JPS62129943A - サンプルホ−ルド回路 - Google Patents

サンプルホ−ルド回路

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JPS62129943A
JPS62129943A JP60270476A JP27047685A JPS62129943A JP S62129943 A JPS62129943 A JP S62129943A JP 60270476 A JP60270476 A JP 60270476A JP 27047685 A JP27047685 A JP 27047685A JP S62129943 A JPS62129943 A JP S62129943A
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寛 藤
Toshihisa Deguchi
出口 敏久
Tsuneo Fujiwara
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Shozo Kobayashi
省三 小林
Takashi Iwashiro
貴志 巌城
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、サンプルホールド回路に関する。
(従来技術) 入力信号を保持するモードと入力信号に追従して出力す
るモートとを持つサンプルホールド回路を光磁気ディス
クメモリ装置の光量制御装置における例を挙げて説明す
る。
光磁気ディスクメモリ装置は、膜面に垂直な方向に磁化
容易軸を持つ磁性膜を記録媒体とし、これにレーザビー
ムを照射して記録、再生又は消去を行なう光学的な記録
再生装置である。以下に光磁気ディスクメモリ装置の記
録再生方法について説明する。
記録時には、以下のように情報を記録する。1μmφ程
度に集光したレーザビームを、情報信号に応じて強度変
調し磁性膜面に照射すると、磁性膜の温度が局所的に上
界する。その温度上界した部分では保磁力が減少するた
め、同時に外部より補助磁場を印加すると、磁化の向き
が反転して情報が記録される。
一方再生時には、記録された磁性膜面に記録時よりら弱
い光量のレーザの直線偏光を照射する。
すると、反射光は、磁性膜の磁気光学効果(カー効果)
により偏光面の傾きを生じろ。この傾きを検光子を通し
て光の強弱に変え、それを光検出器で検出すると再生信
号となる。
レーザビームの強度は、以上の様に高・低の2つの出力
レベルが必要である。記録(消去)時は高出力強度レベ
ル、再生時は低出力強度レベルである。
レーザビームを射出する半導体レーザは温度特性を有し
ており、周囲温度によってその強度が変動する。情報の
記録時に高出力強度が変動すれば、記録媒体に対して情
報の書き込み不足や過多を生じ、再生情報の信頼性が劣
化する。一方情報の再生時に低出力強度か変動すれば、
再生信号のS/N比か劣化する。従って、高・低置出力
レベルにおいてレーザ光強度を安定化させる必要がある
そこで、第3図に示す光量制御装置が提案された。これ
は半導体レーザ1に駆動電流を供給する2つの電流源8
.9か設けられたものである。情報再生時には、低出力
用のバイアス電流源8による駆動組成I、えのみにより
211導体レーザlを駆動する乙のである。まr二情幸
[鳳己録G・肖去)11!層こ:よ、1・、)出力用の
パルス電i%i ’llI’lj 9から○駆動電流I
9を駆動電流’ I7に付+10することにより、高出
力強度を得ている。
さて、一定出力光強度を得るための自動光出力制御(い
わゆるAPC)は、以下のようにして行なわれる。まず
低出力の光強度について光量の自動光出力制御を行なう
。次に高出力時には、この低出力時の電流値■□を保持
し、これに高山ツノ用の71i flF、’ wを付加
すれば、高出力時にも自動光出力制御が見かけ上実現さ
れる。なぜならば、半導体レーザの駆動電流対先出力カ
ーブにおいて、周囲温度の変動に対してしきい値のみが
変動し、しきい値以上の傾きは変わらないのて、低出力
用電流のみをしきい値以上のある値に制御すれば、これ
に高出力用の定電流を付加するだけて高出力時の自動光
出力制御ら実現されるからである。
自動光出力制御には、サンプルホールド回路を用いたら
のかある。次に、従来のサンプルホールド回路を用いた
時の自動光出力制御(APC)の例について図面を用い
て以乍に説明する。まず情報再生時すなわち低出力時の
制御について説明する。
第3図において半導体レーザlの出力光強度P2は、 
光検出器2で常時モニターされ、電圧信号Va2に変換
される。このモニター信号Va、は、差動アンプ3で基
鋸電圧■btと比較されて出力電圧Vo2(−Vb、−
V、2)となり、ローパスフィルタ5を介して電圧”d
tとなり、スイッチング回路7を介して、電圧V。、(
−Vd、)がバイアス電流源8に導びかれろ。低出力時
には、スイッチング回路7は、ローパスフィルタ5の出
力電圧Vd t ’そのまま出力する側にスイッチされ
ている。バイアス電流源8では、この光強度のデータ■
。、に基づいて差動アンプ3の出力V。、が0になるよ
うにバイアス電流■□を制御し、半導体レーザIの低出
力強度P2を一定に保つ。
次に情報記録(消去)時、すなわち高出力時には、あら
かじめ低出力強度のデータとしてローパスフィルタ5の
出力電圧Vd、をメモリ回路6で記憶しておき、スイッ
チング回路7をメモリ回路6側にスイッチずろ。そして
高出力用のパルス電流源9により記録パルス電流(消去
電流)IWをバイアス電流lRに付加する。情報記録(
消去)時には低出力の自動光出力制御を凍結するが、こ
れは高出力強度に応答して低出力強度が下がるのを避け
るfこめである。そして、高出力用電流を付加すること
で、高出力時にも自動光出力制御が実現されろ。
ここでローパスフィルタ5、メモリ回路6及びスイッチ
ング回路7て構成されろ回路10は、2つのモードすな
わち1つは入力信号にローパスフィルタを介して信号を
出力するモードと、もう[つはこれをメモリ回路6で記
憶させ、その出力を保持するモードを備えたいわゆるサ
ンプルホールド回路である。
(発明の解決しようとする問題点) 従来のサンプルホールド回路10の構成では、ローパス
フィルタ5の過渡応答特性が残るため、高・低山出力の
光量制御か瞬時に達成できない。
このことを第4図を用いて説明する。
まず第3図における半導体レーザlの先出力強IX P
 2は再生時にあみかしめ自動光出力制御により安定化
されており、記録(消去)時に高出力強度が付加され、
第4図に示すような波形になる。第・1図に示す波形v
37.■b2.Vo2.Vd2.Ve2及びタイミング
信号S、、S2は、第3図に示す同一符号のらのに対応
する。光検出器2の出力■a2は光強度P2を電圧信号
に変換したものであり、差動アンプ3において基準電圧
Vb、と比較され、その差VC2(−vb2−va2)
が出力される。この差Vo2は、サンプルホールド回路
IOにおけるローパスフィルタ5に入力される。ローパ
スフィルタ5は、半導体レーザの温度特性による強度変
動に対応した低周波域を通ずものである。ローパスフィ
ルタ5の出力電圧Vd2は、第4図に示すように過渡応
答を示す。この出力電圧は、メモリ回路6とスイッチン
グ回路7に導びかれる。メモリ回路6では、メモリタイ
ミング信号S1がハイレベルの時に入力信号を記録する
と同時に、それを出力し保持する。スイッチング回路7
では、スイッチタイミンク信号S、かハイレベルの時(
再生時)、ローパスフィルタ5の出力電圧Vd、をその
まま通ずので自動光出力制御が行なわれ、ローレベルの
時(記録(消去)時)は、メモリ回路6の出力信号を通
ず。従って、スイッチング回路の出力信号すなわちサン
プルボールド回路lOの出力電圧V。2は、第4図に示
す様に記録(消去)時から再生時に移った後に、ローパ
スフィルタ5による過渡応答成分が残るため、この電圧
Ve2に従って制御される半導体レーザlの出力光強度
P2も過渡応答成分が残り、安定化するのに応答時間た
け時間がかかる。
すなわち第3図において破線で囲まれたサンプルホール
ド回路10では、サンプルホールド回路の出力信号自体
にローパスフィルタ5の過渡応答成分が残るため、良好
な出力光強度の制御ができない。従って過e応答を含ま
ないようなサンプルホールド回路が必要不可欠である。
本発明の目的は、上述の従来技術の問題点に鑑み、フィ
ルタ回路の過渡応答が生じない入力信号を保持するモー
ドと入力信号に追従するモードとを備えたサンプルホー
ルド回路を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明に係るサンプルホールド回路は、入力されろ信号
を格納するメモリ手段と、一方の入力端rには入力信号
を、他方の入力端子にはメモリ回路の出力信号を入力し
、入力されるタイミング信号によりメモリ手段の出力信
号と入力信号とを切り換えて出力するスイッチング手段
と、このスイッチング手段の出力信号を処理して外部へ
出力するフィルタ手段とを具備し、このフィルタ手段の
出力信号が、さらに上記のメモリ手段の入力端子に接続
され、入力信号を保持するモードではメモリ回路の出力
を、入力信号に追従するモードでは入力信号を、上記フ
ィルタ回路を介して出力ずろ。
(作 用) 本発明では、スイッチング手段の後にフィルタ手段を配
置する。いま、入力信号に追従するモードにおけるサン
プルボールド回路の出力値をメモリ手段に格納しておく
と、スイッチング手段を両モードの間で切り換えたとき
に、スイッチング手段の出力信号がほとんど同じなので
、切り換えの際にサンプルボールド回路の出力信号は、
過渡応答の影響をほとんどうけない。
(実施例) 以下に、本発明に係る入力信号を保持するモードと入力
信号に追従するモードとを備えたサンプルホールド回路
の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第1図に、光磁気ディスクメモリ装置の光量制御装置に
おける適用例として、破線で囲まれた部分に本発明にお
けるサンプルホールド回路の一実施例を示す。第2図は
、第1図に示した回路における波形及びタイミング信号
を説明するための図である。
第1図において、半導体レーザlより射出された出力光
の強度P1は、光検出器2において電圧信号Va1に変
換されろ。この信号は差動アンプ3において基準電圧V
blと比較され、電圧V。1(−■b、  ”a、)か
出力される。電圧■。1は→ノ゛ンプルホールド回路4
におけるスイッチング回路7に入力され、その出力Vd
1はローパスフィルタ5を介して電圧■e1に変換され
、バイアス電流源8とメモリ回路6に導びかれる。
情報再生時には、スイッチング回路7は差動アンプ3の
出力信号Vclを通し、これに従ってバイアス電流源8
の出力電流IRが制御され、低出力強度の自動光出力制
御が行なわれる。メモリ回路6においてあらかじめ低出
力強度のデータとしてVelを記憶しておく。一方情報
記録時に、スイッチング回路7はこれに切り換わり、メ
モリ回路6のデータを通す。これにより低出力の自動光
出力制御を凍結し、高出力強度に応答するのを避ける。
そしてパルス電流源9より高出力用のパルス電流■、を
付加し、安定な記録(消去)用の高出力光を射出する。
波形及びタイミング信号を示す第2図における符号は、
第1図における同一符号のものに対応している。半導体
レーザ1から射出された出力光強度P、は、図に示すよ
うに、情報再生時は自動光出力制御により低出力強度で
安定化されており、情報記録(Il′i去)時)J高出
力強度になる。これを光検出27,2て7u圧信号■a
1に変換し、基仏′眉圧Vb。
と比較しV。1が出力されろ。
このvclを入力とするサンプルホールド回路4の出力
V。1には過渡応答が生じないことを以下に示す まず情報再生時は、サンプルホールド回路4はスイッヂ
タイミング信号S2に従って電圧V。1を通じて自動光
出力制御(APC)が行なわれる。次に情報記録時は、
メモリ回路6がメモリタイミング信号S1に従って情報
再生時の低出力強度のデータ■。1を記憶する。そして
スイッチング回路7は、スイッヂタイミング信号S2の
負進行トリガに従って切り換わり、メモリ回路6の出力
を通す。
(なお再び情報再生時には、またVCき通す。)すると
スイッチング回路7の出力Vd1は第2図に示す様にな
り、ローパスフィルタ5を介して出力したすなわちサン
プルホールド回路4の出力■。1は過渡応答性が生じな
い波形となる。従って半導体レーザ1の出力光強度P、
に過渡応答は現われず、高低の両出力レベルにおいて瞬
時に安定な出力光強度を得ることができる。
以上の様に本発明によるサンプルホールド回路を用いる
と、ローパスフィルタによる過渡応答は生じず、安定な
出力光強度を瞬時に得ることが可能となる。またこの実
施例では低出力強度のデータに限ってサンプルホールド
回路を用いたが、高出力強度の自動光出力制御を別途行
なう場合でも、同様に高出力強度のデータについてサン
プルホールド回路として用いられる。
尚、本実施例においては、光メモリ装置として光磁気デ
ィスクメモリを例に説明したが、他の光メモリ装置にも
使用できる。
また光量制御装置に限って説明したが、本発明は、これ
らに限らず、レベルの異なる信号を取り除くために用い
られるサンプルボールド回路ならば適用可能である。た
とえば、同じく光メモリ装置において、再生信号の自動
利得制御を例に上げる8この場合、利得制御なので温度
変化等のゆっくりした変化について制御すればよいので
、ローパスフィルタの過渡応答が問題になる。すなわち
、再生信号レベルから自動利得制御を行う場合に、記録
(消去)時には再生信号レベルに記録(消去)光L1に
対応した大きなレベルのパルスが付加されろ。
しfこがって、記録(消去)のレベルに自動利得制御が
応答しないように、パルスを取り除く必要がある。この
場合も、本実施例のサンプルボールド回路を適用すると
、111得に対するローパスフィルタの過渡応答の影響
を除去できる。
またフィルタの過渡応答として、ローパスフィルタにつ
いて例を示したか、バイパスフィルタ等でも同様である
(発明の効果) 本発明によれば、フィルタ回路による過渡応答が生じな
いサンプルボールド回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例によるサンプルホールド回路
を用いた光量制御装置の回路図である。 第2図は、第1図の回路における波形及びタイミング信
号を示す図である。 第3図は、従来のサンプルホールド回路を用いた先爪制
御装置の回路図である。 第4図は、第3図の回路における波形及びタイミング信
号を示す図である。 1 半導体レーザ、    2・・・光検出器、3 差
動アンプ、  4・・サンプルホールド回路、5−0−
パスフィルタ、  6・メモリ回路、7・スイッヂング
回路、 訃・・バイアス電流源、9 パルス電A源。 特許出願人     シャープ株式会社代  理  人
 弁理士 前出 葆ほか2名第2図 !:: 〆仁すダイミンゲ               I5
1:: 7”1°゛7゛。、。1゜、。 第4図 メモ゛)タイミンク′               
   ISl:1

