JPS62143227A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPS62143227A JPS62143227A JP28515585A JP28515585A JPS62143227A JP S62143227 A JPS62143227 A JP S62143227A JP 28515585 A JP28515585 A JP 28515585A JP 28515585 A JP28515585 A JP 28515585A JP S62143227 A JPS62143227 A JP S62143227A
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- JP
- Japan
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- magnetic layer
- substrate
- grain size
- magnetic
- coercive force
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
工 発明の背景
技術分野
本発明は、磁気記録媒体に関するものである。 さらに
詳しくは、基板上にTiを含有する■地層を有し、この
下地層上に、膜面に対して垂直方向に磁化容易1紬を持
つ磁性層薄膜を仔する、いわゆる垂直記録方式の磁気記
録媒体に関するものである。
詳しくは、基板上にTiを含有する■地層を有し、この
下地層上に、膜面に対して垂直方向に磁化容易1紬を持
つ磁性層薄膜を仔する、いわゆる垂直記録方式の磁気記
録媒体に関するものである。
先行技術とその問題点
近年、磁気記録媒体において高密度化が要求されており
、それに応えるものとして垂直記録方式が提案されてい
る。 そして、この垂直記録方式においては、膜面の垂
直方向に磁化容易軸を有する媒体が必要となる。
、それに応えるものとして垂直記録方式が提案されてい
る。 そして、この垂直記録方式においては、膜面の垂
直方向に磁化容易軸を有する媒体が必要となる。
従来、スパッタリング法によりこのようなCo −Cr
IQが得られることか報告されているが、この方法で
は堆積速度等の問題から実用化か困難である。
IQが得られることか報告されているが、この方法で
は堆積速度等の問題から実用化か困難である。
また特開昭56−127934号、特開昭56−165
931号、特開昭57−538283828号昭57−
210452号、特開昭58−9220号、特開昭58
−139338号、特開昭58−148139号等には
、イオンブレーティング法を用いてCo−Cr系の垂直
磁化膜を作製する旨の提案が行われている。
931号、特開昭57−538283828号昭57−
210452号、特開昭58−9220号、特開昭58
−139338号、特開昭58−148139号等には
、イオンブレーティング法を用いてCo−Cr系の垂直
磁化膜を作製する旨の提案が行われている。
しかしこれら通常のイオンブレーティング法では、イオ
ン化のために一定量以上のガスを導入する必要があり、
カス導入の制御がむずかしく、蒸着時の圧力か高くなり
結晶配向が乱れる。 そのため保磁力のあまり大きなも
のは得られない。
ン化のために一定量以上のガスを導入する必要があり、
カス導入の制御がむずかしく、蒸着時の圧力か高くなり
結晶配向が乱れる。 そのため保磁力のあまり大きなも
のは得られない。
さらに、高い堆積速度が期待できる真空蒸着法を用いて
垂直磁化+Sを作製する旨の報告がなされている( N
ational Technical Report
Vol。
垂直磁化+Sを作製する旨の報告がなされている( N
ational Technical Report
Vol。
28 No、6 Dec、]982 P4〜P14 )
。
。
この報告では、基板として耐熱性のある高分子゛材料を
用い、基板温度30〜350℃にてCo−Cr11便の
蒸着を行っている。 そして5基板温度か高くなるに従
い、膜面に垂直方向の保磁力か大きくなり、300℃以
上の基板温度で10000e以上の保磁力が得られると
されている。 しかしなから、このような従来技術では
、ポリエチレンテレフタレート等の耐熱性の悪いフィル
ム上に、高保磁力のCo−Cr%直磁化膜を形成するこ
とは困難である。
用い、基板温度30〜350℃にてCo−Cr11便の
蒸着を行っている。 そして5基板温度か高くなるに従
い、膜面に垂直方向の保磁力か大きくなり、300℃以
上の基板温度で10000e以上の保磁力が得られると
