JPS62106351A - 光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置に関す
る。

（従来技術） 第７図は光学式情報記録媒体円盤からの情報信号の再生
が微小な光のスポットを光学式情報記録媒体円盤の信号
面に投射することによって行なわれるようになされてい
る光学式情報信号再生装置の一般的な構成例を示したも
のであり、この第７図において１は半導体レーザ、２は
偏光ビームスプリッタ、３は１／４波長板、４は対物レ
ンズ、Ｓは受光素子、Ｄは光学式情報記録媒体円盤であ
り。

また、光学式情報記録媒体円盤りにおいて６はカバーガ
ラス層（透明プラスチック層）、７は信号面、８は信号
面の保護層である。

前記した光学式情報信号再生装置において、半導体レー
ザ１から放射され、偏光ビームスプリッタ２と１／４波
長板とを介して対物レンズ４に与えられたレーザ光は、
前記の対物レンズ４によって集束されることにより情報
信号の再生の対象にされている光学式情報記録媒体円盤
りにおける信号面に微小な光のスポットとして投射され
る。前記のように光学式情報記録媒体円盤りの信号面に
投射された微小な光のスポットによる信号面からの反射
光は、対物レンズ４と１／４波長板３とを介して偏光ビ
ームスプリッタ２に入射し、そこで反射して受光素子５
によって受光され、受光素子５で光電変換されることに
より再生信号となされる。

ところで、前記のような構成を有する光学式情報信号再
生装置により、微小な光のスポットの投射によって情報
信号の再生が行なわれるようになされている光学式情報
記録媒体円盤りにおいては。

光学式情報記録媒体円盤りの表面となるカバーガラスＪ
ｉ２１６の表面、カバーガラス層６、同心円状または渦
巻状の記録跡として情報信号が記録されている信号面７
などの各部におけるどの部分に傷等の欠陥があっても良
好な再生信号を得ることができない。なお、光学式情報
記録媒体円盤りの表面となるカバーガラス層６の表面に
近い部分に、例えば直径１０ミクロン程度の欠陥があっ
たとしても。

それにより再生信号中には僅かの出力変動しか生じない
から、前記のような欠陥の存在は光学式情報記録媒体円
盤りの性能上では問題とはならないのであるが、前記の
ような欠陥は製造工程での品質管理上では重要な品質特
性とされているものであるから、光学式情報記録媒体円
盤りの表面となるカバーガラス層６の表面に近い部分に
存在している例えば直径１０ミクロン程度の欠陥の検出
も良好に行なわれなければならないのである。

そして、記録情報に欠陥部分のある光学式情報記録媒体
円盤は、不良品として廃棄されなければならないから、
従来から光学式情報記録媒体円盤の製作時には光学的な
動作原理による欠陥検査装置を用いて記録情報の欠陥部
分の検査を行なうようにしている。

（発明が解決しようとする問題点） ところで、従来の欠陥検査装置においては、検査の対象
にされている光学式情報記録媒体りにおける信号面７に
直径が１ミクロン程度の光のスポットが投射されるよう
になされていたから、信号面７における欠陥の検出は良
好に行なわれ得るが、検査の対象にされている光学式情
報記録媒体円盤りにおける信号面７に直径が１ミクロン
程度の光のスポットを生じさせている場合にカバーガラ
スｖ／１６の表面（光学式情報記録媒体円盤の表面）に
おける光束の直径は約ｉｎｍ程度と大きなものになって
いるから、カバーガラス層６の表面に生じている微小な
欠陥（例えば、直径が１０ミクロン程度）を前記した光
によるカバーガラス層６の表面からの反射光によって検
出することは困難であった。

カバーガラス層６の表面に生じている微小な欠陥（例え
ば、直径が１０ミクロン程度）をカバーガラス層６の表
面からの反射光によって良好に検出できるようにするた
めには、例えば、光学式情報記録媒体円盤りにおける信
号面７に対して直径が１ミクロン程度の光のスポットを
投射して、信号面７における欠陥の検査を行なった後に
１次に。

カバーガラス層６の表面に直径が１ミクロン程度の光の
スポットが投射されるようにして欠陥の検査を行なうよ
うにすればよいが、このような検査を行なうのでは欠陥
の検査の手間が２倍になるので採用し難い。

（問題点を解決するための手段） 本発明は、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録
媒体円盤における信号面が合焦面となるように構成され
ている第１の光学系と、少なくとも前記した第１の光学
系における対物レンズが対物レンズとして用いられてい
るとともに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記
録媒体円盤における表面が合焦面となるように構成され
た第２の光学系と、前記した第１．第２の光学系による
それぞれの合焦面に形成された光のスポットからの反射
光を検出する光検出器とを備えてなる光学式情報記録媒
体円盤の欠陥検査装置と、前記した光学式情報記録媒体
円盤の欠陥検査における欠陥検査の対象にされている光
学式情報記録媒体円盤の表面を合焦面とする第２の光学
系として、対物レンズの入射側の近傍に、対物レンズの
入射径の１／２乃至１／４の直径を有する補助レンズと
対物レンズとにより構成したものを用いた光学式情報記
録媒体円盤の欠陥検査装置及び前記した光学式情報記録
媒体円盤の欠陥検査における欠陥検査の対象にされてい
る光学式情報記録媒体円盤の表面を合焦面とする第２の
光学系として、第１の光学系のレーザ光源の近くから分
光したレーザ光の光路中に補助レンズを設けるとともに
、前記の補助レンズを通過したレーザ光が第１の光学系
の光軸に対して傾斜した状態で対物レンズに入射される
ようなものとして構成したものを用いた光学式情報記録
媒体円盤の欠陥検査装置と、前記した光学式情報記録媒
体円盤の欠陥検査装置において、第１の光学系における
レーザ光源と第２の光学系におけるレーザ光源として、
それぞれ位相を異にしている高周波によって強度変調さ
れているものを用い。

