JPS6197580A - プリント基板検査装置 - Google Patents
プリント基板検査装置Info
- Publication number
- JPS6197580A JPS6197580A JP59218313A JP21831384A JPS6197580A JP S6197580 A JPS6197580 A JP S6197580A JP 59218313 A JP59218313 A JP 59218313A JP 21831384 A JP21831384 A JP 21831384A JP S6197580 A JPS6197580 A JP S6197580A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- vibration
- contact
- vibrating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はプリント基板検査装置に係り、特に接触ピンと
プリント基板との接触不良を低減する構造に関する。
プリント基板との接触不良を低減する構造に関する。
プリント基板の回路の導通、絶縁を検査するプリント基
板検査装置においては、プリント基板上にほこりや肩が
付着していると、接触ピンとプリント基板との接触不良
を起こして、誤検査を招く惧れがある。
板検査装置においては、プリント基板上にほこりや肩が
付着していると、接触ピンとプリント基板との接触不良
を起こして、誤検査を招く惧れがある。
この接触ピンとプリント基板との接触不良を防ぐものと
して、例えば米国特許第３９９６５１６号に、プリント
基板を超音波加振させて該プリント基板上に存在するほ
こり、屑を除去し、ラッカー等の保護皮膜をもつプリン
ト基板に対しても基板上の回路と接触ピンとの電気的な
接触を良好に行える構成が開示されている。
して、例えば米国特許第３９９６５１６号に、プリント
基板を超音波加振させて該プリント基板上に存在するほ
こり、屑を除去し、ラッカー等の保護皮膜をもつプリン
ト基板に対しても基板上の回路と接触ピンとの電気的な
接触を良好に行える構成が開示されている。
本構成においては、プリント基板を加振する機構が、超
音波加振ユニットの先端に耽り付けた加振ハンマーでプ
リント基板をセットしている加圧テーブルに衝撃を加え
ることでプリント基板を振動させるようになっているた
め、加振機構を小型化するのに限界がある。また、接触
ピンが垂直上向きに取り付けられていて、その接触ピン
の上方に位置したプリント基板が真空吸引により接触ピ
ンに引きつけられて該接触ピンに支えられるので。
音波加振ユニットの先端に耽り付けた加振ハンマーでプ
リント基板をセットしている加圧テーブルに衝撃を加え
ることでプリント基板を振動させるようになっているた
め、加振機構を小型化するのに限界がある。また、接触
ピンが垂直上向きに取り付けられていて、その接触ピン
の上方に位置したプリント基板が真空吸引により接触ピ
ンに引きつけられて該接触ピンに支えられるので。
検査中に落ちたほこりや屑が接触ピン側に堆積し易く、
プリント基板と接触ピンとの接触不良または接触ピン同
志の絶縁不良の原因となり易い。
プリント基板と接触ピンとの接触不良または接触ピン同
志の絶縁不良の原因となり易い。
本発明の目的は、プリント基板を振動状態で接触ピンに
接触させられて、はこり、屑によるプリント基板と接触
ピン−との接触不良を低減でき、かつ加振機構の大幅な
小型化を図れ、しかもほこり、屑による接触ピン同志の
絶縁不良を招くことがないプリント基板検査装置を提供
することにある。
接触させられて、はこり、屑によるプリント基板と接触
ピン−との接触不良を低減でき、かつ加振機構の大幅な
小型化を図れ、しかもほこり、屑による接触ピン同志の
絶縁不良を招くことがないプリント基板検査装置を提供
することにある。
この目的を達成するために１本発明は、加圧テーブルの
上方に接触ピンを配設し、加圧テーブルの上面にプリン
ト基板をセットし、かつ加振するために加振テーブルを
設置し、その加振テーブルの背面に加振素子を装着し、
前記加振テーブルを加振することで、プリント基板を振
動状態で接触ピンに接触させるようにしたことを特徴と
する。
上方に接触ピンを配設し、加圧テーブルの上面にプリン
ト基板をセットし、かつ加振するために加振テーブルを
設置し、その加振テーブルの背面に加振素子を装着し、
前記加振テーブルを加振することで、プリント基板を振
動状態で接触ピンに接触させるようにしたことを特徴と
する。
以下、本発明の一実施例を第１図、第２図に基づいて説
明する。
明する。
第１図は本発明によるプリント基板検査装置の概略図を
示している。図においては、１は加圧テーブル、２は接
触ピンを示し、加圧テーブル１はアクチュエータ３によ
り昇降できるようになっている。接触ピン２はフレーム
４に固定したテストヘッド５に埋め込まれて前記加圧テ
ーブル１の上方に配置されている。また、前記加圧テー
ブル１の上面には、プリント基板６をセットし、かつ加
振するための加振テーブル７が設置されている。
示している。図においては、１は加圧テーブル、２は接
触ピンを示し、加圧テーブル１はアクチュエータ３によ
