
゜にはその表面にアノード電極16,17.18が設け
られているとともに、前記基板1には共用のカソード電
極19が配設されている。そして、前記カソード電極1
9は光学的信号を電気的信号に変換するO/E変換部2
0に結ばれている。また、各受光素子4. 5. 6.
の各アノード電極16゜17.18は電気的切換ユニッ
ト21に接続されている。また、この電気的切換ユニッ
ト21は前記0/E変換部20に接続されている。した
がって、光通信による光信号22は前記光学的切換ユニ
ット14および電気的切換ユニット21による切換えに
よって、図中の実線、二点鎖線、一点鎖線で示す矢印の
ように、いずれの受光素子4,5゜6、によっても受光
できるようになっている。
一方、前記レーザダイオード7、 8. 9の発光面に
は、第2図にも示されるようにそれぞれ分岐光ファイバ
23,24.25の一端が臨んでいる。
これら分岐光ファイバ23,24.25の他端は通信回
線用光ファイバ26の端末に配設された光学的切換ユニ
ット27に接続され、制御部15による光学的切換ユニ
ット27の切換えによって一本の分岐光ファイバは前記
通信回線用光ファイバ26と光学的に結線されるように
なっている。また前記各レーザダイオード7、 8. 
9にはその表面にアノード電極28,29.30が設け
られている。また、カソード電極19は前記基板1の表
面に設j1ノられノこカソード電極19がそのまま使用
される。また、[);■記カッーF’Wl’7ii 1
9 i:J電気的信号を光学的信−号仁1変模するE1
0変換部31に結ばれている。また、各!/−ザダイオ
ード7,8゜9の各アノ−1電極28.29,301.
J電気的り1換ユニノI−32!:接続さねている。ま
た1、この電気的切換ユニット32は前記ト:10変I
Q部3Hこ接続されている。また、前記制御部15にε
31増幅回路が設置Jられでいて、8111記受光素−
子4. 5.  Ei。
によって受光した光信号を増幅しiJ、 lノー刀夕・
イxi−F’7. 8. 9から発光さ・1!ろよ)に
なっている。したがって、+iit記光学的切換二員−
ノI□ 27および電気的りJ換ユニノ1〜32によろ
切19えによ、。
て、光信号22は図中の実線、]−4点鎮綿、 ・点′
Ji”(綿で示す矢印のように1、いずれのし・−リ゛
ダイオード7.14.9力仔ンも発光できるようになっ
ている。
なお、同図中で示す33は配線である。
つぎに、・二のよつな光電素イ(千・ノブ)34の製造
1゜9二゛ついて、第3図〜第7図を用いて説明する。
最初に第3図り二示されるような両面(、乙多JjTj
成−1辷層2.3を有するウコーハ35 (化合物半導
体板)が用5?課される。ご、のウェハ35の一面の多
層成J(層2には受光素子が形成され、他面の多層成長
層3c口2よ受光素子としてのし・−チダイオードが形
成される。また1、二のウェハ35は千ツブ化された時
点て各チップ因に受光素子およびレーザダイオードをそ
れぞれ3個有するようになる。
最初に受光素子の製造につい゛(説明する。前記ウェハ
35の一面の多層成長層2はrl形のI n、 Pの基
板1上に11形1nPのバッファ層36(2,+1m厚
さ)、n形T n、 G a A s i)の光吸収層
37 (1、−4,5pm厚さ)、n形I n Pの窓
層38 (i−1,5〆rm厚さ)、■〕形1nGaA
sPのキャップ層39  (0,2pm厚さ)からなり
、たとえば、エビタギシャル成長処理乙こよって積層形
成さ才り、た構造となっている。、−のよ・うな多層成
長層2において、受光素子ばこのウェハ35に3個1に
、■−C!I’hY横(オと列状態に形成されろ。ずな
わぢ、このつ:I−ハ35のキャップ層1.J、第4図
に示されるように、絶縁膜40をマスクとして常用のボ
I・工・28f−ソゲ技術によって、たとえば、80=
1001!m巾の大きさにイれイ゛れ3個開目られZ)
。・そし5て1、二の孔部分1c !;l“孔形成時の
エノ+ングマスクをマスクとして、Zn(亜鉛)が拡1
1にされ7p形拡11シ層41が形成される。なお、第
3図および第4図(、:lllラフ分の断面が示され°
ζいる。
つぎに、前記(色縁膜40は除去された後、ん菖、1膜
42が形成されろ。また、前記絶縁膜424;Jii記
p形拡11(層41に対面する部分にJノンククI・孔
が設けられるとともに、このコンク〃1孔および所望部
分の絶縁体化3.(膜、!2+、?i″′亘−1,で、
たとえば、A u G c / N i / A uか
らなろアノ−1電極1.6. 17. 1.8  (同
図で乙:I″アノ1゛電極16のみが示されている。)
が設し」られる。なお、第5図乃第7図ば単一・の受光
素子部分および受光素子部分のみを示す拡大断面図であ
る。
つぎに、前記ウェハ35の他面の多層成長層3に設けら
れるレーザダイオード7、iL  9の製造乙こついて
説明する。前記1″ノエハ35の他面の多層成に層3は
