JPS6195203A - 光切断線検出装置 - Google Patents
光切断線検出装置Info
- Publication number
- JPS6195203A JPS6195203A JP59216112A JP21611284A JPS6195203A JP S6195203 A JPS6195203 A JP S6195203A JP 59216112 A JP59216112 A JP 59216112A JP 21611284 A JP21611284 A JP 21611284A JP S6195203 A JPS6195203 A JP S6195203A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cutting line
- light
- image
- beam cutting
- optical
- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕 ７本発明は、光
切断線検出装置に関するものである。
切断線検出装置に関するものである。
光切断線を用いて物体の３次元情報を得、その物体の認
識を行なう装置として光切断線検出装置が知られている
。光切断線を検出する手段としてＴＶカメラが用いられ
るが、光切断線の検出精度の向上を図るうえで大事な要
素である。
識を行なう装置として光切断線検出装置が知られている
。光切断線を検出する手段としてＴＶカメラが用いられ
るが、光切断線の検出精度の向上を図るうえで大事な要
素である。
また、光切断線の検出精度悪化の原因としては、外光等
のノイズがある。これは光切断線の抽出 ゛を不
安定にし、かつ、光切断線の幅をピンボケにし、精度を
下げている。
のノイズがある。これは光切断線の抽出 ゛を不
安定にし、かつ、光切断線の幅をピンボケにし、精度を
下げている。
本発明は、これら光切断線の検出精度の向上を図るため
になされたものである。
になされたものである。
まず、この種の公知例につい【説明する。隋開昭５７−
４７４５２２号公報」はその１つであるが、先に本出願
人が開発したものである。同側は、物体に照射した光切
暫線を含む画像をＴＶカメラで取込み、明るさのピーク
値を取る点を結んで光切断線とみなし、検出するもので
ある。しかしながら、同方式によると、外光等によりピ
−ク値をとる点が変化するおそれがあり、抽出が不安定
となる問題点を残すものであった。また、光切断線のピ
ントが合わないと光切断線の幅が広がり、抽出精度の点
でも問題を残すものであった。
４７４５２２号公報」はその１つであるが、先に本出願
人が開発したものである。同側は、物体に照射した光切
暫線を含む画像をＴＶカメラで取込み、明るさのピーク
値を取る点を結んで光切断線とみなし、検出するもので
ある。しかしながら、同方式によると、外光等によりピ
−ク値をとる点が変化するおそれがあり、抽出が不安定
となる問題点を残すものであった。また、光切断線のピ
ントが合わないと光切断線の幅が広がり、抽出精度の点
でも問題を残すものであった。
また、本出願人がさらに開発し、出願したものとして「
特開昭５６−３６００４号公報」に示す形状検出方法お
よびその装置がある。同方法は、被測定物の上方よりス
リット光を投光し、そのスリット光により得られた像を
両側斜め上方より検出し、これを合成し′Ｃ１つの光切
断像を形成するものである。本発明は、同方法をもとに
発明されたものである。
特開昭５６−３６００４号公報」に示す形状検出方法お
よびその装置がある。同方法は、被測定物の上方よりス
リット光を投光し、そのスリット光により得られた像を
両側斜め上方より検出し、これを合成し′Ｃ１つの光切
断像を形成するものである。本発明は、同方法をもとに
発明されたものである。
本発明は、前記した従来技術における問題点に鑑みなさ
れたものであっ【、光切断線を利用したレンジファイン
ダ等において精密な位置データを高安定、高精度に検出
できる光切断線検出装置を提供することを目的とする。
れたものであっ【、光切断線を利用したレンジファイン
ダ等において精密な位置データを高安定、高精度に検出
できる光切断線検出装置を提供することを目的とする。
本発明の特徴は、光切断線が轟りた画像と、当らない画
像との差分をとり、その差分から光切断線のみを抽出し
、その抽出した光切断線の画像を処理して光切断線の画
面上における位置を、統計的処理を加えて測定検出する
ことによって、光切断線の位置を外光等のノイズや光切
断線の幅等に影響されることなく高精度、高安定に検出
できるｉうにした点である。
像との差分をとり、その差分から光切断線のみを抽出し
、その抽出した光切断線の画像を処理して光切断線の画
面上における位置を、統計的処理を加えて測定検出する
ことによって、光切断線の位置を外光等のノイズや光切
断線の幅等に影響されることなく高精度、高安定に検出
できるｉうにした点である。
以下、添付図面に従って本発明の一実施例を詳述する。
第１図は光切断線を含む画像α、光切断線を含まない画
像ｂ、抽出した光切断線のみの画像Ｃを表わす概念図で
ある。
像ｂ、抽出した光切断線のみの画像Ｃを表わす概念図で
ある。
第１図について説明すると、テレビカメラ等で入力した
光切断線像は、光切断線そのものの他に、背景画像、外
光等を含んでいるものである。そのため、この画像°か
ら光切断線のみを抽出することは困難である。そこで第
１図に示すように、光切断線を含む画像αを敗り込んだ
直後に、光切断線を含まない画像りを取り込み、両画像
の明るさの差をとることにより光切断線のみの画像Ｃを
抽出するものである。同方法によると、背景、外観等の
影響を取り除ぎ、光切断線のみを安定、かつ精度よく検
出するものである。
光切断線像は、光切断線そのものの他に、背景画像、外
光等を含んでいるものである。そのため、この画像°か
ら光切断線のみを抽出することは困難である。そこで第
１図に示すように、光切断線を含む画像αを敗り込んだ
直後に、光切断線を含まない画像りを取り込み、両画像
の明るさの差をとることにより光切断線のみの画像Ｃを
抽出するものである。同方法によると、背景、外観等の
影響を取り除ぎ、光切断線のみを安定、かつ精度よく検
出するものである。
検出した光切断線は、第２図に示すように、ある程度の
幅をもっている。この原因としては、ＴＶ左カメラピン
