JPS62144072A - 自動化学分析装置 - Google Patents

自動化学分析装置

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JPS62144072A
JPS62144072A JP28425685A JP28425685A JPS62144072A JP S62144072 A JPS62144072 A JP S62144072A JP 28425685 A JP28425685 A JP 28425685A JP 28425685 A JP28425685 A JP 28425685A JP S62144072 A JPS62144072 A JP S62144072A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
samples
sample
control
measurement
known concentration
Prior art date
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Pending
Application number
JP28425685A
Other languages
English (en)
Inventor
Akinami Ohashi
大橋 昭南
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP28425685A priority Critical patent/JPS62144072A/ja
Publication of JPS62144072A publication Critical patent/JPS62144072A/ja
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野] 本発明は血液等の検体と試薬とを混合してその反応状態
を測定する自動化学分析装置に関するものである。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
最近、この種の自動化学分析装置には多項目の分析を高
速で行うものであり、例えば人体より採血した血液の血
清をサンプルとして1検体づつカップに分注し、そのカ
ップを装置に載せると、自動的にそのカップから血清が
測定項目ごとの反応管に分注され、更にその反応管に各
測定項目に応じた試薬が注入されて、試薬と血清との反
応状態が測定部において光の透過度により測定され、血
液の分析が自動的になされるようになっている。
そして、このような自動分析装置においては従来より測
定値の精度を保つためにキャリブレーション等が行われ
ているが、それでもなお、第6図に示すように時間の経
過とともに測定値に経時変動が生ずるため、精度の向上
を図ることはなかなか困イであった。特に経時変動の原
因は機械固有のものばかりでなく、温度変化、試薬、検
体の薄発等によるものもあって特定ができないため、従
来、経時変動を監視し、あるいは自動的に補正して精度
の向上を図ることは困難であった。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、測定デ
ータの経時変動を自動的に補正して測定精度の向上を図
ることのできる自動化学分析装置を提供することを目的
とする。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するための本発明の概要は多数の検体を
順次連続的に測定する測定部を具えた自動化学分析装置
において、所定数の前記検体の前後に濃度が既知の、複
数種の検体をそれぞれ配すると共に、これら前後に配し
た検体の既知濃度と前記測定部により得られた既知濃度
の検体の測定値とに基づき補正係数を算出し、該補正係
数によって前記既知濃度の検体によって挟まれた検体の
前記測定部による測定値を補正するデータ処理部を設け
たことにある。
〔発明の実施例〕
以下、発明の実施例について図面を参照しながら説明す
る。
第1図は、本発明のブロック図であり、1はそれぞれ血
液等のサンプルと試薬とを混合した多数の検体を順次連
続的に測定する測定部、2は後に詳述するようにこの測
定部lによる測定値に基づき、その測定データを処理す
るデータ処理部である。
測定部1に検体を供給する手段は種々あるが、例えば、
従来より知られているように、検体をループ状にして搬
送し、その搬送経路中に測定部1を配設することにより
、測定部1に検体が連続的に供給されるようにすること
ができる。このようにして連続して供給される検体の一
部分を取り出した状態を第2図にその概念図として示す
。本発明は、第2図に示すように、多数の検体(例えば
2c0検体)X+ 、Xz・・・X、、の前後に既知の
濃度を持つ2種類の検体A、Bをそれぞれ配置する。
図示のものは、より精度の向上を図るために検体A、B
をそれぞれ3本づつ前後に配置しである(以下、この3
本の検体A、Bをそれぞれコントロール1、コントロー
ル2、ということとする。)そして、検体X+、Xz・
・・ X、と検体を挟む前後のコントロール1、コント
ロール2とで1グループが形成される。従って、連続し
て2個以上のグループを測定するとあるグループの検体
XI。
X2・・・x7と次のグループの検体X + 、 X 
z・・・X7に挟まれたコントロール1.コントロール
2は、その両側にある検体グループのコントロールの役
割をも果す。
さて、以上のように配置された検体X+、Xz・・・X
n及びコントロールl、コントロール2は連続的に第1
図示のように測定部1に供給されるので、測定部1は、
先ずコントロール1すなわち既知検体A、A、Aを測定
し、次いでコントロール2、すなわち既知検体B、B、
Bを測定し、続いて検体X+、Xz・・・X7を順次測
定し、最後にまたコントロール1、コントロール21c
 順次測定り、、以上、上記測定をくり返し、その測定
データは逐次データ処理部に送られる。
データ処理部2は、上記測定部1からの測定データに基
づき以下のような補正動作を行なう。
先ず、経時変動は、第6図に示すようにゆるやカテする
ので1つのグループ内についての経時変動は一定である
と考えることができ、また、各検体の濃度に対する測定
値の変動は直線的であると考えることができる(第3図
参照)。したがって、データ処理部2は、未知の検体X
1.Xz・・・Xlの各測定データをXi(i = 1
−n) 、補正係数をa、b、補正されたデータをYi
(i=1〜n)すると、 Yi= a−Xi+ b     −filという一次
式によって補正を行なう。
そして、データ処理部2は、この(1)式における補正
係数a、bを求めるために、前記検体X、。
×2・・・Xllの前後にそれぞれ配置したコントロー
ル1、コントロール2の既知の測定値と測定部1により
得られた測定値とを記憶し、これらの測定値を用いる。
すなわち、コントロール1 (検体A)の既知濃度がI
]、コントロール2 (検体B)の既知濃度がしてアリ
、こレラコントロール1、コントロール2を実際に測定
部1で測定した結果の濃度(即ち経時変動の影響を受け
たコントロール1、コントロール2の濃度)が、丘、j
であるとすると、補正係数a・、bを −N b=L’−a“・j     ・・・ (3)として求