また、光学式情報記録媒体円盤における信号面と表面か
らの反射光を受光する１個の光検出器の出力信号を、前
記した２つのレーザ光源に対する強度変調に用いた高周
波により同期検波して、光学式情報記録媒体円盤におけ
る信号面からの反射光の情報と表面からの反射光の情報
とを個別に得るようにした光学式情報記録媒体円盤の欠
陥検査装置、及び、欠陥検査の対象にされている光学式
情報記録媒体円盤における信号面が合焦面となるように
構成されている第１の光学系と、少なくとも前記した第
１の光学系における対物レンズが対物レンズとして用い
られているとともに、欠陥検査の対象にされている光学
式情報記録媒体円盤における表面が合焦面となるように
構成された第２の光学系と、前記した第１．第２の光学
系によるそれぞれの合焦面に形成された光のスポットか
らの反射光を検出する光検出器とを備えてなる光学式情
報記録媒体円盤の欠陥検査装置において、第１の光学系
におけるレーザ光源と第２の光学系におけるレーザ光源
としてそれぞれ波長を異にしているものを用い、また、
光学式情報記録媒体円盤における信号面と表面からの反
射光を光学フィルタによって分離して各別の光検出器に
与え、光学式情報記録媒体円盤における信号面からの反
射光の情報と表面からの反射光の情報とを個別に得るよ
うにした光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置。

ならびに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録
媒体円盤における信号面が合焦面となるように構成され
ている第１の光学系と、少なくとも前記した第１の光学
系における対物レンズが対物レンズとして用いられてい
るとともに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記
録媒体円盤における表面が合焦面となるように構成され
た第２の光学系と、前記した第１．第２の光学系による
それぞれの合焦面に形成された光のスポットからの反射
光を検出する光検出器とを備えてなる光学式情報記録媒
体円盤の欠陥検査装置において、第１の光学系における
レーザ光と第２の光学系におけるレーザ光としてそれぞ
れ偏光面が直交しているものを用い、また、光学式情報
記録媒体円盤における信号面と表面からの反射光を偏光
フィルタによって分離して各別の光検出器に与え、光学
式情報記録媒体円盤における信号面からの反射光の情報
と表面からの反射光の情報とを個別に得るようにした光
学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置、及び、欠陥検査
の対象にされている光学式情報記録媒体円盤における信
号面が合焦面となるように構成されている第１の光学系
と、少なくとも前記した第１の光学系における対物レン
ズが対物レンズとして用いられているとともに、欠陥検
査の対象にされている光学式情報記録媒体円盤における
表面が合焦面となるように構成された第２の光学系と、
前記した第１．第２の光学系によるそれぞれの合焦面に
形成された光のスポットからの反射光を検出する光検出
器とを備えてなる光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装
置において、第１の光学系におけるレーザ光源と第２の
光学系におけるレーザ光源として、それぞれ周波数を異
にしている高周波によって強度変調されているものを用
い、また、光学式情報記録媒体円盤における信号面と表
面からの反射光を受光する１個の光検出器の出力信号を
、前記した２つのレーザ光源に対する強度変調に用いた
高周波により周波数分離して、光学式情報記録媒体円盤
における信号面からの反射光の情報と表面からの反射光
の情報とを個別に得るようにした光学式情報記録媒体円
盤の欠陥検査装置を提供するものである。

（実施例） 以下、添付図面を参照しながら本発明の光学式情報記録
媒体円盤の欠陥検査装置の具体的な内容について詳細に
説明する８第１図乃至第５図は本発明の光学式情報記録
媒体円盤の欠陥検査装置のそれぞれ異なる実施例の概略
構成を示すブロック図である。なお、この第１図乃至第
５図に示す各実施例においては、図示の簡略化のために
フォーカスサーボ系やトラッキングサーボ系の構成につ
いては図示していない。

第１図に示す本発明の光学式情報記録媒体円盤の欠陥検
査装置において、ＬＤは例えば半導体レーザを用いたレ
ーザ光源であり、また、ＨＭＩは第１のハーフミラ−１
ＨＭ２は第２のハーフミラ−１ＰＴはスリット板、ＰＤ
Ｉは第１の光検出器、ＰＯ２は第２の光検出器、ＯＬは
対物レンズ、ＡＬは補助レンズである。前記した補助レ
ンズＡＬとしては、対物レンズＯＬの入射径の１７２乃
至１／４の直径を有するものが用いられ、それは前記し
た対物レンズＯＬの近傍に配置されている。

前記したレーザ光源ＬＤから放射されたレーザ光は第１
のハーフミラ−）ＩＭＩ　を透過してから対物レンズＯ
Ｌで集束されることによって、対物レンズＯＬの合焦面
となされている光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に
微小な光のスポット９として結像される他に、レーザ光
１ｆｉＬＤから放射されハーフミラ−ＨＭＩを透過した
レーザ光の内で補助レンズＡ１に与えられた光は、それ
が前記した対物レンズＯＬによって集束されることによ
って、前記した補助レンズＡＬと対物レンズＯＬとによ
る合焦面となされている光学式情報記録媒体円盤りのカ
バーガラス層６の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表
面）に微小な光のスポット１０として結像される。

前記のように光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に結
像された微小な光のスポット９による信号面７からの反
射光は、前記した対物レンズＯＬ→第１のハーフミラ−
）ＩＭＩ→第２のハーフミラ−１１Ｍ２→第１の光検出
器ＰＤ１の光路によって第１の光検出器ＰＤＩに入射さ
れて、第１の光検出Ｍ３ＰＤ１からは光学式情報記録媒
体円盤りの信号面７の情報と対応している電気信号が出
力される。

