JPS62189503A - 圧延ラインの自動厚み測定装置 - Google Patents
圧延ラインの自動厚み測定装置Info
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- JPS62189503A JPS62189503A JP61030438A JP3043886A JPS62189503A JP S62189503 A JPS62189503 A JP S62189503A JP 61030438 A JP61030438 A JP 61030438A JP 3043886 A JP3043886 A JP 3043886A JP S62189503 A JPS62189503 A JP S62189503A
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- JP
- Japan
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- thickness
- rolling
- rolling line
- deviation
- measuring instrument
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 7
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 abstract description 5
- 239000002699 waste material Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B37/00—Control devices or methods specially adapted for metal-rolling mills or the work produced thereby
- B21B37/16—Control of thickness, width, diameter or other transverse dimensions
- B21B37/165—Control of thickness, width, diameter or other transverse dimensions responsive mainly to the measured thickness of the product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Control Of Metal Rolling (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、鉄鋼プラント等の圧延ラインの自動厚み測
定装置(以下、AGCと略称)に関するものである。
定装置(以下、AGCと略称)に関するものである。
第2図は一般的なX−RAM(X線)AGCの概略図で
、図において、12は厚み計、13は厚み計12によっ
て検出された厚み偏差分を修正する圧下装置、14は圧
延機、15は圧延材料で、材料の進行方向は矢印の通り
である。また、第3図に従来のX−几AY−AGCのブ
ロック図を示す。図において、1aは厚み偏差、2は圧
延機14から厚み計12に達する迄のむだ時間、3は影
響係数A、4は変換ゲイン、10は積分要素、11は圧
下系位置制御ループである。
、図において、12は厚み計、13は厚み計12によっ
て検出された厚み偏差分を修正する圧下装置、14は圧
延機、15は圧延材料で、材料の進行方向は矢印の通り
である。また、第3図に従来のX−几AY−AGCのブ
ロック図を示す。図において、1aは厚み偏差、2は圧
延機14から厚み計12に達する迄のむだ時間、3は影
響係数A、4は変換ゲイン、10は積分要素、11は圧
下系位置制御ループである。
次に動作について説明する。まず、圧延機14によって
圧延された圧延材料15の厚みを厚み計12で測定し、
その偏差分をむだ時間2、影響係数3、変換ゲイン4、
積分要素10等の伝達関数を用いて演算された制御信号
を圧下位置制御ループ11に与える。圧下位置制御ルー
プ11では位置偏差が零となるようにローラ巾を制御す
る。
圧延された圧延材料15の厚みを厚み計12で測定し、
その偏差分をむだ時間2、影響係数3、変換ゲイン4、
積分要素10等の伝達関数を用いて演算された制御信号
を圧下位置制御ループ11に与える。圧下位置制御ルー
プ11では位置偏差が零となるようにローラ巾を制御す
る。
従来の圧延ラインの自動厚み測定装置におけるX−RA
Y−AGCは以上のように構成されているので、圧下位
置制御ループの応答性によって直ちにX−几AY−AG
Cの安定度が決定される為、X−RAM−AGCの制御
応答を速くできない、又は圧下位置制御を行なう為オフ
セットが発生する等の問題点があった。
Y−AGCは以上のように構成されているので、圧下位
置制御ループの応答性によって直ちにX−几AY−AG
Cの安定度が決定される為、X−RAM−AGCの制御
応答を速くできない、又は圧下位置制御を行なう為オフ
セットが発生する等の問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消する為になされた
もので、制御応答を速くすることができ、かつオフセッ
トのない圧延ラインの自動厚み測定装置を得ることを目
的とする。
もので、制御応答を速くすることができ、かつオフセッ
トのない圧延ラインの自動厚み測定装置を得ることを目
的とする。
この発明に係るX−RAMを用いた圧延ラインの自動厚
み測定装置は制御応答を高め、オフセットをなくす為に
圧下位置制御ループを取部外すようにしたものである。
み測定装置は制御応答を高め、オフセットをなくす為に
圧下位置制御ループを取部外すようにしたものである。
この発明におけるX−RAY @AGCは圧下位置制御
ループを取外すことKよシ、X−RAY・AGCの制御
応答性を改善し、オフセットもなくすことができる。
ループを取外すことKよシ、X−RAY・AGCの制御
応答性を改善し、オフセットもなくすことができる。
〔実施例〕
以下この発明の一実施例を図について説明する。
図中1.第2図と同一の部分は同一の符号をもって図示
した第1図において、1は目標厚み、5はX−RAY−
AGCゲイン、6は圧下駆動時定数、7は圧下位置変換
ゲイン、8は影響係数B、9は出力厚み偏差、9aは前
