JPS62109326A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- JPS62109326A JPS62109326A JP60249895A JP24989585A JPS62109326A JP S62109326 A JPS62109326 A JP S62109326A JP 60249895 A JP60249895 A JP 60249895A JP 24989585 A JP24989585 A JP 24989585A JP S62109326 A JPS62109326 A JP S62109326A
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- resin
- semiconductor device
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、放熱装置が取付けられた半導体装置の製造方
法に関するものである。
法に関するものである。
(従来の技術)
一般に、トランジスタ増幅器等においては、それに発生
する熱を冷却するために、放熱装置が取付けられる。こ
の種の放熱装置としては、例えば実公昭59−1150
8号公報に記載されるものがある。
する熱を冷却するために、放熱装置が取付けられる。こ
の種の放熱装置としては、例えば実公昭59−1150
8号公報に記載されるものがある。
この放熱装置は、トランジスタ増幅器等に固着される基
板と、この基板の一方面に所定間隔離間して突設された
複数個の放熱板とで構成され、トランジスタ増幅器等に
取付けて使用される。これによって、トランジスタ増幅
器等に発生する熱を効率良く放熱し、該トランジスタ増
幅器等を熱破壊から保護することができる。
板と、この基板の一方面に所定間隔離間して突設された
複数個の放熱板とで構成され、トランジスタ増幅器等に
取付けて使用される。これによって、トランジスタ増幅
器等に発生する熱を効率良く放熱し、該トランジスタ増
幅器等を熱破壊から保護することができる。
近年、集積回路をパッケージに収納した半導体装置にお
いても、大容量化に伴って前記のような放熱装置が取付
けられるようになった。
いても、大容量化に伴って前記のような放熱装置が取付
けられるようになった。
第2図(1)〜(3)は、従来の放熱装置付き半導体装
置の製造方法を示す製造工程図である。
置の製造方法を示す製造工程図である。
第2図(1)において、素子搭載部1aとその周囲に配
置した複数本のリード部1bと有するリードフレーム1
を用意し、その素子搭載部la上に半導体素子2を固着
すると共に、該半導体素子2とリード部1bとをワイヤ
3で接続する。次いで、モールド用金型を用いてリード
部1bの一部、半導体素子2及びワイヤ3を樹脂部材4
で樹脂封止する。その後、リード部1bの所定箇所を切
断してリードフレーム1から切離し、曲げ加工等を施し
て樹脂封止型の半導体装置本体を作る。
置した複数本のリード部1bと有するリードフレーム1
を用意し、その素子搭載部la上に半導体素子2を固着
すると共に、該半導体素子2とリード部1bとをワイヤ
3で接続する。次いで、モールド用金型を用いてリード
部1bの一部、半導体素子2及びワイヤ3を樹脂部材4
で樹脂封止する。その後、リード部1bの所定箇所を切
断してリードフレーム1から切離し、曲げ加工等を施し
て樹脂封止型の半導体装置本体を作る。
次に、第2図(2)において、樹脂部材4の上面に接着
剤5を塗布する。さらに第3図(3)のように、接着剤
塗布面に放熱装置6を接着し、次の接着剤硬化処理工程
を経れば、放熱装置付き半導体装置が得られる。
剤5を塗布する。さらに第3図(3)のように、接着剤
塗布面に放熱装置6を接着し、次の接着剤硬化処理工程
を経れば、放熱装置付き半導体装置が得られる。
このような半導体装置では、その半導体装置本体に発生
する熱が放熱装置6により放熱されるため、熱破壊を低
減、回避できる。
する熱が放熱装置6により放熱されるため、熱破壊を低
減、回避できる。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記の方法では、放熱装置6を樹脂部材
4に接着剤5を用いて接着する方法であるため、接着工
程やその硬化処理工程等を経る必要があり、製造工程数
が多くなって製造能率が低いという問題点があった。ま
