JPS62202307A - 磁気ヘツドコアの製造方法 - Google Patents

磁気ヘツドコアの製造方法

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JPS62202307A
JPS62202307A JP4575186A JP4575186A JPS62202307A JP S62202307 A JPS62202307 A JP S62202307A JP 4575186 A JP4575186 A JP 4575186A JP 4575186 A JP4575186 A JP 4575186A JP S62202307 A JPS62202307 A JP S62202307A
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magnetic film
magnetic
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film
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Kumio Nako
久美男 名古
▲かど▼野 勝
Masaru Kadono
Tatsushi Yamamoto
達志 山本
Tetsuo Muramatsu
哲郎 村松
Mitsuhiko Yoshikawa
吉川 光彦
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Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明は電子ビーム蒸着法等の蒸着技術を用いて形成し
た磁気ヘッドコアの製造方法に関するものである。
く従来技術〉 近年、磁気記録技術の分野において、情報の多様化に伴
ない記録密度の増大を求める要求が強まっている。磁気
記録の高密度化の一つの方法として記録媒体の高保磁力
化があり、それに対応すべく高飽和磁束密度、高透磁率
を有する磁気ヘッドコア材料の開発が必要となってきた
。この様な材料としては、フェライトには飽和磁束密度
に限界がるるため、合金系材料が適している。センダス
ト合金は良く知られているようにSi9.5wt%。
At5.5wt%、残部Feを中心とした組成において
、高透磁率、高飽和磁束密度を有する材料であるが、磁
気ヘッドコア炸裂において、バルクセンダストはもろい
ため、精密加工が困難であり、また、VTR等へ応用す
る場合には20μm程度のコア厚が必要となり、その場
合に高周波特性が不十分である等の欠点がある。また、
超急冷法によるセンダスト薄帯をヘッドコアとして用い
る場合、コア材を樹脂接骨により非磁性基板で挾み込ん
でいるが、樹脂接着は接着層の制御が困難である。又、
バルク部材やリボン薄帯から切削加工によってトラック
幅を形成する場合、トラック幅の制御等は狭トラツクに
なる程困難になる。このため高周波特性の優れたトラッ
ク幅に相当するセンダスl[膜を非磁性基板表面上にス
パッタ法、あるいは蒸着法により狭トラツク磁気ヘッド
を作製する方法が提案されている。
〈発明の目的〉 本発明は電子ビーム蒸着法等による蒸着による軟磁性膜
形成時の下地基板温度を変化させ、磁気特性の良好な結
晶構造を得て加工性の良好な磁気ヘッドコアを提供する
ことを目的とする。
〈実施例〉 第1図は本発明の一実施例の説明に供する電子ビーム蒸
着装置の模式構成図である。
真空ベルジャl内の上方には、蒸着用基板を蒸着温度に
加熱保持するためのヒータ2と蒸着膜が形成される結晶
化ガラス、セラミック、感光性結晶化ガラス、ガラス等
から成る非磁性基板3が配置されている。この非磁性基
板3と蒸着源との間には蒸着気流の通過を制御するシャ
ッタ4が介設されている。また下方の蒸着源位置には電
子ビーム発生用フィラメント5とフィラメント5で発生
した電子ビーム6の照射方向に配設されたるつぼ(ハー
ス)7があり、るつぼ7内には鉄60〜70wt%、ア
ルミニウム3〜6wt%、硅素20−30wt%の割合
で構成した蒸着源材料8が載置されている。電子ビーム
6が蒸着源材料8に照射されるとその部分の元素が蒸気
流となって飛翔し、シャッタ4の開成期間中シャッタ4
を通過して非磁性基板3に被着し、蒸着膜が形成される
ここで電子ビーム蒸着法による軟磁性膜形成時の下地基
板温度の違いが、その上に成膜される軟磁性膜の特性に
及ぼす影響を調べるために、前記蒸着源材料を用い10
0〜400’Cの範囲で非磁性基板温度を変化させ、そ
の表面上に膜厚5μmのFe5i−At系軟磁性膜を形
成した。膜組成は走査型電子顕微鏡のエネルギー分散型
分析により測定したところFe86.0wt%、Si 
9.5wt%、At4.5wt%であった。この膜を6
00’C,6時間真空中で熱処理を行った後IMH2で