また、前記のようにレーザ光源ＬＤから放射されハーフ
ミラ−ＨＭＩを透過したレーザ光の内で補助レンズＡ１
を通過した後に対物レンズＯＬによって集束されて、光
学式情報記り媒体円盤りのカバーガラス層６の表面（光
学式情報記録媒体円盤りの表面）に結像された微小な光
のスポット１０による光学式情報記録媒体円盤りのカバ
ーガラス層６の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面
）からの反射光は、前記した対物レンズＯＬ→第１のハ
ーフミラ−ＨＭＩ→第２のハーフミラ−１１Ｍ２→第２
の光検出器ＰＤ２の光路によって第２の光検出器ＰＤ２
に入射されて、第２の光検出器ＰＤ２からは光学式情報
記録媒体円盤りのカバーガラス層６の表面（光学式情報
記録媒体円盤りの表面）の情報と対応している電気信号
が出力される。

このように、第１図に示されている本発明の一実施例の
光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置は、欠陥検査の
対象にされている光学式情報記録媒体円盤における信号
面が合焦面となるように構成されている第１の光学系と
、前記した第１の光学系の対物レンズの入射側の近傍に
、前記した対物レンズの入射径の１７２乃至１／４の直
径を有する補助レンズを配置し、この補助レンズと第１
の光学系の対物レンズとを含み、欠陥検査の対象にぎれ
ている光学式情報記録媒体円盤における表面が合焦面と
なされるように構成されている第２の光学系と、前記し
た第１．第２の光学系によるそれぞれの合焦面に形成さ
れた光のスポットからの反射光を検出する光検出器とを
備えているから、光学式情報記録媒体円盤における信号
面７の欠陥と、光学式情報記録媒体円盤の表面の欠陥と
を、同時に個別的に検出することができる。

次に、第２図に示す本発明の光学式情報記録媒体円盤の
欠陥検査装置において、ＬＤは例えば半導体レーザを用
いたレーザ光源であり、また、ＡＲＭは全反射鏡、１１
Ｍ３．ＨＭはハーフミラ−１ＡＬａは補助レンズ、ＰＤ
ａ”ＰＤｃは光検出器、ＯＬは対物レンズである。この
第２図に示されている実施例の光学式情報記録媒体円盤
の欠陥検査装置は、第１の光学系のレーザ光ｇＬＤの近
くに配置したハーフミラ−８Ｍ３によって分光し、全反
射鏡ＡＲＭで反射して構成したレーザ光の光路中に補助
レンズＡＬａを設け、また、前記の補助レンズＡＬａを
通過したレーザ光が第１の光学系の光軸に対して傾斜し
た状態で対物レンズＯＬに入射されるようなものとして
構成されている第２の光学系を備えている。

第２図に示す本発明の光学式情報記録媒体円盤の欠陥検
査装置において、前記したレーザ光源ＬＤから放射され
たレーザ光はハーフミラ−）１Ｍ３．ＨＭを透過してか
ら対物レンズＯＬで集束されることによって、対物レン
ズＯＬの合焦面となされている光学式情報記録媒休日ｆ
ｉＤの信号面７に微小な光のスポット９として結像され
る他に、レーザ光源ＬＤがら放射されたレーザ光の内で
ハーフミラ−８Ｍ３によって反射された光は、全反射ｆ
ｉＡＲＭによって反射された後に補助レンズＡＬａとハ
ーフミラ−１（阿とを通過し、第１の光学系の光軸に対
して傾斜した状態で対物レンズＯＬに入射し、対物レン
ズＯＬ、によって集束されることによって、前記した補
助レンズＡＬａと対物レンズＯＬとによる合焦面となさ
れている光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス層６
の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）に微小な光
のスポット１０として結像される。また、前記した第２
の光学系における合焦面となされている光学式情報記録
媒体円盤りのカバーガラス層６の表面（光学式情報記録
媒体円盤りの表面）に結像された微小な光のスポット１
ｏの光は光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス層６
を透過して信号面６に直径が１ｍｍ程度の光のスポット
１１を生じさせる。

前記のように光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に結
像された微小な光のスポット９による信号面７からの反
射光は、前記した対物レンズＯＬ→ハーフミラ−ＨＭの
光路によって光検出器ＰＤａに入射されて、光検出器Ｐ
Ｄａがらは光学式情報記録媒体円盤りの信号面７の情報
と対応している電気信号が出力される。

また、前記のようにレーザ光源ＬＤがら放射されレーザ
光の内で第２の光学系によって集束されて、光学式情報
記り媒体円盤りのカバーガラス層６の表面Ｃ光学式情報
記録媒体円盤りの表面）に結像された微小な光のスポッ
ト１０による光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス
層６の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）からの
反射光は、前記した対物レンズＯＬ→ハーフミラ−ＨＨ
の光路によって光検出器ＰＤｂに入射されて、光検出器
ＰＤｂからは光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス
層６の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）の情報
と対応している電気信号が出力される。

さらに、前記した第２の光学系によるレーザ光の内で、
光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス層６を透過し
て信号面６に生じた直径が１ｍｍ程度の光のスポット１
１からの反射光は前記した対物レンズＯＬ→ハーフミラ
−ＨＭの光路によって光検出器ＰＤｃに入射されて、光
検出器ＰＤｃからは光学式情報記録媒体円盤りの信号面
の情報と対応している電気信号が出力される。

このように、第２図に示されている本発明の一実施例の
光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置においても、欠
陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円盤にお
ける信号面が合焦面となるように構成されている第１の
光学系と、補助レンズと第１の光学系の対物レンズとを
含み、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体
円盤における表面が合焦面となされるように構成されて
いる第２の光学系と、光検出器とによって、光学式情報
記録媒体円盤における信号面７の欠陥と、光学式情報記
録媒体円盤の表面の欠陥とを、同時に個別的に検出する
ことができる。

次の第１表は、第２図に示されている本発明の一実施例
の光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置における３個
の光検出器ＰＤａ”ＰＤｃによって、光学式情報記録媒
体円盤における欠陥の位置と欠陥の大きさとがどのよう
な検出感度で検出できるのかを一覧表として示したもの
であり１表中において、丸印は検出感度が高い状態を示
し、また、Ｘ印は検出感度が低い状態を示し、さらに−
印は検出感度が無い状態を示している。

