JPS62202394A - 磁気バブルメモリ - Google Patents
磁気バブルメモリInfo
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- JPS62202394A JPS62202394A JP61043969A JP4396986A JPS62202394A JP S62202394 A JPS62202394 A JP S62202394A JP 61043969 A JP61043969 A JP 61043969A JP 4396986 A JP4396986 A JP 4396986A JP S62202394 A JPS62202394 A JP S62202394A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気バブルメモリ、特に情報を記憶するマイナ
ループ群をパーマロイ等の軟磁性体磁気バブル転送路に
よυ構成した磁気バブルメモリ素子に関するものである
。
ループ群をパーマロイ等の軟磁性体磁気バブル転送路に
よυ構成した磁気バブルメモリ素子に関するものである
。
〔従来の技術」
磁気バブルメモリの高密度、高速度化を実現した磁気バ
ブルメモリ素子として例えば、米国特許第3,618,
054号公報に開示されているように情報を磁気バブル
で記憶するマイナループ群をパーマロイ方式の磁気バブ
ル転送路で構成し、磁気バブルを転送するメジャライン
、メジャループも同様にパーマロイ方式の磁気バブル転
送路で構成した磁気バブルメモリ素子が知られている。
ブルメモリ素子として例えば、米国特許第3,618,
054号公報に開示されているように情報を磁気バブル
で記憶するマイナループ群をパーマロイ方式の磁気バブ
ル転送路で構成し、磁気バブルを転送するメジャライン
、メジャループも同様にパーマロイ方式の磁気バブル転
送路で構成した磁気バブルメモリ素子が知られている。
しかしながら、このように構成される磁気バブルメモリ
素子において、多数のパーマロイ方式の転送路を配列し
て構成されるマイナループ群の転送パターンの繰り返し
周期および転送路の繰り返し周期を小石くすることによ
り、高密度化をはかった場合、磁気バブルが転送誤動作
を起し、高密度化が制限されるという問題がめった。
素子において、多数のパーマロイ方式の転送路を配列し
て構成されるマイナループ群の転送パターンの繰り返し
周期および転送路の繰り返し周期を小石くすることによ
り、高密度化をはかった場合、磁気バブルが転送誤動作
を起し、高密度化が制限されるという問題がめった。
本発明は、転送路の繰り返し周期および転送パターンの
縁り返し周期を小さくしても磁気バブルの転送誤動作を
発生することなく、高密度化を可能にした磁気バブルメ
モリ素子を提供することを目的としている。
縁り返し周期を小さくしても磁気バブルの転送誤動作を
発生することなく、高密度化を可能にした磁気バブルメ
モリ素子を提供することを目的としている。
本発明の一実施例によれば、マイナループ群を構成する
パーマロイ方式磁気バブル転送路間に非磁性体からなる
パターンを設けることにより、高密度化を実現可能とし
た磁気バブルメモリ素子が提供される。
パーマロイ方式磁気バブル転送路間に非磁性体からなる
パターンを設けることにより、高密度化を実現可能とし
た磁気バブルメモリ素子が提供される。
互いに隣接するパーマロイ方式磁気バブル転送路の転送
パターン間における磁気バブルの相互干渉がなくなる。
パターン間における磁気バブルの相互干渉がなくなる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例について説明す
る。
る。
第1図は本発明による磁気バブルメモリ素子の一実施例
を示す平面図でるる。同図において、mは情報を磁気バ
ブルで記憶するマイナループ、RMLは読み出し情報を
転送するリードメジャライン、RGはマイナループmの
情報をリードメジャラインRMLへ読み出す読み出しゲ
ート、Dは読み出しゲートRML上に転送された情報を
電気信号に変換する磁気バブル検出器、Gは情報を磁気
ノ(プルの有無で書き込む磁気バブル発生器、萄ルは書
き込み情報を転送するライトメシャライン、WGはライ
トメシャラインWMIイ上の情報をマイナループmに書
き込むライトゲートでるり、マイナループm、リードメ
ジャラインRMLおよびライトメシャラインWML等は
パーマロイ方式の磁気バブル転送路で形成されてこれら
