JPS6217933A - イオン源 - Google Patents

イオン源

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JPS6217933A
JPS6217933A JP60156568A JP15656885A JPS6217933A JP S6217933 A JPS6217933 A JP S6217933A JP 60156568 A JP60156568 A JP 60156568A JP 15656885 A JP15656885 A JP 15656885A JP S6217933 A JPS6217933 A JP S6217933A
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vacuum chamber
ion source
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高一 斧
Tatsuo Omori
達夫 大森
Shigeto Fujita
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、イオン源に関し、特に、半導体素子製造プ
ロセスの分野におけるイオン注入、イオンビーム露光、
イオンビーム堆積、イオンビームエツチングまたはイオ
ンビーム描画などの微細加工に用いられる高輝度イオン
ビームの気体イオン源に関する。
[従来の技術] 従来この種の装置としては、たとえば伊藤糾次他著:イ
オンインプランテーション(昭晃堂、昭和51年)に掲
載された第4図に示すものがある。
まず、第4図に示す従来のイオン源の構成について説明
する。第4図において、従来のイオン源は放電室1と真
空室25とを備える。放電室1には陰極4と中間電極5
と陽極6とが設けられ、中間電極5と陽極6には、それ
ぞれ中間電極孔7と陽極孔24とが設けられる。また、
放電室1には陰極4と中間電極5との間にキャリア気体
を導入するためのキャリア気体導入口9と、中間電極5
と陰極6との間に試料気体を導入するための試料気体導
入口10とが設けられる。
真空室25は陽4ali 6によって放電室1から隔て
られ、かつ陽極孔24により放電室1に通じている。真
空室25には、排気のための真空引口28と、陽極6に
近接してイオンを引出すための引出電極26とが設けら
れる。この引出電極26にはイオンを引出すための引出
電極孔27が設けられる。
次に、従来のイオン源の動作について説明する。
まず、真空引口28から真空室25の排気を行なって、
放電室1と真空室25とを所定の真空度にする。続いて
、放電室1にキャリア気体導入口9からキャリア気体を
導入し、陰極4と中間電極5との間に直流電圧を印加す
る。すると、キャリア気体は陰極4と中間電極5との間
に生じるグロー放電あるいはアーク放電により電離して
、プラズマが生じる。生成したプラズマは中間電極孔7
を通過して、中間電極5と陽極6との間に流入する。こ
こで、試料気体を試料気体導入口10から放電室1内に
導入すると、キャリア気体のプラズマは導入された試料
気体と衝突して試料気体をイオン化する。イオン化され
た試料気体は陽極孔24を通過し、陽極6と引出電極2
6との間に流入する。陽極6と引出電極26との間には
直流電圧が印加され、電場が生じているので、この電場
により第4図の矢印Eで示す方向に引出電極孔27から
イオン流が引出される。このとき、イオン流とともにイ
オン化されていない中性気体も分子ビーム状となって真
空室25内に流入する。
[発明が解決しようとする問題点1 従来のイオン源では、上述したようにイオンの引出電極
は放電室の陽極に近接して設けられていた。このため、
引出電極は放電室で生成した高温のプラズマからイオン
流を引出すので、得られるイオン流の温度は高く、イオ
ンの無作為運動は大きかった。この無作為運動はイオン
流を加速して得られるイオンビームにおいても残存する
ので、電磁場を用いてビームを集束させ得る径には限界
があり、従来のイオン源を集束イオンビームなどの超高
輝度イオンビームに適用することは不可能でありた。
ところで、気体原子または気体分子に関する超高輝度イ
オンビームのイオン源としては、これまで、液体窒素あ
るいは液体ヘリウムで冷却した金属表面に凝固させた気
体原子・分子層からのイオンの電界放出を用いており、
引出されたイオン流の温度は低く、イオンの無作為運動
は小さいものの、上述の従来のイオン源と比較してイオ
ン流旦が著しく少なくかつ装置も複雑であるという問題
点があった。
それゆえに、この発明は上述のような問題点を解消する
ためになされたもので、集束イオンビームなどの超高輝
度イオンビームに適用できるイオン源を得ることを目的
とする。
[問題点を解決するための手段] この発明にかかるイオン源は、弱1afM気体発生手段
により弱電離気体を発生させ、これを隔板に設けられて
いる1つのノズルを介して、第1の真空室内に導入し、
第1の真空室内で超音速自由膨張させて、超音速自由膨
張流を発生させ、超音速自由膨張流における温度の低下
した領域に、それぞれが複数個の孔を有する複数個の引
出電極を設け、電場発生手段によって引出電極間に電場
を生じさせて、イオン流を第2の真空室内に引出すよう
にしたものである。
[作用] この発明における複数の引出電極は、第1の真空室内で
超音速自由膨張した弱電離気体の超音速自由膨張流にお
ける気体温度の低下した領域からイオン流を引出して、
第2の真空室内に導入し、第2の真空室内ではさらに気
体を膨張させることによって気体温度を低下させるので
、無作為運動の極めて小さいイオン流が得られる。した
がって、このイオン源は集束イオンビームなどの超高輝
度イオンビームに適用することができる。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例のイオン源の概略を示す図
である。まず、この一実施例のイオン源の概略の構成に
ついて説明する。第1図において、イオン源は放電室1
と真空室2と真空室3とを備える。放電室1は弱[i気
体を発生させるものである。真空室2は放電室1で発生
した弱電離気体を超音速自由膨張させるためのものであ
る。真空室3は真空室2内で生じた超音速自由膨張流を
ざらに膨張させるためのものである。したがって、真空
室2は放電室1よりも高真空にされ、真空室3は真空室
2よりも高真空にされる。たとえば、動作時の放電室1
は50Torr程度に、真空室2ハ10− ” Tor
r程度に、真空室3は10−’Torr程度にされる。
放電室1には陰極4と中間電極5と陽極6とが設けられ
る。中間電極5には中間電極孔7が設けられ、陽極6に
は真空室2に突出したノズル8が設けられる。また、放
電室1にはキャリア気体を導入するためのキャリア気体
導入口10と試料気体を導入するための試料気体導入口
11とが設けられる。
真空室2は陽極6を介して放電室1に接し、かつノズル
孔9により放電室1に通じる。ノズル孔9の形状は円形
でもよく、また正方形あるいは長方形でもよい。真空室
2には、上述のノズル8のばか排気のための真空引口1
2が設けられる。真空室2と真空室3との間には、これ
ら2つの真空室を隔て、かつ真空室2内で生じる超音速
自由膨張流からイオン流を引出すための一方の引出電極
14aが設けられる。
真空室3には、排気のための真空引口13と他方の引出
電極14bとが設けられる。これらの引出電極14aお
よび141)には、イオンが通過するためのそれぞれ複
数の引出電極孔15aおよび15bが設けられる。引出
電極14aおよび14bには図示しない直流電圧発生源
から直流電圧が印加されて、引出電極148.14b間
には電場が生じる。このような引出電極は第1図に示す
ように2つの電極14a、14bから構成されるものに
限定されるものではなく、多数の電極で引出電極を構成
し、それらの電極間に電圧を印加して電場を生じさせて
もよい。
上述において説明したこの発明の一実施例の構成は、従
来のイオン源の欠点を解消したものである。ずなわち、
従来のイオン源では第4図に示すように、引出電極は隔
板である陽極に近接して設けられているので、引出電極
と陽極との間には気体が充満するため弱電離気体は超音
速自由膨張流を形成するには至らない。そこで、この発
明では、放電室で得られた弱電離気体を第1の真空室内
で超音速自由膨張させるために引出電極を陽極から十分
離して設けるとともに、気体湿度の低下した超音速自由
膨張流からイオンを引出すために、引出電極を複数の電
極で構成しこれらの間に電界を与え、引出したイオン流
の温度を低下させるためにさらに第2の真空室内に導い
て膨張させる。
次に、第1図に示すイオン源の具体的動作について詳細
に説明する。
所定の真空度にした後、放電室1にはキャリア気体導入
口10からキャリア気体が導入される。
導入されるキャリア気体はたとえばアルゴンガスである
。ここで、陰極4と中間電極5との間に直流電圧を印加
すると、これらの電極間にはグロー放電またはアーク放
電が生じ、キャリア気体は電離してプラズマが生成する
。このプラズマは中間電極孔7を通過して、中間電極5
と陽極6との間に流入する。流入したプラズマは試料気
体導入口11から導入された試料気体をイオン化する。
導入される試料気体はたとえばナトリウム蒸気である。
イオン化した試料気体とキャリア気体のプラズマはノズ
ル孔9を通過して、真空室2内に流入し超音速自由膨張
する。第1図において、超音速自由膨張したプラズマの
流れを矢印Aで示す。この超音速自由膨張流の存在する
領域を静寂領域(Zone of  S 1lence
)と称するが、この静寂領116は樽形衝撃波(Bar
rel 5hock) 17とマツへ日11I(Mac
h Disk ) 19トニにツT囲マレタ領域である
静寂領域16の外側には、樽形1jl波17に近接シテ
ジェット境界(Jet  Boundary ) 18
が形成され、マツハ円盤19の下流には反射衝撃波(R
elected  S hock) 20が形成される
。第1図に示ずマツハ円盤19と反射衝撃波20とは引
出電極14aおよび14bの存在の影響が無視できる場
合におCプる理想的な形状を示1ノたL)のであり、実
際には引出電極によって乱された形状になる。
上述の静寂領域゛16の形状および大きさはノズル孔9
の形状おJ:び大きさに影響される。この発明で、隔板
である陽極6にノズル8を設けているのは、単に孔を設
ける場合に比べ、得られる静寂領域16が細長く、膨張
の度合が小さいものの大きな気体密度が得られるためで
ある。
静寂領域16では、プラズマは断熱膨張を行ない、下流
に移行するに従ってプラズマの密度、温度および粒子間
の衝突頻度は減少して電離度は凍結するが、逆にプラズ
マの流速は増加する。断熱膨張による密度は放電室1内
のプラズマ密度の1/1000程度に減少し、温度は放
電室1内の1/100程度になる。したがって、放電室
1内のプラズマが典型的なグロー放電あるいはアーク放
電により生成された場合、断熱膨張による温度は電子に
関しては絶対温度2000〜1000度に留まるものの
、中性原子・分子やイオンなどの自由粒子に関しては2
0〜数度にまで低下する。
上述のマツハ円盤19は衝撃波であるので、マツハ円盤
19の下流では気体温度は上昇する。従って、静寂領域
16内の気体温度はマツハ円盤19の手前で最低になる
ので、イオンの引出はこの領域で行なわれることが好ま
しく、一方の引出電極14aはたとえばマツハ円盤19
の10〜20Il1M手前に設置される。
ところで、静寂領域16は上述したノズル孔9の形状お
よび大きさの他、放電室1内の気体圧力および真空室2
内の圧力によって規定される。さらに静寂領域16内の
流れの性質は上述したように、下流にい(に従い気体は
膨張し、領域の断面積は大きくなり、流速は速くなり、
気体密度と温度とは低下する。したがって、超音速自由
膨張流の静寂領域16からのイオンの取出を真空室内の
圧力等の色々な条件の変化に対応して最適に保つために
は、引出電極を超音速自由膨張流に対して移動自在に設
(プることが好ましい。このような移動自在な機構の概
略を第2図に示す。第2図において、たとえばバッキン
グ22を備えた真空室3の外壁31は真空室2の内!!
21に嵌め込まれる。
真空室3に設けられた引出電極14aおよび14bは内
壁21に対して外W!31を第2図に示す矢印Cおよび
D方向に摺動することにより自在に移動できるので、条
件に従って、最適の位置でイオン流を引出すことができ
る。
第1図および第2図に示す引出電極i4a、i4bには
直流電圧が印加され、引出電極14aおよび14t1間
に電場が生じる。イオンは電場のベクトル方向に移動し
、電子は電場の逆ベクトル方向に移動する。これにより
イオン流が引出電極孔15aおよび15bを経て、真空
室3内に引出される。引出電極14aおよび14b間の
電場により引出されたイオン流を第1図において矢印B
で示す。引出電極14aおよび14bにはそれぞれ複数
の引出電極孔15aおよび15bが設けられているので
、イオンを効率よ(引出すことができる。引出されたイ
オン流は真空室3内で膨張し、気体温度はさらに低下す
る。
ところで、静寂領域16内の超音速自由膨張流は引出電
極14aに衝突すると、衝撃波を形成し、その下流で気
体の温度が上昇する。したがって、気体温度の上昇を防
止するために、引出電極はなるべく衝撃波を形成しない
形状にすることが好ましい。第3図はこのような引出電
極の一例を示す拡大図である。第3図において、引出電
極14aは第3図において矢印Aで示す超音速自由膨張
流に向って突出した先端部14Cを有する。超音速自由
膨張流と先端部14Cとが衝突して発生する衝撃波23
は弱いので、気体温度の上昇は抑制される。
なお、上述の実施例では放電v1内のプラズマがグロー
放電あるいはアーク放電により生成される場合について
説明したが、放電室1内のプラズマはRF放放電電子衝
撃電離、レーザ誘起電離などの無電極放電により生成さ
れる場合でもよく、そのような場合にも上述の実施例と
同様の効果を秦する。
また、上述の実施例では真空室2と真空室3とが引出電
極14aにより隔てられているが、真空室2と真空室3
