JPS62188655A - Device for grinding outer periphery of wafer - Google Patents

Device for grinding outer periphery of wafer

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JPS62188655A
JPS62188655A JP61027233A JP2723386A JPS62188655A JP S62188655 A JPS62188655 A JP S62188655A JP 61027233 A JP61027233 A JP 61027233A JP 2723386 A JP2723386 A JP 2723386A JP S62188655 A JPS62188655 A JP S62188655A
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JP
Japan
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rotary table
wafer
lower rotary
axis
feed arm
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JP61027233A
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Akira Kawaguchi
章 川口
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Mitsubishi Metal Corp
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Mitsubishi Metal Corp
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Publication date
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  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)

Abstract

PURPOSE:To rapidly replace a wafer and greatly reduce a machining cycle by providing two conveying devices which do not interfere with a vertically moving lower rotary table. CONSTITUTION:A U-shaped, cut-out and curvedly recessed part 12 which is larger than the radius of a lower rotary table 2 is provided on a feed arm 11. The belts 15, 15 of a belt conveyor 8 are positioned on both right and left ends of the lower rotary table 2, with which both the belt do not interfere. The lower rotary table 2 is lowered down to the lowering end and the feed arm 11 on which a wafer 3 is placed is advanced and, by stopping vacuum suction, as the table 2 is lifted up, the wafer 3 is placed on top of the table 2 and held in between upper and lower tables 1, 2. In this condition, the outer periphery of the wafer 3 is ground by a grinding device 4. Meanwhile, the feed arm 11 is returned to its original position and the next wafer is placed on it. When the machining is finished, the table 2 is lowered and the wafer 3 is translocated onto the belt conveyor 8 and sent out rearward.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体ウェーハの挿入、取出しを行う搬送
装置を備えたウェーハの外周研削装置に関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a wafer peripheral grinding device equipped with a transfer device for inserting and removing a semiconductor wafer.

[従来の技術] 従来、この種の研削装置としては第3図に示すような外
周研削装置が知られている。
[Prior Art] Conventionally, as this type of grinding device, a peripheral grinding device as shown in FIG. 3 is known.

この図に示す外周研削装置は、軸線を上下方向に向けて
配置された上部回転テーブルlと、この上部回転テーブ
ルlと軸線Xを一致させ、かつ、上下方向に移動自在に
配置された下部回転テーブル2と、上部回転テーブル1
と下部回転テーブルリ  □】、  ン・1・++17
IIhヨb  +  JM  fi・11Z  aテ瞥
’  H・^ ・r  ・1、リ lTy  /+I 
 r)1を研削加工する研削装置4と、上下方向と上記
軸線Xに対して接近離間する方向へ移動自在なフィーダ
5とから概略構成されたものであって、半導体ウェーハ
3をフィーダ5の真空パッド6に吸着固定して移送し、
これを下部回転テーブル2の上面に載置した後、下部回
転テーブル2を上昇させて半導体ウェーハ3を上下の回
転テーブル1.2によって挾持し、これらを回転させな
がら研削装置4によって半導体ウェーハ3の外周を研削
加工することができろようになっている。
The outer circumferential grinding device shown in this figure has an upper rotary table l arranged with its axis directed in the vertical direction, and a lower rotary table arranged such that the upper rotary table l and the axis X coincide with each other and are arranged to be movable in the vertical direction. Table 2 and upper rotating table 1
and lower rotating table □], N・1・++17
IIh yob + JM fi・11Z ate glance' H・^ ・r ・1, ri lTy /+I
r) A grinding device 4 for grinding the semiconductor wafer 1, and a feeder 5 that is movable in the vertical direction and in the direction toward and away from the axis X, and the semiconductor wafer 3 is placed in the vacuum of the feeder 5. It is adsorbed and fixed on the pad 6 and transferred.
After placing this on the upper surface of the lower rotary table 2, the lower rotary table 2 is raised and the semiconductor wafer 3 is held between the upper and lower rotary tables 1.2, and while rotating these, the semiconductor wafer 3 is The outer periphery can be ground.

そして、研削加工された半導体ウェーハ3は、フィーダ
5によって下部回転テーブル2から取り出されるととも
に、未加工の半導体ウェーハがフィーダ5によって下部
回転テーブル2の上面に載置され、このようにして多数
の半導体ウェーハを連続的に研削加工することができる
ようになっている。
The ground semiconductor wafer 3 is taken out from the lower rotary table 2 by the feeder 5, and the unprocessed semiconductor wafer is placed on the upper surface of the lower rotary table 2 by the feeder 5. It is now possible to grind wafers continuously.

