JPH0346260B2 - - Google Patents

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JPH0346260B2
JPH0346260B2 JP61027233A JP2723386A JPH0346260B2 JP H0346260 B2 JPH0346260 B2 JP H0346260B2 JP 61027233 A JP61027233 A JP 61027233A JP 2723386 A JP2723386 A JP 2723386A JP H0346260 B2 JPH0346260 B2 JP H0346260B2
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JP
Japan
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rotary table
lower rotary
wafer
grinding device
vertical direction
Prior art date
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JP61027233A
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Akira Kawaguchi
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Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体ウエーハの挿入、取出しを
行う搬送装置を備えたウエーハの外周研削装置に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a wafer peripheral grinding device equipped with a conveying device for inserting and removing a semiconductor wafer.

[従来の技術] 従来、この種の研削装置としては第3図に示す
ような外周研削装置が知られている。
[Prior Art] Conventionally, as this type of grinding device, a peripheral grinding device as shown in FIG. 3 is known.

この図に示す外周研削装置は、軸線を上下方向
に向けて配置された上部回転テーブル1と、この
上部回転テーブル1と軸線Xを一致させ、かつ、
上下方向に移動自在に配置された下部回転テーブ
ル2と、上部回転テーブル1と下部回転テーブル
2とによつて挾持された半導体ウエーハ3の外周
を研削加工する研削装置4と、上下方向と上記軸
線Xに対して接近離間する方向へ移動自在なフイ
ーダ5とから概略構成されたものであつて、半導
体ウエーハ3をフイーダ5の真空パツド6に吸着
固定して移送し、これを下部回転テーブル2の上
面に載置した後、下部回転テーブル2を上昇させ
て半導体ウエーハ3を上下の回転テーブル1,2
によつて挾持し、これらを回転させながら研削装
置4によつて半導体ウエーハ3の外周を研削加工
することができるようになつている。
The outer circumferential grinding device shown in this figure has an upper rotary table 1 arranged with its axis directed in the vertical direction, and an axis X that is aligned with the upper rotary table 1, and
A lower rotary table 2 arranged to be movable in the vertical direction, a grinding device 4 for grinding the outer periphery of a semiconductor wafer 3 held between the upper rotary table 1 and the lower rotary table 2, and The feeder 5 is roughly constructed of a feeder 5 that is movable toward and away from the After placing the semiconductor wafer 3 on the upper surface, the lower rotary table 2 is raised and the semiconductor wafer 3 is placed on the upper and lower rotary tables 1 and 2.
The outer periphery of the semiconductor wafer 3 can be ground by the grinding device 4 while being held between the wafers and rotating the semiconductor wafers.

そして、研削加工された半導体ウエーハ3は、
フイーダ5によつて下部回転テーブル2から取り
出されるとともに、未加工の半導体ウエーハがフ
イーダ5によつて下部回転テーブル2の上面に載
置され、このようにして多数の半導体ウエーハを
連続的に研削加工することができるようになつて
いる。
Then, the ground semiconductor wafer 3 is
The unprocessed semiconductor wafers are taken out from the lower rotary table 2 by the feeder 5, and the unprocessed semiconductor wafers are placed on the upper surface of the lower rotary table 2 by the feeder 5. In this way, a large number of semiconductor wafers are continuously ground. It is becoming possible to do so.

[発明が解決しようとする問題点] ところが、上記構成の外周研削装置では、フイ
ーダによつて半導体ウエーハの挿入と取出しとを
行うように構成されているため、フイーダの動作
が多くなり、サイクルタイムが長くなるという問
題があつた。すなわち、フイーダには、水平方向
と上下方向へ移動しつつ下部回転テーブルに載置
された加工済みの半導体ウエーハを吸着パツドに
固定して取り出し、未加工の半導体ウエーハを下
部回転テーブルに載置するという一連の動作が必
要となり、その間研削加工の作業を停止しなけれ
ばならないのである。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the outer periphery grinding device having the above configuration, the feeder is used to insert and take out semiconductor wafers, so the feeder has to operate frequently, which reduces the cycle time. There was a problem with the length of time. That is, the feeder moves horizontally and vertically to take out processed semiconductor wafers placed on a lower rotary table while fixing them to suction pads, and places unprocessed semiconductor wafers on the lower rotary table. This requires a series of operations, during which the grinding process must be stopped.

