JPS62142763A - スパツタ装置 - Google Patents
スパツタ装置Info
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- JPS62142763A JPS62142763A JP28523385A JP28523385A JPS62142763A JP S62142763 A JPS62142763 A JP S62142763A JP 28523385 A JP28523385 A JP 28523385A JP 28523385 A JP28523385 A JP 28523385A JP S62142763 A JPS62142763 A JP S62142763A
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- target
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、基板上に薄膜、時に縞品質な多層膜。
複合膜を形成するに好適な改良されたスパッタ装置に関
する。
する。
エレクトロニクスデバイスの高度化に伴って、倉しい機
能を有し、かつ商品JXな薄膜素子への要求が高まって
いる。一つの展開の方向として、100X以下の膜を積
層した超格子膜を始めとした人工格子膜あるいは多I台
腺の検討が試みられており、その製造方法として分子線
エピタキシ(MBE : Mo1acular Bea
m gpltazy)、および有機金属化学蒸着(MO
CVD : Metalorganics Ch@m1
calVapor Deposition )等が注目
を集め゛ている・MBEは基本的には超高真空中で行わ
れる蒸着であり、MOCVDは従来のCVDの延長とい
えるもので、MBE 、 MOCVD共に近年急速に基
礎研究が進み、時にGaAs等の化合物半導体の分野で
は工業化を一歩前にした大面積化技術、tM化技術等の
検討も行なわれている。しかしながら、MBEでは、超
高真空(〜1 (rloTorr)を必要とするため、
装置が犬がかりで同価であること、成長速度が遅く、真
窒排気に時間がかかる等Mm化には適さないこと、及び
薄膜製造技術としては万能でなく、全ての物質の薄膜が
形成できるわけではないこと等の問題がある。またMO
CVDでは、有毒ガスを使用するため、その制御、管理
が難しいこと、また有機金属ガスの檎知が限られている
こと等の問題がある。
能を有し、かつ商品JXな薄膜素子への要求が高まって
いる。一つの展開の方向として、100X以下の膜を積
層した超格子膜を始めとした人工格子膜あるいは多I台
腺の検討が試みられており、その製造方法として分子線
エピタキシ(MBE : Mo1acular Bea
m gpltazy)、および有機金属化学蒸着(MO
CVD : Metalorganics Ch@m1
calVapor Deposition )等が注目
を集め゛ている・MBEは基本的には超高真空中で行わ
れる蒸着であり、MOCVDは従来のCVDの延長とい
えるもので、MBE 、 MOCVD共に近年急速に基
礎研究が進み、時にGaAs等の化合物半導体の分野で
は工業化を一歩前にした大面積化技術、tM化技術等の
検討も行なわれている。しかしながら、MBEでは、超
高真空(〜1 (rloTorr)を必要とするため、
装置が犬がかりで同価であること、成長速度が遅く、真
窒排気に時間がかかる等Mm化には適さないこと、及び
薄膜製造技術としては万能でなく、全ての物質の薄膜が
形成できるわけではないこと等の問題がある。またMO
CVDでは、有毒ガスを使用するため、その制御、管理
が難しいこと、また有機金属ガスの檎知が限られている
こと等の問題がある。
一方、薄膜形成技術としては、このほかに、スパッタリ
ングがあり、広範に使用されている。高周波グ2ズマを
利用した高周波ス・センタリングによれば、蒸庸やCV
D等と異なり、原理的にあらゆる物質を薄膜化でき、か
つターゲット原料とほぼ同一組成の薄膜を製造できる。
ングがあり、広範に使用されている。高周波グ2ズマを
利用した高周波ス・センタリングによれば、蒸庸やCV
D等と異なり、原理的にあらゆる物質を薄膜化でき、か
つターゲット原料とほぼ同一組成の薄膜を製造できる。
ただし、従来のスパッタリング装置、特に高周波スパッ
タリング装置に関しては、大を化、量産化のための装置
の開発は数多く見られたが、MBE 、 MOCVD等
に匹敵する程度に高度化された多層課形成装置の検討は
ほとんどなされていなかった。すなわち、スパッタリン
グによって高品質な多層膜を製造しようという試みは行
なわれていなかった。