（！ｌｌｉ　１表） 前記した第１表における欠陥の大きさの一例を示すと、
大きな欠陥としては例えば直径が５００ミクロン程度の
もの、小さな欠陥としては例えば直径が５ミクロン程度
のものである。

次に、第３図に示されている光学式情報記録媒体円盤の
欠陥検査装置は、欠陥検査の対象にされている光学式情
報記録媒体円盤における信号面が合焦面となるように構
成されている第１の光学系と、少なくとも前記した第１
の光学系における対物レンズが対物レンズとして用いら
れているとともに、欠陥検査の対象にされている光学式
情報記録媒体円盤における表面が合焦面となるように構
成された第２の光学系と、前記した第１．第２の光学系
によるそれぞれの合焦面に形成された光のスポットから
の反射光を検出する光検出器とを備えてなる光学式情報
記録媒体円盤の欠陥検査装置において、第１の光学系に
おけるレーザ光源と第２の光学系におけるレーザ光源と
して、それぞれ位相を異にしている高周波によって強度
変調されているものを用い、また、光学式情報記録媒体
円盤における信号面と表面からの反射光を受光する１個
の光検出器の出力信号を、前記した２つのレーザ光源に
対する強度変調に用いた高周波により同期検波して、光
学式情報記録媒体円盤における信号面からの反射光の情
報と表面からの反射光の情報とを個別に得るように構成
した光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置であって、
この第３図に示す本発明の光学式情報記録媒体円盤の欠
陥検査装置において、ＬＤＩ、　ＬＤ２は例えばそれぞ
れ半溝体レーザを用いたレーザ光源であり、また、ＳＧ
は高周波信号源、ＩＮＶはインバータ、Ｉ（Ｍ４，８Ｍ
５はハーフミラ−１ＬＬ、Ｌ２はそれぞれのレーザ光源
ＬＤＩ、ＬＤ２から放射されたレーザ光の開き角を定め
るレンズであり、さらに、ＰＤは光検出器、　ＯＬは対
物レンズ、５ＤＥＴＩ　、５ＤＥＴ２は同期検波器であ
る。

前記した２つのレーザ光源ＬＤＩ、　ＬＤ２は、高周波
信号源ＳＧで発生された高周波信号のそれぞれ異なる位
相の信号によって強度変調されているレーザ光を放射す
るようになされている。第３図示の構成例においては、
レーザ光源ＬＤＩは高周波信号源ＳＧからの出力信号に
よってそれから放射されるレーザ光の強度変調が行なわ
れるようになされており、また、レーザ光源ＬＤ２は高
周波信号ｇＳＧからの出力信号がインバータＩＮＶによ
って極性が反転された信号によ番３、それから放射され
るレーザ光の強度変調が行なわれるようになされている
。

第３図に示されている実施例の光学式情報記録媒体円盤
の欠陥検査装置は、第１の光学系のレーザ光源ＬＤＩか
ら放射されたレーザ光、すなわち、高周波信号ＷＸｓａ
によって発生された高周波信号によって強度変調されて
いるレーザ光はレンズＬ１によって所定の開き角にされ
た後に、ハーフミラ−８Ｍ４．８Ｍ５を透過して対物レ
ンズＯＬに与えられ、対物レンズＯＬで集束されること
によって、対物レンズＯＬの合焦面となされている光学
式情報記録媒体円盤りの信号面７に微小な光のスポット
９として結像される。

他方、レーザ光ｇＬＤ２から放射されたレーザ光、すな
わち、高周波４４号源ＳＧから発生された高周波信号が
インバータ丁ＮＶにより極性が反転されている信号で強
度変調されているレーザ光はレンズＬ２によって所定の
開き角にされた後にハーフミラ−８Ｍ４で反射され、次
いで、ハーフミラ−８Ｍ５を透過して対物レンズＯＬに
与えられ、対物レンズＯＬで集束されることによって、
光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス層６の表面（
光学式情報記録媒体円盤りの表面）に微小な光のスポッ
ト１０として結像される。

前記のように光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に結
像された微小な光のスポット９による信号面７からの反
射光と、光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス層６
の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）に結像され
た微小な光のスポット１０による反射光とは、前記した
対物レンズＯＬ→ハーフミラ−）１８５の光路によって
１個の光検出器ＰＤに入射されて、光検出器ＰＤからは
光学式情報記録媒体円盤りの信号面７の情報と対応して
いる電気信号と、光学式情報記録媒体円盤りのカバーガ
ラス層６の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）の
情報と対応している電気信号とが混合している電気信号
が出力される。

前記した光検出器ＰＤから出力された電気信号は。

前記した高周波信号ｇＳＧからの出力信号が供給されて
いる同期検波器５ＤＥＴＩ　と、前記した高周波信号＠
ＳＧの出力信号がインバータＩＮＶによって極性が反転
されている状態の信号が供給されている同期検波器５Ｄ
ＥＴ２とに与えられているから、前記した同期検波器５
ＤＥＴＩからは、光学式情報記録媒体円盤りの信号面７
の情報と対応している電気信号が出力され、また、前記
した同期検波器５ＤＲＴ２からは、光学式情報記録媒体
円盤りのカバーガラス層６の表面（光学式情報記録媒体
円盤りの表面）の情報と対応している電気信号が出力さ
れるのである。