[発明の目的] この発明は、上記問題を解決するためになされ
たもので、フイーダの動作を少なくすることがで
き、これによつて、加工済みの半導体ウエーハと
未加工の半導体ウエーハを迅速に交換することが
でき、研削加工のサイクルタイムを短縮すること
ができるウエーハの外周研削装置を提供すること
を目的とする。
[Purpose of the Invention] This invention was made to solve the above problem, and it is possible to reduce the movement of the feeder, thereby quickly transferring processed semiconductor wafers and unprocessed semiconductor wafers. It is an object of the present invention to provide a wafer outer circumferential grinding device that can be replaced and can shorten the cycle time of grinding.

[問題点を解決するための手段] この発明のウエーハの外周研削装置において
は、ウエーハを下部回転テーブルの上面に載置
し、かつウエーハを下部回転テーブルの上面から
取り出す搬送装置が、 上面にウエーハが載置され、各テーブルの軸線
に対して接近離間する方向へ移動自在に設けられ
た第1の搬送手段と、 この第1の搬送手段と下部回転テーブルの降下
位置との間において、下部回転テーブルの昇降軸
線の両側に平行かつ対称に配置された一対の搬送
ベルトを有する第2の搬送手段とからなり、 前記第1の搬送手段には、第1の搬送手段が上
部回転テーブルと下部回転テーブルとの間に位置
した状態で下部回転テーブルが上下方向へ通過可
能、かつ第1の搬送手段が前記位置にあり下部回
転テーブルが上昇した状態で第1の搬送手段の後
退が可能な形状の開口部が形成され、 前記各搬送ベルトの間には、下部回転テーブル
が上下方向に通過可能で、かつこれら搬送ベルト
の間にウエーハを掛け渡して載置しうる間隔が空
けられていることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In the wafer outer circumferential grinding apparatus of the present invention, the transfer device that places the wafer on the upper surface of the lower rotary table and takes out the wafer from the upper surface of the lower rotary table has a wafer on the upper surface. A first conveying means on which a rotary table is placed and movable toward and away from the axis of each table, and a lower rotary a second conveying means having a pair of conveyor belts arranged parallel and symmetrically on both sides of the vertical axis of the table, and the first conveying means has an upper rotating table and a lower rotating table. The shape is such that the lower rotary table can pass in the vertical direction while being positioned between the table and the first conveying means can move backward when the first conveying means is in the position and the lower rotary table is raised. An opening is formed between each of the conveyor belts, and a space is provided between each of the conveyor belts through which the lower rotary table can pass in the vertical direction and where a wafer can be placed across the conveyor belts. Features.

[実施例] 第1図および第2図はこの発明の一実施例を示
す図である。なお、図において従来のものと同一
の構成要素には同符号を付し、その説明を省略す
る。
[Embodiment] FIGS. 1 and 2 are diagrams showing an embodiment of the present invention. In the drawings, the same components as those of the conventional one are given the same reference numerals, and the explanation thereof will be omitted.

これらの図に示すウエーハの外周研削装置は、
未加工の半導体ウエーハを下部回転テーブルに載
置するとともに、加工済みの半導体ウエーハを下
部回転テーブルから取り出すための搬送装置を、
フイーダ7とベルトコンベア(第2の搬送手段)
8とから構成したものである。
The wafer peripheral grinding device shown in these figures is
A transport device for placing unprocessed semiconductor wafers on the lower rotary table and taking out processed semiconductor wafers from the lower rotary table.
Feeder 7 and belt conveyor (second conveyance means)
It is composed of 8.