た、従来方法により得られる半導体装置にあっては、熱
発生源である半導体装ご本体と放熱装置6との間に接着
剤5が介在するため、これが断熱層となって放熱効率を
低下させると共に、接着剤5の経年変化による劣化や、
外力等によって放熱装置6が半導体装置本体から脱落す
るという問題点があった。
4に接着剤5を用いて接着する方法であるため、接着工
程やその硬化処理工程等を経る必要があり、製造工程数
が多くなって製造能率が低いという問題点があった。ま
た、従来方法により得られる半導体装置にあっては、熱
発生源である半導体装ご本体と放熱装置6との間に接着
剤5が介在するため、これが断熱層となって放熱効率を
低下させると共に、接着剤5の経年変化による劣化や、
外力等によって放熱装置6が半導体装置本体から脱落す
るという問題点があった。
本発明は、前記従来技術が持っていた問題点として、製
造能率が低い点と、製造後の半導体装置における放熱効
率が低い点や、放熱装着の脱落の点について解決した半
導体装置の製造方法を提供するものである。
造能率が低い点と、製造後の半導体装置における放熱効
率が低い点や、放熱装着の脱落の点について解決した半
導体装置の製造方法を提供するものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、前記問題点を解決するために、リードフレー
ムの素子搭載部を収納する第1の凹部と、この第1の凹
部に連設され放熱装置を収納する第2の凹部とを有する
金型のその第2の凹部に該放熱装置を装填する。次いで
、前記素子搭載部に半導体素子が搭載されたリードフレ
ームを、前記第1の凹部の所定位置に配置した後、前記
第18よび第2の凹部内に樹脂を充填して前記放熱装置
の一部および半導体素子を樹脂封止するようにしたもの
である。
ムの素子搭載部を収納する第1の凹部と、この第1の凹
部に連設され放熱装置を収納する第2の凹部とを有する
金型のその第2の凹部に該放熱装置を装填する。次いで
、前記素子搭載部に半導体素子が搭載されたリードフレ
ームを、前記第1の凹部の所定位置に配置した後、前記
第18よび第2の凹部内に樹脂を充填して前記放熱装置
の一部および半導体素子を樹脂封止するようにしたもの
である。
(作 用)
本発明によれば、以上のように半導体装置の製造方法を
構成したので、半導体素子等と共に樹脂封止される放熱
装置の一部は、従来の製造方法における接着工程等を省
略するように働き、さらに引き抜き強度や放熱効率を向
上させるように機部する。したがって、前記問題点を除
去できるのである。
構成したので、半導体素子等と共に樹脂封止される放熱
装置の一部は、従来の製造方法における接着工程等を省
略するように働き、さらに引き抜き強度や放熱効率を向
上させるように機部する。したがって、前記問題点を除
去できるのである。
(実施例)
第1図(1)〜(7b)は本発明の実施例を示すDIP
(デュアル・イン中ライン・パッケージ)型の放熱
装置付き半導体装置の製造方法を示す製造工程図である
。この方法は、第1〜第3工程で構成されている。
(デュアル・イン中ライン・パッケージ)型の放熱
装置付き半導体装置の製造方法を示す製造工程図である
。この方法は、第1〜第3工程で構成されている。
(A)第1図(1)〜(2b)の第1工程先ず、第1図
(1)に示すようなモールド用金型10を用意する。こ
の金型10は、上金型1O−1と下金型10−2とで構
成され、その各金型10−1.10−2の合掌面には半
導体素子収納用の第1の凹部1O−1a、1O−2aが
設けられている。さらに、下金型10−2における第1
の凹部1O−2aの下方には放熱装置収納用の第2の凹
部1O−2bが延設されると共に、該下金型合掌面には
図示しない樹脂注入用溝が設けられている。
(1)に示すようなモールド用金型10を用意する。こ
の金型10は、上金型1O−1と下金型10−2とで構
成され、その各金型10−1.10−2の合掌面には半
導体素子収納用の第1の凹部1O−1a、1O−2aが
設けられている。さらに、下金型10−2における第1
の凹部1O−2aの下方には放熱装置収納用の第2の凹
部1O−2bが延設されると共に、該下金型合掌面には
図示しない樹脂注入用溝が設けられている。
また、第1図(2a) 、 (2b)に示すような放熱
装置11を準備しておく。この放熱装置11は、熱伝導
性の良い部材で形成され、細長い板状の基部11aと、
その基部11aの一方面に所定間隔離間して突設された
