JPS6217873B2 - - Google Patents
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- JPS6217873B2 JPS6217873B2 JP14238380A JP14238380A JPS6217873B2 JP S6217873 B2 JPS6217873 B2 JP S6217873B2 JP 14238380 A JP14238380 A JP 14238380A JP 14238380 A JP14238380 A JP 14238380A JP S6217873 B2 JPS6217873 B2 JP S6217873B2
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 4
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 3
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 6
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N Cyanide Chemical compound N#[C-] XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 235000011121 sodium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4821—Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports
- H01L21/4835—Cleaning, e.g. removing of solder
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置製造工程において樹脂モー
ルド後の外部リードの仕上げめつき前処理に係る
自動モールド膜除去方法に関するものである。
ルド後の外部リードの仕上げめつき前処理に係る
自動モールド膜除去方法に関するものである。
一般にリードフレームのアイランドにシリコン
半導体素子を接着し金細線などで半導体素子とリ
ードフレームの外部リードとなる内側端部とをボ
ンデング組立を行なつた後、第1図、第2図の如
くリードフレームに樹脂モールド2を施しモール
ド済みリードフレーム1を作る。然る後完成半導
体装置の外部リードとなる部分3,4および連結
体(タイバー)5,5′と外側連結体6,7の付
いたままでモールド部以外を一般に錫、半田又は
金などの仕上げめつきを施して半田付け性、耐食
性をよくしたる後上記連結体の大部分を除去して
個々の完成半導体装置している。しかし樹脂モー
ルドを施す部分は第1図の斜線を施した部分2に
局限されるべきであるがモールド型およびその消
耗、リードフレームの変形およびその抜き加工に
よる変形などで半導体外部リードとなる部分3,
4と連結体5などで囲まれた空隙(第2図で交叉
斜線で示す部分)にモールド充填膜8となり張り
付いたり、またその周辺や外部リードとなる他の
部分にモールド材が食み出して被覆被膜として固
着する。これらを仕上げめつき前に除去する必要
がある。したがつてこのモールド充填膜8及び外
部リード上のモールド材被覆被膜(以下これらを
モールド膜と呼称する)は不要なモールド膜であ
る。これらが残存すると半導体装置の露出外部リ
ードの仕上けめつきを施す場合の障害となる。こ
れらモールド膜を除去るためには一般に研磨剤を
利用するサンドブラストや液体ホーニングを用い
てこれを除去しているが研磨剤により外部リード
に疵を付けたり、また削り取られた金属粉の外部
流出防止の処理を必要とする欠点がある。また、
苛性ソーダ又はシアン化ソーダなどのアルカリ水
溶液に浸漬し電解して不要モールド膜を膨潤した
る後手作業で刷子掛けしたり回転刷子掛けして
個々に除去したりしているが除去作業に時間がか
かり能率極めて悪く不要モールド膜の完全除去が
困難である欠点がある。
半導体素子を接着し金細線などで半導体素子とリ
ードフレームの外部リードとなる内側端部とをボ
ンデング組立を行なつた後、第1図、第2図の如
くリードフレームに樹脂モールド2を施しモール
ド済みリードフレーム1を作る。然る後完成半導
体装置の外部リードとなる部分3,4および連結
体(タイバー)5,5′と外側連結体6,7の付
いたままでモールド部以外を一般に錫、半田又は
金などの仕上げめつきを施して半田付け性、耐食
性をよくしたる後上記連結体の大部分を除去して
個々の完成半導体装置している。しかし樹脂モー
ルドを施す部分は第1図の斜線を施した部分2に
局限されるべきであるがモールド型およびその消
耗、リードフレームの変形およびその抜き加工に
よる変形などで半導体外部リードとなる部分3,
4と連結体5などで囲まれた空隙(第2図で交叉
斜線で示す部分)にモールド充填膜8となり張り
付いたり、またその周辺や外部リードとなる他の
部分にモールド材が食み出して被覆被膜として固
着する。これらを仕上げめつき前に除去する必要
がある。したがつてこのモールド充填膜8及び外
部リード上のモールド材被覆被膜(以下これらを
モールド膜と呼称する)は不要なモールド膜であ
る。これらが残存すると半導体装置の露出外部リ
ードの仕上けめつきを施す場合の障害となる。こ
れらモールド膜を除去るためには一般に研磨剤を