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入力される信号を格納するメモリ手段と、一方の
    入力端子には入力信号を、他方の入力端子にはメモリ回
    路の出力信号を入力し、入力されるタイミング信号によ
    りメモリ手段の出力信号と入力信号とを切り換えて出力
    するスイッチング手段と、 このスイッチング手段の出力信号を処理して外部へ出力
    するフィルタ手段とを具備し、 このフィルタ手段の出力信号が、さらに上記のメモリ手
    段の入力端子に接続され、入力信号を保持するモードで
    はメモリ回路の出力を、入力信号に追従するモードでは
    入力信号を、上記フィルタ回路を介して出力するサンプ
    ルホールド回路。
JP60270476A 1985-10-16 1985-11-30 サンプルホ−ルド回路 Granted JPS62129943A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60270476A JPS62129943A (ja) 1985-11-30 1985-11-30 サンプルホ−ルド回路
EP86114312A EP0219124B1 (en) 1985-10-16 1986-10-16 Beam controller for magneto-optical disc memory system
DE8686114312T DE3688276T2 (de) 1985-10-16 1986-10-16 Steuervorrichtung des buendels fuer magnetooptisches plattenspeichersystem.
US06/919,672 US4843604A (en) 1985-10-16 1986-10-16 Beam controller for magneto-optical disc memory system
US07/324,458 US4935915A (en) 1985-10-16 1989-03-16 Beam controller for magneto-optical disc memory system

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JP60270476A JPS62129943A (ja) 1985-11-30 1985-11-30 サンプルホ−ルド回路

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH038130A (ja) * 1989-06-05 1991-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学式データ記憶再生装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH038130A (ja) * 1989-06-05 1991-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学式データ記憶再生装置

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JPH0514973B2 (ja) 1993-02-26

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