JPS62126329A - 吸光分析計 - Google Patents
吸光分析計Info
- Publication number
- JPS62126329A JPS62126329A JP60267640A JP26764085A JPS62126329A JP S62126329 A JPS62126329 A JP S62126329A JP 60267640 A JP60267640 A JP 60267640A JP 26764085 A JP26764085 A JP 26764085A JP S62126329 A JPS62126329 A JP S62126329A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- cell
- component
- measured
- concn
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 title 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 22
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 abstract description 6
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 70
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 39
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 18
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 210000004366 CD4-positive T-lymphocyte Anatomy 0.000 description 1
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/37—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の＋１１用分野〕
本発明は赤外線や紫外線等を使用する吸光分析計に関す
るものである。
るものである。
吸光分析具１、たとえば赤外線ガス分析計は、光源から
赤外綿をセル内に入射し、セル内の試料ガスによる赤外
線の吸収度合を測定して、試料ガス中の測定成分ガスの
４度を測定するものである。
赤外綿をセル内に入射し、セル内の試料ガスによる赤外
線の吸収度合を測定して、試料ガス中の測定成分ガスの
４度を測定するものである。
この吸光分析計は、ランバート・ヘールの法則を拮礎原
理とするものであって、入射光を１０、セル長をａ、吸
光度係数（測定波長と４１１１定対象物によって定まる
定数）をＫ、ガスの４度をＣとすると、ｉ３過光］は、 １＝Ｉｏｑ −ａ＋Ｊ によって表される。したがって、吸光分析計における測
定成分ガスの４度と出力の関係は、第２図に示したよう
に、測定成分ガスの濃度が高くなるに従って曲がりが大
きくなる。このため、第２図の直線に近い部分を使用し
て測定精度を向上させるために、測定成分ガスが高濃度
のときはセル長を短くして吸収スペクトルを少なくし、
低濃度のときはセル長を長くすることが行われている。
理とするものであって、入射光を１０、セル長をａ、吸
光度係数（測定波長と４１１１定対象物によって定まる
定数）をＫ、ガスの４度をＣとすると、ｉ３過光］は、 １＝Ｉｏｑ −ａ＋Ｊ によって表される。したがって、吸光分析計における測
定成分ガスの４度と出力の関係は、第２図に示したよう
に、測定成分ガスの濃度が高くなるに従って曲がりが大
きくなる。このため、第２図の直線に近い部分を使用し
て測定精度を向上させるために、測定成分ガスが高濃度
のときはセル長を短くして吸収スペクトルを少なくし、
低濃度のときはセル長を長くすることが行われている。
測定成分ガスの濃度に対応してセル長を変える吸光分析
具ｌは、たとえば特公昭５９−２３３８０号公叩に開示
されている。この分析計は軸線をほぼ平行にして７ＩＩ
ＩＩ定試料中に；ＩＣべた一月の筒体において、その一
方の筒体内部に光源を、他方の筒体内部に検出器をそれ
ぞれ偏心させて配置し、前記−幻の筒体のそれぞれを偏
心位置を中心として回転させてセル長を変えるものであ
る。
具ｌは、たとえば特公昭５９−２３３８０号公叩に開示
されている。この分析計は軸線をほぼ平行にして７ＩＩ
ＩＩ定試料中に；ＩＣべた一月の筒体において、その一
方の筒体内部に光源を、他方の筒体内部に検出器をそれ
ぞれ偏心させて配置し、前記−幻の筒体のそれぞれを偏
心位置を中心として回転させてセル長を変えるものであ
る。
上記従来の吸光分析装置は、試ず４ガス中の測定成分ガ
スのｖ届度に対応してセル長を変更することで測定精度
を向上させるから、セル長を変えるための煩雑な構造が
必要になる問題がある。
スのｖ届度に対応してセル長を変更することで測定精度
を向上させるから、セル長を変えるための煩雑な構造が
必要になる問題がある。
なお、前記公報には、光源の側部に干渉フィルタを設け
ることが開示されているが、これは測定成分の吸収スペ