り昇降できるようになっている。接触ピン２はフレーム
４に固定したテストヘッド５に埋め込まれて前記加圧テ
ーブル１の上方に配置されている。また、前記加圧テー
ブル１の上面には、プリント基板６をセットし、かつ加
振するための加振テーブル７が設置されている。
この加振テーブル７の背面には加振素子８が装着されて
いる。加振素子８は加圧テーブル１上面に穿った穴９に
収納されている。また前記加振テーブル７の上面には、
加圧テーブルｌ上面に植設したプリント基板位置用ガイ
ドピン１０を貫通させるピン孔が設けられている。この
ピン孔は前記ガイドピン１０のピン径よりも大きな孔径
どなっている。
いる。加振素子８は加圧テーブル１上面に穿った穴９に
収納されている。また前記加振テーブル７の上面には、
加圧テーブルｌ上面に植設したプリント基板位置用ガイ
ドピン１０を貫通させるピン孔が設けられている。この
ピン孔は前記ガイドピン１０のピン径よりも大きな孔径
どなっている。
一方、前記接触ピン２は導通、絶縁判定装置１１と電気
的に接続され、また前記加振素子８番よ加振発生器１２
と電気的に接続されている。そして、導通、絶縁判定装
置１１、加振発生器１２および前記アクチュエータ３は
制御装置１３によりコントロールされるようになって１
する。
的に接続され、また前記加振素子８番よ加振発生器１２
と電気的に接続されている。そして、導通、絶縁判定装
置１１、加振発生器１２および前記アクチュエータ３は
制御装置１３によりコントロールされるようになって１
する。
次に本発明の作用について説明する。まず、加振テーブ
ル７の上面に被検査体であるプリント基板６をガイドピ
ン１０に合わせてセットする。この際、接触ピン２とプ
リント基板６の回路上の測定点とが一致するように、予
めガイドピン１０の位置を設定しておく、加振テーブル
７上へのプリント基板６のセットが完了したら、アクチ
ュエータ３により加圧テーブル１を上昇させて、第２図
に示す如くプリント基板６を接触ピン２へ接近させてい
くと同時に、加振発生器１２しこよって力■振素子８を
加振して加振テーブル７を振動させる。
ル７の上面に被検査体であるプリント基板６をガイドピ
ン１０に合わせてセットする。この際、接触ピン２とプ
リント基板６の回路上の測定点とが一致するように、予
めガイドピン１０の位置を設定しておく、加振テーブル
７上へのプリント基板６のセットが完了したら、アクチ
ュエータ３により加圧テーブル１を上昇させて、第２図
に示す如くプリント基板６を接触ピン２へ接近させてい
くと同時に、加振発生器１２しこよって力■振素子８を
加振して加振テーブル７を振動させる。
これにより加振テーブル７上のプ１ノント基板６カ１振
動しながら接触ピン２に押し当てられ、その時点でのア
クチュエータ３の動作が停止すると同時に加振発生器１
２による加振素子８への加振も停止する６次いで導通、
絶縁判定装置１１による電気的信号にてプリント基板６
が良品であるか不良品であるかを判定する。そして、プ
リント基板６の判定が終るとアクチュエータ３により加
圧テーブル１を所定の位置まで下降せしめ、検査済みの
プリント基板６を加振テーブル７から取り外す。
動しながら接触ピン２に押し当てられ、その時点でのア
クチュエータ３の動作が停止すると同時に加振発生器１
２による加振素子８への加振も停止する６次いで導通、
絶縁判定装置１１による電気的信号にてプリント基板６
が良品であるか不良品であるかを判定する。そして、プ
リント基板６の判定が終るとアクチュエータ３により加
圧テーブル１を所定の位置まで下降せしめ、検査済みの
プリント基板６を加振テーブル７から取り外す。
その後、次の被検査プリント基板を加振テーブル７上に
セットし、前述と同様の動作によって良品、不良品の判
定を行う。
セットし、前述と同様の動作によって良品、不良品の判
定を行う。
従って、本実施例においては、プリント基板６が振動し
ながら接触ピン２への接触を開始する。
ながら接触ピン２への接触を開始する。
即ち両者が相対的に変動しながら接触を開始するので、
プリント基板６上に付着しているほこりや屑が接触ピン
２とプリント６との間に介在したとしても、それは直ち
に払いのけられて、接触ピン２とプリント基板６の回路
上の測定点との電気的な接触が良好となる。その結果、
プリント基板６が良品であるにもかかわらす導通不良と
いった誤検査を減少させることができる。また、接触ピ
ン２はプリント基板の上方に配置されているので、検査
されるプリント基板に付着しているほこり、屑が検査中
に払い落されたとしても、重力により加振テーブル７の
上面に落ちて接触ピン２に付着することはないので、接
触ピン同志の絶縁不良を招く心配がない、さらに、加振
機構として、加振テーブル７の背面に小型の加振素子８
を装着し、その加振テーブル７を加圧テーブル１上に置
くだけという単純な構造としているので、加振機構を大
幅に小型化できる。
プリント基板６上に付着しているほこりや屑が接触ピン
２とプリント６との間に介在したとしても、それは直ち
に払いのけられて、接触ピン２とプリント基板６の回路
上の測定点との電気的な接触が良好となる。その結果、
プリント基板６が良品であるにもかかわらす導通不良と