まず、フイーダ7について説明すると、図にお
いて符号9は骨組みとなるフレームである。この
フレーム9には、軸線を前後方向(図において左
右方向)に向けた軸10が配置されている。そし
て、軸10には、上部回転テーブル1と下降端に
おける下部回転テーブル2の中間に位置させたフ
イードアーム(第1の搬送手段)11が、軸10
の長手方向へ移動自在に支持されている。フイー
ドアーム11は、その上面に載置された半導体ウ
エーハ3を下部回転テーブル2側へ移送するもの
であつて、その上面には、半導体ウエーハ3を吸
着固定するための多数の真空吸引孔(図示せず)
が開口せしめられている。
First, the feeder 7 will be explained. In the figure, reference numeral 9 is a frame serving as a skeleton. A shaft 10 is disposed on the frame 9 and has an axis oriented in the front-rear direction (left-right direction in the figure). A feed arm (first conveyance means) 11 located between the upper rotary table 1 and the lower rotary table 2 at the lower end is attached to the shaft 10.
It is supported so that it can move freely in the longitudinal direction. The feed arm 11 transfers the semiconductor wafer 3 placed on its upper surface to the lower rotary table 2 side, and has a large number of vacuum suction holes (not shown in the figure) for sucking and fixing the semiconductor wafer 3. figure)
is left open.

また、フイードアーム11には、その壁部が先
端部から後端にわたつてU字状に切欠かれてなる
凹曲面部12が形成されている。この凹曲面部
(開口部)12の曲率半径は、下部回転テーブル
2の半径よりも大きく設定されている。そして、
フイードアーム11の前進端において、凹曲面部
12の曲率中心と上部回転テーブル1の軸線Xと
が一致するようになつている。これによつて、フ
イードアーム11は上下動する下部回転テーブル
2に干渉せず、さらに下部回転テーブル2が上昇
した際にもフイードアーム11がテーブル1,2
側まで進退可能となつている。
Further, the feed arm 11 has a concave curved surface section 12 formed by cutting out a U-shaped wall section from the tip end to the rear end. The radius of curvature of this concave curved surface portion (opening portion) 12 is set to be larger than the radius of the lower rotary table 2. and,
At the forward end of the feed arm 11, the center of curvature of the concave curved surface portion 12 and the axis X of the upper rotary table 1 are aligned. As a result, the feed arm 11 does not interfere with the lower rotary table 2 that moves up and down, and even when the lower rotary table 2 is raised, the feed arm 11 does not interfere with the lower rotary table 2.
It is possible to advance and retreat to the side.

次に、ベルトコンベア8について説明すると、
フレーム9の先端部には、軸線を左右方向に向け
た従動軸13が回転自在に支持されている。ま
た、この従動軸13の後段には、従動軸13より
も下方に位置させた従動軸14が回転自在に支持
されている。そして、これら2つの従動軸13,
14の両端部には、ベルト15,15が巻回され
ている。これらベルト15,15は、その取付状
態において、前進端におけるフイードアーム11
と下降端における下部回転テーブル2の中間に位
置している。また、各ベルト15,15は、下部
回転テーブル2の左右両側に位置している。これ
によつて、ベルト15は、上下動する下部回転テ
ーブル2に干渉しないようになつている。さら
に、従動軸14の後段には、駆動軸(図示せず)
が配置されており、その駆動軸と従動軸14の両
側部にベルト16,16が巻回されている。この
ようなベルトコンベア8は、ベルト15,15上
に載置された半導体ウエーハ3を後方へ移送する
ものであつて、研削加工を行う際には、常時運転
されるようになつている。
Next, the belt conveyor 8 will be explained.
A driven shaft 13 whose axis is oriented in the left-right direction is rotatably supported at the tip of the frame 9 . Further, a driven shaft 14 positioned below the driven shaft 13 is rotatably supported downstream of the driven shaft 13. These two driven shafts 13,
Belts 15, 15 are wound around both ends of 14. In the attached state, these belts 15, 15 are attached to the feed arm 11 at the forward end.
and the lower rotary table 2 at the lower end. Further, each of the belts 15, 15 is located on both the left and right sides of the lower rotary table 2. This prevents the belt 15 from interfering with the lower rotary table 2, which moves up and down. Furthermore, a drive shaft (not shown) is provided downstream of the driven shaft 14.
is arranged, and belts 16, 16 are wound around both sides of the drive shaft and driven shaft 14. Such a belt conveyor 8 transports the semiconductor wafers 3 placed on the belts 15, 15 backward, and is constantly operated when performing grinding processing.

