JPS62148659A - 放電結石破壊装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、結石破壊装置、特に、放電による衝撃波を
利用した放電結石破壊装置に関する。

〔従来技術〕

放′「げ結石破壊装置はプローブの電極間に高’ＦＱ圧
を印加することにより電極間に牛じる放電の衝季波によ
り結石を破壊するように１１７成されている。このよう
な結石破壊装置によると放′嘱によりプローブの′！１
．極が消耗し放電回数が増すに従って放電が弱くなり、
最終的には放電しなくなる。このために、プローブが所
定期間使用されるとプローブが交換される。プローブの
交換に際しては、従来では、放！ｖ１．ｅ間の放電開始
電圧が検出され、この電圧値からｉ！極の消耗度合いが
判断される。１！極消耗がかなり進んでいると判断され
るとプローブが交換される。

〔発明が解決しようとする問題漬〕

上記のようにして交換時期を判断するためにシ工、放電
電極間に電圧検出器を挿入する必要が募るがこの場合こ
の電圧検出器＆′ｉ、極めて高インピーダンスであるこ
とが必要である。しかし、高インピーダンスの電圧検出
器は雑音に弱い欠漬があり、このために測定結果が不正
確となり、交換時期を間違うことが起こる。

この発明の目的は放電回数またはプローブ使用回数を計
数し、この計数値力）らプローブの寿命全判断する結石
破壊装置を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明によると、プローブの放電電極に放電を起こさ
せるために放電電極に電圧を印加する給電部と放電回数
またはプローブの使用回数を計数し、この計数値からプ
ローブの寿命を検知する寿命検知部とこの寿命検知部に
よる寿命検知によりプローブの使用を禁止する使用禁止
機能部とで構成される放電結石破壊装置が提供される。

〔作用〕

この装置では、プローブの使用回数または放電回数を計
数し、この計数値からプローブ寿命全決定し、プローブ
の使用を禁止するので結石破壊ニおいてプローブ不良に
よる弊害が防止できるＯ 〔実施例〕 第１図に示す実施例によると、電源プラダ１はスイッチ
２を弁してトランス３ＶＣ，接続される。

トランス３の二次巻線は倍電圧整流回路４を介してトラ
ンジスタスイッチ回路５に接続される。

このトランジスタスイッチ回路５の出力は抵抗６金介（
７てキャ・マシタ７及び放電管８に接続される。放ζλ
管８のトリが電極（て（′ｉトリがトランス９が接続さ
れる。放電管８の比力部し土コネクタＩＯを介してプロ
ーブ１］の放電主％　Ｉ　Ｉ　ａに接続される。トリが
トランス９には（・リガ回路１２が接続される。

放電開始スイッチ１３はリレー１４を介してノンルス発
生器１５に接続される。パルス発生器の出力端はトラン
ジスタスイッチ回路５やび単安定マルチバイブレータ１
６に接続される。単安定マルチバイブレータ１６の出力
端は準安定マルチバイブレータ１７を介してトリが回路
１２に接続される。

／ＩＰルス発生器１５の出力端はカウンタ１ＢＫ接続さ
れる。カウンタ１８はパルス発生器の出力・ぐルスに応
答して放電回数全カウントしカウント（ｉ１！を出力す
る出力端とカウント値が所定値になると出力信号を発生
する出力端とに有する。

カウント匝出力端は表示器１９に接続され、所定値出力
端はリレー１４及びブザー２ｆ）Ｋ接続される。また、
カウンタ１８にはリセットスイッチ２１及び設定スイッ
チ２４が接続される。

第２図には放電結石破壊装置の操作面が示されており、
この操作面にはコネクタ１０、放電開始スイッチ１３、
表示器１９、ブザー２０、リセットスイッチ２１及び設
定スイッチ２４が設けられる。コネクタ１０にはプロー
ブ１１が接続される。

上記放電結石破壊装置の動作を第３図のタイムチャート
を参照して説明する。

電源スィッチ２が投入されると倍電圧整流回路４は高電
圧を出力する。この時、放電開始スイッチ１３がオンさ
れるとパルス発生器Ｉ５は所定周期の・やルスＡを発生
する。このノぞルスＡに回答シてトランジスタスイッチ
回路ｌ路５がオン−「ると倍電圧整流回路４の冒′五圧
が１１１．抗６を介してキャパシタ７に印加されキャパ
シタ７を電圧ＤＫ元宣する。

ｆ；＆、ノｅルスＡは乍安定マルチバイブレータ１６及
び１７を介してトリが１コ路１２に供給されるがこのと
き、マルチバイブレータＩ６はパルスＡの立下りに応答
する・！ルスＢを出力し、マルチバイブレータ１７はパ
ルスＢの立下りに応答するパルスＣを出力する。このパ
ルスＣがトリガ回路Ｉ２に供給されることにより放電管
８がトリがされる。即ち、トランジスタ回路５がオフし
てから所定時間経過した後放電管８がオンされる。これ
により、トランジスタ回路５と放電管８とは同時にオン
にされることはない。

放′ｆＥ管８がトリガされると放電管８金弁してキャノ
ゼシタ７の元Ｔ′ｉｆ、’Ｆに圧が放電され、プローブ
１ノの電極１１　ａ　ＶＣ制電圧Ｅが印加される。この
結果、プローブ１１の先端において放電が生じ、そのと
き発生する衝啄波により結石２２が破壊される。−万、
パルス発生器１５のノ９ルスＡはカウンタＩ８に供給さ
れ、計数される。カウンタ１８の計数１１θ゛は表示器
１９に表示される。

このカウンタ１８は設定スイッチ２４により放電プロー
ブの寿命ＶＣ対応する所定類に設定さ？Ｌており、カウ
ンタ１８の計ａ値が設定値に達するとｔ４１力信見金リ
レー１４及びブザー２０へ出カスる。リレー１４はカウ
ンタ１８の串力仁号に応答して作′＠１〜・ぞルス発生
器１５の発振を停止させる。ブザー２０は鳴りプローブ
寿命を知らせる。

尚、プローブ１ノの寿命は使用回数によりだいたい決ま
っており、この使用限度回数をカウンタに設定すること
により寿命が目動的に判定できる。

・２ルス発生器１５の発掘停止によりプローブ１１には
晶電圧が供給されず、従ってプローブ１ノは放電しない
。使用回数の表示またはブザーによりプローブ１ノの寿
命全知ってプローブを交；火し、結石破壊装置全書び作
動する場合に（す、リセットスイッチ２１が作動されカ
ウンタ１８がリセットされる。これにより、表示器１９
はＱＱＯＯにリセットされｌｎ１時にブザー２０が停止
する。また、リレー１４が消勢され常閉接虞が閉成する
。この状態で放電結石破壊装作は動作可γｉ′Ｉ？な状
列となる。

放電プローブ１１が交換したばかりで使用された場合に
は、寿命以前に使用が終了するのでこの場合には使用終
了時の使用回数、即ち放電回数を表示器１９の表示で確
認し、その放電回数を第４図に示すようにプローブ１１
のソケットに張付けられた３己録紙２３に記入し記録に
止どめる。このプローブ全再度使用するとき記録紙２３
に記録された放電回数、例えば”５７＃全寿命回数、例
えば１２３４″力・ら差引いた値、即ち’１１７７”が
設定ス・イッチ２４によってカウンタ１８に設定される
。従って、この後、寿命が１１７７としてプローブの使
用状態が監視される。

第５図の実施例によると、パルスＡを計数するカウンタ
２５は計数開始値が設定できるカウンタで構成され、プ
ローブ１１にはメモリ２６が設けられる。メモリ２６は
電池２７でバックアップされる。