[発明が解決しようとする問題点コ ところが、上記構成の外周研削装置では、フィーダによ
って半導体ウェーハの挿入と取出しとを行うように構成
されているため、フィーダの動作が多くなり、サイクル
タイムが長くなるという問題があった。すなわち、フィ
ーダには、水平方向と上下方向へ移動しつつ下部回転テ
ーブルに載置された加工済みの半導体ウェーハを吸着パ
ッドに固定して取り出し、未加工の半導体ウェーハを下
部回転テーブルに載置するという一連の動作が必要とな
り、その間研削加工の作業を停止しなければならないの
である。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the peripheral grinding device having the above configuration, the semiconductor wafer is inserted and taken out by the feeder, which increases the number of operations of the feeder and increases the cycle time. There was a problem. That is, the feeder moves horizontally and vertically to take out processed semiconductor wafers placed on a lower rotary table while being fixed to a suction pad, and places unprocessed semiconductor wafers on the lower rotary table. This requires a series of operations, during which the grinding process must be stopped.

[発明の目的] この発明は、上記問題を解決するためになされたもので
、フィーダの動作を少なくすることができ、これによっ
て、加工済みの半導体ウェーハと未加工の半導体ウェー
ハを迅速に交換することができ、研削加工のサイクルタ
イムを短縮することができるウェーハの外周研削装置を
提供することを目的とする。
[Object of the Invention] This invention was made to solve the above problem, and it is possible to reduce the operation of the feeder, thereby quickly exchanging processed semiconductor wafers and unprocessed semiconductor wafers. It is an object of the present invention to provide a wafer outer peripheral grinding device that can reduce the cycle time of grinding processing.

[問題点を解決するための手段] この発明のウェーハの外周研削装置は、ウェーハを下部
回転テーブルの上面に載置し、かつ、ウェーハを下部回
転テーブルの上面から取り出す搬送装置を、上面にウェ
ーハが載置され、上記軸線に対して接近離間する方向へ
移動自在に設けられるとともに、上記上部回転テーブル
と上記下部回転テーブルとの間に位置したときに上下動
する下部回転テーブルが干渉しないように軸線と交差す
る部分が開放された第1の搬送手段と、この第1の搬送
手段と下部回転テーブルとの間の上記軸線と交差する位
置に設けられ、上下動する下部回転テーブルが干渉しな
いように構成された第2の搬送手段とから構成したもの
である。
[Means for Solving the Problems] The wafer peripheral grinding apparatus of the present invention places the wafer on the upper surface of the lower rotary table, and includes a transfer device for taking out the wafer from the upper surface of the lower rotary table. is placed thereon so as to be movable toward and away from the axis, and to prevent interference with the lower rotary table that moves up and down when positioned between the upper rotary table and the lower rotary table. A first conveying means whose portion intersecting the axis is open, and a first conveying means provided at a position intersecting the axis between the first conveying means and the lower rotary table so that the lower rotary table that moves up and down does not interfere with each other. and a second conveying means configured as shown in FIG.

[実施例〕 第1図および第2図はこの発明の一実施例を示す図であ
る。なお、図において従来のものと同一の構成要素には
同符号を付し、その説明を省略する。
[Embodiment] FIGS. 1 and 2 are diagrams showing an embodiment of the present invention. In the drawings, the same components as those of the conventional one are given the same reference numerals, and the explanation thereof will be omitted.

これらの図に示ずウェーハの外形研削装置は、未加工の
半導体ウェーハを下部回転テーブルに載置するとともに
、加工済みの半導体ウェーハを下部回転テーブルから取
り出すための搬送装置を、フィーダ7とベルトコンベア
(第2の搬送手段)8とから構成したものである。
The wafer contour grinding device (not shown in these figures) places unprocessed semiconductor wafers on a lower rotary table, and also has a conveyor device for taking out processed semiconductor wafers from the lower rotary table, which is connected to a feeder 7 and a belt conveyor. (Second conveyance means) 8.