の面に垂直方向に加えられるバイアス磁界HBおよび面
内に加えられる回転磁界HRにより磁気バブルは矢印P
方向にそれぞれ転送される。
を示す平面図でるる。同図において、mは情報を磁気バ
ブルで記憶するマイナループ、RMLは読み出し情報を
転送するリードメジャライン、RGはマイナループmの
情報をリードメジャラインRMLへ読み出す読み出しゲ
ート、Dは読み出しゲートRML上に転送された情報を
電気信号に変換する磁気バブル検出器、Gは情報を磁気
ノ(プルの有無で書き込む磁気バブル発生器、萄ルは書
き込み情報を転送するライトメシャライン、WGはライ
トメシャラインWMIイ上の情報をマイナループmに書
き込むライトゲートでるり、マイナループm、リードメ
ジャラインRMLおよびライトメシャラインWML等は
パーマロイ方式の磁気バブル転送路で形成されてこれら
の面に垂直方向に加えられるバイアス磁界HBおよび面
内に加えられる回転磁界HRにより磁気バブルは矢印P
方向にそれぞれ転送される。
第2図は前述したパーマロイ方式転送路を示したもので
おり、このパーマロイ方式転送路は、磁気バブル磁性膜
LPICの土に8102等のスペーサ膜spを介してパ
ーマロイ等の軟強磁性体薄膜パターンPTで構成される
。このパターンPTをこのパターン面内で回転する回転
磁界HRで磁化することにより、移動磁極が形成される
。磁気バブルBはこの移動磁極に吸引され、パターンP
Tに沿って矢印P方向に転送される。
おり、このパーマロイ方式転送路は、磁気バブル磁性膜
LPICの土に8102等のスペーサ膜spを介してパ
ーマロイ等の軟強磁性体薄膜パターンPTで構成される
。このパターンPTをこのパターン面内で回転する回転
磁界HRで磁化することにより、移動磁極が形成される
。磁気バブルBはこの移動磁極に吸引され、パターンP
Tに沿って矢印P方向に転送される。
このように構成嘔れるパーマロイ方式の磁気バブルメモ
リ素子は、第3図に示すように磁気)くプル転送路ff
1l +n12を形成する1個の転送ノくターンPTが
1ビツトに対応するため、高密度化に伴い、転送パター
ンPTの大きさLを縮小することおよび互いに向い合う
転送ノ(ターンPTの並びの間隙Gを小さくする必要が
るる。
リ素子は、第3図に示すように磁気)くプル転送路ff
1l +n12を形成する1個の転送ノくターンPTが
1ビツトに対応するため、高密度化に伴い、転送パター
ンPTの大きさLを縮小することおよび互いに向い合う
転送ノ(ターンPTの並びの間隙Gを小さくする必要が
るる。
しかしながら、間隙Gを小さくすることによって互いに
向い合う転送パターンPT同志が近接するため、バイア
ス磁界マージンの下限値側において第4図に示すように
磁気バブルBが磁気バブル転送路m0の転送路間でラン
アウトするエラーモードEが発生し易くなり、バイアス
磁界マージンを小さくさせ、動作信頓性および製造工程
における特性上の歩留りが問題となって高密度化が制約
されることになる。また、第5図に示すように互いに向
い合う転送パターンPT相互間に、転送パターン層のパ
ターン残りPT工などある大きさ以上の欠陥が発生する
と、磁気バブル転送中にエラーが発生するので、欠陥ル
ープとして処理する。しかし、高密度化に伴なう間隙G
の縮小によシ、前述した欠陥の大きさに対する裕度は小
さくなり、製造工程において欠陥に起因する歩留りの問
題が発生する。
向い合う転送パターンPT同志が近接するため、バイア
ス磁界マージンの下限値側において第4図に示すように
磁気バブルBが磁気バブル転送路m0の転送路間でラン
アウトするエラーモードEが発生し易くなり、バイアス
磁界マージンを小さくさせ、動作信頓性および製造工程
における特性上の歩留りが問題となって高密度化が制約
されることになる。また、第5図に示すように互いに向
い合う転送パターンPT相互間に、転送パターン層のパ
ターン残りPT工などある大きさ以上の欠陥が発生する
と、磁気バブル転送中にエラーが発生するので、欠陥ル
ープとして処理する。しかし、高密度化に伴なう間隙G
の縮小によシ、前述した欠陥の大きさに対する裕度は小
さくなり、製造工程において欠陥に起因する歩留りの問
題が発生する。
したがって本発明による磁気バブルメモリ素子は、第6
図に示すようにマイナル−プロ群を構成する磁気バブル
転送路m工、m2のループ内および互いに隣接する磁気
バブル転送路m□とm、との間の隙間Gに、磁気バブル
Bの転送方向Pに沿って例えば鴇、礼等の非磁性体から