める(第3図参照)。
今、具体的に、コントロール1の既知濃度がH=100
、コントロール2の既知濃度がL=50、コントロール
1、コントロール2の実際の測定値濃度が第4図に示す
ように、前に配置したコントロール1の濃度りがrlo
IJ、r103J。
r99J 、後に配置したコントロール1の濃度りがr
93J、r97J、rl’05J、前に配置したコント
ロール2の濃度lがr49J 、  r48J 。
「53」、後に配置したコントロール2の濃度ρがr5
0J、r45J、r48Jであるとすると、先述したよ
うに、経時変動は1グループ内について一定であると考
えることができるので、前後に配したコントロールの測
定値で経時変動を平均化することができ、データ処理部
2は、実際の測定値り、ρを記4、クシ、これら実際の
測定値のうちの中央値とその前後の測定値との平均値と
して(2)。
(3)式における丘、iを決定する。
その概念図として第5図に、前記コントロール1、コン
トロール2の実際の測定値を大きい順に並べた図を示す
。すなわち、データ処理部2は、それぞれコントロール
1の測定結果につき、その中央値rl Oljと前後の
測定値rl 03」。
「99」の平均値として を決定し、コントロール2の測定結果につき、その中央
値「49」と前後の測定値の平均値としてを決定する。
このようにして、得られたり、iを前記(21(31式
に代入することで補正係数a、bが 丘−ff    52 b = L −a−Z =50−− X49=2.88
として得られ、データ処理部2は、(1)式に基づき各
検体X1・・・×1の測定値Xiについて経時変動の影
響を補正した精度の高い(即ち真の値により近い)測定
値Yiを得ることができる。
このように、本実施例装置においては1グループの前後
に配した既知濃度検体のデータより1グループ内での経
時変動を平均化して求め、かつ、2挿の既知濃度検体の
データ値より弐(11の補正式を求めているため、任意
の測定濃度の検体について経時変動補正を行うことがで
きる。
以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内で適宜に変形実施が可能であることはいうまでもな
い。
本発明では、少なくとも2種の既知濃度検体を、測定す
べき検体群の前後に配置するようにすれば補正係数を求
めることができ、前記実施例のように2種類の既知濃度
検体に限らず複数種のものを配置してもよく、また、コ
ントロール1.2に挟まれる検体群の数も経時変動の大
きさ、補正の精度等に応じて種々の変形実施が可能であ
る。
また、上記実施例は、全ての測定結果につき補正を行な
うこととしたが、既知検体の測定値り。
iが所定範囲外となったときのみ補正することとしても
よい。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明によれば、検体群の前後に
既知の濃度の複数種の検体をそれぞれ配すると共に、こ
れら前後に配した既知の検体の測定値に基づき算出した
補正係数によって測定値を補正するデータ処理部を設け
たので、測定データの経時変動を自動的に補正して(i
ill定債度の向丑を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一例を示すブロック図、第2図は、
検体の配置例を示す概略図、第3図は、経時変動による
検体の濃度変化をグラフ化した図面、 第4図は、既知検体の測定結果を示す特性図、第5図は
、データ処理部の作動説明参考図、第6図は、経時変動
の説明図である。 1・・・測定部、2・・・データ処理部、A、B・・・
既知検体、X、、X2・・・X、・・・検体。 代理人 弁理士  則 近 憲 佑 同       大  胡  典  失策3図 第4図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)多数の検体を順次連続的に測定する測定部を具え
    た自動化学分析装置において、所定数の前記検体の前後
    に濃度が既知の、複数種の検体をそれぞれ配すると共に
    、これら前後に配した検体の既知濃度と前記測定部によ
    り得られた既知濃度の検体の測定値とに基づき補正係数
    を算出し、該補正係数によって前記既知濃度の検体によ
    って挟まれた検体の前記測定部による測定値を補正する
    データ処理部を設けたことを特徴とする自動化学分析装
    置。
  2. (2)前記データ処理部は、前記測定部で得られた既知
    濃度の検体の測定値が所定範囲外となったときにのみ、
    前記補正を行うものである特許請求の範囲第1項記載の
    自動化学分析装置。
JP28425685A 1985-12-19 1985-12-19 自動化学分析装置 Pending JPS62144072A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28425685A JPS62144072A (ja) 1985-12-19 1985-12-19 自動化学分析装置

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JP28425685A JPS62144072A (ja) 1985-12-19 1985-12-19 自動化学分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62144072A true JPS62144072A (ja) 1987-06-27

Family

ID=17676169

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28425685A Pending JPS62144072A (ja) 1985-12-19 1985-12-19 自動化学分析装置

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JP (1) JPS62144072A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6443760A (en) * 1987-08-11 1989-02-16 Shimadzu Corp Automatic analysis apparatus
US6231402B1 (en) 1998-04-14 2001-05-15 Nec Corporation Press-in contact and manufacturing method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6443760A (en) * 1987-08-11 1989-02-16 Shimadzu Corp Automatic analysis apparatus
US6231402B1 (en) 1998-04-14 2001-05-15 Nec Corporation Press-in contact and manufacturing method thereof

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