されている。 しかしなから、このような従来技術では
、ポリエチレンテレフタレート等の耐熱性の悪いフィル
ム上に、高保磁力のCo−Cr%直磁化膜を形成するこ
とは困難である。
ところで、Tiの薄膜は接着力を向上させる目的で磁気
記録媒体の下地層として用いられることが一般に知られ
ている(特公昭39−26907号公報等)。
記録媒体の下地層として用いられることが一般に知られ
ている(特公昭39−26907号公報等)。
そして、Co−Crの垂直磁気記録媒体として、このよ
うなド地層をポリイミド等の耐熱性基板の上に設けて、
Co−Cr磁性層の結晶配向性を向上させる旨の提案(
特開昭58−159225号公報、同59−22236
号公報、同59−22225号公報、同59−3362
8号公報等)や媒体のカールを防止する旨の提案(特開
昭59−75429号公報、同59−77621号公報
、同59−119541号公報等)が行われている。
しかしながら、これらの提案では、膜面に垂直方向の保
磁力は向上していない。
うなド地層をポリイミド等の耐熱性基板の上に設けて、
Co−Cr磁性層の結晶配向性を向上させる旨の提案(
特開昭58−159225号公報、同59−22236
号公報、同59−22225号公報、同59−3362
8号公報等)や媒体のカールを防止する旨の提案(特開
昭59−75429号公報、同59−77621号公報
、同59−119541号公報等)が行われている。
しかしながら、これらの提案では、膜面に垂直方向の保
磁力は向上していない。
また、前述したポリイミド等の耐熱性基板にかえて、比
較的耐熱性に劣るポリエチレンテレフタレート(PET
)を基板とし、この上に同様にTiのF地層を設け、媒
体のカールを防止する旨の提案(特開昭59−2218
28号公報、同59−221829号公報等)も行われ
ている。 この場合においても上記の場合と同様に膜面
に垂直方向の保磁力は向上していない。
較的耐熱性に劣るポリエチレンテレフタレート(PET
)を基板とし、この上に同様にTiのF地層を設け、媒
体のカールを防止する旨の提案(特開昭59−2218
28号公報、同59−221829号公報等)も行われ
ている。 この場合においても上記の場合と同様に膜面
に垂直方向の保磁力は向上していない。
そこで、このようなTiを含有する下地層をポリエチレ
ンテレフタレート(PUT)の上に設けて、磁性層のC
o−Cr等の結晶配向性、接着性、カール防IF等の優
れた効果を保持しつつ、磁性層のI反面に垂直方向の保
磁力を高くす■ 発明の目的 本発明の目的は、例えばポリエチレンテレフタレー)−
(PET)等の熱変形温度150℃以千′の基板を用い
、高い垂直方向の保磁力を打し、磁気特性および物性上
良好な特性を示すCo−Cr1v−の磁気記録媒体を提
供することにある。
ンテレフタレート(PUT)の上に設けて、磁性層のC
o−Cr等の結晶配向性、接着性、カール防IF等の優
れた効果を保持しつつ、磁性層のI反面に垂直方向の保
磁力を高くす■ 発明の目的 本発明の目的は、例えばポリエチレンテレフタレー)−
(PET)等の熱変形温度150℃以千′の基板を用い
、高い垂直方向の保磁力を打し、磁気特性および物性上
良好な特性を示すCo−Cr1v−の磁気記録媒体を提
供することにある。
なお、本発明者らは、特願昭60−237888号およ
び同60−238939号にて、PET等の基板Eに、
Ti下地層を形成し、このF地層上に10〜300n[
I+の平均粒径のCo−Cr磁性層を設けると保持力が
向上する旨を提案している。 本発明は、これら先の出
願にて開示しえなかった範囲でも保磁力向上効果が実現
するとの知見に基づくものである。
び同60−238939号にて、PET等の基板Eに、
Ti下地層を形成し、このF地層上に10〜300n[
I+の平均粒径のCo−Cr磁性層を設けると保持力が
向上する旨を提案している。 本発明は、これら先の出
願にて開示しえなかった範囲でも保磁力向上効果が実現
するとの知見に基づくものである。
■ 発明の開示
このような目的は、下記の本発明によって達成される。
の樹脂製基板上に、Tiを含有する平均粒径10〜30
0nm、II5!厚20〜600nmの下地層を4T
L、この下地層の上に、CoおよびCrを含有し、平均
粒径が10〜300 r+mの柱状結晶を有する膜厚5
0〜1100nmの磁性層を有することを特徴とする磁
気記録媒体である。
0nm、II5!厚20〜600nmの下地層を4T
L、この下地層の上に、CoおよびCrを含有し、平均
粒径が10〜300 r+mの柱状結晶を有する膜厚5
0〜1100nmの磁性層を有することを特徴とする磁
気記録媒体である。
■ 発明の具体的構成
以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。
本発明に用いられる樹脂製基板は、熱変形温度が150
℃以下、特に70〜120℃の物性を有する。
℃以下、特に70〜120℃の物性を有する。
このような基板材質のうち好適なものとしては、例えば
、ポリエチレンテレフタレート(PUT)、ポリエチレ
ン2.6ナフタレートなどのポリエステル等がある。
これらのものは、フィルム状に成形された時の表面平滑
性およびその均一性がきわめて良好であフて、しかも廉
価である。
、ポリエチレンテレフタレート(PUT)、ポリエチレ
ン2.6ナフタレートなどのポリエステル等がある。
これらのものは、フィルム状に成形された時の表面平滑
性およびその均一性がきわめて良好であフて、しかも廉
価である。
これら基板の形状はデーゾ、ティスフ等種々可能であり
、その厚さについても特に;tJ1限はないが通常3〜
70μm、特に3〜20μm程度である。
、その厚さについても特に;tJ1限はないが通常3〜
70μm、特に3〜20μm程度である。
このような基板−Fには、Tiを含有するF地層か設層
される。 下地層中のTi含含量量、100aj%以下
、通常、80aし%以上、より好ましくは90aし%以
上である。 このF地層のTi含有鼠が80aし%以下
であると、−ド地層を設けた効果が顕著にあられれず、
媒体として、膜面垂直方向の高い保磁力は得られない。
される。 下地層中のTi含含量量、100aj%以下
、通常、80aし%以上、より好ましくは90aし%以
上である。 このF地層のTi含有鼠が80aし%以下
であると、−ド地層を設けた効果が顕著にあられれず、
媒体として、膜面垂直方向の高い保磁力は得られない。
このような下地層は、通常、T i ’Jj−独で形成
される。 あるいはTi合金として、またTiの酸化物
および/または窒化物を含むもの等として形成される。
される。 あるいはTi合金として、またTiの酸化物
および/または窒化物を含むもの等として形成される。
そして、Ti以外の含有率は通常20 aL%未満な
いし0、特に10aし%以下である。
いし0、特に10aし%以下である。
Ti合金として、Tiに添加される合金元素としてはA
n、Cr、Fe、Mn、Mo、V等があり、ざらにC1
0、N、H等が添加可能である。
n、Cr、Fe、Mn、Mo、V等があり、ざらにC1
0、N、H等が添加可能である。
Tiの酸化物としては、例えばT i OlT i20
3 、 T i 02など、Tiの窒化物としては、例
えばTiNなとの形が挙げられる。
3 、 T i 02など、Tiの窒化物としては、例
えばTiNなとの形が挙げられる。
これらでは、通常、下地層の組成の一部が酸化物や窒化
物として存在するものである。
物として存在するものである。
このような中では、特にTiのみからなるか、あるいは
これと1aj%以下、特に0,1〜fat%のOおよび
/またはNを含有する下地層か好ましい。
これと1aj%以下、特に0,1〜fat%のOおよび
/またはNを含有する下地層か好ましい。
このような下地層の0および/またはNの総含存量がf
at%をこえると、媒体として膜面垂直方向の保持力が
低下する。
at%をこえると、媒体として膜面垂直方向の保持力が
低下する。
このような下地層中に含有される0やNの含有量は、オ
ージェ分光分析、ESCA等の元素分析法によって測定
すればよい。
ージェ分光分析、ESCA等の元素分析法によって測定
すればよい。
このようなTiを含有する下地層は、蒸着法、スパッタ
法、イオンブレーティン法などの各種真空成膜法によっ
て形成される。
法、イオンブレーティン法などの各種真空成膜法によっ
て形成される。
この場合、成膜条件は通常種々行われている範囲で行え
ばよく、例えば基板の温度は30〜100℃、作動圧力
0.01〜1mPa程度である。
ばよく、例えば基板の温度は30〜100℃、作動圧力
0.01〜1mPa程度である。
また、特に0.Nの含f量を1aj%以丁にするために
は例えば基板を成膜航に160〜180℃まで真空中で
t備加熱したのち、基板温度を80〜100℃程度に保
持し、作動圧力0.01〜0.1mPa程度とすること
が効果的である。
は例えば基板を成膜航に160〜180℃まで真空中で
t備加熱したのち、基板温度を80〜100℃程度に保
持し、作動圧力0.01〜0.1mPa程度とすること
が効果的である。
このようにして設層されるF地層のlI!2J”Lは2
0〜600 nmである。 この膜厚か600 nmを
こえると媒体としての剛性が大きくなって、ヘッドタッ
チか悪く、しかもノイズが発生しやすくなる。 そして
、保磁力が低下する。
0〜600 nmである。 この膜厚か600 nmを
こえると媒体としての剛性が大きくなって、ヘッドタッ
チか悪く、しかもノイズが発生しやすくなる。 そして
、保磁力が低下する。
また、20 n+n未満では保磁力向上効果が低い。
なお、Ti下地層の平均結晶粒径はlO〜300nm、
より好ましくは20〜200nm、特に20〜100r
+mである。
より好ましくは20〜200nm、特に20〜100r
+mである。
そして、このような下地層の上には膜面の垂直方向に磁
化容易1陥を有する磁性層が設層される。
化容易1陥を有する磁性層が設層される。
このような磁性層は通常、柱状結晶構造をもち、この結
晶の平均粒径はlO〜300 r+m、より好ましくは
20〜200 nm、さらに好ましくは20〜1OOn
rnである。
晶の平均粒径はlO〜300 r+m、より好ましくは
20〜200 nm、さらに好ましくは20〜1OOn
rnである。
東均粒径か10nm未満になると膜面に垂直方向の保磁
力が低くなり、300 nmをこえると同様に保磁力が
低くなり、しかも粒界ノイズが大きくなり実用1好まし
くない。
力が低くなり、300 nmをこえると同様に保磁力が
低くなり、しかも粒界ノイズが大きくなり実用1好まし
くない。
そして、このような磁性層を形成する柱状結晶は膜面に
ほぼ垂直に配向するものである。
ほぼ垂直に配向するものである。
このような磁性層の膜厚は50〜1100nm、より好
ましくは60〜900 nmである。
ましくは60〜900 nmである。
この磁性層の厚さが50nm未謂になると強度が低下し
、また1100r++nをこえるとヘッドタッチが悪く
なり、変調ノイズが大きくなってしまう。
、また1100r++nをこえるとヘッドタッチが悪く
なり、変調ノイズが大きくなってしまう。
なお、磁性層表面には、結晶粒に起因して、通常、粒径
に対応する底辺をもち、高さ10〜1100n程度の凸
部が形成される。 この凹凸により、走行性等か向上す
る。
に対応する底辺をもち、高さ10〜1100n程度の凸
部が形成される。 この凹凸により、走行性等か向上す
る。
本発明における柱状結晶の)均粒径°および磁性層のI
t!13 J’X等は、通常、表面および破断面の電子
顕微鏡写真[走査形顕微鏡(SEM)および透過形顕微
鏡(TEM)]によって、観測、算出することか゛でき
る。
t!13 J’X等は、通常、表面および破断面の電子
顕微鏡写真[走査形顕微鏡(SEM)および透過形顕微
鏡(TEM)]によって、観測、算出することか゛でき
る。
このような磁性層を構成する組成は、Co−C「である
。
。
Co −Cr ll511としては、磁気特性上、膜組
成としてCrが15〜25aj%含有されることが好ま
しい。
成としてCrが15〜25aj%含有されることが好ま
しい。
なお、CoおよびCrに加え、5wL%以Fの範囲でN
i、Fe、O等が含有されていてもよい。
i、Fe、O等が含有されていてもよい。
このような磁性層は、蒸着法を用いて形成される。
真空蒸着法は蒸発源を10mPa以下の高真空中で、エ
レクトロンビーム法、抵抗加熱法等により蒸発源を加熱
して融解、蒸発させて、その蒸気を例えば基体表面に薄
膜として凝着させる方法である。 この蒸発時に蒸発粒
子が得る運動エネルギーは0.1eV〜1eV程度であ
る。
レクトロンビーム法、抵抗加熱法等により蒸発源を加熱
して融解、蒸発させて、その蒸気を例えば基体表面に薄
膜として凝着させる方法である。 この蒸発時に蒸発粒
子が得る運動エネルギーは0.1eV〜1eV程度であ
る。
真空蒸着法は、公知の種々の装置を用いればよくまたハ
ース−基板間距離、膜の堆積速度などの条件設定等も適
宜決定すればよく、特に制限されるものではないが、本
発明においては、磁性層を設層の際に基板温度を200
℃未満、より好ましくは150〜190℃程度とする。
ース−基板間距離、膜の堆積速度などの条件設定等も適
宜決定すればよく、特に制限されるものではないが、本
発明においては、磁性層を設層の際に基板温度を200
℃未満、より好ましくは150〜190℃程度とする。
本発明においては、熱変形温度が150℃以Fの樹脂性
基板を用いるため、磁性層を蒸着する際の基板温度が2
00℃をこえると基板のダメージが大きくなって製造上
好ましくない。
基板を用いるため、磁性層を蒸着する際の基板温度が2
00℃をこえると基板のダメージが大きくなって製造上
好ましくない。
また、この温度を、例えば150℃程度未満にすると、
磁性層を構成する結晶粒について所望の平均粒径が得ら
れず、媒体の保磁力が小さンたうて1田1−bT主1.