なる帯状パターンPS1.PS2がそれぞれ形成されて
いる。
図に示すようにマイナル−プロ群を構成する磁気バブル
転送路m工、m2のループ内および互いに隣接する磁気
バブル転送路m□とm、との間の隙間Gに、磁気バブル
Bの転送方向Pに沿って例えば鴇、礼等の非磁性体から
なる帯状パターンPS1.PS2がそれぞれ形成されて
いる。
第7図は前述した磁気バブルメモリ素子の磁気バブル転
送路m0の断面図を示すものでるる。同図において、G
GGはgadolinium −gallium −g
arnet 基板であり、 LPEは液相エピタキシ
ャル成長法によって形成された磁気バブル磁性膜であり
、SPlは5IO2が気相化学反応法るるいはスパッタ
リング法などにより形成された第1のスペーサでめる。
送路m0の断面図を示すものでるる。同図において、G
GGはgadolinium −gallium −g
arnet 基板であり、 LPEは液相エピタキシ
ャル成長法によって形成された磁気バブル磁性膜であり
、SPlは5IO2が気相化学反応法るるいはスパッタ
リング法などにより形成された第1のスペーサでめる。
CON工およびCON、は2層の導体層からなる前述し
た帯状パターンPS1 、PS2でろり、下の導体層C
0N1が鴇、上の導体層CON2が札などの材料でそれ
ぞれ形成されている。この非磁性体からなる帯状パター
ンPS1 、PS2は磁気)(プル発生器、ゲート部な
どの第1の導体パターンC0N1と全く同種のパターン
であり、この種のパターンと全く同様にして同一工程で
第1のスペーサ膜SPI上に一括して形成することがで
きる。SF3およびSF3は帯状パターンPS1 、P
S2および第1の導体パターンC0N1とその上に形成
されるパーマロイなどの磁気バブル転送パターンPTと
を電気的に絶縁するポリイミド樹脂などからなる眉間絶
縁膜(第2.第3のスペーサ)でるる。PASは気相化
学反応法るるいはスパッタリング法などにより形成され
たSly、 膜等からなるパッシベーション膜でろる
。CON2はパッシベーション膜PAS上で第1の導体
パターンC0N1と接続される第2の導体パターンでお
υ、この第2の導体パターンCON2はAt材で形成さ
れ、第1の導体パターンC0N1と図示しないポンディ
ングパッドとがスルーホールにおいて接続され、多層配
線構造をなして電気的に接続されている。なお、前述し
た非磁性体からなる帯状パターンPS1.PS2には電
気信号、電源などは供給されない。
た帯状パターンPS1 、PS2でろり、下の導体層C
0N1が鴇、上の導体層CON2が札などの材料でそれ
ぞれ形成されている。この非磁性体からなる帯状パター
ンPS1 、PS2は磁気)(プル発生器、ゲート部な
どの第1の導体パターンC0N1と全く同種のパターン
であり、この種のパターンと全く同様にして同一工程で
第1のスペーサ膜SPI上に一括して形成することがで
きる。SF3およびSF3は帯状パターンPS1 、P
S2および第1の導体パターンC0N1とその上に形成
されるパーマロイなどの磁気バブル転送パターンPTと
を電気的に絶縁するポリイミド樹脂などからなる眉間絶
縁膜(第2.第3のスペーサ)でるる。PASは気相化
学反応法るるいはスパッタリング法などにより形成され
たSly、 膜等からなるパッシベーション膜でろる
。CON2はパッシベーション膜PAS上で第1の導体
パターンC0N1と接続される第2の導体パターンでお
υ、この第2の導体パターンCON2はAt材で形成さ
れ、第1の導体パターンC0N1と図示しないポンディ
ングパッドとがスルーホールにおいて接続され、多層配
線構造をなして電気的に接続されている。なお、前述し
た非磁性体からなる帯状パターンPS1.PS2には電
気信号、電源などは供給されない。
このような構成において、磁気バブル磁性膜LJ’Eと
磁気バブル転送パター ンPTとの間に非磁性体からな
る帯状パターンPS1 、PS2を設けたことにより、
磁気バブル磁性膜LPgとの間にストレスが加わり、そ
のストレスによりバリアが発生し、第4図に示したよう
にマイナループm1のループ内および互いに隣接するマ
イナル−プロ2間の磁気バブルBのランアウトの発生を
阻止することができる。
磁気バブル転送パター ンPTとの間に非磁性体からな
る帯状パターンPS1 、PS2を設けたことにより、
磁気バブル磁性膜LPgとの間にストレスが加わり、そ
のストレスによりバリアが発生し、第4図に示したよう
にマイナループm1のループ内および互いに隣接するマ