との間に孔またはノズルが形成された隔板を設け、この
隔板により2つの真空室を隔て、かつ引出電極を真空室
3内に設けてもよい。
この場合には、真空室2における超音速自由膨張流は真
空室3内でさらに膨張するのでより一層低温の気体流が
得られ、特に、引出電極148.14bを2つの真空室
を隔てる隔板から下流側に十分離して設置した場合には
、真空室2と真空室3とを引出電極14aで隔てる場合
に比較してより低温の気体流からより低温のイオン流を
引出すことができる。
[発明の効果コ 以上のように、この発明によれば、それぞれが複数個の
孔を有する複数個の引出電極を、弱電離気体発生手段と
第1の真空室との間の隔板に形成された1つのノズルを
経て第1の真空室内に形成されるプラズマの超音速自由
膨張流領域に設置し、超音速自由膨張により中性原子・
分子やイオンなどの自由粒子の濃度が絶対温度20〜数
度にまで低下したプラス゛マ流から、複数個の引出電極
に設けられている複数個の孔を経て、第2の真空室にイ
オンを引出すように構成したので、温度の低いイオン流
すなわちイオンの無作為運動の小さく、かつイオン密度
の大きいイオン流を効率よく引出すことができる。した
がって、この発明のイオン源は集束イオンビームなどの
超高輝度イオンビームに適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のイオン源の概略の構成を
示す図である。第2図は第1図に示す引出電極の移動機
構を示す図である。第3図はこの発明の一実施例のイオ
ン源において、発生する衝撃波の強度を弱めるように構
成した引出電極の一例を示す拡大図である。第4図は従
来のイオン源を示す図である。 図において、1は放電室、2は第1の真空室。 3は第2の真空室、4は陰極、5は中間電極、6は陽極
、8はノズル、14aおよび14bは引出電極、16は
静寂領域を示す。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)気体原子または気体分子を一部電離して弱電離気
    体を発生する弱電離気体発生手段と、前記弱電離気体発
    生手段により発生された弱電離気体を超音速自由膨張さ
    せるための第1の真空室と、 前記弱電離気体発生手段と前記第1の真空室とを隔て、
    かつ前記弱電離気体発生手段により発生された弱電離気
    体を前記第1の真空室に導入するための1つのノズルが
    形成された隔板と、 前記第1の真空室で超音速自由膨張した弱電離気体をさ
    らに膨張させるための第2の真空室と、前記第1の真空
    室で超音速自由膨張することによって得られる気体温度
    の低下した超音速自由膨張流の存在領域に設けられ、そ
    れぞれに複数個の孔が形成された複数個の引出電極と、 前記複数個の引出電極間に電場を発生させる電場発生手
    段とを備え、 前記複数個の引出電極に設けられている前記複数個の孔
    を経て、超音速自由膨張流から前記第2の真空室にイオ
    ンを引出すことを特徴とするイオン源。
  2. (2)前記引出電極は、超音速自由膨張流に対して移動
    自在に設けられることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載のイオン源。
  3. (3)前記弱電離気体発生手段は、グロー放電、アーク
    放電、RF放電、電子衝撃電離またはレーザ誘起電離を
    用いることを特徴とする特許請求の範囲第1項または第
    2項記載のイオン源。
  4. (4)前記隔板に設けられるノズルは円形の孔を有する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項の
    いずれかに記載のイオン源。
  5. (5)前記隔板に設けられるノズルは、正方形または長
    方形の孔を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項ないし第3項のいずれかに記載のイオン源。
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CN109243952A (zh) * 2018-10-26 2019-01-18 长沙埃福思科技有限公司 双真空室离子束修形加工系统及修形加工方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN109243952A (zh) * 2018-10-26 2019-01-18 长沙埃福思科技有限公司 双真空室离子束修形加工系统及修形加工方法
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