クトル帯域と重なる干渉スペクトル帯域をあらかしめ取
り除くことによって、測定に対する干１歩スペクトルに
よる影響をなくするのみのものであって、他の作用が生
じるものではない。
ることが開示されているが、これは測定成分の吸収スペ
クトル帯域と重なる干渉スペクトル帯域をあらかしめ取
り除くことによって、測定に対する干１歩スペクトルに
よる影響をなくするのみのものであって、他の作用が生
じるものではない。
本発明は、セル長を変えることなく、同一のセルで低ｌ
農度から高（゛店度までの測定成分ガスを精度よく測定
できる吸光分析計を得ることを目的とする。
農度から高（゛店度までの測定成分ガスを精度よく測定
できる吸光分析計を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、光源とセルと検出器とを備えた吸光分析計に
おいて、測定成分ガスまたは測定成分の吸収スペクトル
帯域とほぼ同等の吸収スペクトル帯域の成分ガスを封入
したガスフィルタが、前記光源から検出器に至る光路中
に設けられたことを特徴とする。
おいて、測定成分ガスまたは測定成分の吸収スペクトル
帯域とほぼ同等の吸収スペクトル帯域の成分ガスを封入
したガスフィルタが、前記光源から検出器に至る光路中
に設けられたことを特徴とする。
この吸光分析計は、前記ガスフィルタにより、セル長を
変更することなく、第２図に示した検量線の直線に近い
部分で出力を得ることを可１１ヒにして、ガス濃度の測
定積度を向」ニさせるものである。
変更することなく、第２図に示した検量線の直線に近い
部分で出力を得ることを可１１ヒにして、ガス濃度の測
定積度を向」ニさせるものである。
本発明の吸光分析計の実施例を第１図に示した赤外線ガ
ス分析計について説明する。
ス分析計について説明する。
同図において、１は比較セルで、赤外線を吸収しない、
たとえばＮ２等のガスが封入されている。
たとえばＮ２等のガスが封入されている。
２は試料セルで、これに試料ガスが供給される。
３ａ、 ３ｂは比較セル１と試料セル２のそれぞれの一
例に配置された光源で、これらの光ｇ３ａ、 ３ｂが出
す光線は、回転するセクター４によって断続光となり、
それぞれ比較セルｌと試料セル２をＪ過し、それらの他
側に配置された検出器としてのコンデンサマイクロホン
５に交互にはいる。６はコンデンサ膜、７は固定極であ
る。
例に配置された光源で、これらの光ｇ３ａ、 ３ｂが出
す光線は、回転するセクター４によって断続光となり、
それぞれ比較セルｌと試料セル２をＪ過し、それらの他
側に配置された検出器としてのコンデンサマイクロホン
５に交互にはいる。６はコンデンサ膜、７は固定極であ
る。
８は比較セルｌと試料セル２のそれぞれとコンデンサマ
イクロホフ５間に配置されたガスフィルタで、これに測
定成分ガスまたは測定成分の吸収スペクトル帯域とほぼ
同等の吸収スペクトル帯域のガスが封入されている。す
なわち、測定成分がＣＯまたはＣＯ□のように安定なガ
スである場合には、測定成分ガスが封入されたガスフィ
ルタ８を使用し、測定成分が不安定な場合、たとえばシ
アンの場合には、それの吸収スペクトル帯域とほぼ同等
の吸収スペクトル帯域を有するアセチレンガスを封入し
たガスフィルタ８を使用することができる。
イクロホフ５間に配置されたガスフィルタで、これに測
定成分ガスまたは測定成分の吸収スペクトル帯域とほぼ
同等の吸収スペクトル帯域のガスが封入されている。す
なわち、測定成分がＣＯまたはＣＯ□のように安定なガ
スである場合には、測定成分ガスが封入されたガスフィ
ルタ８を使用し、測定成分が不安定な場合、たとえばシ
アンの場合には、それの吸収スペクトル帯域とほぼ同等
の吸収スペクトル帯域を有するアセチレンガスを封入し
たガスフィルタ８を使用することができる。
９は増幅器である。
上記構成において、試料ガスを試料セル２に供給すると
、光’１Ｑ３ａからの赤外線は比較セル１内では吸収さ
れないが、ガスフィルタ８を１ｌｌｌ過することによっ
て、その４度に応した赤外線吸収を受けてコンデンサマ
イクロホン５にはいり、そのコンデンサ膜６を変位させ
、光源３ｂからの赤外線は試ｔ４セル２内において、試
料ガス中の測定成分ガスの４度に応じて吸収され、かつ
ガスフィルタ８を通過することにより再度吸収されてか
らコンデンサマイクロホン５にはいり、そのコンデンサ
ｌＩ６を変位させる。このコンデンサ膜６の変位量の差
によって試料ガス中の測定成分ガスの４度を測定する。
、光’１Ｑ３ａからの赤外線は比較セル１内では吸収さ
れないが、ガスフィルタ８を１ｌｌｌ過することによっ
て、その４度に応した赤外線吸収を受けてコンデンサマ
イクロホン５にはいり、そのコンデンサ膜６を変位させ
、光源３ｂからの赤外線は試ｔ４セル２内において、試
料ガス中の測定成分ガスの４度に応じて吸収され、かつ
ガスフィルタ８を通過することにより再度吸収されてか
らコンデンサマイクロホン５にはいり、そのコンデンサ
ｌＩ６を変位させる。このコンデンサ膜６の変位量の差
によって試料ガス中の測定成分ガスの４度を測定する。
ここで、ガスフィルタ８による光Ｂ３ａ、 ３ｂの赤外
線の吸収量は同しであるから、第２図に示した検量線の
測定ｌ屑度において、実際の測定成分ガスの濃度よりも