イナル−プロ2間の磁気バブルBのランアウトの発生を
阻止することができる。
第8図は本発明の特性上の効果を確認するために本発明
を実施した磁気バブルメモリ素子CH11と実施してい
ない磁気バブルメモリ素子CHI 2とのバイアス磁界
マージンを比較したHR−HB特性図でおる。本実験に
用いた素子は転送パターンのセルサイズ6μm角、磁気
バブルBの直径2μm、互いに向い合う転送パターンP
Tの間隙Gが2.5μm。
を実施した磁気バブルメモリ素子CH11と実施してい
ない磁気バブルメモリ素子CHI 2とのバイアス磁界
マージンを比較したHR−HB特性図でおる。本実験に
用いた素子は転送パターンのセルサイズ6μm角、磁気
バブルBの直径2μm、互いに向い合う転送パターンP
Tの間隙Gが2.5μm。
帯状パターンPS1 、PS2のパターン幅1μmでろ
る。
る。
同図に示すように帯状パターンPS1.PS2を設けた
素子CHI 1は、設けていない素子CHI2に比べて
バイアス磁界マージン下限値側が改善され、バイアス磁
界マージンを約20%向上させることができた。この効
果は、帯状パターンPS1 、PS2のパターン幅を変
えても同様の効果が得られた。また、このような構成に
よれば、第7図に示すように間隙Gに発生する転送パタ
ーンPTの欠陥PT1と磁気バブル磁性膜LPIEとの
間隔が広くなるので、両者の相互作用が弱くなり、前述
した欠陥裕度の問題も解決できる。
素子CHI 1は、設けていない素子CHI2に比べて
バイアス磁界マージン下限値側が改善され、バイアス磁
界マージンを約20%向上させることができた。この効
果は、帯状パターンPS1 、PS2のパターン幅を変
えても同様の効果が得られた。また、このような構成に
よれば、第7図に示すように間隙Gに発生する転送パタ
ーンPTの欠陥PT1と磁気バブル磁性膜LPIEとの
間隔が広くなるので、両者の相互作用が弱くなり、前述
した欠陥裕度の問題も解決できる。
第9図は同一製造工程で製作した本発明を実施した素子
CHI 1と実施していない素子CHI 2との欠陥ル
ープ数を比較したものでるる。同図において、画素子C
H11、CHI2は同一工程で製作したので、製造上の
欠陥密度は同程度と考えられ、本発明を実施した素子C
FI11は実施していない素子CHI 2に比べて約1
0%欠陥裕度を向上させることができた。
CHI 1と実施していない素子CHI 2との欠陥ル
ープ数を比較したものでるる。同図において、画素子C
H11、CHI2は同一工程で製作したので、製造上の
欠陥密度は同程度と考えられ、本発明を実施した素子C
FI11は実施していない素子CHI 2に比べて約1
0%欠陥裕度を向上させることができた。
なお、前述した1実施例において、転送パターンPTと
してシェブロンパターンを用いて説明したが、ワイドギ
ャップパターンを用いても同様の効果が得られることは
勿論である。
してシェブロンパターンを用いて説明したが、ワイドギ
ャップパターンを用いても同様の効果が得られることは
勿論である。
また、前述した実施例において、製造工程を追加するこ
となく、コンダクタ層に帯状パターンPS1 、PS2
を設けることを実現させたが、磁気パズル磁性膜LPE
にストレスが加わるならば、また間隙Gの欠陥と磁気バ
ブル磁性膜r、pgとの間隔が大きくなるならば、コン
ダクタ層に限定されることなく、前述と同様の効果が得
られることは明らかである。
となく、コンダクタ層に帯状パターンPS1 、PS2
を設けることを実現させたが、磁気パズル磁性膜LPE
にストレスが加わるならば、また間隙Gの欠陥と磁気バ
ブル磁性膜r、pgとの間隔が大きくなるならば、コン
ダクタ層に限定されることなく、前述と同様の効果が得
られることは明らかである。
以上説明したように本発明によれば、マイナループを構
成するパーマロイ方式磁気バブル転送路間に、該転送路
層を形成する以外の層に非磁性体からなる帯状パターン
を設けたことにより、転送路間の磁気バブルのエラーモ
ードがなくな9、バイアス磁界マージンが大きくなり、
さらに欠陥裕度が大きくなるので、磁気バブルメモリ素
子をさらに高密度化することができるという極めて浸れ
た効果が得られる。
成するパーマロイ方式磁気バブル転送路間に、該転送路
層を形成する以外の層に非磁性体からなる帯状パターン
を設けたことにより、転送路間の磁気バブルのエラーモ
ードがなくな9、バイアス磁界マージンが大きくなり、
さらに欠陥裕度が大きくなるので、磁気バブルメモリ素