上記の装置によると、カウンタ２５の計数個が表示器１
９に入力され表示されると共にメモリ２６に入力され記
憶される。メモリ２６に記憶された計数値はカウンタ２
５に戻されカウンタ２５の計数値と比較される。メモリ
内容とカウンタ内容とが同じであると何等変化は生じな
い。

別のプローブ１）が装着され、この新たなプローブの目
盛、りの内容がカウンタ２５の内容と異なるとカウンタ
２５はメモリ２６の内容に更新される。カウンタ２５は
更新された放電回数から計数を開始し計数結果全表示器
１９及びメ、モリ２６に入力する。即ち、この実施例で
は、装着されるプローブの使用回数に応じてカウンタの
内容が更新され放電回数が監視される。

尚、プローブ１ノに設けられるメモリ２６及び電池２７
は第６図に示されるようにプローブのプラグに内蔵され
る。

第７図の実施例によると、パルス発生器１５の出力が抵
抗２８を介してトランジスタ２９のペースに接続される
。トランジスタ２９のコレクタは抵抗３０ｆ介してプロ
ーブ１ノに内蔵される電池４０の正極に接続されると共
にオペアンプ３１の一方入力に接続される。オペアンプ
３１の出力は抵抗３２及びメータ３３を介してトランジ
スタ２９のエミッタに接続されると共にプローブ１１の
電池４０の負極に接続される。

また、オペアンプ３１の出力は他方入力に接続されると
共に抵抗３４を介して第４アンプ３７の一方入力に接続
される。この一方入力は抵抗３５及び基準電源３６を介
してトランジスタ２９のエミッタに接続される。オペア
ンプ３７の出力は抵抗３８　、３９の直列に介してＴ：
、ｉ電源３６の負極に接続されると共にダイオード４２
を介してリレー１４及びブザー２０に接続される。

丘記構成によると、パルス発生器１５からパルスＡが発
生する毎に、ｉｎｎち、放電が行われる毎にトランジス
タ１がオンとなりプローブ１１のｉＩ（池４０が放電す
る。このため、プローブ１１の使用頻度が多くなるに従
って重油４θの電圧が低下する。この電池電圧はオペア
ンプ３１で構成されるバッファを介してメータ３３に表
示される。このメータの目盛りが放電回数に対応するこ
とになりこの目盛りから放電回数が判断できる。メータ
３３にはプローブ１１の寿命に対応するゾーン４１が記
されており、メータ３３の目盛りがこのゾーン４ノに入
るとプローブ１１が寿命に達したと判断する。

バッファ３１の出力、即ち、電池４０の電圧はオペアン
プ３７で構成される比較器によって基準値と比較され、
寿命に対応する値に達するとオペアンプ３７の出力が反
転する。これにより、ブザー２０が警報音を発し、リレ
ー１４は付勢されプローブ１１が放電不能となる。

第９図の実施例によると、ソケット１０に発光素子（発
光ダイオード）アレー４４及び受光素子（太陽［池）ア
レー４５が上下に平行に配設され、夫々の素子は同数で
互いに対応して配置される。プローブ６ノのプラグｌｌ
ｂには電解式積算メータ４３が設けられている。電解式
積算メータ４３は；市電されることにより電気化学的に
通電′Ｗｒ全積算し積算値を表示マーク５３で表示する
ように構成されている。この電解う積算メータ４３を備
えたプローブブラダｌｌｂがコネクタ１０に接続された
とき第１０図に示すように表示マーク５３は発光ダイオ
ード９７Ｖ−４４及び受光素子アレー４５との間に位置
する。

＠１１図に示すように、パルス発生器１５に抵抗４６を
介して接続されるトランジスタ４Ｈのエミッタは発光ダ
イオードアレー４４のカソードに接続されると共に電池
４９の負極に接続される。トランジスタ４８のコレクタ
は抵抗４７ｆ！：介して電解式積算メータ４３に接続さ
れる。電池４９の正極は抵抗５４を介して発光ダイオー
ドアレー４４のアノードに接続されると共に電解式積算
メータ４３に接続される。

太陽電池アレー４５の各素子は電流増幅回路５０の対応
する増幅器及び抵抗５ノを介して発光ダイオードアレー
５２の対応する発光素子に接続される。発光ダイオード
アＶ−５２は第１２図に示すように放電結石破壊装置の
パネルに取付けられる。

上記の放電結石破壊装置によると、パルス発生器１５か
らノ９ルスが発生される毎にトランジスタ４８がオンと
なり電解式積算メータ４３に電池４９からの電流が流れ
る。この電流によって電解式積算メータ４３の表示マー
ク５３が移動し放電回数に対応する値を示す。この表示
マーク５３は発光ダイオードアレー４４と太陽電池アレ
ー４５とによって光電検出される。即ち、表示マーク５
３がその位置に対応する発光素子と受光素子とで検出さ
れる。受光素子の出力は電流増幅回路５０の対応する増
幅器を介して発光グイオート９アＶ−５２の対応する発
光ダイオードを駆動する。発光ダイオードアレーー５２
の発光した発光ダイオードから放電回数を知ることがで
きプローブ１１の残り寿命が判断できる。

寿命に対応する発光ダイオードが点灯したときブザーが
鳴り、かつ放電に不能にするためリン−が付勢されても
よい。

第１３図の実施例では、電解式積算メータ４３がプロー
ブプラグｌｌｂの外部から見えるように設けられ、電池
４９＋′ｉプローブプラグＪｌｂに内蔵される。これに
よると、放電回数がメータを直接読取ることにより知る
ことができる。

第１４図に示す実施例によると、プローブ６ノはフンキ
シプル部材により形成される。このプローブ６１の先端
には、一対の放電電極６２ａ、６２ｂが取付けられる。

これらＩＪＴ、　Ｑｐ５２ａ、６２ｂはプローブ６ノの
後端に設けられた端子６　、Ｙ　＆　、　６３　ｂ　Ｋ
電気的に接続される。

このプローブ６１の後端部には、抵抗ユニット６４が内
蔵される。この抵抗ユニット６４の両端はプローブ６１
の後端に設げられた端子６３Ｃ２６３ｄに接続されろ。

プローブ６ノは結石破壊装置に着脱自在に接続される。

交流電源６５は電源スィッチ６６を介してトランス６７
の一次巻線６７ｙｈに接続される。トランス６７の二次
巻線６７ｂはダイオードブリッジ整流回路６８を介して
充放電回路６９に接続される。光放電回路６９は例えば
、ＣＰＵで構成される制御部７ノから放電指令信号を受
けるとこの信号に応答して・ンルス状の′【（！圧を出
力するように構成され、その出力端子はプローブ６１に
接続される。

トランス６７の二次′＃Ｊ＠　６７　ｃは定電圧回路７
０に接続される。この定電圧回路７０の出力端子は制御
部７Ｉに接続される。この制御部７１は、また、放電ス
イッチ７２、発光ダイオード７３、抵抗溶断回路７４、
抵抗値検知回路７５に接続される。発光ダイオード７３
はプローブ６Ｉの放電電極の寿命を報知するために設け
られている。

抵抗ユニット６４は互いに並列接続された複数の抵抗体
Ｒ１、Ｒ２、ＲＪ　、Ｒ４，Ｒ５を含Ｘ７でいる。これ
ら抵抗体Ｒ１，Ｒ，２，Ｒ３゜Ｒ４、Ｒ５は異なる値の
電圧により溶断される特性を有する。抵抗溶断回路７４
は制御部７１から溶断指令信号が供給される毎に異なる
値の電圧、例えば、順次上昇する電圧を出力する回路に
より構成される。抵抗値検知回路７５は端子６３ｃ　、
　６３　ｄを介してプローブ６１の抵抗ユニット６４の
抵抗値を検知し、検知した抵抗値の情報を匍制御部７）
に入力する。