まず、フィーダ7について説明すると、図にお°いて符
号9は骨組みとなるフレームである。このフレーム9に
は、軸線を前後方向(図において左右方向)に向けた軸
lOが配置されている。そして、軸10には、上部回転
テーブルlと下降端における下部回転テーブル2の中間
に位置させたフィードアーム(第1の搬送手段)11が
、軸10の長手方向へ移動自在に支持されている。フィ
ードアーム11は、その上面に載置された半導体ウェー
ハ3を下部回転テーブル2側へ移送するものであって、
その上面には、半導体ウェーハ3を吸着固定するための
多数の真空吸引孔(図示せず)が開口せしめられている
First, the feeder 7 will be explained. In the figure, reference numeral 9 is a frame serving as a skeleton. This frame 9 is provided with an axis lO whose axis is directed in the front-rear direction (left-right direction in the figure). A feed arm (first conveyance means) 11 is supported on the shaft 10 so as to be movable in the longitudinal direction of the shaft 10, which is located between the upper rotary table l and the lower rotary table 2 at the lower end. . The feed arm 11 is for transferring the semiconductor wafer 3 placed on its upper surface to the lower rotary table 2 side,
A large number of vacuum suction holes (not shown) for suctioning and fixing the semiconductor wafer 3 are opened on its upper surface.

また、フィードアーム11には、その壁部が先端部から
後端にわたってU字状に切欠かれてなる凹曲面部12が
形成されている。この凹曲面部I2の曲率半径は、下部
回転テーブル2の半径よりも大きく設定されている。そ
して、フィードアーム11の前進端において、凹曲面部
12の曲率中心と上部回転テーブル!の軸線Xとが一致
するようになっている。これによって、フィードアーム
11は上下動する下部回転テーブル2に干渉しないよう
になっている。
Further, the feed arm 11 is formed with a concave curved surface portion 12 formed by cutting out the wall portion in a U-shape from the tip end to the rear end. The radius of curvature of this concave curved surface portion I2 is set larger than the radius of the lower rotary table 2. Then, at the forward end of the feed arm 11, the center of curvature of the concave curved surface portion 12 and the upper rotary table! The axis line X of the two lines coincides with each other. This prevents the feed arm 11 from interfering with the lower rotary table 2, which moves up and down.

次に、ベルトコンベア8について説明すると、フレーム
9の先端部には、軸線を左右方向に向けた従動軸13が
回転自在に支持されている。また、この従動軸13の後
段には、従動軸13よりも下方に位置させた従動軸I4
が回転自在に支持されている。そして、これら2つの従
動軸13.14の両端部には、ベルト■5・15が巻回
されている。これらベルト15・15は、その取付状態
において、前進端におけるフィードアームl!と下降端
における下部回転テーブル2の中間に位置している。ま
た、各ベルトI5・!5は、下部回転テーブル2の左右
両側に位置している。これによって、ベルト!5は、上
下動する下部回転テーブル2に干渉しないようになって
いる。さらに、従動軸14の後段には、駆動軸(図示せ
ず)が配置されており、その駆動軸と従動軸14の両端
部にベルhlf3・16が巻回されている。このような
ヘルドコンベア8は、ベルト!5・15上に載置された
半導体ウェーハ3を後方へ移送するものであって、研削
加工を行う際には、常時運転されろようになっている。
Next, the belt conveyor 8 will be described. A driven shaft 13 whose axis is oriented in the left-right direction is rotatably supported at the tip of the frame 9. In addition, a driven shaft I4 located below the driven shaft 13 is provided at the downstream stage of the driven shaft 13.
is rotatably supported. Belts 5 and 15 are wound around both ends of these two driven shafts 13 and 14. In the attached state, these belts 15, 15 are attached to the feed arm l! at the forward end. and the lower rotary table 2 at the lower end. Also, each belt I5! 5 are located on both left and right sides of the lower rotary table 2. With this, the belt! 5 is designed not to interfere with the lower rotary table 2 which moves up and down. Further, a drive shaft (not shown) is disposed downstream of the driven shaft 14, and bells hlf3 and 16 are wound around both ends of the drive shaft and the driven shaft 14. This kind of heald conveyor 8 is a belt! It transports the semiconductor wafer 3 placed on the wafer 5/15 to the rear, and is designed to be constantly operated when grinding is performed.