タリング装置に関しては、大を化、量産化のための装置
の開発は数多く見られたが、MBE 、 MOCVD等
に匹敵する程度に高度化された多層課形成装置の検討は
ほとんどなされていなかった。すなわち、スパッタリン
グによって高品質な多層膜を製造しようという試みは行
なわれていなかった。
特開昭58−73771号公報に示された複合スパッタ
リング装置は複数のターゲットを有し、ターゲットと基
板との相対的位置関係とスパッタ装置とを同期させて制
御するφによって、任意の合金薄膜を製造しようとする
ものであるが、高品質な多層膜を形成するものではない
。
リング装置は複数のターゲットを有し、ターゲットと基
板との相対的位置関係とスパッタ装置とを同期させて制
御するφによって、任意の合金薄膜を製造しようとする
ものであるが、高品質な多層膜を形成するものではない
。
また、狩顔昭59−164622号繁報に示された複合
スパッタリングは合金薄膜の組成に応じて、各々のター
ゲットに供給する電力のA?ルス放電時間、ピーク電圧
を設定してスノンツタリングを行なうものであり、高品
質の多層膜を形成するものではない。
スパッタリングは合金薄膜の組成に応じて、各々のター
ゲットに供給する電力のA?ルス放電時間、ピーク電圧
を設定してスノンツタリングを行なうものであり、高品
質の多層膜を形成するものではない。
要するに、上述した両者に示された複合スtJ?ツタリ
ング技術は、合金薄膜の組成を任意に制御しようとする
もので必り、前者ではスフ9ツタ速度を、後者では/4
’ルス放電時間とパワーとを制御することによってこれ
を行なおうとするものであって。
ング技術は、合金薄膜の組成を任意に制御しようとする
もので必り、前者ではスフ9ツタ速度を、後者では/4
’ルス放電時間とパワーとを制御することによってこれ
を行なおうとするものであって。
いずれにも、画品質の多層tg影形成達成するものでは
ない。
ない。
不発明の目的は、任意所望の物質を所望の周期で藺品質
に積層した多層薄膜を容易に形成できるスノJ?ツタ装
置を提供することにある。換百すれば、複数の元素また
は化合物の薄膜層(数X〜数百X)を高品質に積増し得
るス・eツタ装置を提供することが本発明の目的である
。
に積層した多層薄膜を容易に形成できるスノJ?ツタ装
置を提供することにある。換百すれば、複数の元素また
は化合物の薄膜層(数X〜数百X)を高品質に積増し得
るス・eツタ装置を提供することが本発明の目的である
。
本発明のスパッタ装置その特徴とするところは、基板を
取付けられる回転可能な基板電極、基板′直像と対向し
た複数のターゲット電極、谷ターrット電極に対するト
リガ機構、基板電極と谷ターゲット電極との間に高圧電
力を印加する高圧電源装置、および、基板電極と各ター
ゲット電極との間に印加される前記高圧電力を任意の周
期でONおよびOFFさせると共に、上記高圧電力の0
N−OFFに同期して、各トリが機構を作動させるタイ
ミング機構、を具備したことにある。
取付けられる回転可能な基板電極、基板′直像と対向し
た複数のターゲット電極、谷ターrット電極に対するト
リガ機構、基板電極と谷ターゲット電極との間に高圧電
力を印加する高圧電源装置、および、基板電極と各ター
ゲット電極との間に印加される前記高圧電力を任意の周
期でONおよびOFFさせると共に、上記高圧電力の0
N−OFFに同期して、各トリが機構を作動させるタイ
ミング機構、を具備したことにある。
本発明の好ましい実施態様においては、基板電極と各タ
ーゲット電極との間の夫々の空間fr、遮断および開放
するよう開閉動作するシャッタ機構を設け、前記タイミ
ング機構により、前記高圧′電力のON −OFFと同
期して、上記高圧′電力の設定値におけるON期間に該
高圧電力の印加されているターrット′1極に対するシ
ャッタ機構を開放するようになっている。
ーゲット電極との間の夫々の空間fr、遮断および開放
するよう開閉動作するシャッタ機構を設け、前記タイミ
ング機構により、前記高圧′電力のON −OFFと同
期して、上記高圧′電力の設定値におけるON期間に該
高圧電力の印加されているターrット′1極に対するシ
ャッタ機構を開放するようになっている。
本発明者らは、前it、l/こ目的の下に、ス・9ツタ
装置に関し種々実験を進め、以下の事実を見い出した。
装置に関し種々実験を進め、以下の事実を見い出した。
(1]ターrツト電極に順次高周波電力を供給した場合
、ターゲット材料、スパッタリング条件(電極−M間距
離2叉応ガス圧等)によって、プラズマが発生しないこ
とが多く、この場合にはスパッタリングが生じないので
、所望の積層膜の周期性が得られない。これを解決する
ためには、高周波電力の印加に同期させて、何らかのト