子をさらに高密度化することができるという極めて浸れ
た効果が得られる。
第1図は本発明による磁気バブルメモリ素子を示す平面
図、第2図はパーマロイ方式転送路を説明する要部拡大
斜視図、第3図はマイナループを示す要部平面図、第4
図および第5図はマイナループにおいて発生するエラー
モードを説明する要部拡大平面図、第6図は本発明によ
る磁気バブルメモリ素子の一実施例を示すマイナループ
群の要部拡大平面図、第7図は第6図の要部拡大断面図
、第8図に従来の素子および本発明による素子のHR−
HB特性を示す図、第9図は従来の素子および本発明に
よる素子の欠陥ループ数を示す図でおる。 m・・・・マイナループ、ml 、N2・・・・磁気バ
ブル転送路、RML・・・・リードメジャライン、RG
・・・・読み出しゲート、D・・・・磁気パズル検出
器、G・・・・磁気バブル発生器、胤・・・・ライトメ
シャライン、WG ・・・・ライトゲート、f(B
・・・・バイアス磁界、HR・・・・回転磁界、LPI
・・・・磁気バブル磁性膜、SPl 、 SF3 、S
F3・・・・スペーサ、SPl 、SF3・・・・非磁
性体からなる帯状パターン、nよ・・・・欠陥パターン
、C0N1 、 CON2・・・・導体パターン、B・
・・・磁気バブル、 C0N1.CON!・・・・導体
層、GGG・・・・基板、PAS・・・・パッシベーシ
ョン膜。
図、第2図はパーマロイ方式転送路を説明する要部拡大
斜視図、第3図はマイナループを示す要部平面図、第4
図および第5図はマイナループにおいて発生するエラー
モードを説明する要部拡大平面図、第6図は本発明によ
る磁気バブルメモリ素子の一実施例を示すマイナループ
群の要部拡大平面図、第7図は第6図の要部拡大断面図
、第8図に従来の素子および本発明による素子のHR−
HB特性を示す図、第9図は従来の素子および本発明に
よる素子の欠陥ループ数を示す図でおる。 m・・・・マイナループ、ml 、N2・・・・磁気バ
ブル転送路、RML・・・・リードメジャライン、RG
・・・・読み出しゲート、D・・・・磁気パズル検出
器、G・・・・磁気バブル発生器、胤・・・・ライトメ
シャライン、WG ・・・・ライトゲート、f(B
・・・・バイアス磁界、HR・・・・回転磁界、LPI
・・・・磁気バブル磁性膜、SPl 、 SF3 、S
F3・・・・スペーサ、SPl 、SF3・・・・非磁
性体からなる帯状パターン、nよ・・・・欠陥パターン
、C0N1 、 CON2・・・・導体パターン、B・
・・・磁気バブル、 C0N1.CON!・・・・導体
層、GGG・・・・基板、PAS・・・・パッシベーシ
ョン膜。
Claims (1)
- 1、情報を記憶するマイナループ群を構成するパーマロ
イ方式の磁気バブル転送路間に、該転送路パターンを形
成する層以外の層に非磁性体パターンを設けたことを特
徴とする磁気バブルメモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61043969A JPS62202394A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 磁気バブルメモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61043969A JPS62202394A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 磁気バブルメモリ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62202394A true JPS62202394A (ja) | 1987-09-07 |
Family
ID=12678536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61043969A Pending JPS62202394A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 磁気バブルメモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62202394A (ja) |
-
1986
- 1986-03-03 JP JP61043969A patent/JPS62202394A/ja active Pending
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