次に、第４図に示されている光学式情報記録媒体円盤の
欠陥検査装置は、欠陥検査の対象にされている光学式情
報記録媒体円盤における信号面が合焦面となるように構
成されている第１の光学系と、少なくとも前記した第１
の光学系における対物レンズが対物レンズとして用いら
れているとともに、欠陥検査の対象にされている光学式
情報記録媒体円盤における表面が合焦面となるように構
成された第２の光学系と、前記した第１．第２の光学系
によるそれぞれの合焦面に形成された光のスポットから
の反射光を検出する光検出器とを備えてなる光学式情報
記録媒体円盤の欠陥検査装置において、第１の光学系に
おけるレーザ光源と第２の光学系におけるレーザ光源と
してそれぞれ波長を異にしているものを用い、また、光
学式情報記録媒体円盤における信号面と表面からの反射
光を光学フィルタによって分随して各別の光検出器に与
え、光学式情報記録媒体円盤における信号面からの反射
光の情報と表面からの反射光の情報とを個別に得るよう
にし構成した光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置で
あって、この第４図に示す本発明の光学式情報記録媒体
円盤の欠陥検査装置において、ＬＤＩ、　ＬＤ２は例え
ばそれぞれ異なる波長のレーザ光を放射する半導体レー
ザを用いたレーザ光源であり、１１Ｍ４〜ｌＩＭ５はハ
ーフミラ−１Ｌｌ、Ｌ２はそれぞれのレーザ光源ＬＤＩ
、　ＬＤ２から放射されたレーザ光の開き角を定めるレ
ンズであり、さらに。

Ｆｌ、Ｆ２は光学フィルタ、ＰＤＩ、ＰＤ２は光検出器
′、ＯＬは対物レンズである。

第４図に示されている実施例の光学式情報記録媒体円盤
の欠陥検査装置は、第１の光学系のレーザ光源ＬＤＩか
ら放射されたレーザ光、すなわち、ある特定な波長を有
するレーザ光はレンズし１によって所定の開き角にされ
た後に、ハーフミラ−ＩＢＭ４．１１Ｍ５を透過して対
物レンズＯＬに与えられ、対物レンズＯＬで集束される
ことによって、対物レンズＯＬの合焦面となされている
光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に微小な光のスポ
ット９として結像される。

他方、レーザ光源ＬＤ２から放射されたレーザ光、すな
わち、前記したレーザ光源ＬＤＩから放射されたレーザ
光とは異なる波長のレーザ光はレンズＬ２によって所定
の開き角にされた後にハーフミラ−１１Ｍ４で反射され
、次いで、ハーフミラ−１１Ｍ５を透過して対物レンズ
ＯＬに与えられ、対物レンズＯＬで集束されることによ
って、光学式情報記録媒体円盤Ｄのカバーガラス層６の
表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）に微小な光の
スポラ１〜１０として結像される。

前記のように光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に結
像された微小な光のスポット９による信号面７からの反
射光と、光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラスＭ６
の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）に結像され
た微小な光のスポット１０による反射光とは、前記した
対物レンズＯＬ→ハーフミラ−１１Ｍ５の光路によって
ハーフミラ−１１８６に供給されて２つに分割され、前
記したハーフミラ−８Ｍ６の透過光はレーザ光源ＬＤＩ
から放射されたレーザ光を透過させるような特性を備え
ている光学フィルタＦ１を通して光検出器ＰＤＩに入射
し、光検出器ＰＤＩからは光学式情報記録媒休日ｆｆ１
Ｄの信号面７の情報と対応している電気信号が出力され
る。

また、前記したハーフミラ−８Ｍ６の反射光はレーザ光
源ＬＤ２から放射されたレーザ光を透過させるような特
性を備えている光学フィルタＦ２を通して光検出器ＰＤ
２に入射し、光検出器ＰＤ２からは光学式情報記録媒体
円盤りのカバーガラス層６の表面（光学式情報記録媒体
円盤りの表面）の情報と対応している電気信号が出力さ
れる。

次に、第５図に示されている光学式情報記録媒体円盤の
欠陥検査装置は、欠陥検査の対象にされている光学式情
報記録媒体円盤における信号面が合焦面となるように構
成されている第１の光学系と、少なくとも前記した第１
の光学系における対物レンズが対物レンズとして用いら
れているとともに、欠陥検査の対象にされている光学式
情報記録媒体円盤における表面が合焦面となるように構
成された第２の光学系と、前記した第１．第２の光学系
によるそれぞれの合焦面に形成された光のスポットから
の反射光を検出する光検出器とを備えてなる光学式情報
記録媒体円盤の欠陥検査装置において、第１の光学系に
おけるレーザ光と第２の光学系におけるレーザ光として
それぞれ偏光面が直交しているものを用い、また、光学
式情報記録媒体円盤における信号面と表面からの反射光
を偏光フィルタによって分離して各別の光検出器に与え
、光学式情報記録媒体円盤における信号面からの反射光
の情報と表面からの反射光の情報とを個別に得るように
した光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置であって、
この第５図に示す本発明の光学式情報記録媒体円盤の欠
陥検査装置において、ＬＤＩ、　ＬＤ２は例えばそれぞ
れレーザ光源であり。

ＨＭはハーフミラ−１Ｌｌ、Ｌ２はそれぞれのレーザ光
源ＬＤＩ、　ＬＤ２から放射されたレーザ光の開き角を
定めるレンズであり、さらに、ＢＳＩ、　ＢＳ２は偏光
ビームスプリッタ、ＰＤＩ、　ＰＤ２は光検出器、ＯＬ
は対物レンズである。

第５図に示されている実施例の光学式情報記録媒体円盤
の欠陥検査装置は、第１の光学系のレーザ光源ＬＤＩか
ら放射されたレーザ光、すなわち、ある特定な偏光面を
有するレーザ光がレンズＬ１によって所定の開き角にさ
れた後に、偏光ビームスプリッタＢＳＩとハーフミラ−
【（Ｍ５とを透過して対物レンズＯＬに与えられ、対物
レンズＯＬで集束されることによって、対物レンズＯＬ
の合焦面となされている光学式情報記録媒体円盤りの信
号面７に微小な光のスポット９として結像される。

