JPS62173627A - 光デイスク記録再生装置 - Google Patents

光デイスク記録再生装置

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Publication number
JPS62173627A
JPS62173627A JP1610886A JP1610886A JPS62173627A JP S62173627 A JPS62173627 A JP S62173627A JP 1610886 A JP1610886 A JP 1610886A JP 1610886 A JP1610886 A JP 1610886A JP S62173627 A JPS62173627 A JP S62173627A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
read
amplitude
reproduced signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP1610886A
Other languages
English (en)
Inventor
Noboru Wakami
昇 若見
Tomiya Miyazaki
富弥 宮崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP1610886A priority Critical patent/JPS62173627A/ja
Publication of JPS62173627A publication Critical patent/JPS62173627A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はデータファイル等の光ディスクの信号を記録直
後によむRAM (Read After Write
リード アフター ライト)状態時の再生信号の読み出
し回路に関するものである。
従来の技術 従来のこの種の光ディスク記録再生装置は例えば特開昭
59−193515号公報に示されているようにディス
クに−Hライトされたデータは経時変化後も必ず読める
ことが理想的である。ところがディスクの傷やそり等の
物理的変化や、記録膜の経時変化等によりRAW状態で
はどうにか読みとれていたものが、後で改めて再生する
とピット間のデユーティがシフトし、ピークシフトが大
となり読みとれないということが発生する場合がある。
したがってRAW状態では再生時と比較し、読み出しを
きつめに設定し、不都合であれば書き直したり、他セク
ターに書きかえるといった対策が必要である。このため
にはRAW状態と再生状態とを区別し、信号読み出しの
VFO回路の時点数を切換え、RAW状態時には過大な
ピークシフトは読みにくくするといったことを行なって
いた。
発明が解決しようとする問題点 このような従来の構成ではビット間のデューティにのみ
着目し、データ弁別マージンに対してRAW状態ではき
つめに読み出しの検査チェックするのみで、ディスク基
材やトラック上の異物。
欠陥(以下ディスク異物と称する)による信号振幅の欠
けに対する読みにくさはチェックしていないため、後か
ら読み出す再生時には読めなくなるといったことが生じ
ていた。
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、ディスク異
物を考慮したRAW状態時の読み出し回路を用いた光デ
ィスク記録再生装置を提供することを目的としている。
問題点を解決するだめの手段 本発明は上記問題点を解決するため再生信号をしきい値
と比較して読み出し信号を出力する比較手段と、再生信
号を記録直後に読み出すRAW手段とを有し、RAW状
態は検出手段の極性に応じて比較手段のしきい値を設定
するものである。
作  用 本発明は上記した構成によりRAW状態ではディスク異
物により再生信号の振幅が影響を受けやすい極性に対し
て比較回路のしきい値レベルをシフトし、RAW状態で
の読み出しを厳しくする。
これによりディスク異物により振幅の一部が欠けていた
ときにチェックが厳しくなされ、再書き込みまたは他の
セフタ−への書き込み等を確実に行なうことになり、ト
ータル的にはピットエラーレート(以下BERと称する
)の向上をはかることができる。
実施例 第4図は記録膜として記録光をあてると黒化され、記録
した部分の反射率があがる相変化膜の再生信号の波形図
である。未記録部はaで記録すると反射率がbのように
高くなる。ディスクの異物によりCは反射率が高くなり
、再生信号が半極性となるもので、記録膜の膜厚が薄く
なったりする(ピンホール)ことにより生じる。dは反
射率が低くなり一極性となるもので基材内の異物等によ
り生じる。またeのようにトラック溝形状の異常であれ
ば反射率が高くなったり、低くなったりして再生信号は
+、−極性のどちらにもでてぐるものもある。このよう
なディスク異物があるトラックに信号を記録すると第6
図のように異物に応じて記録ビットの再生信号は影響を
うけることになる。一般にeのようなトラック溝形状の
異常はスタンバ−成形時に起こりやすく、これはディス
ク製造時にスタンパ−を選別すれば、このような異物の
比率は小のものを作ることは容易である。Cまたはdの
ような異物はディスクの蒸着とかスパッターによる記録
膜形成時、あるいはインジェクション等によるレプリカ
形成時に生じる。相変化記録膜の場合、記録膜の膜厚に
より反射率が高くなったり、低くなったりするが、いわ
ゆるピンホールは低くなるものが多い。一方ディスク基
材内の異物があると、再生信号は必らず一極性となる。
これらを勘案すればディスク異物により再生信号は一極
性に出るディスクが圧倒的に多い。この場合の再生光に
よる未記録トラックの信号は第6図のようになる。この
トラックに信号を記録すると、第7図のようになり再生
信号の振幅の欠落は一極性になることが多い。いまRA
W状態での信号の検出レベルを振幅の半分のところに設
定すると(第7図レベルa)ディスク異物に対して振幅
の欠落部が検出レベルぎりぎりにある場合、読み出し検
出出力はビット落ちを生じない。本発明は再生信号の検
出レベルをディスク異物の影響により振幅の極性が一側
に欠落することが多いことに着目し、検出レベルを振幅
の半分より上側(第7図レベルb)にシフトして設定す
る。こうすることにより、ディスク異物に対して振幅の
欠落がぎりぎりにある場合、検出した読み出し信号はR
AW状態では読めなくなる。第1図は以上のべた信号検
出として振幅を検出する方式の一実施例である。