利用するサンドブラストや液体ホーニングを用い
てこれを除去しているが研磨剤により外部リード
に疵を付けたり、また削り取られた金属粉の外部
流出防止の処理を必要とする欠点がある。また、
苛性ソーダ又はシアン化ソーダなどのアルカリ水
溶液に浸漬し電解して不要モールド膜を膨潤した
る後手作業で刷子掛けしたり回転刷子掛けして
個々に除去したりしているが除去作業に時間がか
かり能率極めて悪く不要モールド膜の完全除去が
困難である欠点がある。
本発明はかかる欠点を除去する自動モールド膜
除去方法を提供するもである。即ち樹脂モールド
済み半導体装置リードフレーム上のモールド膜を
アルカリ水溶液中で電解し膨潤せしめたる後リー
ドフレームの外側連結体で横振れ振動防止の搬送
機構とこれを挾んで高圧タン箱に取り付けられた
ノズル群を別々に配置し、前記ノズル群に相対し
変形防止受具を具備せしめ、搬送されるリードフ
レームの表裏に向つてノズルよりの高速ジエツト
水流を噴き付けることにより半導体装置の外部リ
ード上のモールド膜を除去することを特徴とする
自動モールド膜を除去する仕上げめつき前の処理
方法である。
除去方法を提供するもである。即ち樹脂モールド
済み半導体装置リードフレーム上のモールド膜を
アルカリ水溶液中で電解し膨潤せしめたる後リー
ドフレームの外側連結体で横振れ振動防止の搬送
機構とこれを挾んで高圧タン箱に取り付けられた
ノズル群を別々に配置し、前記ノズル群に相対し
変形防止受具を具備せしめ、搬送されるリードフ
レームの表裏に向つてノズルよりの高速ジエツト
水流を噴き付けることにより半導体装置の外部リ
ード上のモールド膜を除去することを特徴とする
自動モールド膜を除去する仕上げめつき前の処理
方法である。
本発明を実施例を挙げ詳細に説明する。
実施例 1
第4図の如くモールド膜を膨潤せしめたリード
フレーム1(以下リードフレームと呼称する)を
その外側連結体をローラ9,9′の内側周縁にお
いて挾み合い且つ位置決めするようにしてこれら
ガイド兼送りローラを第3図の如く一連配置す
る。上部ローラ9′には荷重をかけ(この荷重は
図には省略してある。)リードフレーム(第3図
においては樹脂モールド部は省略してある。)を
挾持しつつローラ駆動装置10により各ローラを
回転せしめ左より右に搬送する。この場合リード
フレームの位置決めを確実にし且つ横振れ上下振
動を防止しつつ搬送するものである。その途中に
おいてこの一連のローラ群の上部および下部に
別々に配置された圧力タンク箱11,11′に高
圧ポンプ16,16′より連続供給される圧水が
圧力タンク箱11,11′に取り付けられた多数
のノズル12,12′より高速ジエツト水流を上
下よりリードフレームの表裏に向つて噴射されリ
ードフレームの表裏上の不要モールド膜を短時間
内に噴き離して水とともに水飛散防止用のケース
13の下部に流され排水口14より排出される。
ノズル群の反対側に配置される受板15,15′
は射出水圧によるリードフレームの変曲、変形を
防ぐためのもである。清浄ずみのリードフレーム
はケース13外に送り出されて受け箱17に収容
され仕上けめつき工程に移される。リードフレー
ムの品種による寸法変化に対応してローラ保持間
隔を調整するにはローラ間隔調整器18を付する
と便利である。不要モールド膜除去後の排出水を
循還再利用するためにはこれをフイルター、濾過
器を利用して清浄水にて再利用も可能である。
フレーム1(以下リードフレームと呼称する)を
その外側連結体をローラ9,9′の内側周縁にお
いて挾み合い且つ位置決めするようにしてこれら
ガイド兼送りローラを第3図の如く一連配置す
る。上部ローラ9′には荷重をかけ(この荷重は
図には省略してある。)リードフレーム(第3図
においては樹脂モールド部は省略してある。)を
挾持しつつローラ駆動装置10により各ローラを
回転せしめ左より右に搬送する。この場合リード
フレームの位置決めを確実にし且つ横振れ上下振
動を防止しつつ搬送するものである。その途中に
おいてこの一連のローラ群の上部および下部に
別々に配置された圧力タンク箱11,11′に高
圧ポンプ16,16′より連続供給される圧水が
圧力タンク箱11,11′に取り付けられた多数
のノズル12,12′より高速ジエツト水流を上
下よりリードフレームの表裏に向つて噴射されリ
ードフレームの表裏上の不要モールド膜を短時間
内に噴き離して水とともに水飛散防止用のケース
13の下部に流され排水口14より排出される。
ノズル群の反対側に配置される受板15,15′
は射出水圧によるリードフレームの変曲、変形を
防ぐためのもである。清浄ずみのリードフレーム
はケース13外に送り出されて受け箱17に収容
され仕上けめつき工程に移される。リードフレー
ムの品種による寸法変化に対応してローラ保持間
隔を調整するにはローラ間隔調整器18を付する
と便利である。不要モールド膜除去後の排出水を
循還再利用するためにはこれをフイルター、濾過
器を利用して清浄水にて再利用も可能である。
実施例 2
第5、第6図に示す如くチエーン19をドラム
20に掛け駆動機10でエンドレスに回転しこの
チエーンはピン22を間隔を置いてピン付きチエ
ーン21とする。このピンの位置間隔大きさはリ
ードフレームの外側連結体の孔に合わして設置す
る。このピンは必ずしも外側連結体の孔に合わす
必要はなく場合によつてはリードフレームをそれ
ぞれ後押しするようにしてもよい。また第5図、
第6図では第3図、第4図で縦長リードフレーム
の向きが違つていて横長の向きになつているが何
れでも構わない。第5図の左端でリードフレーム
を次々にチエーンに装着送り込む。この位置での
リードフレームの位置決め横振防止のためリード
フレームの両側にガイドを設置するが、ケース1
3内においては第6図の如くリードフレームのガ
イド23はコの字型にしてその中にリードフレー
ム両側が納まり上下振動を防止してノズル12,
12′よりの高速ジエツト水流による上下振動、
横振れを防止する如くする。この他の圧力タンク
箱11,11′、ノズル12,12′受板15,1
5′の配置作用は実施例1と同じであるので説明
を省略する。
20に掛け駆動機10でエンドレスに回転しこの
チエーンはピン22を間隔を置いてピン付きチエ
ーン21とする。このピンの位置間隔大きさはリ
ードフレームの外側連結体の孔に合わして設置す
る。このピンは必ずしも外側連結体の孔に合わす
必要はなく場合によつてはリードフレームをそれ
ぞれ後押しするようにしてもよい。また第5図、
第6図では第3図、第4図で縦長リードフレーム
の向きが違つていて横長の向きになつているが何
れでも構わない。第5図の左端でリードフレーム
を次々にチエーンに装着送り込む。この位置での
リードフレームの位置決め横振防止のためリード
フレームの両側にガイドを設置するが、ケース1
3内においては第6図の如くリードフレームのガ
イド23はコの字型にしてその中にリードフレー
ム両側が納まり上下振動を防止してノズル12,
12′よりの高速ジエツト水流による上下振動、
横振れを防止する如くする。この他の圧力タンク
箱11,11′、ノズル12,12′受板15,1
5′の配置作用は実施例1と同じであるので説明
を省略する。
以上の実施例はいづれもリードフレームを水平
にしてジエツト水流も上下向きにしてあるが必ず
しもリードフレームを水平にしなくても垂直にし
てこれに伴いジエツト水流はこのリードフレーム
の表裏に噴き付けるようにしてもよい。
にしてジエツト水流も上下向きにしてあるが必ず
しもリードフレームを水平にしなくても垂直にし
てこれに伴いジエツト水流はこのリードフレーム
の表裏に噴き付けるようにしてもよい。
また、ノズルの噴口形状は円に限らず楕円、矩
形、長方形を含むものとする。
形、長方形を含むものとする。
本発明の装置の高能率性の1例を挙けると水に
与える圧力を40Kg/cm2〜80Kg/cm2とし、ノズル直
径0.3mm〓〜0.5mm〓ノズルとリードフレームとの
距離30mmでリードフレームの移動速度300mm/sec
の条件で縦長さ、230mmリードフレーム1枚を清
浄に処理する時間はただの1秒に過ぎない。また
横長さ225〜70mmリードフレーム1枚を流して処
理する時間はただの0.1〜0.3秒になることは勿論
である。従来の方法では1枚当り10秒以下にする
ことは極めて困難である。従来の回転刷子を用い
る装置では大型で刷子消耗がありその取替え時間
調整時間がかかるに比し本発明では小型で、消耗
部品殆んどなく維持費も極めて少なく調整極めて
簡単で小人数で工数少なく経済的である特徴があ
る。
与える圧力を40Kg/cm2〜80Kg/cm2とし、ノズル直
径0.3mm〓〜0.5mm〓ノズルとリードフレームとの
距離30mmでリードフレームの移動速度300mm/sec
の条件で縦長さ、230mmリードフレーム1枚を清
浄に処理する時間はただの1秒に過ぎない。また
横長さ225〜70mmリードフレーム1枚を流して処
理する時間はただの0.1〜0.3秒になることは勿論
である。従来の方法では1枚当り10秒以下にする
ことは極めて困難である。従来の回転刷子を用い
る装置では大型で刷子消耗がありその取替え時間
調整時間がかかるに比し本発明では小型で、消耗
部品殆んどなく維持費も極めて少なく調整極めて
簡単で小人数で工数少なく経済的である特徴があ
る。
上述の実施例は噴出ジエツト水の噴射をリード
フレームの表裏にそれぞれ1回づつについて述べ
たがこれを2回以上繰り返しすれば清浄効果、送
り速度の向上も可能なこと勿論である。
フレームの表裏にそれぞれ1回づつについて述べ
たがこれを2回以上繰り返しすれば清浄効果、送
り速度の向上も可能なこと勿論である。
以上詳述せる如く本発明の方法はリードフレー
ム上の不要モールド膜の除去において高能率、高
性能で経済的処理可能な特徴を有するものであ
る。
ム上の不要モールド膜の除去において高能率、高
性能で経済的処理可能な特徴を有するものであ
る。
第1図はモールド済み半導体装置リードフレー
ム説明用上面図、第2図はモールド済み半導体装
置リードフレームの一部拡大の説明図、第3図は
本発明の一実施例の構成を示す側面図、第4図は
本発明の一実施例の第3図A―A′の断面図、第
5図は本発明の他の実施例の構成を示す側面図、
第6図は本発明の一実施例の第5図B―B′断面
図。 1…樹脂モールド済みリードフレーム、2…樹
脂モールド部、6,7…リードフレーム外側連結
体、9,9′…ガイド兼送りローラ、10…リー
ドフレーム送り駆動機、11,11′…圧力タン
ク箱、12,12′…ノズル、15,15′…受
板、16,16′…高圧ポンプ、18…ローラ間
隔調整器、19…チエーン、20…ドラム、21
…ピン付きチエーン、22…ピン、23…ガイ、
24…チエーンガイド。
ム説明用上面図、第2図はモールド済み半導体装
置リードフレームの一部拡大の説明図、第3図は
本発明の一実施例の構成を示す側面図、第4図は