他方、レーザ光源ＬＤ２から放射されたレーザ光、すな
わち、前記したレーザ光源ＬＤＩから放射されたレーザ
光の偏向面とは直交する偏光面を有するレーザ光はレン
ズＬ２によって所定の開き角にされた後に偏光ビームス
プリッタＢ８１で反射され、次いで、ハーフミラ−１１
Ｍ５を透過して対物レンズ０１４に与えられ、対物レン
ズＯＬで集束されることによって、光学式情報記録媒体
円盤りのカバーガラス層６の表面（光学式情報記録媒体
円盤りの表面）に微小な光のスポット１０として結像さ
れる。

前記のように光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に結
像された微小な光のスポット９による信号面７からの反
射光と、光学式端Ｉｆハ記録媒体円盤りのカバーガラス
層６の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）に結像
された微小な光のスポラ１〜１０による反射光とは、前
記した対物レンズＯｆ→ハーフミラ−１１！τ５の光路
によって偏光ビー１１スプリツタＢＳ２に供給されて２
つに分割され、前記した偏光ビームスプリッタＢＳ２の
透過光は光検出器ＰＤＩに入射し、光検出器ＰＤＩから
は光学式情報記ＯＩＸ体円盤りの信号面７の情報と対応
している電気４８号が出力される。

また、前記した偏光ビームスプリッタＢＳ２の反射光は
光検出器ＰＤ２に入射し、光検出器ＰＤ２からは光学式
情報記録媒体円盤りのカバーガラス層６の表面（光学式
情報記録媒体円盤りの表面）の情報と対応している電気
信号が出力される。

次に、第６図に示されている実施例の光学式情報記録媒
体円盤の欠陥検査装置は、第１の光学系のレーザ光ｇＬ
Ｄ１から放射されたレーザ光、すなわち、周波数がｆｌ
の高周波信号源ＳＧＩによって発生された高周波信号に
よって強度変調されているレーザ光はレンズＬ１によっ
て所定の開き角にされた後に、ハーフミラ−ＨＮ３．　
ＩＩＭＳを透過して対物レンズＯＬに与えられ、対物レ
ンズＯＬで集束されることによって、対物レンズＯＬの
合焦面となされている光学式情報記録媒体円盤りの信号
面７に微小な光のスポット９として結像される。

他方、レーザ光１Ｆ（ＬＤ２から放射されたレーザ光、
すなわち、周波数がｆｌの高周波信号１ｇ５Ｇ２から発
生された高岡゛波信号によって強度変調されているレー
ザ光はレンズＬ２によって所定の開き角にされた後にハ
ーフミラ−ＨＭＡで反射され、次いで、ハーフミラ−１
１Ｍ５　を透過して対物レンズＯＬに与えられ、対物レ
ンズＯＬで集束されることによって、光学式情報記録媒
体円盤りのカバーガラス層６の表面（光学式情報記録媒
体円盤りの表面）に微小な光のスポット１０として結像
される。

前記のように光学式情報記録媒体円盤りの信号面７に結
像された微小な光のスポット９による信号面７からの反
射光と、光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラス層６
の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）に結像され
た微小な光のスポット１０による反射光とは、前記した
対物レンズＯＬ→ハーフミラ−ＨＭ５の光路によって１
個の光検出器ＰＤに入射されて、光検出器ＰＤからは光
学式情報記録媒体円盤りの信号面７の情報と対応してい
る電気信号と、光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラ
ス層６の表面（光学式情報記録媒体円盤りの表面）の情
報と対応している電気信号とが混合している電気信号が
出力される。

前記した光検出器ＰＤから出力された電気信号の内で、
前記した周波数がｆｌの高周波信号源ＳＧＩから発生さ
れた高周波信号によって強度変調されているレーザ光に
基づく電気信号は、帯域中心周波数がｆｌの退域通過濾
波器ＢＰＦＩで抽出されるから、前記の帯域通過濾波器
ＢＰＦＩからは、光学式情報記録媒体円盤りの信号面７
の情報と対応している電気信号が出力され、また、前記
した光検出器ＰＤから出力された電気信号の内で、前記
した周波数がｆｌの高周波信号源ＳＧ２から発生された
高周波信号によって強度変調されているレーザ光に基づ
く電気信号は、帯域中心周波数がｆｌの退域通過濾波器
ＢＰＦ２で抽出されるから、前記の帯域通過濾波器ＢＰ
Ｆ２からは１、光学式情報記録媒体円盤りのカバーガラ
ス層６の表面（９０学式情報記録媒体円Ｉ！Ｊ、Ｄの表
面）の情報と対応している電気信号が出力されるのであ
る。

第１図乃至第４図及び第６図を参照して説明した本発明
の光学的情報記録媒体円盤の欠陥検査装置の各実施例に
おいては１図示説明を簡単にするためにレーザ光ビーム
の反射手段としてハーフミラ−を用いた場合を示してい
るが、本発明の実施に当り、レーザ光ビームの分割、反
射のための構成として、第７図示の光学式情報記録再生
装置中で使用されているような構成態様のもの、すなわ
ち、偏光ビームスプリッタ２と１／４波長板３とを使用
した構成態様のものが採用されるようにすることは、レ
ーザ光源１から放射された光を少ない損失で光学式情報
記録媒体円盤りに導き、また、前記した光学式情報記録
媒体円盤りからの反射光を少ない損失で受光索子５に導
くことができるので望ましい実施例である。