1は記録媒体からのビットの有無により、反射光の変化
に応じた再生信号を得るだめの半導体レーザ、絞りレン
ズ系からなる光学系、2はRAW状態識別回路、3はR
AW状態識別回路2の出力に応じてRAW状態時には通
常の再生よみ出し時の設定レベルである再生信号の振幅
の半分より上側に、検出レベルを設定する回路、4は再
生信号をZで設定された検出レベルで比較する比較回路
、比較回路4の出力としてデータの読み出し信号を得る
ことができる。
第2図は他の実施例で信号検出として信号を微分して検
出する方式である。第3図の各部主要波形図とともに説
明する。第1図と同様の光学系1から得られた再生信号
(イ)を微分回路4に入力するとともにRAW状態識別
回路2に応じてRAW状態では第1図3と同様の検出レ
ベルに設定するレベル設定回路5にも入力する。再生信
号(イ)をこの検出レベルでゲート回路6にて比較しゲ
ート信号(ホ)を得る。一方微分回路7にて得られた微
分出力(ロ)は零クロス検出回路8にて零クロス点が抜
き出され、信号(ハ)を得る。この信号(ハ)をデータ
読み出し回路9にてゲート信号(ホ)のあるところのみ
とり出されデータ読み出し出力(へ)を得る。いまディ
スク異物により(イ)の点線部に示すような欠落を生じ
た場合、レベル設定回路6を再生信号の振幅の半分のレ
ベルaに設定すると再生振幅の欠落があっても、ゲート
回路6の出力信号(ホ)を得、従ってデータ読み出し出
力信号(へ)はビット落ちとしてチェックすることがで
きない。レベル設定回路6の検出レベルを半極性側のb
にシフトして設定すると、再生信号の振幅の欠落部では
ゲート出力信号(ホ)を得ることができず、従ってデー
タ読み出し出力信号(へ)はビット落ちとしてチェック
検出することができる。
以上のようにこの実施例によれば、RAW状態ではディ
スク異物があると、ビットエラーとなるチェックが厳し
めとなる信号読み出し回路を用いているため、トータル
としてのBEHの向上をはかることができる。
もちろん半極性側に出る欠陥が多いディスクではレベル
設定を一側にシフトしても同様の効果が出ることはいう
までもない。また信号のビット長、またはビット間隔に
データ情報を持たせた場合、いずれの場合にも適用でき
る。記録膜として相変化膜を用いて説明したが、記録パ
ワーをあてることにより穴あけを生じる穴あけ膜を用い
た場合も同様の効果がある。
発明の効果 以上のように本発明によればディスク基材内やトラック
上の異物、欠陥を検出する手段の極性に応じRAW状態
での再生信号の読み出し回路のしきい値を設定すること
により、ディスクの異物の影響を受けた場合のチェック
を厳しく行なうことになり、再書きこみまたは他セクタ
ーへの書きこみを確実に行なえ、トータル的には経時変
化等を考慮したBER(ビット エラー レート)の向
上をはかることができ、実用的にきわめて有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における光ディスク記録再生
装置のブロック図、第2図は本発明の他の実施例におけ
る光ディスク記録再生装置のブロック図、第3図は同装
置の各部の主要波形図、第4図は本発明の光ディスク記
録再生装置説明のための相変化膜の未記録トランクの再
生信号の波形図、第5図は同記録信号の波形図、第6図
は同再生信号の波形図、第7図は同記録信号の波形図で
ある。 1・・・・・・光学系、2・・・・・・RAW状態識別
回路、3・・・レベル設定回路、4・・・・・・比較回
路、6・・・・・・ゲート回路、7・・・・・・微分回
路、8・・・・・・零クロス検出回路、9・・・・・・
データ読み出し回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 ハ へ          ′1 第4図 第6図 第7図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ディスクの記録媒体に信号を記録再生する信号記
    録再生手段と、再生信号をしきい値と比較して読み出し
    信号を出力する比較手段と、ディスク基材内およびトラ
    ック上の異物、欠陥を検出する検出手段と、再生信号を
    記録直後に読み出すRAW手段とを有し、このRAW手
    段動作時、前記検出手段に応じて比較手段のしきい値を
    設定した光ディスク記録再生装置。
  2. (2)検出手段の極性の少ない方のレベル側にしきい値
    レベルをシフトした特許請求の範囲第1項記載の光ディ
    スク記録再生装置。
JP1610886A 1986-01-28 1986-01-28 光デイスク記録再生装置 Pending JPS62173627A (ja)

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JP1610886A JPS62173627A (ja) 1986-01-28 1986-01-28 光デイスク記録再生装置

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JP1610886A JPS62173627A (ja) 1986-01-28 1986-01-28 光デイスク記録再生装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62173627A true JPS62173627A (ja) 1987-07-30

Family

ID=11907319

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1610886A Pending JPS62173627A (ja) 1986-01-28 1986-01-28 光デイスク記録再生装置

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JP (1) JPS62173627A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0383235A (ja) * 1989-08-25 1991-04-09 Toshiba Corp 光ディスク装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0383235A (ja) * 1989-08-25 1991-04-09 Toshiba Corp 光ディスク装置

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