JPS62128674A - フイ−ドバツク型クランプ回路 - Google Patents

フイ−ドバツク型クランプ回路

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JPS62128674A
JPS62128674A JP60268816A JP26881685A JPS62128674A JP S62128674 A JPS62128674 A JP S62128674A JP 60268816 A JP60268816 A JP 60268816A JP 26881685 A JP26881685 A JP 26881685A JP S62128674 A JPS62128674 A JP S62128674A
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JP
Japan
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circuit
output
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supplied
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JP60268816A
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English (en)
Inventor
Hiromichi Akatsuka
赤塚 博道
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Sony Corp
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Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば映像信号のシンクチップ区間を所定
電圧にクランプするフィードバンク型クランプ回路に関
する。
〔発明の概要〕
この発明は、映像信号等を所定電圧にクランプするフィ
ードバック型クランプ回路において、レベルシフト回路
を制御するクランプコンデンサを介して取り出されるエ
ラー電圧をバイパスフィルタに供給して所定の周波数よ
り高い周波数の成分を取り出し、このバイパスフィルタ
の出力を比較回路の入力段に供給してノイズによる変動
分を相殺したエラー電圧を得るようにし、クランプコン
デンサの小容量化を可能とし、IC内蔵化を実現するも
のである。
〔従来の技術〕
従来、VTR等に用いられるフィードバック型クランプ
回路は、例えば第5図に示す構成とされている。映像信
号が人力信号として入力端子41からレベルシフト回路
42に供給される。レベルシフト回路42は、バッファ
回路45から供給されるエラー電圧を制御信号として映
像信号のシンクチップ区間のレベルが基準レベルとなる
ように制御して出力する。レベルシフト回路42の出力
が出力端子46を介して取り出されると共に、比較回路
43の一方の入力端子に供給される。
比較回路43の他方の入力端子には基準電圧源47が接
読されており、出力信号レベルと基準レベルとが端子4
8から供給されるクランプパルスがハイレベルとなる期
間においてのみ比較され、差に応じた出力が比較回路4
3に発生する。この比較回路43の出力によりクランプ
コンデンサ44が充放電し、クランプコンデンサ44を
介して取り出されたエラー電圧がバッファ回路45を介
してレベルシフト回路42の制御端子に供給される。レ
ベルシフト回路42において、エラー電圧に応じてシン
クチップレベルが基準レベルとなるようにシフトされる
。クランプパルスがローレベルとなる期間においてもエ
ラー電圧が保持されることにより、次のクランプパルス
がハイレベルとなるまで、入力信号が常に一定量しベル
シフトされ、1水平周期にわたって全体的にレベルシフ
トされる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述した従来のフィードバック型クランプ回路に用いら
れるクランプコンデンサ44の容量は例えば0.22μ
Fとされ、クランプコンデンサ44の充放電電流は、例
えば200μAとされ、クランプパルスのハイレベルと
なる期間、即ちクランプパルス幅は、例えば、4μsの
値とされている。
このフィードバック型クランプ回路をIC内蔵化するた
めには、大容量のクランプコンデンサ44を小容量とし
、例えば、50μF程度に下げなげれば実現が不可能で
ある。
しかし、クランプコンデンサ44の容量を50pFとし
、同様な比率で充放電電流を下げると0.05μAとな
り、4μsのパルス幅のクランプパルスでは正常なスイ
ッチング動作が困難となりクランプが正常に行われない
問題が生ずる。また、クランプパルス幅を1μsとした
場合においても、充放電電流が0.2μAとされ、同様
にクランプが正常に行われない。
そこで、クランプパルス幅を1μsとし、充放電電流を
1μAとすることでスイッチング動作を正常に行わせる
ことが考えられるが、この場合にはアタックタイムが速
くなり弱電界等のノイズの多い入力信号に対してノイズ
に応答して誤動作し、出力信号がゆれ、1水平周期毎に
段差を持つ出力が発生される問題が生ずる。
従って、この発明の目的は、クランプコンデンサをIC
内蔵化可能な程度の小容量とした場合においてもノイズ
に誤動作することなく正常にクランプできるフィードバ
ック型クランプ回路を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明は、クランプパルスの期間でレベルシフト回路
2の出力及び基準電圧を比較してエラー電圧を発往する
比較回Ii!83と、エラー電圧によりレベルシフト回
路2が制御されるフィードバック型クランプ回路におい
て、 エラー電圧の所定の周波数より高い周波数の成分を取り
出すフィルタ6を設けて、フィルタ6の出力により比較
回路3の入力段に供給し、エラー電圧中の高い周波数の
成分を相殺することを特徴とするフィードバンク型クラ
ンプ回路である。
C作用〕 エラー電圧のノイズによる変動分を検出する例えば、カ
ットオフ周波数が50Hz程度とされたバイパスフィル
タ6が設けられ、エラー電圧がバイパスフィルタ6に供
給されると共に、レベルシフト回路2に供給される。バ
イパスフィルタ6の出力が比較回路3の入力側例えば、
基準電圧源の出力が供給される加算器7に供給され、基
準電圧源の出力にノイズによる変動分が加算され、この
加算出力が比較回路3の基準レベルとされ、見かけ上ノ
イズによる変動分が相殺されたエラー電圧が発生される
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示すもので第1図におい
て1で示されるのが入力端子である。
入力端子1から例えば映像信号が入力信号としてレベル
シフト回路2に供給される。レベルシフト回路2ばバッ
ファ回路5から供給されるエラー電圧を制御信号として
映像信号のシンクチップ区間のレベルが基準レベルとな
るように制御して出力する。レベルシフト回路2の出力
が出力端子8から取り出されると共に、比較回路3の一
方の入力端子に供給される。
比較回路3の他方の入力端子には、基準電圧源9が接続
された加算器7が接続されている。比較回路3に端子1
0から水平周期のクランプパルスが供給され、クランプ
パルスがハイレベルとなる期間においてのみレベルシフ
ト回路2の出力信号レベルと加算器7からの基準レベル
とが比較され、差に応じた出力が比較回路3に発生する
この比較回路3の出力によりクランプコンデンサ4が充
放電し、クランプコンデンサ4を介して取り出されたエ
ラー電圧がバッファ回路5を介してレベルシフト回路2
の制御端子に供給されると共に、例えばカットオフ周波
数が5011z程度とされたバイパスフィルタ6に供給
される。
バイパスフィルタ6において、バッファ回路5からのエ
ラー電圧中の50Hz以上の周波数の成分、即ち、ノイ
ズによる変動分が取り出され、バイパスフィルタ6の出
力が加算器7に供給される。
加算器7において、基準電圧源9の出力とバイパスフィ
ルタ6の出力とが加算され、この加算出力が比較回路3
の基準レベルとされ、バッファ回路5から出力されるエ
ラー電圧中に含まれるノイズによる変動分が相殺される
エラー電圧がレベルシフト回路2に供給され、レベルシ
フト回路2において、エラー電圧に応してシンクチップ
レベルが基準レベルとなるようにシフトされる。クラン
プパルスがローレベルとなる期間においてもエラー電圧
が保持されることにより、次のクランプパルスがハイレ
ベルとなるまで、映像信号が常に一定量レベルシフトさ
れ、1水平周期にわたって全体的にレベルシフトされる
第2図はこの発明の一実施例の具体回路を示すもので、
第2図を参照して更に詳しく説明する。
第2図において20,22.23で示されるのがNPN
形トランジスタであり、24で示されるのがPNP形ト
ランジスタであり、この4個のトランジスタ20,22
,23.24により電流源形のレベルシフト回路2が構
成される。また、第2図において、30.’32で示さ
れるのがNPN形トランジスタであり、31.33で示
されるのがPNP形トランジスタであり、この4個のト
ランジスタ30,31.32.33により差動アンプが
構成され、比較回路3とされている。尚、第1図に対応
する部分に関しては同一の符号が付されている。
トランジスタ20のコレクタが電源端子11に接続され
、トランジスタ20のベースから入力端子1が導出され
る。トランジスタ20のエミッタが抵抗21を介してト
ランジスタ22のコレクタに接続され、トランジスタ2
2のエミッタが接地される。トランジスタ22のベース
とトランジスタ23のベースとが共通接続され、この共
通接続点とトランジスタ23のコレクタが接続される。
抵抗21とトランジスタ22のコレクタとの接続点がト
ランジスタ24のベースに接続され、トランジスタ24
のエミッタが電源端子11に接続された定電流源25に
接続されると共に、比較回路3の一方の入力端子となる
トランジスタ30のベースに接続される。また、トラン
ジスタ24のコレクタが接地される。このトランジスタ
24のエミッタとトランジスタ30のベースとの接続点
から出力端子8が導出される。
比較回路3のトランジスタ31及びトランジスタ33の
エミッタが電源端子11に接続される。
トランジスタ31及びトランジスタ33のベースが共通
接続され、トランジスタ30のコレクタとトランジスタ
31のコレクタとが共通接続され、この共通接続点にト
ランジスタ31及びトランジスタ33のベースの共通接
続点が接続される。トランジスタ33のコレクタとトラ
ンジスタ32のコレクタとが共通接続され、トランジス
タ30及びトランジスタ32のエミッタが共通接続され
る。
トランジスタ30及びトランジスタ32のエミッタの共
通接続点に定電流源35を介して接地されたスイッチ回
路34が接続される。スイッチ回路34は、端子10か
ら供給されるクランプパルスにより制御され、クランプ
パルスがハイレベルとなる期間、オンする構成とされる
比較回路3の他方の入力端子となるトランジスタ32の
ベースが抵抗37を介して基準電圧源9に接続される。
比較回路3の出力端子となるトランジスタ33とトラン
ジスタ32のコレクタの共通接続点が例えば、小容量の
50pF程度とされたクランプコンデンサ4を介して接
地されると共に、バッファ回路5の入力端子に接続され
る。
バッファ回路5の出力端子が例えば、カットオフ周波数
が50Hz程度とされたバイパスフィルタ6の入力端子
に接続されると共に、抵抗26を介してレベルシフト回
路2のトランジスタ23のエミッタに接続される。バイ
パスフィルタ6の出力端子に抵抗36の一端が接続され
、この抵抗36の他端がトランジスタ32のベースと抵
抗37との接続点に接続され、抵抗37及び抵抗36に
より加算器7が構成される。
入力端子1に例えば、第3図Aに示すような映像信号が
入力され、端子10に例えば、第3図Bに示すような映
像信号のシンクチップ区間においてハイレベルとなるパ
ルス幅1μsとされた水平周期のクランプパルスが供給
された場合について説明する。
クランプパルスがハイレベルとなる期間において、スイ
ッチ回路34がオンとされ、1個前のクランプパルスに
より保持されたエラー電圧に応じてレベルシフトされた
映像信号のジンクチップ区間のレベルと基準レベルとが
比較される。例えば、このレベルシフトされたシンクチ
ンプレベルが基準レベル以上の場合には、比較回路3の
出力端子にクランプコンデンサ4に対する充電電流が発
生する。また、レベルシフトされたシンクチップレベル
が基準レベル以下の場合は、比較回路3の出力端子にク
ランプコンデンサ4に対する放電電流が発生する。クラ
ンプコンデンサ4を介して取り出されたエラー電圧がバ
ッファ回路5を介して出力される。このエラー電圧に応
じてトランジスタ22のベースの電圧が可変とされ、ト
ランジスタ22に流れる電流によりシンクチップレベル
がレベルシフトされ、トランジスタ24のエミッタから
の出力即ち、レベルシフト回路2の出力が基準レベルと
なるように制御される。
第3図Aに示すようにシンクチップ区間にノイズが混入
している1水平周期の区間においては、クランプコンデ
ンサ4が小容量のため、ノイズレベルに応答し、本来、
比較すべきシンクチップレベルと基準レベルの比較動作