（効果） 以に、詳細に説明したところから明らかなように、本発
明の光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置は、欠陥検
査の対象にされている光学式情報記録媒体円盤における
信号面が合焦面となるように構成されている第１の光学
系と、少なくとも前記した第１の光学系における対物レ
ンズが対物レンズとして用いられているとともに、欠陥
検査の対象にされている光学式情報記録媒体円盤におけ
る表面が合焦面となるように構成された第２の光学系と
、前記した第１．第２の光学系によるそれぞれの合焦面
に形成された光のスポットからの反射光を検出する光検
出器とを備えてなる光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査
装置と、前記した光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査に
おける欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体
円盤の表面を合焦面とする第２の光学系として、対物レ
ンズの入射側の近傍に、対物レンズの入射径の１７２乃
至１／４の直径を有する補助レンズと対物レンズとによ
り構成したものを用いた光学式情報記録媒体円盤の欠陥
検査装置及び前記した光学式情報記録媒体円盤の欠陥検
査における欠陥検査の対象にされている光学式情報記録
媒体円盤の表面を合焦面とする第２の光学系として、第
１の光学系のレーザ光源の近くから分光したレーザ光の
光路中に補助レンズを設けるとともに、前記の補助レン
ズを通過したレーザ光が第１の光学系の光軸に対して傾
斜した状態で対物レンズに入射されるようなものとして
構成したものを用いた光学式情報記録媒体円盤の欠陥検
査装置と、前記した光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査
装置において、第１の光学系におけるレーザ光源と第２
の光学系におけるレーザ光源として、それぞれ位相を異
にしている高周波によって強度変調されているものを用
い、また、光学式情報記録媒体円盤における信号面と表
面からの反射光を受光する１個の光検出器の出力信号を
、前記した２つのレーザ光源に対する強度変調に用いた
高周波により同期検波して、光学式情報記録媒体円盤に
おける信号面からの反射光の情報と表面からの反射光の
情報とを個別に得るようにした光学式情報記録媒体円盤
の欠陥検査装置、及び、欠陥検査の対象にされている光
学式情報記録媒体円盤における信号面が合焦面となるよ
うに構成されている第１の光学系と、少なくとも前記し
た第１の光学系における対物レンズが対物レンズとして
用いられているとともに、欠陥検査の対象にされている
光学式情報記録媒体円盤における表面が合焦面となるよ
うに構成された第２の光学系と、前記した第１．第２の
光学系によるそれぞれの合焦面に形成された光のスポッ
トからの反射光を検出する光検出器とを備えてなる光学
式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置において、第１の光
学系におけるレーザ光源と第２の光学系におけるレーザ
光源としてそれぞれ波長を異にしているものを用い、ま
た、光学式情報記録媒体円盤における信号面と表面から
の反射光を光学フィルタによって分離して各別の光検出
器に与え、光学式情報記録媒体円盤における信号面から
の反射光の情報と表面からの反射光の情報とを個別に得
るようにした光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置、
ならびに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録
媒体円盤における信号面が合焦面となるように構成され
ている第１の光学系と、少なくとも前記した第１の光学
系における対物レンズが対物レンズとして用いられてい
るとともに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記
録媒体円盤における表面が合焦面となるように構成され
た第２の光学系と、前記した第１．第２の光学系による
それぞれの合焦面に形成された光のスポットからの反射
光を検出する光検出器とを備えてなる光学式情報記録媒
体円盤の欠陥検査装置において、第１の光学系における
レーザ光と第２の光学系におけるレーザ光としてそれぞ
れ偏光面が直交しているものを用い、また、光学式情報
記録媒体円盤における４１１号面と表面からの反射光を
偏光フィルタによって分離して各別の光検出器に与え、
光学式情報記録媒体円盤における（Ｗ号面からの反射光
の情報と表面からの反射光の情報とを個別に得るように
した光学式情・服記録媒体円盤の欠陥検査装置、及び、
欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円盤に
おける信号面が合焦面となるように構成されている第１
の光学系と、少なくとも前記した第１の光学５ｒ々にお
ける対物レンズが対物レンズとして用いられているとと
もに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体
円盤における表面が合焦面となるように構成された第２
の光学系と、前記した第１．第２の光学系によるそれぞ
れの合焦面に形成された光のスポットからの反射光を検
出する光検出器とを備えてなる光学式情報、記録媒体円
盤の欠陥検査装置において、第１の光学系におけるレー
ザ光源と第２の光学系におけるレーザ光源として、それ
ぞれ周波数を異にしている高周波によって強度変調され
ているものを用い、また、光学式情報記録媒体円盤にお
ける信号面と表面からの反射光を受光する１個の光検出
器の出力信号を、前記した２つのレーザ光源に対する強
度変調に用いた高周波しこより周波数分離して、光学式
情報記録媒体円盤における信号面からの反射光の情報と
表面からの反射光の情報とを個別に得るようにした光学
式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置であって、欠陥検査
の対象にされている光学式情報記録媒体円盤における信
号面が合焦面となるように構成されている第１の光学系
と、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円
盤におけるカバーガラス層の表面（光学式情報記録媒体
円盤の表面）が合焦面となるように構成されている第２
の光学系とによって、それぞれの合焦面に結像された微
小な光のスポットからの反射光によって、前記の両面に
おける欠陥の情報信号が同時的に、個別に検出すること
ができるのであり、本発明の光学式情報記録媒体円盤の
欠陥検査装置では、既述した従来の光学式情報記録媒体
円盤の欠陥検査装置における問題点を良好に解決するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第６図は本発明の光学式情報記録媒体円盤の
欠陥検査装置の各異なる実施例のブロック図、第７図は
光学式情報記８媒体円盤の再生装置の一例のもののブロ
ック図である。 ＬＤ、ＬＤＩ、ＬＤ２．１・・・レーザ光源、Ｄ・・・
光学式情報記録媒体円盤、ＨＭ、ＨＭＩ〜ＨＭ６・・・
ハーフミラ−１○Ｌ、４・・・対物レンズ、ＡＬ、ＡＬ
