JPS62147371A - パルス幅測定器 - Google Patents

パルス幅測定器

Info

Publication number
JPS62147371A
JPS62147371A JP60288933A JP28893385A JPS62147371A JP S62147371 A JPS62147371 A JP S62147371A JP 60288933 A JP60288933 A JP 60288933A JP 28893385 A JP28893385 A JP 28893385A JP S62147371 A JPS62147371 A JP S62147371A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse
circuit
output
synchronized
period
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60288933A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JPH0424667B2 (enrdf_load_stackoverflow
Inventor
Hiroshi Tsukahara
塚原　寛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP60288933A priority Critical patent/JPS62147371A/ja
Publication of JPS62147371A publication Critical patent/JPS62147371A/ja
Publication of JPH0424667B2 publication Critical patent/JPH0424667B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
JP60288933A 1985-12-20 1985-12-20 パルス幅測定器 Granted JPS62147371A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60288933A JPS62147371A (ja) 1985-12-20 1985-12-20 パルス幅測定器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60288933A JPS62147371A (ja) 1985-12-20 1985-12-20 パルス幅測定器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62147371A true JPS62147371A (ja) 1987-07-01
JPH0424667B2 JPH0424667B2 (enrdf_load_stackoverflow) 1992-04-27

Family

ID=17736689

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60288933A Granted JPS62147371A (ja) 1985-12-20 1985-12-20 パルス幅測定器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62147371A (enrdf_load_stackoverflow)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005159963A (ja) * 2003-11-28 2005-06-16 Advantest Corp 高周波遅延回路、及び試験装置
WO2005069487A1 (ja) * 2004-01-20 2005-07-28 Advantest Corporation パルス幅調整回路、パルス幅調整方法、及び半導体試験装置
JP2006067383A (ja) * 2004-08-27 2006-03-09 Advantest Corp パルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法
WO2007088672A1 (ja) * 2006-02-02 2007-08-09 Sharp Kabushiki Kaisha リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法
JPWO2010035309A1 (ja) * 2008-09-24 2012-02-16 株式会社アドバンテスト 遅延回路およびそれを用いたタイミング発生器および試験装置
KR20140136983A (ko) * 2012-03-28 2014-12-01 테라다인 인코퍼레이티드 에지 트리거 교정
CN114264941A (zh) * 2021-11-01 2022-04-01 南方电网数字电网研究院有限公司 重合闸导前时间确定方法、装置和继电保护设备

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005159963A (ja) * 2003-11-28 2005-06-16 Advantest Corp 高周波遅延回路、及び試験装置
WO2005069487A1 (ja) * 2004-01-20 2005-07-28 Advantest Corporation パルス幅調整回路、パルス幅調整方法、及び半導体試験装置
JP4956003B2 (ja) * 2004-01-20 2012-06-20 株式会社アドバンテスト パルス幅調整回路、パルス幅調整方法、及び半導体試験装置
JPWO2005069487A1 (ja) * 2004-01-20 2007-12-27 株式会社アドバンテスト パルス幅調整回路、パルス幅調整方法、及び半導体試験装置
US7460969B2 (en) 2004-01-20 2008-12-02 Advantest Corporation Pulse width adjustment circuit, pulse width adjustment method, and test apparatus for semiconductor device
JP2006067383A (ja) * 2004-08-27 2006-03-09 Advantest Corp パルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法
US7855607B2 (en) 2006-02-02 2010-12-21 Sharp Kabushiki Kaisha Ring oscillation circuit, delay time measuring circuit, testing circuit, clock generating circuit, image sensor, pulse generating circuit, semiconductor integrated circuit, and testing method thereof
WO2007088672A1 (ja) * 2006-02-02 2007-08-09 Sharp Kabushiki Kaisha リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法
JPWO2010035309A1 (ja) * 2008-09-24 2012-02-16 株式会社アドバンテスト 遅延回路およびそれを用いたタイミング発生器および試験装置
KR20140136983A (ko) * 2012-03-28 2014-12-01 테라다인 인코퍼레이티드 에지 트리거 교정
JP2015514211A (ja) * 2012-03-28 2015-05-18 テラダイン・インコーポレーテッドＴｅｒａｄｙｎｅ Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ エッジトリガ較正
JP2018054628A (ja) * 2012-03-28 2018-04-05 テラダイン・インコーポレーテッドＴｅｒａｄｙｎｅ Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ エッジトリガ較正
CN114264941A (zh) * 2021-11-01 2022-04-01 南方电网数字电网研究院有限公司 重合闸导前时间确定方法、装置和继电保护设备
CN114264941B (zh) * 2021-11-01 2024-03-26 南方电网数字电网研究院有限公司 重合闸导前时间确定方法、装置和继电保护设备

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0424667B2 (enrdf_load_stackoverflow) 1992-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3499051B2 (ja) タイミング信号発生回路
JP2718664B2 (ja) 位相同期検出回路
US5793709A (en) Free loop interval timer and modulator
US6032282A (en) Timing edge forming circuit for IC test system
JPH0292012A (ja) パルス発生回路
JPH06118122A (ja) 遅延時間測定回路
JP2003513249A (ja) 信号エッジ間の間隔を測定するための装置
JPH05215872A (ja) 不安定状態回避回路および不安定状態を回避する方法
JPS62147371A (ja) パルス幅測定器
US5903522A (en) Free loop interval timer and modulator
US7046094B2 (en) Method and ring oscillator circuit for measuring circuit delays over a wide operating range
JP3483437B2 (ja) 半導体装置及びその試験方法
JPH0312803B2 (enrdf_load_stackoverflow)
US4335596A (en) Device for measuring the operation of a timepiece movement
KR950006468A (ko) 주기측정장치
KR20190063492A (ko) 실시간 캘리브레이션을 지원하는 tdc
JP2965049B2 (ja) タイミング発生装置
JPS6199415A (ja) 周波数カウンタ装置
JP6989397B2 (ja) 時間計測回路
JPH11101851A (ja) 遅延時間測定回路及び遅延時間測定方法
JP4004668B2 (ja) データ処理回路
JP2000147033A (ja) パルサのパルス幅測定装置
JPH06187797A (ja) メモリ集積回路
JPS63309888A (ja) 時間計測装置
JP2605895B2 (ja) トリガ信号発生器