リガ機構を作動させてプラズマを安定に発生させること
が必要である。
、ターゲット材料、スパッタリング条件(電極−M間距
離2叉応ガス圧等)によって、プラズマが発生しないこ
とが多く、この場合にはスパッタリングが生じないので
、所望の積層膜の周期性が得られない。これを解決する
ためには、高周波電力の印加に同期させて、何らかのト
リガ機構を作動させてプラズマを安定に発生させること
が必要である。
特に、高品質の多層膜構造を得るにはスフ9ツタリング
時の反応ガス圧を低くして高真空を保つ必要があり、こ
の場合プラズマが発生しにくくなるので、トリガ機構は
必須となる。
時の反応ガス圧を低くして高真空を保つ必要があり、こ
の場合プラズマが発生しにくくなるので、トリガ機構は
必須となる。
(2)現状では高周波電力は印加時から次定の設定電力
値に到達するまで一定の遅れ時間(最低でも2〜3秒程
匿)がある。従って、(1)で述べたトリガを作動させ
ても、所足電力以下のプラズマによって一定時間スバッ
タリングが生ずることになる。これは、多くの場合、多
層膜の界面近傍の構造を不均一にすることになシ、膜特
性を劣化させる。最悪の場合には、膜はがれ等の現象も
引き起す。これを避けるためにはシャッタ機構を設け、
プラズマを発生させfc後、所定の高周波電力のプラズ
マが安定になるまで、シャッタ機構を作動させて、基板
電極側へプラズマが達しないようにすることが望ましい
。しかし、高周波電力の立ち上υ時間を更に短くできる
ように改善がなされた場合、または、処理材料の組合せ
に依って立ち上シ時の低電力領域でのスフ9ツタが悪影
響を及ぼさない場合等には、シャッタ機構がなくても高
品質多層膜が出来るので、そのような場合にはシャッタ
機・構は必ずしも必要でない。
値に到達するまで一定の遅れ時間(最低でも2〜3秒程
匿)がある。従って、(1)で述べたトリガを作動させ
ても、所足電力以下のプラズマによって一定時間スバッ
タリングが生ずることになる。これは、多くの場合、多
層膜の界面近傍の構造を不均一にすることになシ、膜特
性を劣化させる。最悪の場合には、膜はがれ等の現象も
引き起す。これを避けるためにはシャッタ機構を設け、
プラズマを発生させfc後、所定の高周波電力のプラズ
マが安定になるまで、シャッタ機構を作動させて、基板
電極側へプラズマが達しないようにすることが望ましい
。しかし、高周波電力の立ち上υ時間を更に短くできる
ように改善がなされた場合、または、処理材料の組合せ
に依って立ち上シ時の低電力領域でのスフ9ツタが悪影
響を及ぼさない場合等には、シャッタ機構がなくても高
品質多層膜が出来るので、そのような場合にはシャッタ
機・構は必ずしも必要でない。
本発明は以上の知見に基づいてな嘔れたものである。
第1図に本発明の実施例によるスパッタリング装置の概
要を示す。各部分の機能が明確にわかるように実際の装
置を簡略化して図示しておる。
要を示す。各部分の機能が明確にわかるように実際の装
置を簡略化して図示しておる。
2は真空容器であシ、排気装置11により10−’To
rr台までの真空に到達させることができる。10はガ
ス導入口であり、ス/4’ツタリングに必要な反応ガス
をマスフローコントローラ(図には示していない)によ
って容器2内に一定量流すようになっている。3は基板
電極であり、その下面に複数の基板を取り付ける。1は
この基板電極を回転させる機構である。基板電極3には
バイアス電位を印加することもでき、また基板取付面を
加熱することも可能である。6および9は基板電極3に
対向するターゲット電極であり、その上面に19T望の
ターゲット材料を取付けられる。17はターゲットシー
ルドである。ターゲット電極には基板電極3とターゲッ
ト電極6.9との間に高周波電力を印加する高周波′電
源(マツチング回路内蔵)13.14が接続嘔れている
。5,8はトリが電極であり、4,7は基板電4!に3
とそれに夫々対向するターグツト11極6,9との間の
空間を夫々a#するためのシャッタ機構、12はシャッ
タ駆動機構である。15はトリガ電極5,8のためのD
C電源である。
rr台までの真空に到達させることができる。10はガ
ス導入口であり、ス/4’ツタリングに必要な反応ガス
をマスフローコントローラ(図には示していない)によ
って容器2内に一定量流すようになっている。3は基板
電極であり、その下面に複数の基板を取り付ける。1は
この基板電極を回転させる機構である。基板電極3には
バイアス電位を印加することもでき、また基板取付面を
加熱することも可能である。6および9は基板電極3に
対向するターゲット電極であり、その上面に19T望の
ターゲット材料を取付けられる。17はターゲットシー