どrrい なお、本発明においては、基板が上記の温度に保たれる
時間は比較的短いために、本発明の熱変形温度を有する
基板材質でありでも温度的には十分耐えつるものである
。
磁性層を構成する結晶粒について所望の平均粒径が得ら
れず、媒体の保磁力が小さンたうて1田1−bT主1.
どrrい なお、本発明においては、基板が上記の温度に保たれる
時間は比較的短いために、本発明の熱変形温度を有する
基板材質でありでも温度的には十分耐えつるものである
。
さらに、磁性層設層時における作動圧力は0.01〜1
0mPa、より好ましくは0.1〜1 mPa程度とす
ればよい。
0mPa、より好ましくは0.1〜1 mPa程度とす
ればよい。
この場合、下地層の設層と磁性層の設層との間には、い
わゆるリークを行わず、雰囲気圧を10Pa以f、より
好ましくはIPa以下に維持することが好ましい。
わゆるリークを行わず、雰囲気圧を10Pa以f、より
好ましくはIPa以下に維持することが好ましい。
これにより、Ti下地層の大気開放による界面の乱れに
もとつく磁気特性の劣化が防止される。
もとつく磁気特性の劣化が防止される。
なお、重連した樹脂基板表面の少なくとも磁性層形成面
側には、基板の各種下地処理が行われることか好ましい
。
側には、基板の各種下地処理が行われることか好ましい
。
このような下地処理の方法としては、例えばプラズマ処
理法やイオンボンバード等の真空処理方法が挙げられる
。
理法やイオンボンバード等の真空処理方法が挙げられる
。
本発明の磁気記録媒体の磁性層上には、種々の公知のト
ップコート層を設けてもよい。 また基板裏面にバック
コート層を設けることもできるし、磁性層と基板との間
にパーマロイ等の高透磁率金属薄膜やその他の公知の種
々の中間層を設けることもできる。
ップコート層を設けてもよい。 また基板裏面にバック
コート層を設けることもできるし、磁性層と基板との間
にパーマロイ等の高透磁率金属薄膜やその他の公知の種
々の中間層を設けることもできる。
この場合、中間層は場合によってはTi下地層の上にあ
ってもよいが、好ましくは中間層を下地層の下に設層す
る。
ってもよいが、好ましくは中間層を下地層の下に設層す
る。
■ 発明の具体的作用効果
本発明によれば、熱変形温度150℃以下の基板を用い
て、磁性層の膜面垂直方向にきわめて高い保磁力を存す
る媒体が得られる。
て、磁性層の膜面垂直方向にきわめて高い保磁力を存す
る媒体が得られる。
また、磁性層の結晶配向性、接着性も良好であり、カー
ルの発生も少ない。
ルの発生も少ない。
このような磁気記録媒体は、垂直磁化方式の磁気テープ
、フレキシブルディスク等に用いて有効である。
、フレキシブルディスク等に用いて有効である。
■ 発明の具体的実施例
以下に本発明の具体的実施例を示す。
[実施例1]
蒸発源の真上25cmの位置に170mmφの基板ホル
ダーを配設し、これに厚さ50μmのポリエチレンテレ
フタレート(PET)フィルム基板をとりつけた。 蒸
発源としてTiを用い、基板上にTi下地層を蒸着した
。
ダーを配設し、これに厚さ50μmのポリエチレンテレ
フタレート(PET)フィルム基板をとりつけた。 蒸
発源としてTiを用い、基板上にTi下地層を蒸着した
。
なお、蒸着に際して、作動圧は0.4mPa、基板ホル
ダーの温度(基板の温度)を70℃、蒸着レートを10
nm/sec程度とし、設層されるTi膜厚は20〜
500 nmとした。
ダーの温度(基板の温度)を70℃、蒸着レートを10
nm/sec程度とし、設層されるTi膜厚は20〜
500 nmとした。
この後、基板ホルダーの温度(基板の温度)を180℃
とし、蒸発源をCo−Cr(重量比80/20 )合金
(25mmφベレット)を用い、これを270°偏向の
EBガンを用いて蒸発させて上記Ti下地層の上に、C
o−Cr磁性層を蒸着した。
とし、蒸発源をCo−Cr(重量比80/20 )合金
(25mmφベレット)を用い、これを270°偏向の
EBガンを用いて蒸発させて上記Ti下地層の上に、C
o−Cr磁性層を蒸着した。
