JPS62119740A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 長生分立 本発明は、情報記録担体に記録された記録ビットにより
情報を光学的に読み出す装置に関し、さらに詳細には光
ピックアップ装置に関する。

災米五貞 光ピックアップ装置においては一般にフォーカス及びト
ラック誤差信号の検出が行なわれている。

第３図にその一例を示す。半導体レーザー１から出射さ
れたレーザー光はカップリングレンズ２により平行光と
なり偏光ビームスプリッタ３とｌ／４波長板及び対物レ
ンズ５を介して情報記録担体６に集光される。前記情報
記録担体６からの反射光は対物レンズ５を通過し１／４
波長板により偏光面を変えられ偏光ビームスプリッタ３
により入射光と分離される。分離された反射光は集光レ
ンズ７により収束光に変換され分割ミラー１１により収
束光の半分が全反射されフォーカスディテクタ９に到達
し、他の半分は分割ミラーに全反射されずにトラッキン
グディテクタ８に到達する。フォーカスディテクタ９は
集光レンズ７の焦点近傍に設置され分割線Ｌ２で分割さ
れた２個のＰＩＮフォトダイオード等で構成され両者の
差信号を検出しフォーカス誤差信号を得る。トラッキン
グディテクタ８は分割線Ｌｌで２分割されたＰＩＮフォ
トダイオード等で構成され集光レンズ７の焦点から離れ
た位置に設置され情報トラックの回折像の変化を検出し
トラック誤差信号を検出する。

ここでフォーカス誤差信号検出法とトラック誤差信号検
出法について述べろ、第４図はフォーカス誤差信号検出
法の原理を示すものであり、分割ミラー１１の稜線Ｓが
ナイフェツジ効果を有し同図（ａ）の様に対物レンズ５
と情報記録担体６の関係が合焦時は受光素子９のＡ、Ｂ
の出力が集光レンズ７の焦点位置Ｐで等しくなる様に調
整されており１画素子Ａ、Ｂの出力比較により合焦状態
を判断し対物レンズ５と光情報記録担体６の間隔を一定
に保つフォーカスサーボを行なう、一方トラック誤差信
号検出法は第５図に示す様にスポットが正確にトラック
上にある場合は検出素子８のＣ２Ｄの出力が等しくなる
様に調整されており、同図（ｂ）の様にトラックからず
れた場合はＣとＤの出力差を生じこの出力差によってト
ラックサーボを行なう。

しかしながら上記の光ピックアップ装置においては相互
の光学素子の設置性及び調整が困難になり、反射光を分
割する為の分割ミラー１１は温度変化。

振動等により位置ずれを起し制御性能を悪化させる。又
フォーカスディテクタ９は分割ミラー１゜からの反射光
でフォーカス情報を得る為集光レンズ７の焦点で精密な
位＃ＩＲＭを行なう必要がある。

そこで集光レンズの焦点距離を長く取り結像スポットを
大きくすれば調整は容易になるが装置が大型化するとい
う問題がある。さらにトラック誤差信号検出はフォーカ
ス誤差信号検出より高精度を必要とするが分割ミラー１
０によって光量が半分に分割されてしまうという問題も
ある。

１旗 本発明の目的は、上記欠点を除去し光ピックアップ装置
の小型化をはかると共に、トラック誤差信号検出の光量
損失を減らし、経時変化等に強く安定なサーボ信号を得
ることができる光ピックアップ装置を提供するものであ
る。

」１文 以下本発明を実施例に基いて説明する。第１図（ｂ）に
おいて半導体レーザー１から出射されたレーザー光はカ
ップリングレンズ２により略平行となり偏光ビームスプ
リッタと１７４波長板及び対物レンズ５を介して光ディ
スク６に集光・される。

情報記録担体からの反射光は対物レンズを通過し１／４
波長板により偏光面を変えられ偏光ビームスプリッタ３
により入射光と分離され集光レンズ７を通過し収束ビー
ムとなる。この収束ビームを屋根型プリズｌ、　１０に
より一部を全反射、残りを通過させる光路に分離する。