ルドである。ターゲット電極には基板電極3とターゲッ
ト電極6.9との間に高周波電力を印加する高周波′電
源(マツチング回路内蔵)13.14が接続嘔れている
。5,8はトリが電極であり、4,7は基板電4!に3
とそれに夫々対向するターグツト11極6,9との間の
空間を夫々a#するためのシャッタ機構、12はシャッ
タ駆動機構である。15はトリガ電極5,8のためのD
C電源である。
16は本発明に従って設けられたタイミング機構であ゛
って、これによって2台の高周波電源13゜14を任意
の周期にてON又はOFFさせることができる。この2
台の高周波電源13.14の0N−OFFに同期きせて
、DCi源15からトリガ電極5.8にトリガ用DC電
圧を印加させることができ、また同じく同期させてシャ
ッタ機構4,7を開閉できる。さらに、タイミング機構
16には回転する基板電極3の角位置を検知するセンサ
18からの信号を取υ込むととができ、この信号に応じ
て基板電極回転機構1を制御することにより、基板電極
3の任意の部分を高周波電源13.14のON −OF
Fに対応させて各ターゲット電極6,9に対向する位置
に移tiagせて停止させることが可能なようになって
いる。また、この事とは別に基板電極を定速で連続回転
させることも可能なようになっている。
って、これによって2台の高周波電源13゜14を任意
の周期にてON又はOFFさせることができる。この2
台の高周波電源13.14の0N−OFFに同期きせて
、DCi源15からトリガ電極5.8にトリガ用DC電
圧を印加させることができ、また同じく同期させてシャ
ッタ機構4,7を開閉できる。さらに、タイミング機構
16には回転する基板電極3の角位置を検知するセンサ
18からの信号を取υ込むととができ、この信号に応じ
て基板電極回転機構1を制御することにより、基板電極
3の任意の部分を高周波電源13.14のON −OF
Fに対応させて各ターゲット電極6,9に対向する位置
に移tiagせて停止させることが可能なようになって
いる。また、この事とは別に基板電極を定速で連続回転
させることも可能なようになっている。
使用に当っては、多層膜を表面に形成したい基板を基板
電極3の下面に第2図の如く取り付ける。
電極3の下面に第2図の如く取り付ける。
実験例1
第3図に上述した本発明の装置の本実験例1における運
転モードを示す。横軸は時間軸でろって、ターゲット電
極6,9への高周波電力の0N−OFF、トリガ電極5
,8へのトリガ電圧のON −OFF 。
転モードを示す。横軸は時間軸でろって、ターゲット電
極6,9への高周波電力の0N−OFF、トリガ電極5
,8へのトリガ電圧のON −OFF 。
シャッタ4,7の開閉がどのようなタイミングで作動す
るかを示している。なお、本実験例1では、基板電極3
は定速(10rpm )で連続的に回転させた。
るかを示している。なお、本実験例1では、基板電極3
は定速(10rpm )で連続的に回転させた。
まず高周波電源14をONにすることによシ、図に示す
ように成る一定の勾配をもってターゲット電極6に高周
波電力が印加されてゆく。高周波を源14のONと同時
にトリが電極5にトリガ電圧を印加し、ターゲット電極
6と基板電極3間にプラズマを発生させる。ターゲット
[惚6に印加された高周波電力が設定値になると同時に
、あるいは成る一定の遅れ時間を置いてシャッタ4が開
く。
ように成る一定の勾配をもってターゲット電極6に高周
波電力が印加されてゆく。高周波を源14のONと同時
にトリが電極5にトリガ電圧を印加し、ターゲット電極
6と基板電極3間にプラズマを発生させる。ターゲット
[惚6に印加された高周波電力が設定値になると同時に
、あるいは成る一定の遅れ時間を置いてシャッタ4が開
く。
基板電極3は定速で連続回転しているので、それに取付
けられた全ての基板は、ターゲット電極6との対向位置
を通り、この時スパッタリングによりその表面に均一に
薄膜が形成される。このようなシーケンスで基板′−極
3に取付けられた基板上にターゲット[極6に取付けら
れたターガツト材料のスパッタリングによる薄膜が作ら
れる。設定電力値におけるス・センタリング速度を$前
に求めておくことにより、所望の膜厚が得られるスパッ
タリング時間がわかるから、そのスパッタリング時間が
経過したら、シャッタ4を閉じ、高周波電源14をOF
Fにする。次に同様なシーケンスをターゲット電極9に
対しても行う。
けられた全ての基板は、ターゲット電極6との対向位置
を通り、この時スパッタリングによりその表面に均一に
薄膜が形成される。このようなシーケンスで基板′−極
3に取付けられた基板上にターゲット[極6に取付けら