、第3図に示されるように、液4・1LLビター)−シ
ャル法あるいはM O−CV I)法によって積層形成
された多層であって、前記2tl板10表面6.−直接
形成された厚ざ0.3μm稈度のn形1 n Pからな
るクラッド層43と、このクラン1゛層43上に形成さ
れた欅さ0.06μI’n程度のi n G aAsP
からなる活性層44と、この活性層44上に形成された
厚さ0.211m程度のp形1nPからなるクラッド層
45と1.二のクラッド層45 Lに形成された厚さ0
.17fm程度のn形1 n G aA s Pからな
るキャンプ層4Gからなっている。
上人−1.前記多層成長層3の下の基板1表面に!f6
μm幅程度の溝(チャネル)47が設けられている。
つぎに、第6図に示されろように、前記チャネル47に
対面する多層成長層3の表面領域を除くウェハ35の全
域に絶縁膜48が設btられるとともに、この絶縁膜4
8をマスクとしてZnが拡11々され、前記クラッド層
45の途中深さに迄達するp膨拡散層49が形成される
。その後、前記絶縁膜4Bは除去される。次いで、第7
図tこ示されるように、前記多層成長層3−ヒにはたと
え14、△UG e / N i / A uからなる
アノード電極28,29.30(同図ではアノード電極
28のみが示されている。)が形成された後、ウェハ3
5の表裏面ばメサエッチングが施され、各受光素子間お
よびレーザダイオード間はアイツレ−1−される。
つぎに、前記クラッド層45は、第1図に示されるよう
に、受光素子およびレーザダイオードをそれぞれ3個ず
つ有するように分断されるとともに、基板1の一端には
、たとえば、CrAuからなるカソード電極19が形成
され、光電素子(チップ)34が製造される。
このようなチップ34は、第1図に示されるように、光
中継機に組み込まれて使用される。すなわち、たとえば
、光学的切換ユニット14および電気的切換ユニット2
1の切り換えによって、光信号22は受光素子4で受光
される。この電気的切換ユニット21は○/E変換部2
0によって電気信号に変換された後増幅され、再びE1
0変換部31によって光信号に変換され、光学的切換ユ
ニット27および電気的切換ユニソI・32の切換操作
によって、レーザダイオード7からjmm四回線用光フ
ァイバ26送り出される。また、使用に供されている受
光素子4またはおよびレーザダイオード7が故障した場
合は、その故障を検出し自動的に電気的切換ユニソ1−
21.32およびO/E変換部20.E10変換部31
が動作して、他の受光素子5,6あるいはレーザダイオ
ード8゜9が光通信動作に関与するようになっているこ
とから、光中継機として、信頼度が向上するとともに、
寿命も長くなる。
〔効果〕
(1)本発明の光中継機によれば、受光素子および発光
素子が複数設けられているとともに、これら各素子と通
信回線用光ファイバとの光の授受の切り換えは自由に行
なえることから、使用中の素子に支障を来した際切り換
えによって、瞬時に新たな素子と通信回線用光ファイバ
との間で光信号の授受が可能となるため、光信号中左陸
に冗長性が生じるという効果が得られる。
(21J::記(1)から、本発明の光中継機は、光通
信の信頼度が高くなるという効果が得られる。
(3)上記(1)から、本発明の光中継機は、受光部。
発光部が複数存在し、かつ使用に際して、順次新たな受
光部1発光部を使用していけることから、寿命が長くな
るという効果が得られる。
(4)本発明の光中に「機に3、■み込まれている光電
素子は、複数の受光素子および発光素子をモノリシック
に組み込んだ構造となっているため、複数の受光素子お
よび発光素子を組み込む必要がある場合において、一つ
の光電素子チップでその用が足りるため、光中継機の小
型化が達成できるという効果が得られる。
(5)上記(4)から、本発明の光中m機は単一チップ
の組み立てにより、光中継機の部品数低減および製造工
数低減から、製造コストの軽減が達成できるという効果
が得られる。
(6)上記(1)〜(5)により、本発明によれば、光
通信システムの信頼度が高くかつ長寿命の光中I[を安
価に提供することができるという相乗効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない、たとえば、第8図は受光
素子と発光素子がそれぞれ一つモノリシックに組み込ま
れた光信号中継素子(光電素子)であるが、このような
素子構造にすれば、単一チップで光中継が行なえるとい
う効果が得られる。また、前記実施例では、カソード電
極19はチップ34の端面に設けたが、チップ34の表
裏のいずれの平坦面側に設けても前記実施例同様な効果
が得られる。
また、前記実施例では、受光素子間と発光素子間のアイ
ソレーションは同一工程で行なったが、それぞれ独立し
た工程で行なっても前記実施例同様な効果が得られる。
また、通信回線用光ファイバ13に対する各受光素子お