トずれ、レンズの歪み等が考えられる。幅をもつ光切断
線のピーク値を光切断線の位置とすると、必ずしも幅の
中央が検出されるとは限らず、第３図に示すように、光
切断線の幅の範囲でばらつきが生じる。このことを解決
するための方法として、本発明の実施例に示すように各
列につい【明るさの重み付き平均を取ることにより、精
密な光切断線の位置を検出することが可能になる。
幅をもっている。この原因としては、ＴＶ左カメラピン
トずれ、レンズの歪み等が考えられる。幅をもつ光切断
線のピーク値を光切断線の位置とすると、必ずしも幅の
中央が検出されるとは限らず、第３図に示すように、光
切断線の幅の範囲でばらつきが生じる。このことを解決
するための方法として、本発明の実施例に示すように各
列につい【明るさの重み付き平均を取ることにより、精
密な光切断線の位置を検出することが可能になる。
次に、第４図に光切断線位置検出装置の全体構成を示し
、第５図のフローチャートと共に説明する。第４図にお
いて、１はテレビカメラ、２は画像処理装置、３は光切
断線発生装置、４は画像処理装置２に接続された光切断
線抽出回路、５は同じく画像処理装置２に接続された光
切断線位置検出回路である。６は測定物体、７は光切断
線発生装置３を制御する光切断制御回路である。
、第５図のフローチャートと共に説明する。第４図にお
いて、１はテレビカメラ、２は画像処理装置、３は光切
断線発生装置、４は画像処理装置２に接続された光切断
線抽出回路、５は同じく画像処理装置２に接続された光
切断線位置検出回路である。６は測定物体、７は光切断
線発生装置３を制御する光切断制御回路である。
第４図の回路忙よれば、次のような平原で光切断線の位
置検出をする。
置検出をする。
（１）、光切断線制御回路７により制御され、光切断線
発生装置３から出力された光切断線を物体６ｒＩｃあて
る。
発生装置３から出力された光切断線を物体６ｒＩｃあて
る。
（２）、テレビカメラ１を用いて、その光切断線を含ん
だ物体６の画像を入力する。
だ物体６の画像を入力する。
（３）、光切断線発生装置５よりの光切断線の照射を遮
断し、光切断線を含まない画像をテレビカメ２１を用い
て入力する。
断し、光切断線を含まない画像をテレビカメ２１を用い
て入力する。
（４）、光切断線抽出回路４を用いて（２） 、 （！
ｌ）の画像の各画素の明るさの引き算を行ない、光切断
線のみを抽出する。
ｌ）の画像の各画素の明るさの引き算を行ない、光切断
線のみを抽出する。
（５）、光切断線位置測定回路５において、光切断線の
みの画像に対して、以下の統計処理を行な５゜例えば、
２５６ Ｘ ２４０の画面において、第１列目（０≦Ｊ
≦２３９）の画素の工番目（Ｏ≦Ｉ≦２５５）の明るさ
をＭ山とするとき、光切断線の位置Ｘσ）を次のように
定義する。
みの画像に対して、以下の統計処理を行な５゜例えば、
２５６ Ｘ ２４０の画面において、第１列目（０≦Ｊ
≦２３９）の画素の工番目（Ｏ≦Ｉ≦２５５）の明るさ
をＭ山とするとき、光切断線の位置Ｘσ）を次のように
定義する。
これは、明るさＭ（１）の加重平均であるが、光切断線
のみの画像にも若干のノイズが含まれるので、ノイズを
除去するためのしきい値ＴＨな決め、明るさＭσｌがＴ
Ｈ以上の場合忙のみＸσ）の計算にくり込むことにする
。また、ＴＨ以上となるピークの山が複数個存在する場
合には、山の面積が最大のところでＸσ）を計算するこ
とにする。以上の統計処理アルゴリズムを第６図に示す
。
のみの画像にも若干のノイズが含まれるので、ノイズを
除去するためのしきい値ＴＨな決め、明るさＭσｌがＴ
Ｈ以上の場合忙のみＸσ）の計算にくり込むことにする
。また、ＴＨ以上となるピークの山が複数個存在する場
合には、山の面積が最大のところでＸσ）を計算するこ
とにする。以上の統計処理アルゴリズムを第６図に示す
。
以上忙よって、光切断線の安定、高精度な位置測定が可
能となる。
能となる。
上述の実施例からも明らかなように本発明によれば、光
切断線が照射された画像と照射されない画像との差分を
とり、その差分から光切断線のみを抽出し、その抽出し
た光切断線の画像を処理して光切断線の画面上における
位置を、統計的処理を加えて測定検出するようにしたも
の′であるから、光切断線を用いたレンジファインダ等
の３次元センナの高精度化が図れると共忙、外光等のノ
イズに影響されずに光切断線が抽出でき、高精度、高安
定に光切断線位置を検出できるという利点がある。
切断線が照射された画像と照射されない画像との差分を
とり、その差分から光切断線のみを抽出し、その抽出し
た光切断線の画像を処理して光切断線の画面上における
位置を、統計的処理を加えて測定検出するようにしたも
の′であるから、光切断線を用いたレンジファインダ等
の３次元センナの高精度化が図れると共忙、外光等のノ
イズに影響されずに光切断線が抽出でき、高精度、高安
定に光切断線位置を検出できるという利点がある。
添付図は本発明の詳細な説明するための図であって、第
１図は光切断線の検出原理を説明する画像図、第２図は
光切断線の検出幅を表わす画像図、第３図は光切断線の
ピーク値のばらつきを表わす画像図、第４図は本発明の
一実施例を示す光切断線検出装置の全体的構成図、第５
図は光切断線位置検出回路内で行なわれる処 ｊ
理を示すフローチャート、第６図は統計処理アルゴリズ
ムである。 １・・・テレビカメラ、２・・・画像処理装置、３・・
・光切断線発生装置、４・・・光切断線抽出回路、５・
・・光切断線位置検出回路、６・・・測定物体、７・・
・光切断線制御回路。
１図は光切断線の検出原理を説明する画像図、第２図は
光切断線の検出幅を表わす画像図、第３図は光切断線の
ピーク値のばらつきを表わす画像図、第４図は本発明の
一実施例を示す光切断線検出装置の全体的構成図、第５
図は光切断線位置検出回路内で行なわれる処 ｊ
理を示すフローチャート、第６図は統計処理アルゴリズ
ムである。 １・・・テレビカメラ、２・・・画像処理装置、３・・
・光切断線発生装置、４・・・光切断線抽出回路、５・
・・光切断線位置検出回路、６・・・測定物体、７・・
・光切断線制御回路。
Claims (1)
- 測定物体を撮像するテレビカメラ等の撮像装置と、該撮
像装置によって撮像し、得られた測定物体の画像信号を
処理する画像処理装置と、前記測定物体に光照射する光
切断線発生装置、並びにその制御回路とを具備して成る