、ガスフィルタ８に封入したガス４度に対応して、低濃
度の位置で出力を得ることが可能であって、試料ガス中
の測定成分ガスの７ａ度に対応して、ガスフィルタ８中
のガス４度を設定することにより、直線性をよくし測定
精度を向上させることができる。
線の吸収量は同しであるから、第２図に示した検量線の
測定ｌ屑度において、実際の測定成分ガスの濃度よりも
、ガスフィルタ８に封入したガス４度に対応して、低濃
度の位置で出力を得ることが可能であって、試料ガス中
の測定成分ガスの７ａ度に対応して、ガスフィルタ８中
のガス４度を設定することにより、直線性をよくし測定
精度を向上させることができる。
したがって、試料ガス中の測定成分ガスの４度が比較的
高くセル長を短くして測定されていたＣＯ□も、濃度が
低（セル長が比較的長く形成されているＣＯ用の赤外線
分析具１を使用し、その光路中に、ガスフィルタを設け
ることによって、そのセル長を変えることなく、精度よ
く測定することができる。
高くセル長を短くして測定されていたＣＯ□も、濃度が
低（セル長が比較的長く形成されているＣＯ用の赤外線
分析具１を使用し、その光路中に、ガスフィルタを設け
ることによって、そのセル長を変えることなく、精度よ
く測定することができる。
第３図は、ガスフィルタ８に封入したｃｏｚｌｎ度と第
２図に示した検量線との関係を示したもので、ガスフィ
ルタ８の封入ＣＯｚ’ｌ＠度の増加に伴って検Ｍｌの曲
がりが小さくなることが明らかである。
２図に示した検量線との関係を示したもので、ガスフィ
ルタ８の封入ＣＯｚ’ｌ＠度の増加に伴って検Ｍｌの曲
がりが小さくなることが明らかである。
１１：１記実施例では、検出器としてコンデンサマイク
ロホンを使用しているが、メＬ電、半導体、熱電対等を
用いた固体検出器その他任意の検出器を使用することが
可能である。そして、比較ガスと試料ガスを一対のセル
に対して交互に供給したり、あるいは１個のセルに対し
て比較ガスと試ｔ４ガスとを交互に流す、いわゆる流体
変調方式の分析計に本発明を適用してもよいつ又、ガス
フィルタ８は検出器５と一体化してもよいし、セクター
４と比較セル１．試料セル２との間に設けることも可１
１ヒである。さらに、光源のケース内に前記した測定成
分ガス等を封入して、ガスフィルタを構成してもよい。
ロホンを使用しているが、メＬ電、半導体、熱電対等を
用いた固体検出器その他任意の検出器を使用することが
可能である。そして、比較ガスと試料ガスを一対のセル
に対して交互に供給したり、あるいは１個のセルに対し
て比較ガスと試ｔ４ガスとを交互に流す、いわゆる流体
変調方式の分析計に本発明を適用してもよいつ又、ガス
フィルタ８は検出器５と一体化してもよいし、セクター
４と比較セル１．試料セル２との間に設けることも可１
１ヒである。さらに、光源のケース内に前記した測定成
分ガス等を封入して、ガスフィルタを構成してもよい。
［発明の効果〕
本発明は上記のように、光源とセルと検出器とをＯＲえ
た吸光分析５１において、光源からの光線を、測定成分
ガスまたは測定成分の吸収スペクトル帯域とほぼ同等の
吸収スペクトル帯域の成分ガスを封入したガスフィルタ
を通過させて、前記光線を試料ガス中の測定成分ガスの
４度に応じてガスフィルタに適量吸収させるから、第２
図に示した検量線のｉｌ＋＋定？ｍ度において、実際の
測定成分ガスの１度よりも・低Ｑ度の位置で出力を得る
ことができる。
た吸光分析５１において、光源からの光線を、測定成分
ガスまたは測定成分の吸収スペクトル帯域とほぼ同等の
吸収スペクトル帯域の成分ガスを封入したガスフィルタ
を通過させて、前記光線を試料ガス中の測定成分ガスの
４度に応じてガスフィルタに適量吸収させるから、第２
図に示した検量線のｉｌ＋＋定？ｍ度において、実際の
測定成分ガスの１度よりも・低Ｑ度の位置で出力を得る
ことができる。
したがって、低濃度の測定成分ガスのｆｆ１ｌ＋定に適
したセル長の吸光分析旧を用いて、そのセル長を変える
ことなく、高４度の測定成分ガスを高精度で測定するこ
とができ、試料ガス中の４１１１定成分ガスの濃度に応
してセル長を変えることの問題を解決できる。すなわち
、ガスフィルタの封入ガス４度を変えることのみで、低
ｌ珊度から高ンｍ度までの測定成分ガスの濃度を、同一
長さのセルを使用して高精度で測定することが可ｆｌＦ
である。
したセル長の吸光分析旧を用いて、そのセル長を変える
ことなく、高４度の測定成分ガスを高精度で測定するこ
とができ、試料ガス中の４１１１定成分ガスの濃度に応
してセル長を変えることの問題を解決できる。すなわち
、ガスフィルタの封入ガス４度を変えることのみで、低
ｌ珊度から高ンｍ度までの測定成分ガスの濃度を、同一
長さのセルを使用して高精度で測定することが可ｆｌＦ
である。
また、高精度の測定成分ガスも比較的長いセルで測定で
きるから、たとえばＣＯ２等のように測定成分が大気中
に含まれているために、セル内のデッドスペースのＣＯ
７等の濃度が変化して、測定値に影響が生しる場合にも
、セル長を長くしてデッドスペースを相対的に小さくす
ることが可能で、ＧＯ□等も雰囲気等の影響を小さくし
て測定することができる。
きるから、たとえばＣＯ２等のように測定成分が大気中
に含まれているために、セル内のデッドスペースのＣＯ