複数枚の板状放熱部11bと、基部11aの他方面に突
設された断面T字状の係合部11cとで構成されている
。
装置11を準備しておく。この放熱装置11は、熱伝導
性の良い部材で形成され、細長い板状の基部11aと、
その基部11aの一方面に所定間隔離間して突設された
複数枚の板状放熱部11bと、基部11aの他方面に突
設された断面T字状の係合部11cとで構成されている
。
次に、予め用意された上下金型to−1,10−2を例
えば150〜190℃程度に加熱しておき、その下金型
1O−2(7)第1および第2の凹部1O−2a 、
1O−2b内に、第1図(2a)の矢印方向に放熱装置
を装填する。
えば150〜190℃程度に加熱しておき、その下金型
1O−2(7)第1および第2の凹部1O−2a 、
1O−2b内に、第1図(2a)の矢印方向に放熱装置
を装填する。
なお、加熱された下金型10−2内に放熱装置11が装
填されると、その放熱装置11は熱伝導により温度上昇
して熱膨張する。そのため、放熱装置11の基部11a
及び放熱部11bと第2の凹部1O−2bとは、熱膨張
時において相対的にほぼ同じ大きさになるように形成し
ておくことが必要である。
填されると、その放熱装置11は熱伝導により温度上昇
して熱膨張する。そのため、放熱装置11の基部11a
及び放熱部11bと第2の凹部1O−2bとは、熱膨張
時において相対的にほぼ同じ大きさになるように形成し
ておくことが必要である。
(B)第1図(3)、(4)の第2工程第1図(3)に
示すように、半導体素子20を搭載したリードフレーム
21を用意する。このリードフレーム21は、銅合金等
の導電性金属板をプレス加工等によって所定形状にした
もので、素子搭載部21aとその周囲に配置した複数本
のリード部21bとを有している。素子搭載部21a上
には半導体素子20が固着され、その半導体素子20の
端子がリード部21bとワイヤ22で接続されている。
示すように、半導体素子20を搭載したリードフレーム
21を用意する。このリードフレーム21は、銅合金等
の導電性金属板をプレス加工等によって所定形状にした
もので、素子搭載部21aとその周囲に配置した複数本
のリード部21bとを有している。素子搭載部21a上
には半導体素子20が固着され、その半導体素子20の
端子がリード部21bとワイヤ22で接続されている。
次に、素子搭載部21aに固着された半導体素子20が
上金型10−1の第1の凹部1O−4aと対向するよう
に、該リードフレーム21を下金型10−2の第1の凹
部1O−2a上に配置する。
上金型10−1の第1の凹部1O−4aと対向するよう
に、該リードフレーム21を下金型10−2の第1の凹
部1O−2a上に配置する。
(c)第1図(5)の第3工程
図示しない駆動装置により、上金型10−1と下金型1
0−2を圧接し、その両全型10−1.10−2でリー
ドフレーム21を挾持する。
0−2を圧接し、その両全型10−1.10−2でリー
ドフレーム21を挾持する。
次いで、下金型10−1に設けられた図示しない樹脂注
入用溝を介して、例えば注入圧力20〜100kg/c
m2 でエポキシ樹脂等の液状の樹脂部材23を第1の
凹部1O−1a、1O−2aに充填し、半導体素子20
、素子搭載部21a、 リード部21bの一部、ワイヤ
22、および放熱装置11の係合部11bを樹脂封止す
る。
入用溝を介して、例えば注入圧力20〜100kg/c
m2 でエポキシ樹脂等の液状の樹脂部材23を第1の
凹部1O−1a、1O−2aに充填し、半導体素子20
、素子搭載部21a、 リード部21bの一部、ワイヤ
22、および放熱装置11の係合部11bを樹脂封止す
る。
(D)第1図(8)〜(7b)の第4工程樹脂部材23
が硬化した後、駆動装置によって上金型10−1と下金
型10−2を所定間隔に引き離し、樹脂封止されたリー
ドフレーム21を金型10から取り出す。次いで、リー
ド部21bの所定箇所を切断してそのリード部21bを
リードフレーム21から切り離した後、リード部21b
lt第1図(7a) 、 (7b) ニ示すごとくほ
ぼ直角に折り曲げる等の処理を施せば、放熱装置付き半
導体装置が得られる。
が硬化した後、駆動装置によって上金型10−1と下金
型10−2を所定間隔に引き離し、樹脂封止されたリー
ドフレーム21を金型10から取り出す。次いで、リー
ド部21bの所定箇所を切断してそのリード部21bを
リードフレーム21から切り離した後、リード部21b