れたターガツト材料のスパッタリングによる薄膜が作ら
れる。設定電力値におけるス・センタリング速度を$前
に求めておくことにより、所望の膜厚が得られるスパッ
タリング時間がわかるから、そのスパッタリング時間が
経過したら、シャッタ4を閉じ、高周波電源14をOF
Fにする。次に同様なシーケンスをターゲット電極9に
対しても行う。
このようなことを繰返すことにより、ターゲット電極6
,9に取υ付けられた夫々のターゲット材料の高品質な
薄膜層が交互積層された多層膜が各基板上に形成される
。
,9に取υ付けられた夫々のターゲット材料の高品質な
薄膜層が交互積層された多層膜が各基板上に形成される
。
本実験しリでは、ターゲット電極6,9に取り付けるタ
ーゲット材料としては、夫々、Ta205および5tO
2を用い、上述した要領で、Ta20515 X。
ーゲット材料としては、夫々、Ta205および5tO
2を用い、上述した要領で、Ta20515 X。
810215 Xの薄膜の交互積層を試みた。なお、基
板にはITO(Indium −Tin 0xide
:透明酸化物電極)をコーティングしたガラス板を使用
した。スフ4ツタリング時の真空度rj:5X10
Torr(Ar+10102)、であり、基板電極3を
100℃に加熱しながら、膜を形成した。基板電位はフ
ロート状態にした。
板にはITO(Indium −Tin 0xide
:透明酸化物電極)をコーティングしたガラス板を使用
した。スフ4ツタリング時の真空度rj:5X10
Torr(Ar+10102)、であり、基板電極3を
100℃に加熱しながら、膜を形成した。基板電位はフ
ロート状態にした。
このようにして得られた積層膜をオージェ電子分光(A
ES)によって分析した。第4図にその結果を示す。縦
軸は検出されたオージェ電子スペクトル(ここではT&
とSLのものが得られる)の微分曲線におけるピーク強
度比(fta/ fTa+81 及びfst/I↑、4
−si)を示す。この分析測定は積層膜表面にAr
イオンを入射させて少しずつエツチングしながら行なっ
たので、第4図の横軸にはそのエツチング時間を示しで
ある。この結果によれば、表面から4〜5層程度まで、
Ta205と5102が積層されていることがわかる。
ES)によって分析した。第4図にその結果を示す。縦
軸は検出されたオージェ電子スペクトル(ここではT&
とSLのものが得られる)の微分曲線におけるピーク強
度比(fta/ fTa+81 及びfst/I↑、4
−si)を示す。この分析測定は積層膜表面にAr
イオンを入射させて少しずつエツチングしながら行なっ
たので、第4図の横軸にはそのエツチング時間を示しで
ある。この結果によれば、表面から4〜5層程度まで、
Ta205と5102が積層されていることがわかる。
4〜5ノー以降で積層の周期が不明確になっているのは
、それぞれの膜厚が15X程度と薄いため、一様な連続
膜とならず島状であること、およびAr イオンによ
るノッキング幼果(打込み効果)のためであると考呪ら
れる。
、それぞれの膜厚が15X程度と薄いため、一様な連続
膜とならず島状であること、およびAr イオンによ
るノッキング幼果(打込み効果)のためであると考呪ら
れる。
しかし、本装置によって原理的に多ノー族の形成が可能
でるることが実証式れた。
でるることが実証式れた。
実験例2
実験例1では基板1jL億3を定速で回転させながらス
パッタリングを行なったが、本実験例2では基板電極3
に4個の基板を取付け、これら4個の基板をそれぞれ、
ONとなっているターゲット電極に対向する直上位置に
順に持ち米だして固定するように基板電極30回転およ
び停止を行なってスパッタリングを行なった。各ターゲ
ット電極、トリガ電極およびシャッタの動作シーケンス
は実験例1の場合と同様である。
パッタリングを行なったが、本実験例2では基板電極3
に4個の基板を取付け、これら4個の基板をそれぞれ、
ONとなっているターゲット電極に対向する直上位置に
順に持ち米だして固定するように基板電極30回転およ
び停止を行なってスパッタリングを行なった。各ターゲ
ット電極、トリガ電極およびシャッタの動作シーケンス
は実験例1の場合と同様である。
まず、ターゲット電極6がONでシャッタ4が開の期間
中、4個の基板のうちの1個をターゲット電極6上に移
動、固定し、所定のス・母ツタリング時間を経過した後
、2笛目の奉板をターゲット電番6上に移動固定し久の
スパッタリングを行なう。これ′に株返して4個の基板
上にターガツト材料6に取り付けられたターガツト材料
の薄膜と所望の膜厚に形成する。その後、ターゲット電
極6を0FFL、シャッタ4′ff:閉じ、ターゲット
電極9をON、シャッタ7を開にし、同様にしてターr