通過した光束は情報記録担体６のトラック方向に２分割
されたトラッキングディテクタ９により検出されトラッ
ク誤差信号を得る。一方、全反射した光束は光ディスク
のトラック直交方向に２分割されたフォーカスディテク
タ９により検出されフォーカス誤差信号を得ろ。この場
合トラック誤差信号検出はフォーカス誤差信号検出より
高精度を要求されている為、分渭光量比を非対称にし通
過光量を５０％以上とすると好都合である。ここで屋根
型プリズム１ｏについて説明する。屋根型プリズム１ｏ
は稜線Ｓで全反射光と通過光に分割するナイフェツジ効
果を有し、屋根型プリズム１０の入射面１ｏ−１は集光
レンズ７により収束された光束の光軸に対して同図（ａ
）の様に傾けて設けられ、稜ａＳによって分離された光
束が通過する通過面ｔｏ−４は入射面１０−１とは平行
になっている。一方反射面ｌ０−２によって１回目の全
反射をする光束を第２図に基いて説明する。同図（ａ）
の様に屋根型プリズム１０の入射面１０−１と入射光束
の光軸が直交すると全反射光束は集光レンズ７の焦点位
１ｉ！Ｐに収束するが、全反射光束は光軸を含んでいな
い為、斜線の部分の光束が屋根型プリズムの面１０−４
で反射され光の方向が著しく曲げられフォーカス誤差信
号が充分得られない。そこで同図（ｂ）の様に入射面１
ｏ−１と入射光束の光軸とを傾は屋根型プリズム１ｏの
面１ｏ−４による反射をなくす。また、第２回目の全反
射は屋根型プリズム１０の反射面１ｏ−３によって行な
われろが１本発明においてはプリズム１０を屋根型プリ
ズムとしている為入射面１０−１と反射面１〇−１２、
反射面１０−３の成す角はそれぞれ４５度で。

同図（Ｃ）の様に２回目の全反射した反射光束のみかけ
の光軸と入射光束の光軸とが平行となり。

屋根型プリズム以外の光学素子は他の光学素子に対して
傾むくことがなく好都合である。

すなわち屋根型プリズムＩＯの反射面１０−２で全反射
された光束を面１０−４で反射しない角度にプリズム１
０の入射面１０−１を、集光レンズ７により収束された
光束の光軸に対し傾けて設置する。さらに屋根型プリズ
ムでの全反射を利用する為、反射面１０−２が全反射角
の限界内で使用可能な様に入射面を傾けると好都合であ
る。また入射角が反射角を越えろ様な場合は、反射面１
０−２に増反射コート等の手段を用い反射による光量損
失をなくすことが可能である。

尚、上記実施例に限定されることなく本発明の趣旨を満
足する範囲内で種々の手段を採用できることは勿論可能
である。

り１長 以上の様に本発明では、屋根型プリズムを用いることに
より温度変化、経時変化等による光軸のずれを防止する
ことができ、また２回の全反射、をすることにより装置
を小型化することができる。

さらにトラック誤差信号検出用の通過光束は屋根型プリ
ズムの平行平板を通過するので分割ミラー１０による光
量損失の少ない充分なトラック誤差第１図（ａ）は本発
明における光ピックアップ装置の一実施例の原理を示す
平面図であり、第１図（ｂ）は同側面図である。第２図
は本発明における屋根型プリズムの部分図である。第３
図は従来の光ピックアップ装置の原理を示す概略構成図
である。第４図はフォーカス誤差信号検出法、第５図は
トラック誤差信号検出法を示す図である。

１°°・・半導体レーザー、３・・・・偏光ビームスプ
リッタ、４・・・・１／４波長板、６・・・・情報記録
担体、８・・・・トラッキングディテクタ、９・・・・
フォーカスディテクタ、１０・団屋根型プリズム。

１１・・・・分割ミラー

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光源から出射された光をカップリングレンズと偏光ビー
   ムスプリッタと１／４波長板及び対物レンズを介し、情
   報記録担体に照射し、その反射光を前記偏光ビームスプ
   リッタにより分離し、集光レンズにより収束された前記
   反射光の光路上に、光束を一部全反射し残りの光束を通
   過する屋根型プリズムを設けた光ピックアップ装置にお
   いて、偏光ビームスプリッタにより分離された情報記録
   担体からの反射光の光軸に対し前記屋根型プリズムの光
   束入射平面が傾いて設置されていることを特徴とする光
   ピックアップ装置。