ａ−補助レンズ、ＰＤ、ＰＤＩ、ＰＤ２゜ＰＤａ−ＰＤ
ｃ・・・光検出器、ＦＴ・・・スリット板、ＳＧ、ＳＧ
Ｉ、ＳＧ２・・・高周波信号源、５ＤＥＴ１．５ＤＥＴ
２・・・同期検波器、ＡＲＭ・・・全反射鏡、ＢＳＩ、
ＢＳ２．２・・・偏光ビームスプリッタ、Ｌｌ、、Ｌ２
・・・レンズ、ｒ’ｌ、Ｆ２・・・光学フィルタ、ＢＰ
ＦＩ、ＢＰＦ２・・・帯域瀘波器、ＩＮＶ・・・極性反
転器、３・・１／４波長板、６・・・カバーガラス層、
７　信号面、８・・保護層、 特１作出願人　　日本ビクター株式会社代　理　人　弁
理士　今　間　孝　生Ｊ−：′、：、１．．４−１・） 拓　６　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円
   盤における信号面が合焦面となるように構成されている
   第１の光学系と、少なくとも前記した第１の光学系にお
   ける対物レンズが対物レンズとして用いられているとと
   もに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体
   円盤における表面が合焦面となるように構成された第２
   の光学系と、前記した第１、第２の光学系によるそれぞ
   れの合焦面に形成された光のスポットからの反射光を検
   出する光検出器とを備えてなる光学式情報記録媒体円盤
   の欠陥検査装置 ２、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円
   盤の表面を合焦面とする第２の光学系として、対物レン
   ズの入射側の近傍に、対物レンズの入射径の１／２乃至
   １／４の直径を有する補助レンズと対物レンズとにより
   構成したものを用いた特許請求の範囲第１項に記載の光
   学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置 ３、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円
   盤の表面を合焦面とする第２の光学系として、第１の光
   学系のレーザ光源の近くから分光したレーザ光の光路中
   に補助レンズを設けるとともに、前記の補助レンズを通
   過したレーザ光が第１の光学系の光軸に対して傾斜した
   状態で対物レンズに入射されるようなものとして構成し
   たものを用いた特許請求の範囲第１項に記載の光学式情
   報記録媒体円盤の欠陥検査装置 ４、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円
   盤における信号面が合焦面となるように構成されている
   第１の光学系と、少なくとも前記した第１の光学系にお
   ける対物レンズが対物レンズとして用いられているとと
   もに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体
   円盤における表面が合焦面となるように構成された第２
   の光学系と、前記した第１、第２の光学系によるそれぞ
   れの合焦面に形成された光のスポットからの反射光を検
   出する光検出器とを備えてなる光学式情報記録媒体円盤
   の欠陥検査装置において、第１の光学系におけるレーザ
   光源と第２の光学系におけるレーザ光源として、それぞ
   れ位相を異にしている高周波によって強度変調されてい
   るものを用い、また、光学式情報記録媒体円盤における
   信号面と表面からの反射光を受光する１個の光検出器の
   出力信号を、前記した２つのレーザ光源に対する強度変
   調に用いた高周波により同期検波して、光学式情報記録
   媒体円盤における信号面からの反射光の情報と表面から
   の反射光の情報とを個別に得るようにした光学式情報記
   録媒体円盤の欠陥検査装置 ５、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円
   盤における信号面が合焦面となるように構成されている
   第１の光学系と、少なくとも前記した第１の光学系にお
   ける対物レンズが対物レンズとして用いられているとと
   もに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体
   円盤における表面が合焦面となるように構成された第２
   の光学系と、前記した第１、第２の光学系によるそれぞ
   れの合焦面に形成された光のスポットからの反射光を検
   出する光検出器とを備えてなる光学式情報記録媒体円盤
   の欠陥検査装置において、第１の光学系におけるレーザ
   光源と第２の光学系におけるレーザ光源としてそれぞれ
   波長を異にしているものを用い、また、光学式情報記録
   媒体円盤における信号面と表面からの反射光を光学フィ
   ルタによって分離して各別の光検出器に与え、光学式情
   報記録媒体円盤における信号面からの反射光の情報と表
   面からの反射光の情報とを個別に得るようにした光学式
   情報記録媒体円盤の欠陥検査装置６、欠陥検査の対象に
   されている光学式情報記録媒体円盤における信号面が合
   焦面となるように構成されている第１の光学系と、少な
   くとも前記した第１の光学系における対物レンズが対物
   レンズとして用いられているとともに、欠陥検査の対象
   にされている光学式情報記録媒体円盤における表面が合
   焦面となるように構成された第２の光学系と、前記した
   第１、第２の光学系によるそれぞれの合焦面に形成され
   た光のスポットからの反射光を検出する光検出器とを備
   えてなる光学式情報記録媒体円盤の欠陥検査装置におい
   て、第１の光学系におけるレーザ光と第２の光学系にお
   けるレーザ光としてそれぞれ偏光面が直交しているもの
   を用い、また、光学式情報記録媒体円盤における信号面
   と表面からの反射光を偏光フィルタによって分離して各
   別の光検出器に与え、光学式情報記録媒体円盤における
   信号面からの反射光の情報と表面からの反射光の情報と
   を個別に得るようにした光学式情報記録媒体円盤の欠陥
   検査装置 ７、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体円
   盤における信号面が合焦面となるように構成されている
   第１の光学系と、少なくとも前記した第１の光学系にお
   ける対物レンズが対物レンズとして用いられているとと
   もに、欠陥検査の対象にされている光学式情報記録媒体
   円盤における表面が合焦面となるように構成された第２
   の光学系と、前記した第１、第２の光学系によるそれぞ
   れの合焦面に形成された光のスポットからの反射光を検
   出する光検出器とを備えてなる光学式情報記録媒体円盤
   の欠陥検査装置において、第１の光学系におけるレーザ
   光源と第２の光学系におけるレーザ光源として、それぞ
   れ周波数を異にしている高周波によって強度変調されて
   いるものを用い、また、光学式情報記録媒体円盤におけ
   る信号面と表面からの反射光を受光する１個の光検出器
   の出力信号を、前記した２つのレーザ光源に対する強度
   変調に用いた高周波により周波数分離して、光学式情報
   記録媒体円盤における信号面からの反射光の情報と表面
   からの反射光の情報とを個別に得るようにした光学式情
   報記録媒体円盤の欠陥検査装置