lt第1図(7a) 、 (7b) ニ示すごとくほ
ぼ直角に折り曲げる等の処理を施せば、放熱装置付き半
導体装置が得られる。
以上のような製造方法によれば、放熱装置11の係合部
11cを半導体素子20等と共に同時に樹脂封止するの
で、従来のような煩わしい接着工程や、その硬化処理工
程等が省略でき、これによって製造能率が著しく向上す
る。しかもこの製造方法により得られた半導体装置では
、放熱装置11の係合部11cが発熱源の半導体素子2
0に接近して配置されるため、放熱効率が向上する。さ
らに、係合部11cが樹脂部材23内に埋設されるため
、放熱装置11の固着力が大きくなり、離脱することも
ない。
11cを半導体素子20等と共に同時に樹脂封止するの
で、従来のような煩わしい接着工程や、その硬化処理工
程等が省略でき、これによって製造能率が著しく向上す
る。しかもこの製造方法により得られた半導体装置では
、放熱装置11の係合部11cが発熱源の半導体素子2
0に接近して配置されるため、放熱効率が向上する。さ
らに、係合部11cが樹脂部材23内に埋設されるため
、放熱装置11の固着力が大きくなり、離脱することも
ない。
第3図は本発明の他の形状の放熱装置付き半導体装置を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
この半導体装置はプリント基板等の表面に実装するPL
CC(プラスチック・リード付き・チップキャリヤ)型
の半導体装置であり、半導体装置本体30と、この半導
体装置本体30上に取付けられた放熱装置31とで構成
されている。
CC(プラスチック・リード付き・チップキャリヤ)型
の半導体装置であり、半導体装置本体30と、この半導
体装置本体30上に取付けられた放熱装置31とで構成
されている。
この半導体装置が前記第1図(7b)の半導体装置と異
なる点は、リード部30aの形状が内側に折り曲げられ
ていることと、放熱装置31の形状が異なることである
。
なる点は、リード部30aの形状が内側に折り曲げられ
ていることと、放熱装置31の形状が異なることである
。
このような半導体装置の製造方法では、前記第1図(1
)における金型10と異なる金型を用い、さらに前記第
1図(8)〜(7b)の第4工程においてリード部30
aに異なる折り曲げ加工を施こす煮貝外は、前記第1図
の製造工程とほぼ同様の工程で製造され、これによって
同様の利点が得られる。
)における金型10と異なる金型を用い、さらに前記第
1図(8)〜(7b)の第4工程においてリード部30
aに異なる折り曲げ加工を施こす煮貝外は、前記第1図
の製造工程とほぼ同様の工程で製造され、これによって
同様の利点が得られる。
本発明は図示の製造方法に限定されず、種々の5変形が
可能である。その変形例として例えば次のようなものが
ある。
可能である。その変形例として例えば次のようなものが
ある。
■ 前記第1図の製造方法において、放熱装置11の係
合部11c、 あるいはこれを収容する下金型10−2
における第1の凹部1O−2aの形状を変形し、係合部
11cとリードフレーム21の素子搭載部裏面とを接触
させるようにしてもよい。これにより、放熱効率がさら
に向上する。
合部11c、 あるいはこれを収容する下金型10−2
における第1の凹部1O−2aの形状を変形し、係合部
11cとリードフレーム21の素子搭載部裏面とを接触
させるようにしてもよい。これにより、放熱効率がさら
に向上する。
■ 前記■において、基部11a及び放熱部11bから
なる放熱装置11を予めリードフレーム21の素子搭載
部裏面に固着しておき、その後、金型10を用いて半導
体素子付きリードフレーム21と放熱装置11の一部と
を樹脂封止するようにしてもよい。この方法によれば、
前記第1図(1)〜(2b)の第1工程を簡略化できる
ばかりか、前記■と同様の利点が得られる。
なる放熱装置11を予めリードフレーム21の素子搭載
部裏面に固着しておき、その後、金型10を用いて半導
体素子付きリードフレーム21と放熱装置11の一部と
を樹脂封止するようにしてもよい。この方法によれば、
前記第1図(1)〜(2b)の第1工程を簡略化できる
ばかりか、前記■と同様の利点が得られる。
■ 半導体装置本体や放熱装置11.31を他の形状や
構造に変形でき、これに応じて金型10の形状や構造も
変形可能である。
構造に変形でき、これに応じて金型10の形状や構造も