の実効透磁率μ′。
保磁力Hc 、飽和磁束密度Bs及び電気比抵抗ρを測
定し、基板温度との関係を調べた結果を第2図に示す。
また磁化曲線の応力の変化から判断すると磁歪λSは正
であった。基板温度200℃〜350℃の非磁性基板表
面上に形成されたFe−5i−Al系軟磁性膜l′i、
IMHzの実効透磁率が1800以上、保磁力10e以
下、飽和磁束密度11500G以上、電気比抵抗70μ
Ω副、ビッカース硬度600を有する非常に優れた磁気
特性、耐摩耗性を有することが判明した。中でも基板温
度300℃で非磁性基板表面上に形成されたFe−5i
−At系軟磁性膜はIMHzの実効透磁率が3800、
保磁力0.60e+飽和磁束密度12000Gを有する
非常に優れた磁気特性を有するものであった。
また基板温度100℃以下の非磁性基板表面上に形成し
たF e −5i −At系軟磁性膜は磁性膜と基板と
の密着性が悪く剥離した。次にX線回折による結晶構造
の基板温度依存性を第3図に示した。基板温度の高温側
で磁性膜は(+00)配向となり磁気特性が低下し、基
板温度300℃(022)面のピーク強度が強く磁気特
性が最も優れていた。
〈発明の効果〉 以上詳細に説明した如く、電子ビーム蒸着法によりFe
  5i−At系軟磁性膜を作成する際、基板温度を2
00〜350℃に選択することにより、磁気特性の良好
な軟磁性膜が形成され、コアの透磁率が改善出来、ひい
ては磁気ヘッド効率改善を図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
′E1図は本発明の一実施例の説明に供する電子ビーム
蒸着装置の模式構成図、第2図は基板温度の異なる非磁
性基板表面上に電子ビーム蒸着法により作製したFe−
5i−At系軟磁性膜のIMH2での実効透磁率、保磁
力、飽和磁束密度及び電気比抵抗の関係図、第3図は基
板温度の異なる非磁性基板表面上に電子ビーム蒸着法に
より作製したF6−5iAt系軟磁性膜のX線回折によ
る結晶構造の関係図である。 図中、1・・・真空ベルジャ   2・・・ヒータ3・
・・非磁性基板    4・・・シャツタ5・・・フィ
ラメント    6・・・電子ビーム7・・・るつぼ(
)・−ス)  8・・・蒸着源材料代理人 弁理士 杉
 山 毅 至(他1名)@1図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)非磁性基板上に軟磁性膜を形成するために、電子
    ビーム蒸着法によりFe−Si−Al系軟磁性膜を、前
    記非磁性基板表面温度を200℃〜350℃の条件のも
    とで成膜することを特徴とする磁気ヘッドコアの製造方
    法。
  2. (2)前記軟磁性膜の蒸着源材料が鉄60〜70wt%
    、アルミニウム3〜6wt%、硅素20〜30wt%の
    割合で構成されていることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項に記載の磁気ヘッドコアの製造方法。
JP4575186A 1986-02-28 1986-02-28 磁気ヘツドコアの製造方法 Granted JPS62202307A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0360055A1 (en) * 1988-09-02 1990-03-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Soft-magnetic film having high saturation magnetic-flux density and magnetic head utilizing the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0360055A1 (en) * 1988-09-02 1990-03-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Soft-magnetic film having high saturation magnetic-flux density and magnetic head utilizing the same
US5091266A (en) * 1988-09-02 1992-02-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Soft-magnetic film having saturation magnetic-flux density and magnetic head utilizing the same

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