いった誤検査を減少させることができる。また、接触ピ
ン２はプリント基板の上方に配置されているので、検査
されるプリント基板に付着しているほこり、屑が検査中
に払い落されたとしても、重力により加振テーブル７の
上面に落ちて接触ピン２に付着することはないので、接
触ピン同志の絶縁不良を招く心配がない、さらに、加振
機構として、加振テーブル７の背面に小型の加振素子８
を装着し、その加振テーブル７を加圧テーブル１上に置
くだけという単純な構造としているので、加振機構を大
幅に小型化できる。
また、加振機構を小型化できることにより、第３図に示
すように、加振テーブル７に、上下方向の加振を行う加
振素子８Ａと、左右方向の加振を行う加振素子８Ｂとを
装着して、小さな加振力で効果的な加振を行えば、接触
ピン２とプリント基板６との接触をより一層良好にする
ことができる。
すように、加振テーブル７に、上下方向の加振を行う加
振素子８Ａと、左右方向の加振を行う加振素子８Ｂとを
装着して、小さな加振力で効果的な加振を行えば、接触
ピン２とプリント基板６との接触をより一層良好にする
ことができる。
以上説明したように、本発明によれば、プリント基板を
振動状態で接触ピンに接触させられて。
振動状態で接触ピンに接触させられて。
はこり、屑によるプリント基板と接触ピンとの接触不良
を低減でき、かつ加振機構の大幅な小型化を図れ、しか
もほこり、屑による接触ピン同志の絶縁不良を招くこと
がない。
を低減でき、かつ加振機構の大幅な小型化を図れ、しか
もほこり、屑による接触ピン同志の絶縁不良を招くこと
がない。
第１図は本発明のプリント基板検査装置の一実施例を示
す概略図、第２図はプリント基板が接触ピンに接近して
いく状態を示す説明図、第３図は加振機構の他の例を示
す断面図である。 １・・・加圧テーブル、２・・・接触ピン、７・・・加
振テーブル、８，８Ａ、８Ｂ・・・加振素子、１１・・
・導通。 Ｘ〜ノ 第１図 第 ２ 図 に ％３ 図
す概略図、第２図はプリント基板が接触ピンに接近して
いく状態を示す説明図、第３図は加振機構の他の例を示
す断面図である。 １・・・加圧テーブル、２・・・接触ピン、７・・・加
振テーブル、８，８Ａ、８Ｂ・・・加振素子、１１・・
・導通。 Ｘ〜ノ 第１図 第 ２ 図 に ％３ 図
Claims (1)
- 昇降できる加圧テーブルと、その加圧テーブルの上方に
固設される接触ピンとを備え、前記加圧テーブルの上面
にプリント基板をセットし、かつ加圧テーブルを上昇さ
せることによりプリント基板の回路上の測定点を接触ピ
ンに接触させ、接触ピンに加える電気的な信号を検知し
てプリント基板の回路の導通、絶縁を検査するプリント
基板検査装置であつて、前記加圧テーブルの上面にプリ
ント基板をセットし、かつ加振するための加振テーブル
を設置し、その加振テーブルの背面に加振素子を装着し
、前記加振テーブルを加振することで、プリント基板を
振動状態で接触ピンに接触させられるようにしたことを
特徴とするプリント基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59218313A JPS6197580A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | プリント基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59218313A JPS6197580A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | プリント基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6197580A true JPS6197580A (ja) | 1986-05-16 |
Family
ID=16717886
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59218313A Pending JPS6197580A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | プリント基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6197580A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4899099A (en) * | 1988-05-19 | 1990-02-06 | Augat Inc. | Flex dot wafer probe |
-
1984
- 1984-10-19 JP JP59218313A patent/JPS6197580A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4899099A (en) * | 1988-05-19 | 1990-02-06 | Augat Inc. | Flex dot wafer probe |
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