このように構成されたウェーハの外周研削装置において
、半導体ウェーハ3を連続的に研削加工するには、まず
、下部回転テーブル2を下降端まで下降させた状態で、
上面に半導体ウェーハ3を載置したフィードアーム11
をその前進端まで移動させる。次に、フィードアームl
!の真空吸引を停止し、半導体ウェーハ3がフィードア
ームllから外れる状態にしておき、下部回転テーブル
2を上昇させる。すると、半導体ウェーハ3が下部回転
テーブル2の上面に乗り移り、そのまま上昇して上下の
回転テーブル1.2によって挾持される。この状態で上
下の回転テーブル!、2を回転させながら研削装置4に
よって半導体ウェーハ3の外周を研削加工する。
In the wafer outer circumferential grinding apparatus configured as described above, in order to continuously grind the semiconductor wafer 3, first, the lower rotary table 2 is lowered to the lower end, and then
Feed arm 11 with semiconductor wafer 3 placed on the top surface
to its forward end. Next, feed arm l
! The vacuum suction is stopped, the semiconductor wafer 3 is left in a state where it is removed from the feed arm 11, and the lower rotary table 2 is raised. Then, the semiconductor wafer 3 is transferred to the upper surface of the lower rotary table 2, rises as it is, and is held between the upper and lower rotary tables 1.2. In this state, the upper and lower rotating table! , 2 are rotated while the outer periphery of the semiconductor wafer 3 is ground by the grinding device 4.

その間に、フィードアーム11を後退させ、その上面に
次に加工する半導体ウェーハを載置しておく。そして、
半導体ウェーハ3の研削加工が終了すると下部回転テー
ブル2を下降させる。すると、加工済みの半導体ウェー
ハ3は、ベルトコンベア8に乗り移り、後方へ移送され
る。そしてその間に、フィードアーム11をその前進端
まで移動させておく。このようにして、半導体ウェーハ
3を順次研削加工する。
In the meantime, the feed arm 11 is retreated, and a semiconductor wafer to be processed next is placed on its upper surface. and,
When the grinding process of the semiconductor wafer 3 is completed, the lower rotary table 2 is lowered. Then, the processed semiconductor wafer 3 is transferred to the belt conveyor 8 and transported to the rear. During this time, the feed arm 11 is moved to its forward end. In this way, the semiconductor wafers 3 are sequentially ground.

上記構成のウェーハの外周研削装置にあっては、下部回
転テーブル2の上昇によって半導体ウェーハ3をフィー
ドアーム11から乗り移らせ、下部回転テーブル2の下
降によって加工済みの半導体ウェーハ3をベルトコンベ
ア8に乗り移らせるように構成しているので、下部回転
テーブル2の上下動に要する時間だけで、半導体ウェー
ハ3の挿入、取出しを行うことができ、半導体ウェーハ
の外周研削のサイクルタイムを著しく短縮することがで
きる。
In the wafer outer circumferential grinding apparatus having the above configuration, the semiconductor wafer 3 is transferred from the feed arm 11 by raising the lower rotary table 2, and the processed semiconductor wafer 3 is transferred to the belt conveyor 8 by lowering the lower rotary table 2. Since it is configured so that it can be transferred, the semiconductor wafer 3 can be inserted and removed only in the time required to move the lower rotary table 2 up and down, and the cycle time for grinding the outer periphery of the semiconductor wafer can be significantly shortened. I can do it.

なお−ト流側宙施例では、第2の搬送手段をベルトコン
ベア8としているが、このような構成に限るものではな
く、例えば、フィーダ7と同一の構成のものを配置して
もよい。
In the embodiment on the flow side, the second conveying means is the belt conveyor 8, but the structure is not limited to this, and for example, a belt conveyor 8 having the same structure as the feeder 7 may be arranged.

[発明の効果コ 以上説明したようにこの発明のウェーハの外周研削装置
においては、ウェーハを下部回転テーブルの上面に載置
し、かつ、ウェーハを下部回転テーブルの上面から取り
出す搬送装置を、上面にウェーハが載置され、上記軸線
に対して接近離間する方向へ移動自在に設けられるとと
もに、上記上部回転テーブルと上記下部回転テーブルと
の間に位置したときに上下動する下部回転テーブルが干
渉しないように軸線と交差する部分が開放された第1の
搬送手段と、この第1の搬送手段と下部回転テーブルと
の間の上記軸線と交差する位置に設けられ、上下動する
下部回転テーブルが干渉しないように構成された第2の
搬送手段とから構成しているので、加工済みの半導体ウ
ェーハと未加工の半導体ウェーハを迅速に交換すること
ができ、研削加工のサイクルタイムを著しく短縮するこ
とかできるという効果が得られる。
[Effects of the Invention] As explained above, in the wafer peripheral grinding apparatus of the present invention, the wafer is placed on the upper surface of the lower rotary table, and the transfer device for taking out the wafer from the upper surface of the lower rotary table is mounted on the upper surface. The wafer is placed thereon and is provided so as to be movable toward and away from the axis, and to prevent interference with the lower rotary table that moves up and down when positioned between the upper rotary table and the lower rotary table. A first conveyance means whose portion intersecting the axis is open, and a lower rotary table which is provided at a position intersecting the axis between the first conveyance means and the lower rotary table and which moves up and down, does not interfere with each other. Since the second conveying means is configured as shown in FIG. This effect can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図は本発明の一実施例を示す図であっ
て、第1図はウェーハの外周研削装置を示す第2図にお
けるI−1線視断面図、第2図は第1図の■方向矢視図
、第3図は従来のウェーハの外周研削装置の一例を示す
側断面図である。 !・・上部回転テーブル、 2・・下部回転テーブル、 3・・半導体ウェーハ、 4・・研削装置、 5・・フィーダ(搬送装置)、
1 and 2 are diagrams showing one embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is a sectional view taken along the line I-1 in FIG. FIG. 3 is a side sectional view showing an example of a conventional wafer outer peripheral grinding apparatus. ! ... Upper rotary table, 2. Lower rotary table, 3. Semiconductor wafer, 4. Grinding device, 5. Feeder (conveying device),

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 軸線を上下方向に向けて設けられた上部回転テーブルと
、この上部回転テーブルに軸線を一致させるとともに、
上下方向へ移動自在に設けられた下部回転テーブルと、
この下部回転テーブルと上記上部回転テーブルとによっ
て挾持されたウェーハの外周を研削加工する研削装置と
、上記ウェーハを上記下部回転テーブルの上面に載置し
、かつ、ウェーハを下部回転テーブルの上面から取り出
す搬送装置とを具備してなるウェーハの外周研削装置に
おいて、上記搬送装置は、上面にウェーハが載置され、
上記軸線に対して接近離間する方向へ移動自在に設けら
れるとともに、上記上部回転テーブルと上記下部回転テ
ーブルとの間に位置したときに上下動する下部回転テー
ブルが干渉しないように軸線と交差する部分が開放され
た第1の搬送手段と、この第1の搬送手段と下部回転テ
ーブルとの間の上記軸線と交差する位置に設けられ、上
下動する下部回転テーブルが干渉しないように軸線と交
差する部分が開放された第2の搬送手段とからなること
を特徴とするウェーハの外周研削装置。
The upper rotary table is provided with its axis directed in the vertical direction, and the axis is aligned with this upper rotary table,
A lower rotary table that is movable in the vertical direction,
A grinding device that grinds the outer periphery of a wafer held between the lower rotary table and the upper rotary table, and a grinding device that places the wafer on the upper surface of the lower rotary table and takes out the wafer from the upper surface of the lower rotary table. A wafer outer peripheral grinding apparatus comprising a transport device, wherein the transport device has a wafer placed on its upper surface,
A portion that is movable toward and away from the axis, and that intersects with the axis so that the lower rotary table that moves up and down does not interfere when positioned between the upper rotary table and the lower rotary table. is provided at a position intersecting the above-mentioned axis line between the first conveying means with the first conveying means opened and the first conveying means and the lower rotary table, and intersects the axis line so that the lower rotary table that moves up and down does not interfere. A wafer outer peripheral grinding apparatus comprising a second conveying means having a partially open portion.
JP61027233A 1986-02-10 1986-02-10 Device for grinding outer periphery of wafer Granted JPS62188655A (en)

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JPS62188655A true JPS62188655A (en) 1987-08-18
JPH0346260B2 JPH0346260B2 (en) 1991-07-15

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106808344A (en) * 2015-12-01 2017-06-09 保文明 Flat turn stone material lines double-purpose continuous grinder

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59183328U (en) * 1983-05-17 1984-12-06 不二越機械工業株式会社 grinding equipment
JPS6059110A (en) * 1983-09-12 1985-04-05 Kanebo Silk Eregansu Kk Yarn reeler

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