変形可能である。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように1本発明の半導体装置の製造
方法によれば、放熱装置の一部と半導体素子を一体的に
樹脂封止するようにしたので、製造工程の低減と製造時
間の短縮化が計れ、大量生産が可能となる。
方法によれば、放熱装置の一部と半導体素子を一体的に
樹脂封止するようにしたので、製造工程の低減と製造時
間の短縮化が計れ、大量生産が可能となる。
第1図(1)〜(7b)は本発明の実施例を示す半導体
装置の製造方法を示す製造工程図、第2図(1)〜(3
)は従来の半導体装置の製造方法を示す製造工程図、第
3図は本発明の他の半導体装置を示す斜視図である。 10・・・・・・金型、1O−1a、1O−2a・・・
・・・第1の凹部、1O−2b・・・・・・第2の凹部
、11.31・・・・・・放熱装置、11c・・・・・
・係合部、20・・・・・・半導体素子、21・・・・
・・リードフレーム、21a・・・・・・素子搭載部、
21b、30a・・・・・・リード部、30・・・・・
・半導体装置本体。 出願人代理人 柿 本 恭 成木発明の製造
工程図 第1図 第1図 第1図 23.樹脂部材 第1図 従来の製造工程図 第2図
装置の製造方法を示す製造工程図、第2図(1)〜(3
)は従来の半導体装置の製造方法を示す製造工程図、第
3図は本発明の他の半導体装置を示す斜視図である。 10・・・・・・金型、1O−1a、1O−2a・・・
・・・第1の凹部、1O−2b・・・・・・第2の凹部
、11.31・・・・・・放熱装置、11c・・・・・
・係合部、20・・・・・・半導体素子、21・・・・
・・リードフレーム、21a・・・・・・素子搭載部、
21b、30a・・・・・・リード部、30・・・・・
・半導体装置本体。 出願人代理人 柿 本 恭 成木発明の製造
工程図 第1図 第1図 第1図 23.樹脂部材 第1図 従来の製造工程図 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 リードフレームの素子搭載部を収納する第1の凹部と、
この第1の凹部に連設され放熱装置を収納する第2の凹
部とを有する金型の、その第2の凹部に該放熱装置を装
填する工程と、 前記素子搭載部に半導体素子が搭載されたリードフレー
ムを、前記第1の凹部の所定位置に配置する工程と、 前記第1および第2の凹部内に樹脂部材を充填して前記
放熱装置の一部および半導体素子を樹脂封止する工程と
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60249895A JPS62109326A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60249895A JPS62109326A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62109326A true JPS62109326A (ja) | 1987-05-20 |
Family
ID=17199810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60249895A Pending JPS62109326A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62109326A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5179039A (en) * | 1988-02-05 | 1993-01-12 | Citizen Watch Co., Ltd. | Method of making a resin encapsulated pin grid array with integral heatsink |
US5344795A (en) * | 1992-09-22 | 1994-09-06 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method for encapsulating an integrated circuit using a removable heatsink support block |
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