回の厚み値、9bは今回の厚み値である。
した第1図において、1は目標厚み、5はX−RAY−
AGCゲイン、6は圧下駆動時定数、7は圧下位置変換
ゲイン、8は影響係数B、9は出力厚み偏差、9aは前
回の厚み値、9bは今回の厚み値である。
次に動作について説明する。まず、目標厚み1と今回厚
み値9bとの偏差を圧延機から厚み計12に達する迄の
むだ時間2、影響係数A1変換ゲイン4の伝達係数を用
いることにより厚み偏差を圧下位置に変換して圧下位置
13を1つの伝達関数として扱うことにより、従来圧下
位置制御ループ11によって制御されていたX−RAM
−AGCの応答性が改善される。
み値9bとの偏差を圧延機から厚み計12に達する迄の
むだ時間2、影響係数A1変換ゲイン4の伝達係数を用
いることにより厚み偏差を圧下位置に変換して圧下位置
13を1つの伝達関数として扱うことにより、従来圧下
位置制御ループ11によって制御されていたX−RAM
−AGCの応答性が改善される。
また、厚み制御となるため、従来性われていた厚み偏差
のオフセットもなくなる。尚、この発明で適用される厚
み値算出の演算式は下記(1)式で示される。
のオフセットもなくなる。尚、この発明で適用される厚
み値算出の演算式は下記(1)式で示される。
・・・・・・・・・由 (1)
また、(1)式における圧下駆動時定数(1+Ts)。
6は従来の圧下位置制御ループ時定数(□)。
1+Ts
11の約/10と小さくなるためX−几AY−AGCゲ
イン(Gl) 、 5を大きくしても系が不安定となる
ことはな(X−RAM−AGCの応答が改善されること
になる。
イン(Gl) 、 5を大きくしても系が不安定となる
ことはな(X−RAM−AGCの応答が改善されること
になる。
上記実施例ではX−凡人Yを用いた圧延ラインの自動厚
み測定装置について説明したが、フィードバック位置制
御であれば、上記実施例と同様の効果を奏する。
み測定装置について説明したが、フィードバック位置制
御であれば、上記実施例と同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、X−RAMを用いた
圧延ラインの自動厚み測定装置の構成をマイナーループ
なしの一巡伝達関数として制御系を構成したので、応答
性の高い圧延ラインと、厚み偏差によるオフセットのな
い自動厚み測定装置が得られる効果がある。
圧延ラインの自動厚み測定装置の構成をマイナーループ
なしの一巡伝達関数として制御系を構成したので、応答
性の高い圧延ラインと、厚み偏差によるオフセットのな
い自動厚み測定装置が得られる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による圧延ラインの自動厚
み測定装置のブロック図、第2図ばX−RAY−AGC
の概略説明図、第3図は従来の圧延ライン自動厚み測定
装置のブロック図である。 図において、1は目標厚み、2は圧延機から厚み計に達
する迄のむだ時間、3は影響係数A、 4は変換ゲイン
、5はX−RAY−AGCゲイン、8は影響係数B、9
は出力厚み偏差、12は厚み計、13は圧下装置、14
は圧延機、15は圧延材料である。 特許出願人 三菱電機株式会社 一−□。 代理人 弁理士 1)澤 博 昭 (外2名) 第1図 第3図
み測定装置のブロック図、第2図ばX−RAY−AGC
の概略説明図、第3図は従来の圧延ライン自動厚み測定
装置のブロック図である。 図において、1は目標厚み、2は圧延機から厚み計に達
する迄のむだ時間、3は影響係数A、 4は変換ゲイン
、5はX−RAY−AGCゲイン、8は影響係数B、9
は出力厚み偏差、12は厚み計、13は圧下装置、14
は圧延機、15は圧延材料である。 特許出願人 三菱電機株式会社 一−□。 代理人 弁理士 1)澤 博 昭 (外2名) 第1図 第3図
Claims (1)
- 圧延ラインでの材料厚みを測定する厚み計フィードバッ
クAGCにおいて、前記圧延ラインに仕掛けた厚み計の
圧下系位置フィードバックループを形成する圧延機から
厚み計に達する迄のむだ時間、影響係数及び変換ゲイン
の伝達関数を取り除き、材料厚み偏差を圧延機の圧下位
置に変換し、該圧下位置を一つの伝達関数として制御系
を構成したことを特徴とする圧延ラインの自動厚み測定
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61030438A JPS62189503A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | 圧延ラインの自動厚み測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61030438A JPS62189503A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | 圧延ラインの自動厚み測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62189503A true JPS62189503A (ja) | 1987-08-19 |
Family
ID=12303945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61030438A Pending JPS62189503A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | 圧延ラインの自動厚み測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62189503A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104942017A (zh) * | 2015-05-08 | 2015-09-30 | 北京首钢股份有限公司 | 冷轧带钢横向厚差的确定方法 |
-
1986
- 1986-02-14 JP JP61030438A patent/JPS62189503A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104942017A (zh) * | 2015-05-08 | 2015-09-30 | 北京首钢股份有限公司 | 冷轧带钢横向厚差的确定方法 |
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