次に、第１４図及び第１５図に示す実施例の動作を説明
する。プローブ６１が結石破壊装置に装着され、電源ス
ィッチ６６がオンにされると、充放電回路６９は内蔵キ
ャパシタ（例乏げ、第１図に示すキャノクシタ７）を充
電１２、抵抗値検知回路７５はプローブ６ノの抵抗ユニ
ット６４の抵抗値を検出する。抵抗ユニット６４の抵抗
値が所定値以下のときに放電スイッチ７２が押圧される
と、制御部７１から光放電回路６９に放電命令信号が出
力される。光放電回路６９は放電指令信号によって内蔵
の放１に管（第１図の放電管８）を導通させて内蔵キヤ
・ンシタをパルス状に放電し、電圧パルスを出力する。

電圧Ａ？ルスはプローブ６１の（支）子６３ａ、６３ｂ
を介して放電電極６２＊、６２ｂに印加されることによ
り放電電極６２１Ｌ、６２ｂ間で放電が生じ、この放電
により結石が破壊される。この放電は放電スイッチ７２
がオンにされる毎に行われる。

制御部７Ｉは放電指令信号を発する毎に内蔵カウンタを
カウントアツプし、放電回数を計数する。カウンタのカ
ウント値が所定値に達すると、制御部７１は抵抗溶断回
路７４に溶断指令り号を入力する。抵抗溶断回路７４は
溶断指令信号に応答して溶断電圧を抵抗ユニット６４に
入力する。抵抗ユニット６４においては、抵抗溶断回路
７４からの溶断電圧により、例えば、抵抗Ｒ１が溶断さ
れる。抵抗溶断回路７４は溶断指令信号を受ける毎に順
次高くなる電圧を抵抗ユニット６４にイ共給するので１
．ｔ＋を抗体Ｒ７゜Ｒ２、Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５は印加電圧
により順次溶断される。抵抗体が順次溶断され、抵抗ユ
ニット６の抵抗値が所定値以上になると、抵抗値検知回
路１５０出力倍号に応答して１ム制御部７１は発光ダイ
オード７３を点滅させると共に光放電回路６９の放電回
路系を放電禁止状態にする。

発光ダイオード７３の点滅は操作者に対して放電電極の
寿命によりプローブの交換の必要性を報知する。

プローブ６ノが交換されると、抵抗値検知回路７５によ
ってプローブ６１の抵抗ユニット６４の抵抗値が検出さ
れる。プローブの交換により抵抗ユニット６４の抵抗値
は所定値以下となるので発光ダイオードの潰滅はなくな
り、放電が再開可能となる。尚、プローブ６１が結石破
壊装置のコネクタに接続されていない場合には、抵抗値
検知回路７５は無限大抵抗値を検出していることになる
ので発光ダイオード７３は虞滅し、放電電極間での放電
は禁止される。

抵抗ユニット６４の抵抗体ＲＺ、Ｒ２，ＲＪ。

Ｒ４、Ｒ５の溶断のアルゴリズムは例えば、次のように
設定される。

１、電源投入後６回目の放′屯時に第１抵抗体Ｒ１を溶
断する。

２、第１回溶断以降は５００回目の放電毎に抵抗体Ｒ２
、Ｒ３、Ｒ１及びＲ５はＩＪ（ｉ次溶断される。

３　全での抵抗体が溶断されると、プローブは寿命に達
し、アラームが鳴動する。

上記設定条件の下に、例えば、プローブ６１の放１１電
極の寿命が２０００回であるとする。最初の電源投入後
に６回の放電がなされると、抵抗Ｒ１は溶断される。こ
の後に、放電が１１次行われ、放電回数が５００回に達
すると、抵抗Ｒ２が溶断される。更に放電がなされ、放
電回数が１０００回、１５００回、２０００回と進むに
連れて、抵抗体Ｒ３、Ｒ４、Ｒ５力員−矢溶断される。

抵抗体Ｒ５が溶断された時漬、即ち、放電を江極の待命
に達した時に発光ダイオード７３が、貞滅し、放′ｌｆ
１＃１作が禁止される。

放電が５００回に満たないときには、市源投入毎に抵抗
体は溶断するので５回投入イゲに発光ダイオード７３は
虜滅する。

２４１６図に他の実施例が示されている。この実用例（
・てよると、抵抗ユニット６４に表示回路７６が接続さ
れる。この表示回路７６と抵抗ユニット６４との回路構
成が第１７図に示されている。第１７図の回路に示すよ
うに、互いに並列接続された抵抗体Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３，
Ｒ４。

Ｒ５により＋ｉ成される抵抗ユニット６４の一方出力端
子は表示回路７６の抵抗Ｒ６を介して電源Ｅに接続され
、ｆｔ！！端は抵抗Ｒ１３に接続されると共に基準電位
極、即ち、接地極に接続される。電源Ｅは抵抗Ｒ７〜Ｒ
１２を直列に介して抵抗ＲＩ３に接続される。抵抗Ｒ７
〜Ｒ１２の接続ノードはコンパレータＵ１〜Ｕ６の反転
入力端子に夫々接続される。コンパレータＵ１〜Ｕ６の
非反転入力端子は抵抗Ｒ６を介して電源Ｅに接続される
。コンパレータＵ　１−Ｕ　６の出力端子は抵抗Ｒ１４
〜Ｒ１９を介してＬＥＤ　ＰＩ〜Ｐ６に夫々接続される
。

上記接続状態により、コンパレータＵ１〜Ｕ６の反転入
力端子には比較基準車圧■１〜ｖ６が夫々印加される。

電圧Ｖ、はプローブ６１の出力端子に現われる電圧、即
ち、抵抗ユニット６４の出力抵抗に比例した電圧であり
、この電圧Ｖは次の式で表わされる。コンパレータＵ１
〜Ｕ　６の出力端子は抵抗Ｒ１４〜Ｒ１９を介してＬＥ
Ｄ　Ｐ　１〜Ｐ６に夫々接続される。

Ｖ、＝Ｅ−Ｒ，／（Ｒ，＋Ｒ６） Ｒ，ニゲローブの出力抵抗 第１６図の実施例において、電源スィッチ６４が投入さ
れ、抵抗ユニット６４の出力抵抗値が所定以下において
放電スイッチ７２がオンにされると、制御部７１は充放
電回路６９に放電指令信号を入力する。この放電指令信
号に応答してプローブ６１の放電電極間で放電が生じる
。放電回叡は；ｂ制御部６１に内蔵されたカウンタによ
りカウントされ、このカウント匝が所足値に達すると、
制飢部６１は抵抗溶断回路６４に溶Ｆ！ｆｒ指令信号を
供給する。抵抗溶断回路６４は溶断指令信号に応答して
溶断１［正金ｔ↓（抗ユニット６４に供給するがこの抵
抗ユニッ）・６４のシ（抗ＲＺ−Ｒ５の全てが溶断され
ていないときの抵抗ユニット６４の出力抵抗Ｒ，Ｉは次
式で表わされる。

Ｒ，１＝Ｒ１／／Ｒ２／／Ｒ３／／Ｒ４／／Ｒ５このと
きのプローブ６１の出力端子に現われる電圧Ｖ、　ｉ　
＆ま次式の値となる。

Ｖ、７＝Ｅ　−ｇ、ｚ／（Ｒｐｌ＋Ｒ６）この電圧ｖ１
はｖｐｌくｖ６〈ｖ５くｖ４〈ｖ３〈ｖ２〈Ｖｌ＜Ｅと
なるように設定されているので、ＬＥＤＰ１〜Ｐ６は全
て点灯される。

プローブ６１が過去に２回使用され、抵抗ユニット６４
の抵抗Ｒ１、Ｒ２が溶断されていると、このときの抵抗
ユニット６４の出力抵抗Ｒ，２は次式で表わされる。

Ｒ，２＝Ｒ３／／Ｒ４／／Ｒ，５ このときのプローブ６ノの出力端子に現われる電圧Ｖ、
２は次式の値となる。

Ｖ、２＝Ｅ−Ｒ，２／（Ｒ，、ｌ’十Ｒ６）この電圧Ｖ
、２はｖ６ぐＶ５〈Ｖ、２＜Ｖ　Ｊ（Ｖ　３〈ｖ２〈■
Ｉ＜Ｅとなるように設定されているので、ＬＥＤ　Ｐ　
１〜Ｐ４は漬灯され、ＬＥＤ　Ｐ　４　。

Ｆ５は消灯される。即ち、ＬＥＤ　Ｐ　４　、　Ｐ　５
の消灯によりプローブが過去に２回使用されたことが分
る。

上記のように、抵抗ユニットの抵抗Ｒ１〜Ｒ５がプロー
ブ６１の使用回数に応じて順次溶断され、抵抗Ｒ１〜Ｒ
５が順次溶断される毎に、Ｑ灯しているＬＥＤ　Ｐ　１
〜Ｐ６が順次消灯される。

抵抗Ｒ１〜Ｒ５の全てが溶断されると、ＬＥＤＰＩだけ
が点灯し、残りのＬＥＤ　Ｐ　２〜Ｐ６は全て消灯する
。ＬＥＤ　Ｐ　１が赤色光を発生し、残りのＬＥＤ　Ｐ
　２〜Ｐ６は緑色光を発生すれば、緑色ＬＥＤの点灯数
から使用回数が認識でき、赤色ＬＥＤの発光により放電
禁止を知ることができる。

第１６図の実施例によると、プローブの放′准は極の寿
命が２０００回であるとすると、２０００回の放電によ
り、抵抗Ｒ１〜Ｒ５の全てが溶断され、ＬＥＤ　Ｐ　１
だけが点灯され、プローブが使用不能となる。放電回数
が５００回に満たない時には電源投入かつ６回放電毎に
土１（抗は溶断される。従って、５回の′電源投入によ
りＬＥＤ　Ｐ　１だけが廣灯し、プローブ使用不能が知
らされる。

第１６図の実施例では、未溶断の抵抗の数に対応する数
のＬＥＤが点灯されているが出力抵抗値に対応して設け
られた１つのＬＥＤが点灯されても良い。また、プロー
ブ寿命を報知する手段として発光ダイオード”が用いら
れているがブザーまたは音声発生装行が用いられても良
い。

第１８図に示す実施例によると、プローブにヒユーズユ
ニット８１が設けられ、このヒユーズユニット８１には
複数のヒユーズＦｌ−Ｆ５が設けられる。これらヒユー
ズＦ１〜Ｆ５の一端は共に端子８２に接続され、他端は
切換スイッチ８３の接虜に夫々接続される。切換スイッ
チ８４のコンモン接虜は端子８３に接続される。

ヒユーズユニット８１の柚子８２．８３はプローブが結
石破壊装置のコネクタに接続された時にヒユーズ検出器
８５及びヒユーズ溶断回路８６に接続される。

第１８図の実施例において、ヒユーズユニット８１のヒ
ーーズＦ）が溶断されており、切換スイッチ８４がヒユ
ーズＦ２に切換えられているとする。この状態の時に結
石破壊装置の電源が投入されると、ヒユーズ検出器８５
はヒユーズユニット８１のヒユーズＦ２−１検知する。

こノヒュー、ｌ”Ｆ２が溶断されていないと、プローブ
が使用可能と判断され、結石破壊装置による放電砕石が
実行できる。放電砕石が実行されると、ヒユーズ溶断回
路８６がヒユーズ溶断定流をヒユーズＦ２に倶給し、こ
のヒユーズＦ２を溶断する。この後、電源が斧断される
まで放電の衝繋波により結石が破壊される。

電源が遮断され、再度電源が投入されると、ヒユーズ検
出器８５は肖びヒユーズＦ２を検出する。このとき、ヒ
ユーズＦ２は溶断されているのでプローブは使用不ηｇ
と判断される。この場合には、切換スイッチ８４がヒユ
ーズＦ３に切換えらね１、ヒユーズ検出器８５がヒユー
ズＦ３を検出することによりプローブが使用可能となる
。このように、べσＱが投入される毎に、ヒユーズが溶
断されヒユーズが切換えられて、最後ヒユーズＦ５が溶
断され、このヒユーズの溶断がヒユーズ検出器により検
出されたとき、このヒユーズユニットを備えたプローブ
が寿命と判断される。

ヒユーズユニット８１のヒユーズの切換には、ｇ＠　１
９図乃至第２０図に示される手段がある。

第１９図によると、ヒユーズＦ１〜Ｆ５が収納されたヒ
ユーズシリンダ９ノがコネクタづ２に回転ｏＴｆｔｌ？
に装着される。ヒユーズシリンダ９ノはヒユーズを切換
えるときに手により回転される。

第２０図によると、ヒユーズＦ１〜Ｆ５が収納さ冶た筒
体９３がコネクタ９４の外周に回転可能に装着される。

筒体９３は手により回転されることによりヒユーズＦ１
〜Ｆ５がＩｌ＆′ｉ？′に切換えられる。

第２１図によると、スライドスイッチ９５がコネクタ９
６に取付けられ、このスライドスイッチ９５の接虞にヒ
ユーズＦ１〜Ｆ５が＋ｆ：続される。スライドスイッチ
９５が１から５へと順次切換えられることによりヒユー
ズＦ１〜Ｆ５が順次切換えられる。

尚、第１９図乃至第２１図において、ヒーーズシリンダ
９ノ、筒体９３及びスライドスイッチ９５は逆転不可能
に構成されている。これら切換部材が逆転可能に構成す
ると１例えば、ヒユーズＦ１の溶断によりヒユーズＦｌ
からヒユーズＦ２に切換えられ、ヒユーズ検邑器８５が
ヒユーズＦ２の非溶断を検出した後に、切換部材が再び
ヒユーズＦ１に戻されると、ヒユーズＦ２は溶断される
ことなくプローブは永続的に使用可能となる。

第２２図の実施例によると、プローブのコネクタピン１
０１ａが接点１０２に接続される。このシロ０２は接続
レバー１０３によってパラフィン部材１０４に連結され
ている。接点１０２は接点１０５に接触されている。接
点１０５は抵抗素子により構成され、・！ラフイン部材
１０４に当接するストツ、’？ｌ０６ｆ介して一方の放
電電極１０７ａＫ接続される。他方の放電電極１０７ｂ
はコネクタピン１０１ｂに接続される。

第２２図に示すプローブに放電１１℃流がコネクタピン
１０１ａ及び１０１ｂを介して供給され、放電電極１０
７ａ、ｚ０７ｂ間で放電が生じる毎に掛抗ストッパ１０
６に電流が流れ、このストッパ１０６が加熱される。ス
トン・９１０６の熱によりパラフィン部材１０４が溶解
さね、る。パラフィン部材１０４はスプリング１０８に
より接点１０２の側部から加ソられる押圧力によりスト
ッパ１０６に圧接されているので・やラフイン部材１０
４は放電毎に発生するストン／？１０６の熱により変形
される。所定回の放電が行われ、ノにラフイン部材１０
４がストン／ｆ　１０６の熱により切断されると、ノン
ラフイン部材１０４はストツノ２１０６から外れ、接点
１０２が第２３図に示すように接点１０５から切離され
る。従って、このプローブの放電電極１０７ｈ、１０７
ｂには放１４電流は供給されなくなり、放電が不可能と
なる。即ち、＠２２図の実施例によると、ツクラフイン
部材１０４及び抵抗ストッパ１０６が放ｉ電極寿命検出
器として機能し、プローブの使用限度が察知できる。

第２４図の実施例においては、プローブの放電電極１１
１ａ、１ｌｌｂ間に放電管１１０が接続される。一般に
放ｔＸ極１１１ａ、１ｌｌｂ間テ（Ｄ放電１を回数が増
加するに従りて放電電極１１１ａ。

１１１ｂの消耗により放電電極１１１ａ、１ｌｌｂ間の
ギャップが増加する。このために、電極ギャップに応じ
て放電開始電圧が増加される。

第２５図には放電回数と電圧の関係が示されている。こ
の図において、曲＠ａが１「極間放電開始電圧全示し、
曲線す及びＣは放′１［を管１１０の放ｔ１ｆ圧及びキ
ヤ・ンシタ１１２の光’Ｋ　ｔ＆、圧を夫々示ス。トリ
が回路１１４のトリがパルスにより放電管１１３が４通
し、キャパシタ１１２の充電電圧が放′ｉ１！管１１０
及び放′ルトぼ極１１１ａ＋１１１ｂに印加されるとき
、放′α′ル極の放？１工開始ｉｊ圧が放電管１１０の
放電電圧以下であれば；に極間で放電するがその放電開
始電圧ａが放電管１１０の放軍五圧す以上となるとキヤ
・々シタ１１２から印加される電圧は放電管１１０によ
りバイパスされる。これにより、プローブの放電電極の
寿命が検知される。

第２６図の実施例によると、放電結石破壊装置において
検出される放電回数データ、例えば、第１図のカウンタ
１８のカウント内容を記憶するメモリ１２１がプローブ
に設けられる。このメモリ１２）はスイッチドライブ回
路１２２に接続される。スイッチドライブ回路１２２に
は、所定放電回数（電極寿命対応する放電回；ｉ）を表
わす基準データとメモリ１２ノからの実際放電回数を表
わすデータとを比敬する比軸器とこの比較器の出力によ
りドライブ信号を出力するドライバが設［すられている
。このドライブ信号によってトランジスタ１２３がオフ
にされると結石破壊装置の放電回路が開放される。即ち
、放’ｒｉｉが禁止される。

第２７図の実施例ＶＣよると、放電電体１２４＋ｙ１２
４ｂを介して流−ｎる放電′ｊ江流が電流検出用トラン
ス１２５により検出され、このトランス１２５により検
出された放電電流がアナログメモリ１２１に記憶される
。アナログメモリ１２１の記憶内容、即ち、実際放電回
数データはスイッチドライブ回路１２２の基準データと
比較される。スイッチドライブ回路１２２からのドライ
ブ信号によりスイッチトランジスタ１２３がオフにされ
る。トランジスタ１２３のオフにより放電が禁止される
。

第２８図の実施例によると、プローブコネクタ１３１内
にパルスモータ１３２が設けられ、このノｆルスモータ
１３２のシャフトに回転接触子１３３が結合される。こ
の回転接触子１３３の先端に回転板１３４が取着されて
いる。回転接触子１３３にはブラシ１３５に接触する接
触片１３３ｔｈ、１３３ｂが設けられている。回転板１
３４には、第２９図に示されるように接触片１３４ｈ、
１３４ｂが設けられている。接触片１３４ａ。

１３４ｂは結石破壊装置に接続されるコネクタ１３７に
設けられた接触ビン１３７ａ、１３７ｂに接触される。

接触片１３３ａ、１３３ｂ及び接触片１３４ａ、１３４
ｂは夫々互いに接続されており、ブラシ１３５の接触子
１３５ａ、１３５ｂｆ介して放電電極に接続される。

パルスモータノ３２は放電に同期するドライブノ！ルス
により駆動される。このドライツノ４ルスは、例えば、
第１図の実施例の単安定マルチバイブレータ１７の出力
に同期して／４’ルスを発生するドライブノクルス発生
器から得ることができる。ノ母ルスモータ１３２がドラ
イフハルスにより回転されると、このモータの回転に伴
って回転接触子１３３及び回転板１３４が回転する。

回転板１３４の回転中において結石破壊装置のコネクタ
１３７の接触ビン１３７ｇ、１３７ｂが回転板１３４の
接触子１３４ｍ、１３４ｂに接触している時には、放？
！！電流が接触ビン１３７ｈ、１３７ｂ。

接触片１３４ａ、１３４ｂ、接触片１３３ａ、１３３ｂ
及びブラシ接触子１３５ｈ、１３５ｂを介して放電電極
に流れる。接触ビン１３７ａ、１３７ｂが回転板１３４
の非導通部に位置すると、放電電流路は遮断され、放電
は禁止される。

回転板１３４に取付けられた指示ビン１３８は回転板１
３４と共に移動し、第３０図に示すように放電回数を指
示する。

第３１図及び第３２図はラチェット梯５構１４１が設け
られた実施例を示している。これによると、回転板１４
２に近接して電磁プランジャ１４３が設けられ、この電
磁プラン・シャ１４３が放電全開始させるトリが・ンル
スに同期１．テ付勢されることによりラチェット機構１
４１が作動され、回転板１４２が１ステップ回転する。

回転板１４２がラチェット機構の動作に従って順次回転
されることにより放電回数が測定でき、かつ放電寿命が
検出できる。

第３３図の実施例では、パルスモータ１３２のシャフト
に結合された回転板１４３に絶縁性突起片１４３ａが設
けられている。この突起片１４３ａは回転板１４３が放
電電極の寿命に対応する角ザだけ回転するとプローブコ
ネクタ１３７の接触ビン１３１ａと結石破壊装置のコネ
クタＪ３７の接かビン１３７ａとの間にｐｋ人される（
第３４図）。この状態では、放電が不可能となり、放を
電極の寿命が検出される。

第３５図の実施例では、プローブコネクタ１３１に発光
素子１４５及びこの発光素子１４５の発′ｙｆ、′″Ｊ
ｔ、に感光する感光フィルム１４６が設置られてｂる。

発光素子１４５は放電に同期して発光され、感光フィル
ム１４６は発光素子１４５０発光量に応じて感光される
。感光フィルム１４６は感光されるに従って抵抗値が増
加するのでこの感光フィルム１４６に電極を接続し、こ
の電極を介して感光フィルム１４６に電流を流すと、こ
の電流は第３６図のグラフに示すように感光フィルム１
４６の感光量に応じて変化する。従って、感光フィルム
１４６に流れる電流を検出することによりこの電流情が
ら放電回数が検出でき乙。

第３７図の実施例では、プローブコネクタ１３ノの接触
ビン１３１ｂに発熱抵抗１４７が接続される。この発熱
抵抗１４７は接触ビン１３１ｂに供給される放電電流に
よって発熱し、熱線１たは赤外線を発生する。感光フィ
ルム１４６は熱線または赤外線によって感光される。従
って、第３５図の実施例と同様にして感光フィルム１４
６に流れる電流を検出することにより放電電極の寿命が
検出できる。

第３８図には、複数の放電プローブ１５１〜１５５が接
続され、これらプローブの使用回数及び寿命をチェック
するプローブチェッカ１５０が示されている。このプロ
ーブチェッカ１５０はプローブ１５１〜１５５を接続す
るコネクタの下部に放電チェックスイッチ１５６〜１６
０を有している。また、上部には、使用回数を表示する
表示パス・ル１６１〜１６５が設けられている。プロー
ブ１５１〜１５５には放′市回数を記録するメモリが設
けられ、これらメモリに記憶された放電回数データが表
示ノ４ネル１６１〜１６５に夫々表示される。放電チェ
ックスイッチ１５６〜１６０はオンにされると、対応す
るプローブが放電するか否かチェックできる。

第３９図の実施例によると、プローブの′眠極ライン１
７１ａに接続される導電体１７１ａを介して励磁フィル
１７２の一端に接続される。導電体１７２は補強材１７
３により補強される。励磁コイル１７４の他端は屈曲導
電体１７５を介してコネクタ端子１７６ａに接続される
。この導電体１７５の一方端近傍に鉄芯１７７が取付け
られ、この鉄芯１７７は励磁コイル１７４に挿入される
。電極ライン１７１ｂはコネクタ端子１７６ｂに接続さ
れる。

第３９図において、端子１７６ｍ、１７６ｂ間に放電電
流が供給されると、励磁コイル１７４は励磁され、鉄芯
１７７が移動する。この鉄芯１１７の動きは導電体１７
５に伝わり、この導電体１７５の屈曲部１７５ｂに曲げ
力を加える。

この曲げ力は放電電流により励磁コイル１７４が励磁さ
れる毎に生じる。従って、放電回数が進むに従って導電
体１７５の屈曲部１７５ａが疲弊し、最終的には破断す
る。この導電体の破断が放電寿命と判断される。

第４０図は第３９図の変形例を示す。これによると、導
電体１７Ｂが研石１７９のＮ極とＳ極との間に配設され
る。この導電体１８８に放ｔ￥ｌＬ流が流れる毎にファ
ラデの左手の法則により導電体１７８は震動される。こ
のため放電が進むに連れて、導？（７体１７８は金属疲
労を起こし、最終的に破断される。

第４１図の実施例によると、放電電極１８１ａ。

１８１ｂが設げられたコネクタ１８２にダミーコネクタ
１８３、ダミーコネクタ１８４及びメインコネクタ１８
５が順次結合される。コネクタ１８２〜１８４の各々の
凹部には接点Ａ及び接ＡＢが設けられ、凸部には接点Ｃ
が設けられる。

メインコネクタ１８５の凸部には開接点りが設けられる
。

メインコネクタ１８５がダミーコネクタ１８４に結合さ
れると、メインコネクタ１８５の開接点りにダミーコネ
クタ１８４の接ハＡがは寸り込む。メインコネクタ１８
５がグミ−コネクタ１８４から抜脱されるときにダミー
コネクタ１８４の接点Ａはメインコネクタノ８５の開接
点りによって掻き取られ、このダミーコネクタ１８４は
次回には使用できなくなる。従って、２回目のプローブ
の使用においては、メインコネクタ１８５がダミーコネ
クタ１８３に差し込まれる。このように、プローブの使
用毎にダミーコネクタが順次交換されるのでダミーコネ
クタの残りからプローブの使用限度が掴める。

第４２図の実施例によると、プローブに抵抗体１９）が
設けられ、この抵抗体１９１が結石破壊装置に設けられ
、抵抗体１９１の抵抗値を検出する抵抗値検出器１９２
に接続されろ。抵抗体１９１に対してレザー１９３が結
石破壊装置内に配設される。抵抗値検出器１９２及びレ
ザー１９３はＣＰＵ　１９４に接続される。抵抗値検出
器１９２は抵抗値を表示する表示器１９５に接続される
。

前Ｐ、抵抗体１９１は第４３図に示されるように基板１
９６とこの基板１９６の表面に形成される抵抗膜１９７
と基板１９６に設けられた電極１９８ｈ、１９８ｂとに
より構成される。レザー１９３のレザー光は可動ミラー
１９９によって抵抗膜１９７に指向され、抵抗膜１９７
を照射する。

上記構成において、ＣＰＵ　７９４は放電回数カウンタ
（例えば、第１図のカウンタ１８）から放電回数データ
を受げるとレザー１９３に駆動命令を与える。この駆動
命令に応答してレザー１９３はレザーｆを発生し、抵抗
体１９１の抵抗膜１９７を部分的に焼き取る。このとき
、抵抗体１９１の抵抗値は増加するがこの抵抗値は電極
１９／ｊｍ、１９８ｂを介して抵抗値検出器１９２によ
り検出され、表示器１９５に表示される。

上記のように、所定回数の放電が行われる毎に抵抗体１
９１の抵抗膜１９７がレザー光により堺き取られ、抵抗
値が増加する。この抵抗値が所定値になるとＣＰＵ　１
９４は放電電極の寿命と判〆し放電回路系を遮断する。

レザー１９３が抵抗体１９３の抵抗膜１９７を焼き取る
ときにレザー光を未焼き取り部分に移動させる必要が有
る。この場合、第４４図に示されるように、レザー１９
３がら抵抗体１９６の表面に弱いレザー光が照射される
。この弱いレザー光が抵抗膜１９６表面にコーチングさ
れたプラスチックフィルムから反射され、反射光がハー
フミラ−１９９を介して光検出器２００によって検出さ
れた時にレザーがレザー−Ｘを発生する。弱いレザー光
が焼き取った部分を胛射し、反射光が得られない場合に
は、ハーフミラ−１９９が移動され、レザー光のランデ
ング位置が移動される。移動位置では反射光が得られる
のでレザー１９３はレザー光の発生が可能となる。

第４５図の実施例によると、プローブに、放電回数また
は電源投入回数を記憶するメモリ２０１が設けられる。

このメモリ２０ノはヒーーズＲＯＭ　、　ＮＶ　（ｎｏ
ｎ　−ｖｏｌａｔｉｌｅ　）　ＲＡＭ　、バッテリ・ぐ
ツクアップＲＡＭ並びにこれらのメモリとＲＯＭとの組
合わせのメモリにより構成される。

ヒーーズＲＯＭは例えば、マトリックスに配列された多
数のヒユーズにより構成され、これらヒユーズを選択的
に溶断することにより情報の書込みを行なう。ＮＶ　Ｒ
ＡＭ及びバッテリ・ぐツクアップＲＡＭは電源が遮断さ
れてもメモリ内容が消失しないメモリである。

メモリ２０１は結石破壊装置のインターフェイス（ＩＦ
）２０２を介してＣＰＵ　２０３に結合される。メモリ
２０１としてヒユーズメモリが使用された場合には放電
毎または電源投入毎にｌＦ２０２ｆ介してメモリ２０１
に供給される信号に応答してヒユーズメモリのヒーーズ
が焼断される。従って、ヒユーズメモリのヒユーズの残
り数から放ｔｔ極の寿命が判断できる。この放電電極寿
命の判断はＣＰＵ　２０３がメモ＋）２０１の内容を監
視することにより行われる。

Ｎ〜’　ＲＡＭ及びバッテリバックアップＲＡＭは放電
毎または電源投入毎にＩＦ　２０２を介してメモリ２０
１に供給されるデータを記憶する。＋ｌ己憶データはＩ
Ｆ　２０２を介してＣＰＵ　２０３に入力されることに
より放電′７ａ極寿命が監視される。ＣＰＵ２０３が放
電電極寿命全判断すると、ＣＰＵ　２θ３は放電回路系
全遮断し、寿命のプローブによる放′市を禁止する。

メモリ２０ノに、プローブに適した放電パターンが発生
できるようなプログラムが記憶されていれば、プローブ
は最適な放電ノ４ターンで放Ｘを行なうことができる。

また、プローブの種類を表すデータがメモリに記憶され
ていると、結石破壊装置にプローブが接続された時１て
、両者の適合がチェックできる。

第４６図の実施例によると、プローブ内に、メモリ２０
１の他にＣＰＵ　２０３及び表示器２０４が収納されて
いる。ＣＰＵ　２０３は結石破壊装置本体から信号ライ
ン全弁して送られる放電回数データまたはＮ源投入回数
データを受けることによりこれらデータをメモリ２０１
に記憶させる。このメモリ２０１がヒユーズメモリのセ
）合には、データとしてヒユーズ溶断信号がＣＰＵ　２
０３に供給され、この信号に応答してヒユーズメモリの
ヒユーズが溶断される。メモリ２０１の記憶データはＣ
’ＰＵ　２θ３全介して表示器２θ４に表示される。こ
の場合には、プローブと結石破壊装＃１００との信号ラ
インの数がかなり減少できる。

第４７図の実施例では、プローブの使用回数が機械的に
測定される。プローブプラグＳＯＯの内部には接続ビン
３０１ｍ、３０１ｂが設けられる。プローブプラグ３０
０の外部にはカウンタユニット３０２が装着される。こ
のカウンタユニット３０２にはスライドビン３０３が摺
動可能て設げられる。このスライドビン３０３に近接し
てカウンタドラム３０４が回転可能に設けられる。カウ
ンタドラム３０４の周囲には使用回数を表わす数字が付
されている。カウンタドラム３０４の一方端部にはスラ
イド溝３０５が設けられている。このスライド溝３０５
にスライドビン３０３に設けられた突起３０３ａが係合
される。カウンタドラム３０４の他方端部は押圧部材３
０６により弾性的に押圧される。

上記構成のカウンタユニット３０２ｆ装着したプローブ
プラグ３００が結石破壊装置のソケット３０７に差し込
唸れると、ソケット３０７に設けられた突起３０７ａが
プラグ３００のスライドビン３０３を押込む。このとき
、スライドビン３０３の突起３０３ａがカウンタドラム
３０４のスライド？Ｆｔ３０５に滑り、カウンタドラム
３０４を回転させる。これにより、第４８図に示される
ようにカウント数字″１＃がカウンタユニット３０２の
表示窓３０２ＩＬに現われる。この数字はプローブの１
回目の使用を表わす。

結石破壊の治療が終了して、プローブプラグ３００がソ
ケッ）　３０７から抜脱されると、スライドビン３０３
はスプリング力により元の位置に復帰される。このとき
、カウンタドラム３０４はこのドラム３０４の他端に設
けられた係止溝３０４　ａ及び理工部材３０６に設けら
れた係合ビン３０６ａに回動不能に保持される。

プローブプラグ３００が再びソケッ）　、？　０７に差
し込まれると、同様な動作を経て表示窓３０２ａに数字
″２”が現われる。このように、プローブプラグ３００
がソケット３０７に差し込まれる毎に表示窓３０２ＩＬ
の数字が１つずつ増加し、プローブの使用回数を表示す
る。この数字からプローブの寿命が判断される。プロー
ブ寿命に対応する回数までカウンタドラム３０４が回転
すると、カウンタドラム、？　０４に設けられた突起３
０４ｂがスライドビン３０３の凹部、９０　ｊ　ｂに入
り込む。この状態では、スライドビンの移動が不可能と
なり、この後のプローブの使用が禁止される。

第４９図には、カウンタドラム３０１中央部にスライド
ビン３１１が摺動可能に挿入されている。このスライド
ビン３１１が結石破壊装置のソケット３０７の突起３０
７＆により押し込まれると、カウンタドラム、？　１０
の内面に設けられたスライド溝３１１ａとスライドビン
３１１の突起３１１ｈとの相互作用によりカウンタドラ
ム３１θが回転し、カウンタユニット３０２がカウント
アツプされる。

第５０図には、使い捨てプローブを用いる実施例が示さ
れている。プローブのプラグ４０１に軸方向のシリンダ
穴４０２が設けられる。このシリンダ穴４０２は結石破
壊装置のソケット４１０のビン４１１に位置的に対応す
るように設けられる。シリンダ穴４０２にピストン４０
．３が摺動可能に設けられ、このピストン４θ３はスプ
リング４０４によシ外方向に付勢されている。シリンダ
穴４０２に直交して横穴４０５がプローブプラグ４０１
に設けられている。この横７１：４０５にはロックビン
４０６が摺郵可能に設けられる。このロックビン４０５
はスプリング４０７によりピストン４０３の方向に付勢
されている。

第５０図のプローブプラグ４０１が第５１図に示される
ようにンケッｈ４１０に結合されると、プラグ４０１の
ピストン４０３がビン４１ノによってシリンダ穴４０２
に押込まれろ。このトキ、ピストン４０３がロノクピ／
４０６から外れ、ロックビン４０６がスプリング４０７
の付勢力によりシリンダ穴４０２に押込１れる。

この状態でプローブが使用され、プローブの放電１！極
における放電により結石の破壊が行われる。

結石破壊が終了すると、プローブプラグ４０１はソケッ
ト４１０から引き抜かれる。このとき、ロックピン４０
６がシリンダ穴４０２に児全に入り込み、シリンダ穴４
０２が第５２図に示されるようにロックピン４０６によ
り塞がれる。

この状態では、プラグ４０１を再びソケット４１０に結
合しようとしてもソケット４１０のビン４１１がプラグ
４０１のロックピン４０６に当接してプラグ４０１はソ
ケット４１０に結合できない。従って、このプローブは
再度の使用が不可能となり廃棄処分される。即ち、第５
０図のプラグを備えたプローブは一回の使用にて廃棄さ
れる使い捨てプローブとなる。

第５３図は他の例の使い捨てプローブのプラグ４２１ｆ
示している。プラグ４２１に設けられたシリンダ穴４２
２の内壁に、第５４図に示すように略９０度だけシリン
ダ大底方向に螺旋状に延びる溝４２３とこの溝４２３に
連通して外方向に延びる直線溝４２４が形成されている
。

この場合、螺旋溝４２３の先端よりも＠線溝４２４の先
端が若干長くなるように直線溝４２４がシリンダ壁に形
成される。また、この直線溝４２４の先端には段部４２
８が設けられる。シリンダ穴４２２にはピストン４２５
がｆＰｊ動可能に挿入される。ピストン４２５にはシリ
ンダ穴４２２の９４２３に対応して溝４２６が形成され
る。この溝４２６とシリンダ＠４２３との間にストッパ
スプリング４２７が嵌込壕れる。

第５３図のプラグ４２１がソケット４３０に結合される
と、プラグ４２１のピストン４２５がシリンダ穴４２２
に押込まれる。このとき、ストッパスプリング４２７が
螺旋溝４２３全摺動し、ピストン４２５と共にシリンダ
穴４２２内を約９０度だけ回転する。

プラグ４２１がソケット４３０に確実に結合されると、
プローブの放電電極に放′！ｌ！電圧が印加され、結石
破壊が行われる。結石破壊が終了し、プラグ４２ノがソ
ケット４３０がら引抜がれると、これに伴ってピストン
４２５がスプリング４２９によりシリンダ穴４２２から
押出される。このとき、ストッパスプリング４２７は直
線溝４２４に沿って移動し、直線溝４２４の終端で段部
４２８に嵌り込み、シリンダ５２５の先端がプラグ４２
１の端面から若干突出した状態でストツノ９スプリング
４２７によりロックさる。この状態ではシリンダ４２５
は移動不能　１となる。従って、このプローブは再使用
できなく、廃棄処分される。この再使用不能となったプ
ローブのプラグ４２ノでは第５６図に示される。ように
ピストン４２５の一部がコネクタ４２１の端面より突出
するので使用済みのプローブの見分けが簡単に行なえる
。

上述した実施例において、放ＪｆＩＬ電極の寿命を伸ば
すために放電電極は電気的絶縁性及び扁耐熱性を有する
材質、例λば、セラミックまたはガラスにより構成され
たプローブ先端チップに電極面を露出して埋め込才れる
。このような構成のプローブが用いられると、電極間で
放電が生じたときの熱によりプローブ先端チップが損傷
されることがなく、プローブの寿命が増す。

〔効果〕

上記説明した放電結石破壊装置により、放電プローブの
寿命が容易に把握でき、結石破壊治療においてプローブ
の不良により不都合が生じることが防止できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例に従った放Ｘ結石破壊装置
の回路図、 第２図は第１図の放電結石破壊装置の正面図、第３図は
第１図の装置の動作を説明するためのタイムチャート図
、 第４図はプローブ及びソケットの斜視図、第５図は他の
実施例であり、放電回数データを記憶するメモリを有す
る放電結石破壊装置の回路図、 第６図は第５図の放電結石破壊装置に用いられるプロー
ブ及びソケットの斜視図、 第７図は他の実施例であり、電池の放？［ｉを到用した
放電結石破壊装置の回路図、 第８図は第７図の放電結石破壊装置の正面図。 第９図は他の実施例の放電結石破壊装置に用いられるコ
ネクタ及びソケットの斜視図、第１０図は互いに結合さ
れた第９図のコネクタ及びソケットの断面図。 第１１図は第９図のソケットを用いた放電結石破壊装置
の回路図、 第１２図は第１１図の放電結石破壊装置の正面図、 第１３図は他の実施例の放電結石破壊装置に用いられる
プローブソケットの斜視図、第１４図は他の実施例であ
り、プローブ放電回数毎に溶断される抵抗体を設けた放
電結石破壊装置の回路１図、 第１５図は第１４図に用いられる抵抗体ユニットの回路
図、 第１６図は他の実施例であり、プローブの使用回数を表
示する機能金有する放電結石破壊装置の回路図。 第１７図は第１６図の放電結石破壊装置に用いられる表
示回路の回路図、 第１８図は他の実施例の放電結石破壊装置に用いられる
プローブのヒユーズユニット及び寿命検出部の回路図、 第１９図７５翌２１図は第１８図の実施例に用いられる
プローブの各種プラグの斜視図、第２２図は他の実施例
の放電結石破壊装置に用いられるプローブの回路図、 第２３図は電極寿命到来時の第２２図のプローブの回路
図、 第２４図は他の実施例であり、プローブに放電電圧検出
用放電管を接続した放電結石破壊装置の回路図、 第２５図は放電回数と放電電圧との関係を示すグラフ図
、 第２６図は他の実施例であり、放電回数を記録するメモ
リ及び放電回路遮断用イッチ素子を設けた放電結石破壊
装置の一部回路図、第２７図は他の実施例であり、放電
電流検出器、メモリ及び放電回路遮断用インチ素子を設
けた放電結石破壊装置の一部回路図、 第２８図は他の実施例の放電結石破壊装置に用いられる
プローブコネクタの構成図、第２９図は第２８図のコネ
クタに設けられモータを用いた寿命検出部の斜視図、 第３０図は第２８のコネクタの斜視図、第３１図はＮ磁
プランツヤを用いた寿命検出部の背面図、 第３２図は電磁プランジャを用いた寿命検出部の斜視図
、 第３３図は他の実施例に用いられるプローグに設けられ
る寿命検知部の斜視し１、 第３４図は寿命到来時における第３３図の寿命検知部の
側面図、 第３５図は他の実施例に用いられ、ＬＥＤと感光体を有
する寿命検知部を備えたプローブコネクタの構成図、 第３６図ばＬＥＤ発元発光と感光体を流れる電流との関
係を示すグラフ図、 第３７図は他の実施例に用いられ、感光体と発熱体とを
有する寿命検知部を備えたプローブコネクタの構成図、 第３８図は複数のプローブの寿命をチェックする装置の
斜視図、 第３９図及び第４０図は他の実施例に用いられる各種プ
ローブに設けられ、導電部材の物理的疲弊を利用した寿
命検知部の配ｇ！図、Ｗ、４１図は他の実施例に用いら
れ、複数のコネクタを有するプローブの断面図、 ＠４２図は他の実施例であり、レザーを用いた寿命検知
部の回路図、 第４３図及び第４４図は第４２図の寿命検知部の構成図
、 第４５図は他の実施例て用いられ、放電回数全記憶する
メモリを用いた寿命検出部の回路図、第４６図は他の実
施例に用いられ、放電回数を記憶するメモリ及び回数表
示器をプローブに設けた寿命検出部の回路図、 第４７図及び第４８図は他の実施例に用いられるプロー
ブのコネクタの構成図、 第４９図は他の実施例に用いられるプローブのコネクタ
の断面図、 第５０図は他の実施例の放電結石破壊装置に用いられる
プローブのプラグとソケットの側面図、 第５１図は互いに結合した第５０図のプラグとソケット
の側面図、 第５２図は第５１図の状態からプラグをソケットから抜
き脱したプラグとソケットの側面図、第５３図は他の実
施例の放電結石破壊装置に用いられるプローブの部分的
に切欠したコネクタとソケットの側面図、 第５４図は第５３図のプラグの断面図、第５５図は第５
３図のプラグのＡ−Ａ’線に沿った断面図、 第５６図は使用済みプローブのプラグの側面図。 ５・・・トランジスタスイッチ回路、７・・・キャパシ
タ、８・・・放’＃Ｉ！管、　Ｊ　ｏ・・・コネクタ、
１ノ・・・プローブ、１１ａ・・・放ＴＶ電極、１３・
・・放電開始スイッチ、１４・・・リレー、１５・・・
パルス発生器、１８・・・カウンタ、１９・・・表示器
、２０・・・ブザー、２４・・・設定スイッチ、２５・
・・カウンタ、２６・・・メモリ、３３・・・メータ、
４３・・・電解式積算メータ、４４・・・発光ダイオー
ドアレー、４５・・・太陽電池アン−１５２・・・発光
ダイオードアレー、６１・・・プローブ、６２ａ、６２
ｂ・・・放電電極、６４・・・抵抗ユニット、６９・・
・充放電回路、７１・・・制御部、７３・・・発光ダイ
オード、７４・・・抵抗溶断回路、７５・・・抵抗値検
知回路、７６・・・表示回路。 出願人代理人　　弁理士　坪　井　　　淳；、１　図 第２図 スイ、ン罎１３ スイ岬（２１ 第３図 第４図 第５図 第７図 第１０図 第１１図 第１２図　　　　　　第１３図 ｌ７７＋ Ｌ−一−スー　　　　−Ｊ 第１７図 第１Ｂ図 第１９図 第２０図 第２１図 第２２図 第２３図 ＩＪス 第２４図 第２５図 第２６図 第２７図 第２８図 第２９図　　　　第３０ｒＡ 第３１図　　　　　第３２図 第３３図　　　　　　第３４図 第３５図 第３６図　　　　　　第３７図 第４０図 第４１図 第４２図 第４３図　　　　　第４４図 （ｏＯ ｒ 第４７ｉ″２１ 第４８図 第５０図 第５１図 第５２図 第５３図 第５４図　　　　第５５図 第５６図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 放電電極を有するプローブと、 前記放電電極に放電を発生させるために前記プローブに
   放電電圧を印加する給電手段と、前記プローブの寿命を
   検知する検知手段と、前記寿命検知手段による寿命検知
   に応じて前記プローブの再使用を禁止する手段とを具備
   する放電結石破壊装置。