７等の濃度が変化して、測定値に影響が生しる場合にも
、セル長を長くしてデッドスペースを相対的に小さくす
ることが可能で、ＧＯ□等も雰囲気等の影響を小さくし
て測定することができる。
第１図は本発明の実施例を示す構成図、第２図は吸光分
析計の測定成分ガス濃度と出力の関係を示す図、第３図
はガスフィルタ封入Ｃｏｚ／ｎ度と第２図の検！Ｔｔ線
との関係を示す図である。 １・・・比較セル、２・・・試料セル、３ａ、 ３ｂ・
・・光源、５・・・コンデンサマイクロホン、８・・・
ガスフィルタ。 出 願 人 株式会社堀場製作所 代 理 人 ブを埋土 藤本英夫シ窺も−歳儲１
町
析計の測定成分ガス濃度と出力の関係を示す図、第３図
はガスフィルタ封入Ｃｏｚ／ｎ度と第２図の検！Ｔｔ線
との関係を示す図である。 １・・・比較セル、２・・・試料セル、３ａ、 ３ｂ・
・・光源、５・・・コンデンサマイクロホン、８・・・
ガスフィルタ。 出 願 人 株式会社堀場製作所 代 理 人 ブを埋土 藤本英夫シ窺も−歳儲１
町
Claims (1)
- 光源とセルと検出器とを備えた吸光分析計において、測
定成分ガスまたは測定成分の吸収スペクトル帯域とほぼ
同等の吸収スペクトル帯域の成分ガスを封入したガスフ
ィルタが、前記光源から検出器に至る光路中に設けられ
ている吸光分析計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60267640A JPS62126329A (ja) | 1985-11-27 | 1985-11-27 | 吸光分析計 |
| DE19863650094 DE3650094T2 (de) | 1985-11-27 | 1986-11-25 | Absorptionsanalyseverfahren. |
| EP86116379A EP0226855B1 (en) | 1985-11-27 | 1986-11-25 | Absorption analysis method |
| US06/935,301 US4794255A (en) | 1985-11-27 | 1986-11-26 | Absorption analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60267640A JPS62126329A (ja) | 1985-11-27 | 1985-11-27 | 吸光分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62126329A true JPS62126329A (ja) | 1987-06-08 |
Family
ID=17447477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60267640A Pending JPS62126329A (ja) | 1985-11-27 | 1985-11-27 | 吸光分析計 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4794255A (ja) |
| EP (1) | EP0226855B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62126329A (ja) |
| DE (1) | DE3650094T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6067840A (en) * | 1997-08-04 | 2000-05-30 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for infrared sensing of gas |
| WO2011102315A1 (ja) * | 2010-02-16 | 2011-08-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | ガス濃度算出装置、ガス濃度計測モジュールおよび光検出器 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63308541A (ja) * | 1987-06-10 | 1988-12-15 | Horiba Ltd | 赤外線ガス分析計 |
| ATE112852T1 (de) * | 1988-06-01 | 1994-10-15 | Hartmann & Braun Ag | Kalibriereinrichtung für ein nichtdispersives infrarot-fotometer. |
| DE8905226U1 (ja) * | 1989-04-25 | 1990-06-13 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De | |
| US5429805A (en) * | 1993-01-08 | 1995-07-04 | Fuji Electric Co., Ltd. | Non-dispersive infrared gas analyzer including gas-filled radiation source |