よび発光素子の光信号の切り換えは、ifQ (菖凹仙
(用光ファイバ13に対し7て千ノブ3(4を相対的に
移Φ)1さ−UろようQこ1−7で1■な−67も前記
実hjii例同様な功TがriらJ′1.る。
〔利用分野] 以−Iの説明でに1−トとし7てオ発明−Iイによ1、
−Cなさ相ノ、−発明をその背景、となった利用分野て
あイ)・受を素子とレーザダイオードとによる光通f、
)1々?4’■(11i内用し7だ場合につい−c 1
i3)、明+−,たか、それに限定されZ、ものではな
く、受光素子と発光タ゛イオード乙こよイ)光jmmク
システ、技1・1・1などに適用−rき/:、)。
本発明は少なくとも光jm信技術!5二は適用−できる
図面のn’s ri舅(説明 第1図シ11本発明の−・実施例による光immヤシス
ケ、におLJる光中8F+部を示す模式図、第2Yメ1
は同じく第1し1(7) II−■線に沿う断面図、第
3図し:1同しく光中紺素子の製造ブj法においI’Z
)・:ノエハを示ず断面I4、 第4図は同jシ<・″ノエハの一面(1,r受光素子形
成のための拡散領域が形成され)、二状態を示す断面図
、第5図し11同じく受光素子が形成されたウェハの拡
大断面図、 第6図は同(つ<ウェハの他面にレーリ゛タ゛イオード
形成のための多層成長層および拡j1(層が形成された
状態を示す拡大断面図、 第7図1.J同しくレーザダイオードの電極およびメ4
J工・7チングが施されたう」−ハ峻示ず拡大IIl’
i面し1、 第8図は本発明の他の実施例による光信υ−中継を行な
)光電子装置の概要を示ず拡大断面図である。
1・・・基板、2,3・・・多層成長層、4゜5.6・
・・受光素子、7. 8. 9・・・レーザダイオード
(半導体レーザ)、10. 11. 12・・・分岐光
ファイバ、13・・・通信回線用光ファイバ、14・・
・光学的切換ユニット、15・・・制御部、1(i、1
7.18・・・アノード電極、19・・・カソード電極
、20・・・0/E変換部、21・・・電気的切換ユニ
ソ1−122・・・光信号、23,24.25・・・分
岐光ファイバ、26・・・通信回線用光ファイバ、27
・・・光学的切換ユニット、28.29.30・・・ア
ノ−I−電極、31・・・IE / O変換部、32・
・・電気的切換ユニット、33・・・配線、34・・・
光電素子(チップ)、35・・・ウェハ(化合物゛11
導体板)、3G・・・ハソファ層、37・・・光吸収層
、38・・・窓層、39・・・キャップ層、40・・・
絶縁膜、41・・・p膨拡!1(層、42・・・絶縁膜
、43・・・クラッド層、44・・・活性層、45・・
・クラット層、46・・・キャンプ層、47・・・溝(
チャネル5つ トマ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、1つの基板に受光部と発光部が少なくとも1個設け
    られていることを特徴とする光電素子。 2、前記受光部と発光部とはそれぞれ一対で光中継部を
    構成していることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の光電素子。 3、受光部と発光部がそれぞれ複数モノリシックに設け
    られた光電素子と、この光電素子との間で光の授受を行
    う光ファイバと、前記光ファイバと受光部および発光部
    との間の光の授受の切り換えを行う切換ユニットとを有
    することを特徴とする光電子装置。
JP60158162A 1985-07-19 1985-07-19 光電素子およびこれを組み込んだ光電子装置 Pending JPS6220372A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02183579A (ja) * 1989-01-10 1990-07-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光機能素子
US5540081A (en) * 1993-08-31 1996-07-30 Abbott Laboratories Pipetting apparatus with clot detection
JP2010045410A (ja) * 2009-11-24 2010-02-25 Fujitsu Ltd 光電子集積回路装置
US7915645B2 (en) * 2009-05-28 2011-03-29 International Rectifier Corporation Monolithic vertically integrated composite group III-V and group IV semiconductor device and method for fabricating same

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