JPS62163764U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62163764U JPS62163764U JP5305286U JP5305286U JPS62163764U JP S62163764 U JPS62163764 U JP S62163764U JP 5305286 U JP5305286 U JP 5305286U JP 5305286 U JP5305286 U JP 5305286U JP S62163764 U JPS62163764 U JP S62163764U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrical characteristics
- measuring
- circuit
- thin film
- lead terminal
- Prior art date
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- Pending
Links
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図……本考案の電気特性測定端子部の断面
図、第２図……本考案のＩＣリード端子パターン
配線の平面図、第３図……従来の電気特性測定端
子部の断面図、第４図……従来のＩＣリード端子
パターン配線の平面図、第５図……本考案の他の
プロープ端子の配置図。 １……ＩＣリード端子パターン、２……回路基
板、３……電気特性測定端子パターン、４……Ｉ
Ｃ、５……受座、６……プローブ端子、６ａ……
プローブ端子薄膜絶縁物、７……プローブ固定基
板。
図、第２図……本考案のＩＣリード端子パターン
配線の平面図、第３図……従来の電気特性測定端
子部の断面図、第４図……従来のＩＣリード端子
パターン配線の平面図、第５図……本考案の他の
プロープ端子の配置図。 １……ＩＣリード端子パターン、２……回路基
板、３……電気特性測定端子パターン、４……Ｉ
Ｃ、５……受座、６……プローブ端子、６ａ……
プローブ端子薄膜絶縁物、７……プローブ固定基
板。
Claims (1)
- 基板にＩＣリード端子パターンを有する回路ブ
ロツクの電気特性測定において、薄膜絶縁物を介
し、２本以上のプローブ端子を互に隣設させて配
置したことを特徴とする回路の電気特性測定端子
構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5305286U JPS62163764U (ja) | 1986-04-09 | 1986-04-09 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5305286U JPS62163764U (ja) | 1986-04-09 | 1986-04-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62163764U true JPS62163764U (ja) | 1987-10-17 |
Family
ID=30878766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5305286U Pending JPS62163764U (ja) | 1986-04-09 | 1986-04-09 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62163764U (ja) |
-
1986
- 1986-04-09 JP JP5305286U patent/JPS62163764U/ja active Pending
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