光切断線検出装置であって、前記撮像装置で撮像し、画
像処理装置を介して得られた画像信号のうち、光切断線
が当たった場合の画像信号と当らない場合の画像信号と
の差分をとり、光切断線のみを抽出する光切断線抽出回
路と、該抽出回路で抽出した光切断線の画像を処理して
光切断線の画面上における位置の統計平均をとると共に
、位置測定する光切断線位置測定回路を設けたことを特
徴とする光切断線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59216112A JPS6195203A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | 光切断線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59216112A JPS6195203A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | 光切断線検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6195203A true JPS6195203A (ja) | 1986-05-14 |
| JPH0443204B2 JPH0443204B2 (ja) | 1992-07-15 |
Family
ID=16683426
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59216112A Granted JPS6195203A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | 光切断線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6195203A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62239285A (ja) * | 1986-04-10 | 1987-10-20 | Omron Tateisi Electronics Co | スリット像の中心線抽出装置 |
| JPS63132107A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-04 | Hitachi Ltd | 光切断線法による物体測定装置 |
| JPS6478109A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPS6478104A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPH01242906A (ja) * | 1988-03-24 | 1989-09-27 | Nippon Steel Corp | 光切断法における線化方法 |
| JPH02193006A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-30 | Okumura Corp | 内空断面計測方法 |
| EP0472041A2 (en) * | 1990-08-24 | 1992-02-26 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for detecting deformations of leads of semiconductor device |
-
1984
- 1984-10-17 JP JP59216112A patent/JPS6195203A/ja active Granted
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62239285A (ja) * | 1986-04-10 | 1987-10-20 | Omron Tateisi Electronics Co | スリット像の中心線抽出装置 |
| JPH0467233B2 (ja) * | 1986-04-10 | 1992-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | |
| JPS63132107A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-04 | Hitachi Ltd | 光切断線法による物体測定装置 |
| JPS6478109A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPS6478104A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Toyota Central Res & Dev | Three-dimensional coordinate measuring instrument |
| JPH01242906A (ja) * | 1988-03-24 | 1989-09-27 | Nippon Steel Corp | 光切断法における線化方法 |
| JPH02193006A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-30 | Okumura Corp | 内空断面計測方法 |
| EP0472041A2 (en) * | 1990-08-24 | 1992-02-26 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for detecting deformations of leads of semiconductor device |
| US5208463A (en) * | 1990-08-24 | 1993-05-04 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for detecting deformations of leads of semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0443204B2 (ja) | 1992-07-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |