JPS62126653A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPS62126653A
JPS62126653A JP26786885A JP26786885A JPS62126653A JP S62126653 A JPS62126653 A JP S62126653A JP 26786885 A JP26786885 A JP 26786885A JP 26786885 A JP26786885 A JP 26786885A JP S62126653 A JPS62126653 A JP S62126653A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
region
type
lsi
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26786885A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Fukui
正博 福井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP26786885A priority Critical patent/JPS62126653A/ja
Publication of JPS62126653A publication Critical patent/JPS62126653A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明はLSI等の半導体装置における配線領域の構
造に関する。
従来の技術 従来、配線領域の下部の領域の表面部に、この領域とは
逆導電型の層を形成し、配線に対する浮遊容量を減らす
という構造はみられない。
発明が解決しようとする問題点 LSIにおいて、配線に浮遊する容量を減らすことは回
路の動作速度を上げる為に重要なことである。配線浮遊
容量を減らす為には、フィールド2、−7 酸化膜を厚くする、配線巾を減らす等が考えられるが、
これらの対策だけでは限界がある。
問題点を解決するだめの手段 本発明は、配線容量を減らすことを目的として、配線領
域の下部の領域の表面部に逆導電型の領域を形成するも
のである。
作用 すなわち、配線領域の下部の領域の表面部に、この領域
と逆導電型の領域を形成することにより、配線とLSI
基板間に新らた々容量が直列に付加される為、配線とL
SI基板間の容量は減少する。
実施例 以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづいて説明す
る。
第1図はLSIの(半導体集積回路装置)一部の平面図
、第2図はその断面図である。第1図。
第2図において1は機能セル部分であり、内部にMOS
トランジスタ2等を含む。3は配線、4はPウェル領域
、5はN型半導体基板、6はフィールド酸化膜、7はN
+型層、8はP+型層である。
3・8−・ 第1図及び第2図はC−MOSのLSIの一部の平面図
及び断面図であり、このようなLSIの構造において、
配線領域3の下のフィールド酸化膜6下にはN型又は拡
散層7P型の拡散層が広がっている。本実施例はこれら
の拡散層の表面にN型層7や、P型層8を形成すること
により配線3と基板5の間の容量を減じる効果が得られ
る。又、本実施例においてN型層7の形成は、製造プロ
セス中でトランジスタ2のN″−ソース、ドレイン拡散
層9の形成と同時に行なえる為、製造工程が複雑になる
等の欠点が発生することはない。とのことはP型層8に
ついても同様である。
発明の効果 本発明はLSIにおいて人β等の配線とLSI基板の間
の容量を減らす効果がある。これにより配線における電
気信号の伝播速度を上げることができ、LSIの高性能
化をはかることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例のC−MOS  LSIの平面図
、第2図は同LSI(7)(第1図ty) x−x’線
)断面図である。 3・・・・・・配線、5・・・・・N型基板、6・・・
・・・フィールド酸化膜、7・・・・・・N+型層、8
・・・・・・P+型層。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 配線領域の下にフィールド酸化膜を介して一方の導電型
    の領域が形成され、前記一方の導電型の領域の表面部に
    他方の導電型の領域を形成することを特徴とする半導体
    装置。
JP26786885A 1985-11-28 1985-11-28 半導体装置 Pending JPS62126653A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26786885A JPS62126653A (ja) 1985-11-28 1985-11-28 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26786885A JPS62126653A (ja) 1985-11-28 1985-11-28 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62126653A true JPS62126653A (ja) 1987-06-08

Family

ID=17450746

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26786885A Pending JPS62126653A (ja) 1985-11-28 1985-11-28 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62126653A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1341377A2 (en) * 2002-02-27 2003-09-03 Canon Kabushiki Kaisha Signal processing device for image pickup apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1341377A2 (en) * 2002-02-27 2003-09-03 Canon Kabushiki Kaisha Signal processing device for image pickup apparatus
US7429764B2 (en) 2002-02-27 2008-09-30 Canon Kabushiki Kaisha Signal processing device and image pickup apparatus using the same
JP2009088539A (ja) * 2002-02-27 2009-04-23 Canon Inc 撮像装置
EP1341377A3 (en) * 2002-02-27 2010-11-03 Canon Kabushiki Kaisha Signal processing device for image pickup apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR840006872A (ko) 반도체 집적회로장치 및 그 제조방법
KR890003038A (ko) 페데스탈 구조를 가지는 반도체 제조 공정
KR950010095A (ko) 반도체기억장치 및 그 제조방법(Semiconductor Memory Device and Manufacturing Method Thereof)
US3942241A (en) Semiconductor devices and methods of manufacturing same
KR100190365B1 (ko) 반도체 소자 제조를 위한 포토마스크 및 그 형성 방법
JPS62126653A (ja) 半導体装置
KR890016620A (ko) 반도체 집적회로장치의 제조방법
JPS57162360A (en) Complementary insulated gate field effect semiconductor device
JPS54139493A (en) Manufacture of semiconductor device containing poly-crystal silicon layer
JPS618969A (ja) 半導体集積回路装置
JPS56158482A (en) Semiconductor device
JPS5789239A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH04370978A (ja) 量子効果型電界効果トランジスタ
JPS6153756A (ja) 半導体装置
JP2520473B2 (ja) 半導体集積回路
JP2532471B2 (ja) 半導体装置
JPS58194356A (ja) 半導体集積回路装置
JPS57211767A (en) Mos integrated circuit
JPS55130145A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPS5346287A (en) Production of semiconductor integrated circuit
JPS59115555A (ja) 半導体集積回路
JPS6384136A (ja) 半導体集積回路配線構造
EP0404180A3 (en) Semiconductor integrated circuit and method of making the same
JPS6332960A (ja) 半導体装置
JPH04343236A (ja) Mos集積回路装置