JPS62104034A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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Publication number
JPS62104034A
JPS62104034A JP60243472A JP24347285A JPS62104034A JP S62104034 A JPS62104034 A JP S62104034A JP 60243472 A JP60243472 A JP 60243472A JP 24347285 A JP24347285 A JP 24347285A JP S62104034 A JPS62104034 A JP S62104034A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reticle
high voltage
plate
electrode plate
moved
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60243472A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruo Shibano
芝野 照夫
Masayuki Nakajima
真之 中島
Koji Ozaki
浩司 小崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS62104034A publication Critical patent/JPS62104034A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の製造に使用される微細パターン
露光装置に関するものである。
〔従来の技術〕
半導体装置の製造においてホトリソグラフィの技術は極
めて重要な技術で、微細パターンの形成には欠くことの
できぬもので広く利用されている。
そして、この技術においてレジスト膜上に所要のパター
ンの露光を行なうために、当該パターンのレティクルを
レティクル支持台の上に載置し、これに光を照射する露
光装置が広く用いられている0〔発明が解決しようとす
る問題点〕 ところが従来の装置は装置内部にレティクル上の愚埃の
ような異物を除去するt−、lを備えていなかったので
、異物の発生により、形成パターンに不良を生じるとい
う間一点があった。
本発明は上記のような問題点を解消するためになされた
もので、レティクル上の異物を除去し、パターン形成不
良をなくすことができる露光装置を得ることを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る露光装置は、レティクル近傍に導電性の板
を設け、これに高電圧を印加できるようにしたものであ
る。
〔作用〕
この発明における露光装置はレティクル近傍に設けた導
電性板に高電圧を印加することKよってレティクル上の
異物を静電的に吸着除去できるO〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例を図について説明する0図にお
いて、(1)はレティクル、(2)はレティクル(1)
を支持するレティクル支持台、(3)はこのレティクル
(1)上を図示矢印のように移動可能に設けられ、レテ
ィクル(1)上に付着した異物を除去するための電極板
、(4)は電極板(3)に高電圧を供給する電源である
0 まず、レティクル支持台(2)上にレティクル(1)を
設置した後に電極板(3)をレティクル(1)上部に移
動し、次(にの電極板(3)に電源(4)から高電圧を
印加する。これにより、レティクル(1)上に付着して
いた異物は、静電気力により除去され、電極板(3)に
吸着される。その後に、電極板(3)をレティクル(1
)上より移動させ、露光を行なう。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によれば露光装置にレティクル上
の異物を除去できる機構を設けたので、異物による露光
不良をなくすことができ、安定した露光装置を提供する
ことができる0
【図面の簡単な説明】
図はこの発明の一実施例の要部のみを示す正面断面図で
ある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レテイクル支持台に支持されたレテイクルを介し
    て光を照射して上記レテイクルに形成されている微細な
    パターンを所要面上に露光させるものにおいて、上記レ
    テイクル上にこれに接近して移動可能な電極板とこの電
    極板に高電圧を印加する高圧電源とを備え、上記露光に
    先立つて上記電極板を上記レテイクル上に移行させ上記
    高電圧を印加して静電気力によつて上記レテイクル上の
    異物を除去できるようにしたことを特徴とする露光装置
JP60243472A 1985-10-30 1985-10-30 露光装置 Pending JPS62104034A (ja)

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JPS62104034A true JPS62104034A (ja) 1987-05-14

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ID=17104396

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JP (1) JPS62104034A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006294753A (ja) * 2005-04-07 2006-10-26 Htl:Kk フォトマスクの使用方法
JP2010501999A (ja) * 2006-12-08 2010-01-21 キヤノン株式会社 露光装置

Cited By (2)

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