なお、蒸着に先たち合金を溶融しながら@厚コントロー
ラーにより組成分析を行い、Co/Cr比が80/20
になったときにシャッタをあけて蒸着を行った。
ラーにより組成分析を行い、Co/Cr比が80/20
になったときにシャッタをあけて蒸着を行った。
蒸着の条件は、作動圧約0.2mPa、蒸着レートを2
0 nm/sec程度とした。
0 nm/sec程度とした。
このようにして、表1に示されるように、下地層の厚さ
、Co−Crの磁性層厚さおよび結晶粒径を稲々変えて
、サンプルを作製した。
、Co−Crの磁性層厚さおよび結晶粒径を稲々変えて
、サンプルを作製した。
下地層の組成分析はオージェ分析(アルパックファイ社
製モデル600)で行った。
製モデル600)で行った。
各サンプルの磁性層のW;c厚および柱状結晶の平均粒
径等の測定方法は表面および破断面の電子顕微鏡写真[
走査形顕微鏡(SEM)および透過形顕微鏡(TEM)
]から算出した。
径等の測定方法は表面および破断面の電子顕微鏡写真[
走査形顕微鏡(SEM)および透過形顕微鏡(TEM)
]から算出した。
ざらに、各サンプルにつき、下記に示す特性を調べた。
(1)膜面に垂直方向の保磁力Hc上(Oe)一定面積
に切り出したサンプルについて、抛動試料型磁力計(V
SM)を用い、最大印加磁界をl0KGとし保磁力を測
定した。
に切り出したサンプルについて、抛動試料型磁力計(V
SM)を用い、最大印加磁界をl0KGとし保磁力を測
定した。
これらの結果を表1に示す。
なお、各サンプルの下地層中のOおよびNは1aL%以
下であった。
下であった。
表 1
5(比較)1100 300 420 310
2506 <k索) −40040390 7(比較) 50 30 20 1
0 4108(比較) −20<5 <
50io(比較)−−605<50 1t 503010030650 12(比較) −10010<5014(比較)
−20020100表1に示される結果より、本発
明の効果が明らかである。
2506 <k索) −40040390 7(比較) 50 30 20 1
0 4108(比較) −20<5 <
50io(比較)−−605<50 1t 503010030650 12(比較) −10010<5014(比較)
−20020100表1に示される結果より、本発
明の効果が明らかである。
なお、Tiに10at、%以下のA2等を含存させたも
のも上記と同等の結果をえた。
のも上記と同等の結果をえた。
Claims (1)
- (1)熱変形温度150℃以下の樹脂製基板上に、Ti
を含有する平均粒径10〜300nm、膜厚20〜60
0nmの下地層を有し、この下地層の上に、Coおよび
Crを含有し、平均粒径が10〜300nmの柱状結晶
を有する膜厚50〜1100nmの磁性層を有すること
を特徴とする磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28515585A JPS62143227A (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28515585A JPS62143227A (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62143227A true JPS62143227A (ja) | 1987-06-26 |
Family
ID=17687801
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28515585A Pending JPS62143227A (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62143227A (ja) |
-
1985
- 1985-12-17 JP JP28515585A patent/JPS62143227A/ja active Pending
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