本発明の一実施例の第3図A―A′の断面図、第
5図は本発明の他の実施例の構成を示す側面図、
第6図は本発明の一実施例の第5図B―B′断面
図。 1…樹脂モールド済みリードフレーム、2…樹
脂モールド部、6,7…リードフレーム外側連結
体、9,9′…ガイド兼送りローラ、10…リー
ドフレーム送り駆動機、11,11′…圧力タン
ク箱、12,12′…ノズル、15,15′…受
板、16,16′…高圧ポンプ、18…ローラ間
隔調整器、19…チエーン、20…ドラム、21
…ピン付きチエーン、22…ピン、23…ガイ、
24…チエーンガイド。
Claims (1)
- 1 樹脂モールド済み半導体装置リードフレーム
上のモールド膜をアルカリ性水溶液中の電解で膨
潤せしめたる後リードフレームの外側連結体で横
振れ、振動防止の搬送機構とこれを挾んで高圧タ
ンク箱に取り付けられたノズル群を別々に配置
し、前記ノズル群に相対し変形防止受具を具備せ
しめ、搬送されるリードフレームの表裏に向つて
ノズルよりの高速ジエツト水流を噴き付けること
により半導体装置の外部リード上のモールド膜を
除去することを特徴とする外部リード仕上げめつ
き前の自動モールド膜除去方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14238380A JPS5766657A (en) | 1980-10-14 | 1980-10-14 | Apparatus for automatically removing molded film before finish plating for external lead of molded semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14238380A JPS5766657A (en) | 1980-10-14 | 1980-10-14 | Apparatus for automatically removing molded film before finish plating for external lead of molded semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5766657A JPS5766657A (en) | 1982-04-22 |
JPS6217873B2 true JPS6217873B2 (ja) | 1987-04-20 |
Family
ID=15314081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14238380A Granted JPS5766657A (en) | 1980-10-14 | 1980-10-14 | Apparatus for automatically removing molded film before finish plating for external lead of molded semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5766657A (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59111335A (ja) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Toshiba Corp | 半導体装置の不要樹脂除去方法 |
JPS61119048A (ja) * | 1984-11-15 | 1986-06-06 | Kyushu Nogeden:Kk | モ−ルド体より喰み出した被膜除去自動装置 |
JPS61160944A (ja) * | 1985-01-09 | 1986-07-21 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPS61295637A (ja) * | 1985-06-24 | 1986-12-26 | Tamura Seisakusho Co Ltd | Icリ−ドフレ−ムの過剰モ−ルド除去方法 |
JPS62190732A (ja) * | 1986-02-18 | 1987-08-20 | Hitachi Ltd | 半導体バリ取り装置の搬送レ−ル |
JPH075632Y2 (ja) * | 1991-09-18 | 1995-02-08 | マコー株式会社 | リードフレームクリーニング装置におけるリードフレーム搬送機構 |
JP2760339B2 (ja) * | 1996-03-05 | 1998-05-28 | 日本電気株式会社 | リードフレームのばり取り方法およびリードフレーム用ばり取り装置 |
US20040194803A1 (en) * | 2003-04-04 | 2004-10-07 | Asm Technology Singapore Pte Ltd | Cleaning of an electronic device |
-
1980
- 1980-10-14 JP JP14238380A patent/JPS5766657A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5766657A (en) | 1982-04-22 |
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