ット電極9の材料の薄[を各基板上に形成する。
中、4個の基板のうちの1個をターゲット電極6上に移
動、固定し、所定のス・母ツタリング時間を経過した後
、2笛目の奉板をターゲット電番6上に移動固定し久の
スパッタリングを行なう。これ′に株返して4個の基板
上にターガツト材料6に取り付けられたターガツト材料
の薄膜と所望の膜厚に形成する。その後、ターゲット電
極6を0FFL、シャッタ4′ff:閉じ、ターゲット
電極9をON、シャッタ7を開にし、同様にしてターr
ット電極9の材料の薄[を各基板上に形成する。
これら一連の動作を繰返すことによって多層膜を形成す
る。
る。
実験例1と同様、ターグツト材料としてTa 205と
8102とを使用し、それぞれの層の周期を100Xと
したTa205の薄膜および8102の薄膜の交互積層
を行なった。スノJ?ツタリングの条件は実験例1の場
合と同様である。
8102とを使用し、それぞれの層の周期を100Xと
したTa205の薄膜および8102の薄膜の交互積層
を行なった。スノJ?ツタリングの条件は実験例1の場
合と同様である。
第5図に得られた積層膜のAES分析結果を示もTJL
205と5i02の界面が比較的シャープになっておυ
、高品質の多層膜が得られていることがわかる。
205と5i02の界面が比較的シャープになっておυ
、高品質の多層膜が得られていることがわかる。
以上の実験例では、2つのターゲット電極を備えた場合
について説明したが、本発明は3つ以上のターゲット電
極を備えた場合にも拡張できることは言うまでもない。
について説明したが、本発明は3つ以上のターゲット電
極を備えた場合にも拡張できることは言うまでもない。
また、一方のターゲット電極を常時ONにしておいて、
他方のターゲット電極を間けつ的にON −OFFさせ
ることにより、該他方のターゲット電極のターグツト材
料を該一方のターグツト材料の膜中に添加させることも
できる。さらに1方のターゲット電極をONにする周期
を時間的に変化させて、該一方のター1’ y )材料
を他方のターグツト材料の膜中に成る濃度グロファイル
をもって形成させることもできる。
他方のターゲット電極を間けつ的にON −OFFさせ
ることにより、該他方のターゲット電極のターグツト材
料を該一方のターグツト材料の膜中に添加させることも
できる。さらに1方のターゲット電極をONにする周期
を時間的に変化させて、該一方のター1’ y )材料
を他方のターグツト材料の膜中に成る濃度グロファイル
をもって形成させることもできる。
本発明のスパッタ装置は、任意の物質量の任意の周期構
造の多層膜を高品質に形成できる。従って、例えば、¥
#m’fJEL素子、光導改路スイッチ。
造の多層膜を高品質に形成できる。従って、例えば、¥
#m’fJEL素子、光導改路スイッチ。
薄膜型熱電素子、磁気記録、光記録媒体等の製作等、多
方面に応用できる。
方面に応用できる。
第1図は本発明のスパッタ装置の実施例の@要因、第2
図は基板を取シ付けたときの基板電極の下面図、第3図
は動作シーケンスのタイミングを示す図、第4図および
第5図は夫々実験例1および2のAFiS分析結果を示
す図である。 く符号の説明〉 1・・・基板電極回転機構 2・・・真空容器3・・・
基板電極 4・・・シャッタ5・・・トリI
電極 6・・・ターゲット電極7・・・シャ
ッタ 8・・・トリガ′#/!L極9・・
・ターゲット電極 10・・・ガス導入口11・・・
排気装[ill 12・・・シャッタ駆動機構
13.14・・・高周波電源15・・・DC1醋源16
・・・タイミング機構 17・・・ターゲットシールド
18・・・位置センサ 代理人 本 多 小 平:1.ニー、。 谷 浩太部1
図は基板を取シ付けたときの基板電極の下面図、第3図
は動作シーケンスのタイミングを示す図、第4図および
第5図は夫々実験例1および2のAFiS分析結果を示
す図である。 く符号の説明〉 1・・・基板電極回転機構 2・・・真空容器3・・・
基板電極 4・・・シャッタ5・・・トリI
電極 6・・・ターゲット電極7・・・シャ
ッタ 8・・・トリガ′#/!L極9・・
・ターゲット電極 10・・・ガス導入口11・・・
排気装[ill 12・・・シャッタ駆動機構
13.14・・・高周波電源15・・・DC1醋源16
・・・タイミング機構 17・・・ターゲットシールド
18・・・位置センサ 代理人 本 多 小 平:1.ニー、。 谷 浩太部1
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板を取付けられる回転可能な基板電極、基板電極
と対向した複数のターゲット電極、各ターゲット電極に
対するトリガ機構、基板電極と各ターゲット電極との間
に高圧電力を印加する高圧電源装置、および、基板電極
と各ターゲット電極との間に印加される前記高圧電力を
任意の周期でONおよびOFFさせると共に、上記高圧
電力のON−OFFに同期して、各トリガ機構を作動さ
せるタイミング機構、を具備したことを特徴とするスパ
ッタ装置。 2、前記高圧電力のON期間中、基板電極が定速連続回
転する特許請求の範囲第1項記載のスパッタ装置。 3、前記高圧電力のON開期間中、基板電極に取り付け
られた各基板を上記高圧電力のONとなっているターゲ
ットに対向する位置に順次移動して停止させるように、
基板電極の回転および停止を制御する機構を備えた特許
請求の範囲第1項記載のスパッタ装置。 4、基板電極と各ターゲット電極との間の夫々の空間を
遮断および開放するように開閉動作するシャッタ機構を
さらに備え、前記タイミング機構により、前記高圧電力
のON−OFFに同期して、前記高圧電力の設定値にお
けるON期間中に該高圧電力の印加されているターゲッ
ト電極に対するシャッタ機構を開放する特許請求の範囲
第1項、第2項又は第3項記載のスパッタ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28523385A JPS62142763A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | スパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28523385A JPS62142763A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | スパツタ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62142763A true JPS62142763A (ja) | 1987-06-26 |
Family
ID=17688834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28523385A Pending JPS62142763A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | スパツタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62142763A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03223460A (ja) * | 1990-01-25 | 1991-10-02 | Agency Of Ind Science & Technol | 薄膜堆積方法 |
US5741405A (en) * | 1995-10-22 | 1998-04-21 | Ipmms (Development And Production) | Spotter-deposit method and apparatus |
JP2007239033A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Ulvac Japan Ltd | 多元薄膜形成装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4912838A (ja) * | 1972-05-15 | 1974-02-04 | ||
JPS5835649U (ja) * | 1981-09-01 | 1983-03-08 | 三洋電機株式会社 | 発動機 |
JPS59222580A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-14 | Anelva Corp | スパツタ装置の放電トリガ方式 |
JPS6082663A (ja) * | 1983-10-08 | 1985-05-10 | Fujitsu Ltd | 混合物薄膜製造の方法および装置 |
-
1985
- 1985-12-18 JP JP28523385A patent/JPS62142763A/ja active Pending
Patent Citations (4)
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JP4724576B2 (ja) * | 2006-03-09 | 2011-07-13 | 株式会社アルバック | 多元薄膜形成装置 |
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