JPS62112355A - チツプキヤリア− - Google Patents
チツプキヤリア−Info
- Publication number
- JPS62112355A JPS62112355A JP60252032A JP25203285A JPS62112355A JP S62112355 A JPS62112355 A JP S62112355A JP 60252032 A JP60252032 A JP 60252032A JP 25203285 A JP25203285 A JP 25203285A JP S62112355 A JPS62112355 A JP S62112355A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bump
- bumps
- solder material
- chip carrier
- sphere
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F1/00—Metallic powder; Treatment of metallic powder, e.g. to facilitate working or to improve properties
- B22F1/17—Metallic particles coated with metal
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3478—Applying solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は特に、基板に接続するチップキャリアーのバ
ンプの改良に関する。
ンプの改良に関する。
(従来の技術)
従来、高密度多層のチップキャリアーにおけるバングは
、ハンダ等の低融点ロー材やcuペースト等の厚塗9に
よって形成されているが、これらは、バンプの高さを3
00μm以上にすることが困難であるとともに、それ以
″′7:sあってもバンプの高さにばらつきが生じ易く
、又下層の基板の間で短絡の虞れもあった。また、上記
従来のものの欠点全改良するため基板のパッケージ端子
金属化部を凸状とするもの(特開昭58−93355号
)、あるいは、ピン状や錐状のものをロー付するものが
提案されている。
、ハンダ等の低融点ロー材やcuペースト等の厚塗9に
よって形成されているが、これらは、バンプの高さを3
00μm以上にすることが困難であるとともに、それ以
″′7:sあってもバンプの高さにばらつきが生じ易く
、又下層の基板の間で短絡の虞れもあった。また、上記
従来のものの欠点全改良するため基板のパッケージ端子
金属化部を凸状とするもの(特開昭58−93355号
)、あるいは、ピン状や錐状のものをロー付するものが
提案されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記従来方法はいずれも製作技術上の困
難を伴うものである。そこで、この発明は上記従来のも
の、または提案のものの欠点を更に改良するものであり
、十分なバンプ強度と均一のバンプ高をもち、下層の基
板との短絡全階いで、その組立てを容易にしようとする
ものである。
難を伴うものである。そこで、この発明は上記従来のも
の、または提案のものの欠点を更に改良するものであり
、十分なバンプ強度と均一のバンプ高をもち、下層の基
板との短絡全階いで、その組立てを容易にしようとする
ものである。
(問題点を解決するための手段)
コパール、銅、4270イ等の金属球を芯材として、そ
の上にろう材で表面被覆を怖1.7た金属球により、接
続端子用バンプを形成したものである。
の上にろう材で表面被覆を怖1.7た金属球により、接
続端子用バンプを形成したものである。
なお、バンプの高さは100μm〜、1000μm と
するのが望オしい。高さを100μm以上必要とするの
は、後に、下層の基板との接合にハンダ等の低融点ろう
材を使用するに際し、フラックスの洗浄のためのぬけ道
を必要とするからであり、又、1000μm以下とする
のけ、それ以上の高さのものであれば金属球を使用しな
くともバンプの形成が容易であるからである。
するのが望オしい。高さを100μm以上必要とするの
は、後に、下層の基板との接合にハンダ等の低融点ろう
材を使用するに際し、フラックスの洗浄のためのぬけ道
を必要とするからであり、又、1000μm以下とする
のけ、それ以上の高さのものであれば金属球を使用しな
くともバンプの形成が容易であるからである。
(作用)
上記の構成をもつので、治具上の所定位置にあらかじめ
この発明のチップキャリアを載置し、更に、基板を載置
して、加熱焼結し、基板のスルーホールに上記チップキ
ャリアを固定するものであシ、チップキャリアが球体で
あるので治具の所定位置を凹所にすることにより正確に
基板上に固定することができるほか、球体にろう材を被
覆しであるので、ろう材が流出することがなく接着強度
を向上して短絡が防止でき、均−高さにバンプを形成で
きるものである。
この発明のチップキャリアを載置し、更に、基板を載置
して、加熱焼結し、基板のスルーホールに上記チップキ
ャリアを固定するものであシ、チップキャリアが球体で
あるので治具の所定位置を凹所にすることにより正確に
基板上に固定することができるほか、球体にろう材を被
覆しであるので、ろう材が流出することがなく接着強度
を向上して短絡が防止でき、均−高さにバンプを形成で
きるものである。
(実施例)
図に示す実施例によりこの発明を更に説明する。
(1)は基板であり、その裏側にMO//Mn系のメタ
ライズで径100μm乃至2000μmのパッド(2)
が印刷焼成により形成されており、(3)はスルーホー
ルであって基板(1)を貫き、接続端子と力、るバンプ
(5)と連結し、(4)はバンプ(5)の支持層であっ
て、基& (1) −+にNiメッキにより構成さノ1
5、バンプ(5)は径90/7ya乃至500μmのコ
パール、銅、4270イ等の金属球を芯材(6)として
、その上に共晶銀ローで10μm〜500μmの表面被