このように構成されたウエーハの外周研削装置
において、半導体ウエーハ3を連続的に研削加工
するには、まず、下部回転テーブル2を下降端ま
で下降させた状態で、上面に半導体ウエーハ3を
載置したフイードアーム11をその前進端まで移
動させる。次に、フイードアーム11の真空吸引
を停止し、半導体ウエーハ3がフイードアーム1
1から外れる状態にしておき、下部回転テーブル
2を上昇させる。すると、半導体ウエーハ3が下
部回転テーブル2の上面に乗り移り、そのまま上
昇して上下の回転テーブル1,2によつて挾持さ
れる。この状態で上下の回転テーブル1,2を回
転させながら研削装置4によつて半導体ウエーハ
3の外周を研削加工する。
In order to continuously grind the semiconductor wafer 3 in the wafer outer circumferential grinding apparatus configured as described above, first, the semiconductor wafer 3 is placed on the upper surface while the lower rotary table 2 is lowered to the lower end. The feed arm 11 is moved to its forward end. Next, the vacuum suction of the feed arm 11 is stopped, and the semiconductor wafer 3 is transferred to the feed arm 1.
1, and raise the lower rotary table 2. Then, the semiconductor wafer 3 is transferred to the upper surface of the lower rotary table 2, rises as it is, and is held between the upper and lower rotary tables 1 and 2. In this state, the outer periphery of the semiconductor wafer 3 is ground by the grinding device 4 while rotating the upper and lower rotary tables 1 and 2.

その間に、フイードアーム11を後退させ、そ
の上面に次に加工する半導体ウエーハを載置して
おく。そして、半導体ウエーハ3の研削加工が終
了すると下部回転テーブル2を下降させる。する
と、加工済みの半導体ウエーハ3は、ベルトコン
ベア8に乗り移り、後方へ移送される。そしてそ
の間に、フイードアーム11をその前進端まで移
動させておく。このようにして、半導体ウエーハ
3を順次研削加工する。
In the meantime, the feed arm 11 is retreated, and the semiconductor wafer to be processed next is placed on its upper surface. Then, when the grinding of the semiconductor wafer 3 is completed, the lower rotary table 2 is lowered. Then, the processed semiconductor wafer 3 is transferred to the belt conveyor 8 and transported to the rear. During this time, the feed arm 11 is moved to its forward end. In this way, the semiconductor wafers 3 are sequentially ground.

上記構成のウエーハの外周研削装置にあつて
は、下部回転テーブル2の上昇によつて半導体ウ
エーハ3をフイードアーム11から乗り移らせ、
下部回転テーブル2の下降によつて加工済みの半
導体ウエーハ3をベルトコンベア8に乗り移らせ
るように構成しているので、下部回転テーブル2
の上下動に要する時間だけで、半導体ウエーハ3
の挿入、取出しを行うことができ、半導体ウエー
ハの外周研削のサイクルタイムを著しく短縮する
ことができる。
In the wafer outer circumferential grinding apparatus having the above configuration, the semiconductor wafer 3 is transferred from the feed arm 11 by raising the lower rotary table 2,
Since the structure is such that the processed semiconductor wafer 3 is transferred to the belt conveyor 8 by lowering the lower rotary table 2, the lower rotary table 2
3 semiconductor wafers in the time required to move up and down
can be inserted and taken out, and the cycle time for grinding the outer periphery of semiconductor wafers can be significantly shortened.