| JP2903457B2 (ja) * | 1993-11-20 | 1999-06-07 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析計およびガス分析機構 |
| US5473161A (en) * | 1994-06-21 | 1995-12-05 | The Coca-Cola Company | Method for testing carbonation loss from beverage bottles using IR spectroscopy |
| FI101429B1 (fi) * | 1995-09-29 | 1998-06-15 | Instrumentarium Oy | Törmäyslevenemän korjaus kaasujen ei-dispersiivisessä absorptiomittauksessa |
| DE19547787C1 (de) * | 1995-12-20 | 1997-04-17 | Siemens Ag | Zweistrahl-Gasanalysator und Verfahren zu seiner Kalibrierung |
| GB2358245A (en) * | 1999-10-21 | 2001-07-18 | Pittway Corp | Photo-acoustic gas sensor |
| US7034943B1 (en) * | 2000-03-03 | 2006-04-25 | Aritron Intrumente AG | Gas sensors |
| US6775001B2 (en) * | 2002-02-28 | 2004-08-10 | Lambda Control, Inc. | Laser-based spectrometer for use with pulsed and unstable wavelength laser sources |
| US8435459B2 (en) * | 2003-01-07 | 2013-05-07 | Micropyretics Heaters International, Inc. | Heating and sterilizing apparatus and method of using same |
| US7132657B2 (en) * | 2004-02-09 | 2006-11-07 | Sensor Electronics Corporation | Infrared gas detector |
| US20080277586A1 (en) * | 2007-05-07 | 2008-11-13 | Dennis Cardinale | Low-Power Fast Infrared Gas Sensor, Hand Held Gas Leak Detector, and Gas Monitor Utilizing Absorptive-Photo-Acoustic Detection |
| DE102011109000B4 (de) | 2011-07-29 | 2014-05-15 | Abb Technology Ag | Optische Gasanalysatoreinrichtung mit Mitteln zumVerbessern des Dynamikbereichs der Messung |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB849983A (en) * | 1956-08-18 | 1960-09-28 | Hartmann & Braun Ag | Method and apparatus for the analysis by radiation of mixtures of gases and/or vapours |
| JPS5223291B2 (ja) * | 1972-07-03 | 1977-06-23 | ||
| FR2219723A5 (ja) * | 1973-02-23 | 1974-09-20 | Veillard Camille | |
| DE2808033A1 (de) * | 1978-02-24 | 1979-08-30 | Siemens Ag | Einrichtung zur unterdrueckung der wasserdampf-querempfindlichkeit bei einem nicht dispersiven infrarot-gasanalysator |
| NL213983A (ja) * | 1978-11-29 | |||
| JPS5892843A (ja) * | 1981-11-26 | 1983-06-02 | Horiba Ltd | 二成分測定用非分散型赤外線分析計 |
| DE3200128A1 (de) * | 1982-01-05 | 1983-07-14 | Georgij Trofimovič Moskva Lebedev | Verfahren zur analyse von gas-luft-gemischen und einrichtung zur durchfuehrung desselben |
| JPS5923380A (ja) * | 1982-07-29 | 1984-02-06 | 富士通株式会社 | デイスプレ−制御方式 |
-
1985
- 1985-11-27 JP JP60267640A patent/JPS62126329A/ja active Pending
-
1986
- 1986-11-25 DE DE19863650094 patent/DE3650094T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-25 EP EP86116379A patent/EP0226855B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-11-26 US US06/935,301 patent/US4794255A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6067840A (en) * | 1997-08-04 | 2000-05-30 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for infrared sensing of gas |
| WO2011102315A1 (ja) * | 2010-02-16 | 2011-08-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | ガス濃度算出装置、ガス濃度計測モジュールおよび光検出器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3650094T2 (de) | 1995-05-18 |
| DE3650094D1 (de) | 1994-11-17 |
| EP0226855A3 (en) | 1990-01-17 |
| EP0226855A2 (en) | 1987-07-01 |
| EP0226855B1 (en) | 1994-10-12 |
| US4794255A (en) | 1988-12-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS62126329A (ja) | 吸光分析計 | |
| US4271124A (en) | Non-dispersive infrared gas analyzer for testing gases containing water-vapor | |
| US8143580B1 (en) | Crossed biased filtering NDIR gas sensing methodology | |
| JPH08304282A (ja) | ガス分析装置 | |
| US20190113442A1 (en) | Analysis device | |
| KR102566167B1 (ko) | 다중 대기 오염 가스 동시 측정장치 | |
| CN108562550B (zh) | 一种绝对测量大气中碳同位素含量的稳频光腔衰荡光谱仪 | |
| US3887473A (en) | Method and system for the infrared analysis of gases | |
| US3781910A (en) | Infrared absorption analysis method and apparatus for determining gas concentration | |
| JPS6217183B2 (ja) | ||
| JPH0217327Y2 (ja) | ||
| US5155545A (en) | Method and apparatus for the spectroscopic concentration measurement of components in a gas mixture | |
| US6710347B1 (en) | Device for measuring gas concentration | |
| US5227636A (en) | Dual path ultraviolet hygrometer | |
| JPS6042361Y2 (ja) | 混合ガス中の水蒸気成分の測定装置 | |
| JP2004085252A (ja) | ガス分析計 | |
| JP3291934B2 (ja) | 赤外線ガス分析計 | |
| RU51742U1 (ru) | Газоанализатор | |
| JPS58218639A (ja) | 開光路方式の赤外線ガス分析装置 | |
| SU693174A1 (ru) | Способ корректировки чувствительности оптико-акустических газоанализаторов | |
| JP2000180360A (ja) | ガス分析計 | |
| JPS5876742A (ja) | ２光束非分散形赤外線亜硫酸ガス分析方法 | |
| JPS6329239Y2 (ja) | ||
| JP3046673B2 (ja) | ガス分析計 | |
| JPH07218434A (ja) | 赤外線ガス分析計 |