覆(7)ヲした、径100μm−1000μmの金属球
で構成される。(8)はカーボン及びセラミックよりな
る治具であって、この上に100μm〜200μmの間
隔で、バンプを形成する径250μmの金属球(5)を
セットし、さらにその上に、支持層(4)を形成した基
板<11金置き、200℃〜1000℃の中性及び還元
雰囲気の炉で両者をろう付する。第4図は強度測定のた
めの試験片を示し、ここで、この発明の金属球(5)を
Nij:、9なる支持層(3)を介して850℃のH1
雰囲気の炉内で基板となる試験片αυ上にろう付けし、
・・ンダ(9)によりワイヤーC1lをこの発明と同質
の金属球(4)に接続したものでb)る。
ライズで径100μm乃至2000μmのパッド(2)
が印刷焼成により形成されており、(3)はスルーホー
ルであって基板(1)を貫き、接続端子と力、るバンプ
(5)と連結し、(4)はバンプ(5)の支持層であっ
て、基& (1) −+にNiメッキにより構成さノ1
5、バンプ(5)は径90/7ya乃至500μmのコ
パール、銅、4270イ等の金属球を芯材(6)として
、その上に共晶銀ローで10μm〜500μmの表面被
覆(7)ヲした、径100μm−1000μmの金属球
で構成される。(8)はカーボン及びセラミックよりな
る治具であって、この上に100μm〜200μmの間
隔で、バンプを形成する径250μmの金属球(5)を
セットし、さらにその上に、支持層(4)を形成した基
板<11金置き、200℃〜1000℃の中性及び還元
雰囲気の炉で両者をろう付する。第4図は強度測定のた
めの試験片を示し、ここで、この発明の金属球(5)を
Nij:、9なる支持層(3)を介して850℃のH1
雰囲気の炉内で基板となる試験片αυ上にろう付けし、
・・ンダ(9)によりワイヤーC1lをこの発明と同質
の金属球(4)に接続したものでb)る。
このように試験片を構成し、一方、径250μmのAg
ローのみでバンプを構成したチップキャリアーを、第
4図に示すように各バンプ中心部にハンダ(9)によシ
ワイヤーQ(lを接合し、そのワイヤー(1υの引張に
より各バンプの強度を測定し、以下の結果が得られた。
ローのみでバンプを構成したチップキャリアーを、第
4図に示すように各バンプ中心部にハンダ(9)によシ
ワイヤーQ(lを接合し、そのワイヤー(1υの引張に
より各バンプの強度を測定し、以下の結果が得られた。
なお、この試験は基板(1)に形成された多数のバンプ
(5)の内、任意の3ケ所の高さ及び4ケ所のバンプ強
度を、それぞれ測定したもので・ある。
(5)の内、任意の3ケ所の高さ及び4ケ所のバンプ強
度を、それぞれ測定したもので・ある。
くバンプの高さ〉
コパールとAgローにより形成されたバンプの場合
Agローのみにより形成されたバンプの場合くバンプ強
度〉バング中心部(4)の分離時の引張力とこて、バン
プ(5)を構成する金属球は特に、径100μ77!〜
300μmのコパール球が、又その表面のろう材による
被覆も、50μm〜200μmが望ましく、かつ金属球
のチップキャリアー基板(11へのろう付のだめの炉の
温度は700℃乃至900℃が望ましい。
度〉バング中心部(4)の分離時の引張力とこて、バン
プ(5)を構成する金属球は特に、径100μ77!〜
300μmのコパール球が、又その表面のろう材による
被覆も、50μm〜200μmが望ましく、かつ金属球
のチップキャリアー基板(11へのろう付のだめの炉の
温度は700℃乃至900℃が望ましい。
(発明の効果)
以上のとおシであるから、この発明は、ろう材のみによ
り形成されたバンプの倍以上の強度金もち、かつ均一の
高さのバンプを持つ基板が容易に形成でき、さらにろう
流れによる短絡を防止できる等の優れた効果があるもの
である。
り形成されたバンプの倍以上の強度金もち、かつ均一の
高さのバンプを持つ基板が容易に形成でき、さらにろう
流れによる短絡を防止できる等の優れた効果があるもの
である。
第1図はこの発明のチップキャリアーの構成方法を示す
縦断面図であり、第2図は要部の拡大図、第3図は要部
の拡大図、第4図はノくンプ強度試験を示す縦断面図で
ある。 1・・・基板、3・・・スルーホール、4°・・ノ(ン
フ支持層、5・・・バンプ、7・・・共晶銀ろう、8・
・・治具特許出願人 代理人゛弁理士 原木 三幸第
1図 第4図
縦断面図であり、第2図は要部の拡大図、第3図は要部
の拡大図、第4図はノくンプ強度試験を示す縦断面図で
ある。 1・・・基板、3・・・スルーホール、4°・・ノ(ン
フ支持層、5・・・バンプ、7・・・共晶銀ろう、8・
・・治具特許出願人 代理人゛弁理士 原木 三幸第
1図 第4図
Claims (1)
- コパール、銅、42アロイ等の金属球を芯材として、そ
の上にろう材で表面被覆を施した金属球により、接続端
子用バンプを形成するチップキャリアー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60252032A JPS62112355A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | チツプキヤリア− |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60252032A JPS62112355A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | チツプキヤリア− |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62112355A true JPS62112355A (ja) | 1987-05-23 |
Family