がなされず、ノイズレベルと基準レベルとの比較動作が
なされる。ノイズレベルと基準レベルとの差に応じたエ
ラー電圧がバッファ回路5から出力され、このエラー電
圧がバイパスフィルタ6に供給され、エラー電圧中の5
0Hz以上の周波数成分がバイパスフィルタ6により取
り出されることにより、ノイズによる変動分が検出され
、バイパスフィルタ6の出力が加算器7に供給される。
加算器7において、基準電圧源9の出力とバイパスフィ
ルタ6の出力とが加算され、この加算出力が比較回路3
の基準レベルとされる。見かけ上ノイズによる変動分が
相殺された第3図Cに示すエラー電圧がバッファ回路5
から出力され、このエラー電圧に応じて入力信号がレベ
ルシフトされて出力端子8から出力される。
尚、第4図は、この発明の他の実施例を示すもので、第
4図に示すように比較回路3のレベルシフト回路2の出
力が供給される入力段に加算器7を設けて、バイパスフ
ィルタ6の出力を反転させて供給してノイズによる変動
分を相殺する構成としても良い。
〔発明の効果〕
この発明では、エラー電圧のノイズによる変動分を検出
する例えば、カットオフ周波数が50Hz程度とされた
バイパスフィルタが設けられ、エラ一電圧がバイパスフ
ィルタに供給されると共に、レベルシフト回路に供給さ
れる。バイパスフィルタの出力が比較回路の入力側、例
えば、基準電圧源の出力が供給される加算器に供給され
、基準電圧源の出力にノイズによる変動分が加算され、
この加算出力が比較回路の基準レベルとされ、見かけ上
ノイズの変動分が相殺されたエラー電圧が発生される。
従って、この発明に依ればクランプコンデンサを小容量
とした場合においても弱電界等のノイズの多い入力信号
に対して正確に基準レベルにクランプすることができる
。このためフィードバック型クランプ回路のIC内蔵化
が可能とされ、従来必要とされた外付けのクランプコン
デンサが不要となり、ICのピン数を減少させると共に
面積を小とすることができ、またローコスト化を図るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のブロック図、第2図はこ
の発明の一実施例の具体回路を示す接続図、第3図はこ
の発明の一実施例の動作説明に用いる波形図、第4図は
この発明の他の実施例を示すブロック図、第5図は従来
のフィードバック型クランプ回路の説明に用いるブロッ
ク図である。 図面における主要な符号の説明 1:入力端子、  2:レベルシフト回路。 3:比較回路、  4:クランプコンデンサ。 5:バッファ回路、  6:バイパスフィルタ。 7:加算器、  8:出力端子。 代理人   弁理士 杉 浦 正 知 −芙弛イ到り臭体回y割 イ巴の実演Eイタ1]のブ′ロック1沼第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 クランプパルスの期間でレベルシフト回路の出力及び基
    準電圧を比較してエラー電圧を発生する比較回路と、上
    記エラー電圧によりレベルシフト回路が制御されるフィ
    ードバック型クランプ回路において、 上記エラー電圧の所定の周波数より高い周波数の成分を
    取り出すフィルタを設けて、上記フィルタの出力により
    上記比較回路の入力段に供給し、上記エラー電圧中の高
    い周波数の成分を相殺することを特徴とするフィードバ
    ック型クランプ回路。
JP60268816A 1985-11-29 1985-11-29 フイ−ドバツク型クランプ回路 Pending JPS62128674A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0514542A1 (en) * 1990-12-06 1992-11-25 Sony Corporation Feedback clamping circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0514542A1 (en) * 1990-12-06 1992-11-25 Sony Corporation Feedback clamping circuit
US5497403A (en) * 1990-12-06 1996-03-05 Sony Corporation Feedback clamping circuit

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