さらに、各ベルト15をウエーハ搬送方向に向
けて傾斜させているため、外周研削に使用した研
削液によつてウエーハ3が下部回転テーブル2に
張り付いていたとしても、下部回転テーブル2の
下降時に、ウエーハ3を一端側から各ベルト15
で持ち上げて、ウエーハ3を破損させることなく
安全に下部回転テーブル2から剥離させ、各ベル
ト15上に乗り移らせることができる。
Furthermore, since each belt 15 is tilted toward the wafer transport direction, even if the wafer 3 is stuck to the lower rotary table 2 due to the grinding fluid used for outer periphery grinding, when the lower rotary table 2 is lowered, , the wafer 3 is attached to each belt 15 from one end side.
The wafer 3 can be safely peeled off from the lower rotary table 2 without damaging the wafer 3 and transferred onto each belt 15.

[発明の効果] 以上説明したように、この発明のウエーハの外
周研削装置によれば、ウエーハ搬入時に、ウエー
ハを載せた第1の搬送手段をテーブル軸線に向け
て前進させたうえ、下部回転テーブルを第1の搬
送手段の開口部を通して上昇させることにより、
ウエーハは下部回転テーブルに乗り移り、上部回
転テーブルとの間で挾持される。また、ウエーハ
搬出時には、下部回転テーブルを両搬送ベルトの
間を通して降下させるだけで、挾持されていたウ
エーハは常時連続走行している搬送ベルトに乗り
移り、次工程に搬送される。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the wafer outer circumferential grinding device of the present invention, when the wafer is carried in, the first conveyance means carrying the wafer is advanced toward the table axis, and the lower rotary table by raising it through the opening of the first conveying means,
The wafer is transferred to the lower rotary table and is held between it and the upper rotary table. Further, when carrying out a wafer, the lower rotary table is simply lowered through the space between both conveyor belts, and the held wafer is transferred to the conveyor belt which is constantly running and conveyed to the next process.

すなわち、この装置では、下部回転テーブルを
第1および第2の搬送手段を通過して昇降するだ
けでウエーハの搬入および搬出が可能であり、加
工済みのウエーハと未加工のウエーハを迅速に交
換することができる。しかも、搬入・搬出のいず
れの場合にも、各部間でのウエーハの乗り移りは
ほぼ瞬間的に行なわれるため、1動作サイクルに
要する時間が短縮でき、処理速度の高速化が図れ
る。さらに第2の搬送手段は、搬送ベルトを常時
連続走行させておくだけでよく、特別の動作制御
が不要であるため、ウエーハの交換に際して動作
制御が必要であるのは、第1の搬送手段の前進後
退動作、および下部回転テーブルの昇降動作のみ
であり、設備コストが安く済む。
That is, with this device, wafers can be loaded and unloaded simply by moving the lower rotary table up and down through the first and second transport means, and processed wafers and unprocessed wafers can be quickly exchanged. be able to. Furthermore, in both cases of loading and unloading, wafers are transferred between each section almost instantaneously, so the time required for one operation cycle can be shortened and processing speed can be increased. Furthermore, the second conveyance means only needs to run the conveyor belt continuously at all times and does not require any special operation control. Therefore, the operation control is required when exchanging wafers only for the first conveyance means. There are only forward and backward movements and lifting and lowering movements of the lower rotary table, so the equipment cost is low.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図は本発明の一実施例を示す
図であつて、第1図はウエーハの外周研削装置を
示す第2図における−線視断面図、第2図は
第1図の方向矢視図、第3図は従来のウエーハ
の外周研削装置の一例を示す側断面図である。 1……上部回転テーブル、2……下部回転テー
ブル、3……半導体ウエーハ、4……研削装置、
7……フイーダ(搬送装置)、8……ベルトコン
ベア(第2の搬送手段)、11……フイードアー
ム(第1の搬送手段)。
1 and 2 are diagrams showing an embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is a sectional view taken along the - line in FIG. 2 showing a wafer outer peripheral grinding device, and FIG. The direction arrow view and FIG. 3 are side sectional views showing an example of a conventional wafer outer peripheral grinding device. 1... Upper rotating table, 2... Lower rotating table, 3... Semiconductor wafer, 4... Grinding device,
7... Feeder (conveyance device), 8... Belt conveyor (second conveyance means), 11... Feed arm (first conveyance means).

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 軸線を上下方向に向けて設けられた上部回転
テーブルと、この上部回転テーブルに軸線を一致
させるとともに、上下方向へ移動自在に設けられ
た下部回転テーブルと、この下部回転テーブルと
前記上部回転テーブルとによつて挾持されたウエ
ーハの外周を研削加工する研削装置と、前記ウエ
ーハを前記下部回転テーブルの上面に載置し、か
つウエーハを下部回転テーブルの上面から取り出
す搬送装置とを具備してなるウエーハの外周研削
装置において、 前記搬送装置は、 上面にウエーハが載置され、前記軸線に対して
接近離間する方向へ移動自在に設けられた第1の
搬送手段と、 この第1の搬送手段と前記下部回転テーブルの
降下位置との間において、下部回転テーブルの昇
降軸線の両側に平行かつ対称に配置された一対の
搬送ベルトを有する第2の搬送手段とからなり、 前記第1の搬送手段には、この第1の搬送手段
が前記上部回転テーブルと下部回転テーブルとの
間に位置した状態で下部回転テーブルが上下方向
へ通過可能、かつ第1の搬送手段が前記位置にあ
り下部回転テーブルが上昇位置にある状態で第1
の搬送手段の後退が可能な形状の開口部が形成さ
れ、 前記各搬送ベルトの間には、前記下部回転テー
ブルが上下方向に通過可能で、かつこれら搬送ベ
ルトの間にウエーハを掛け渡して載置しうる間隔
が空けられていることを特徴とするウエーハの外
周研削装置。
[Scope of Claims] 1. An upper rotary table whose axis is directed in the vertical direction, a lower rotary table whose axis coincides with the upper rotary table and which is movable in the vertical direction, and A grinding device that grinds the outer periphery of a wafer held between a table and the upper rotary table, and a conveying device that places the wafer on the upper surface of the lower rotary table and takes out the wafer from the upper surface of the lower rotary table. A wafer outer circumferential grinding apparatus comprising: a first conveying means on which the wafer is placed and movable in a direction toward and away from the axis; a second conveying means having a pair of conveying belts disposed parallel and symmetrically on both sides of the vertical axis of the lower rotary table between the first conveying means and the lowered position of the lower rotary table; The first conveyance means is configured such that the lower rotary table can pass in the vertical direction while the first conveyance means is positioned between the upper rotary table and the lower rotary table, and the first conveyance means is positioned between the upper rotary table and the lower rotary table. with the lower rotary table in the raised position.
An opening is formed in a shape that allows the transport means to retreat, and between each of the transport belts, the lower rotary table can pass in the vertical direction, and the wafer can be placed across the transport belts. A wafer peripheral grinding device characterized in that a wafer peripheral grinding device is provided with a space at which the wafers can be placed at intervals.
JP61027233A 1986-02-10 1986-02-10 Device for grinding outer periphery of wafer Granted JPS62188655A (en)

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JPS62188655A JPS62188655A (en) 1987-08-18
JPH0346260B2 true JPH0346260B2 (en) 1991-07-15

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