ID=17231633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60252032A Pending JPS62112355A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | チツプキヤリア− |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62112355A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02144945A (ja) * | 1988-11-28 | 1990-06-04 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 半導体搭載用基板およびその製造方法 |
WO1997001866A1 (en) * | 1995-06-29 | 1997-01-16 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Ball grid array package utilizing solder coated spheres |
WO1997023121A1 (en) * | 1995-12-19 | 1997-06-26 | Thermicedge Corporation | Spheres useful in a detachable connective medium for ball grid array assemblies |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6049655A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-18 | Fujitsu Ltd | リ−ドレスチップキャリアのバンプ形成方法 |
-
1985
- 1985-11-12 JP JP60252032A patent/JPS62112355A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6049655A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-18 | Fujitsu Ltd | リ−ドレスチップキャリアのバンプ形成方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02144945A (ja) * | 1988-11-28 | 1990-06-04 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 半導体搭載用基板およびその製造方法 |
WO1997001866A1 (en) * | 1995-06-29 | 1997-01-16 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Ball grid array package utilizing solder coated spheres |
WO1997023121A1 (en) * | 1995-12-19 | 1997-06-26 | Thermicedge Corporation | Spheres useful in a detachable connective medium for ball grid array assemblies |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4817892B2 (ja) | 半導体装置 | |
EP0678908B1 (en) | Low temperature ternary C4 method | |
US5926731A (en) | Method for controlling solder bump shape and stand-off height | |
JPH09134934A (ja) | 半導体パッケージ及び半導体装置 | |
JP2000091383A (ja) | 配線基板 | |
JPS58128749A (ja) | 電子的半組立部品用接続子 | |
US20060027899A1 (en) | Structure with spherical contact pins | |
US8252677B2 (en) | Method of forming solder bumps on substrates | |
JPS62112355A (ja) | チツプキヤリア− | |
JPH0817972A (ja) | 部品の接続構造及びその製造方法 | |
KR100642229B1 (ko) | 반도체 장치 및 반도체 장치의 실장 구조물 | |
JPH10209591A (ja) | 配線基板 | |
US20020079595A1 (en) | Apparatus for connecting a semiconductor die to a substrate and method therefor | |
US20090085207A1 (en) | Ball grid array substrate package and solder pad | |
TWI220304B (en) | Flip-chip package substrate and flip-chip bonding process thereof | |
JP3544439B2 (ja) | 接続ピンと基板実装方法 | |
JP2730304B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP3238074B2 (ja) | 半導体装置用テープキャリア | |
JP2874597B2 (ja) | 電子部品組立体の製造方法 | |
JPH02122556A (ja) | 半導体装置の実装方法 | |
JPS594196A (ja) | 半導体部品実装用半田バンプの形成方法 | |
JPH07120845B2 (ja) | セラミック配線基板及びその製造方法 | |
JP3510219B2 (ja) | 半導体装置用テープキャリア | |
JPH04165636A (ja) | 半導体装置の電極形成方法 | |
JP2549278Y2 (ja) | 混成集積回路基板 |