JPS6189558A - 液晶板，プリント基板テスタ−用ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、液晶板やプリント基板等をテストする際に用
いられるテスターのヘッド（テスターをテストすべき液
晶板やプリント基板のリードその他に接続する時に用い
られる部分）に関するものである。

〔従来技術〕

周知のように液晶板は、例えば第６図に示すような構造
のもので、平板状の透明板１１，１２の間に液晶を封入
したもので透明板１１．１２の内側に多数の線状等の導
電部や透明電極か設けられこれらに接続する多数のり一
ド１３が両透明板÷ま部に設けられている。

又プリント基板は、各種の電子部品が設鐙される表共に
それらを結ぶ導電部が形成されていて所定の電気回路を
形成するものでその周縁部等には同様にリードが形成さ
れている○ このような液晶板やプリント基板等をテストするテスタ
ーのヘッドの従来例としては、第７図に示すものが知ら
れている。この従来例は、ビンプローブ方式と呼ばれて
いるもので、アクｌ）　）し板等の基板１５に多数のグ
ローブビン１６が植設されているもので、このプローブ
ビン１６は外筒１７とこれに上下方向に摺動可能に保持
されているコンタクトビン１８よりなり、更に外筒１７
内に配置されたスプリング（図示してない）によりコン
タクトピン１８が常に上方に押し上げられている。

又コンタクトピン１８の他端は配線１９によりテスター
に接続されている。

この従来のビンプローブ方式のヘッドを用いて液晶板や
プリント基板等のテストを行なう場合、テスターのヘッ
ドの各コンタクトピン１８が液晶板の各リード或はプリ
ント基板の各リードや導電部分に接触するように配置し
これを押圧することによって各コンタクトピン１８がリ
ード等に所定の接触圧にて接触するようにして通電して
テストが行なわれる。

しかしながら液晶板の各リードは極めて数が多く互いに
接近して配置されており、プリント基板のリードも接近
して配置されたものか多い。そのため第７図に示すビン
グローブ方式のヘッドでは、プローブビン１６が外筒１
７丙にコンタクトピン１８やスプリングを設けた構造で
あるため外筒の径を小さくするには限度があり、そのた
めコンタクトビン間の間隔を狭くすることが出来ず、前
記のようにリード間の間隔の狭い液晶板やプリント基板
に合わせたヘッドを作ることが困難である。

この欠点を解消するために第７図に示すようにプローブ
ビン１６を２列、３列等にし各グローブビンを斜めにす
らした配置にしである。しかしこのように配置した場合
にも一定の限度があり、リード間の間隔のより狭い液晶
板に対しては適用出来ない場合がある０又列の数を更に
多くすれば狭いリードに対しても適用し得るが、リード
の長さを長くしなければならない新たな問題が生ずる。

このようにピングローブ方式のヘッドを用いたテスター
では、液晶板自体を直接測定出来ず、そのために液晶テ
レビ、電卓等の完成品に組込んだ後に完成品のテストの
時に液晶板を測定しなければならない。したがって細か
い点にわたってまでの正確な検査が困難である。又検査
の結果不良個所が発見された時の修繕や部品交換が面倒
である。

液晶板やプリント基板テスト用のテスターのヘッドの他
の従来例として第８図に示すようなコンタクトを備えた
ものが知られている。このヘッドは、タングステンワイ
ヤ一方式と呼ばれているもので、タングステンワイヤー
２１を図示するような形状にすることによってタングス
テンワイヤー自体にばね性を持たせたものである。この
従来例においては、タン“ゲステンワイヤー自体がばね
性を有しているためにスプリング等を収納する外筒等を
必要としないために各コンタクト（タングステンワイヤ
ー）を比較的接近させ得る。しかしタングステンワイヤ
ーがある程度の径を有しているためにそのまま一列に並
び配置したのでは液晶板等に使用するヘッドとしては不
十分であって、そのために図示するように各コンタクト
２１の接触部２２を円弧状に並び配置し、これによって
液晶前のテスト用に適応出来るようにしである。しかし
このように接触部２２を円弧状にしであるためにあまり
多くのコンタクトを配置することが出来ない。一方液晶
板やプリント基板に設けられているリードは可成り数多
く設けられているので、一度に液晶板等のテストを行な
うことが出来ず何回にも分けて測定しなければならない
不便さがある。

しかも前述のように液晶板等のリードは各リードの幅が
狭く各リード間が極めて微小間隔であるので各リードと
ヘッドの各コンタクトとの位置合わせが面倒であり、こ
のような面倒な位置合わせを必要とする測定を何度にも
分けて行なうことは好ましくない。

〔発明の構成〕 本発明の液晶板゛、プリント基板テスター用ヘッドは、
微小幅の溝を微小間隔をおいて多数形成した本体と、前
記本体の溝内に少なくとも接融部か本体外に出るように
配置されたそれ自体はね性を有している厚さのうすいコ
ンタクトとを有するものである。

又本発明の液晶板、プリント基板テスター用ヘッドは、
前記の構造であって更に本体の各溝内に収納されている
コンタクトのテスター側への配線に接続するための接続
部の長さおよびコンタクトへの取付は位置の異なる数種
類のものを隣接する種類が互に異なるように順次繰り返
し配置した構造のものである。

〔実施例〕

以下本発明の液晶板、プリント基板テスター用ヘッドの
実施例を図面にもとづいて詳細に説明する。第１図は本
発明ヘッドの実施例の斜視図、第２図は第１図における
■−■線断面図である。これら図において１はヘッドで
多数の微小幅の溝２ａ　ｒ　３８を夫々有している本体
２と蓋３（これらはコンタクトのガイドの役割を有して
いる）とにより構成され全体としてケース状になってい
る。

又溝内には先端に接触部５を有し又配線部６を設けたコ
ンタクト４が夫々収納配置されている。

これらヘッド１の各構成部品を更に詳しく説明すると、
本体２にはコンタクト４の幅（厚さ）より僅かに広い幅
の溝２ａが多数形成されていて櫛歯状になっている。又
蓋３は本体２にかぶせた時に本体２の谷溝２ａと一致す
る位置に同一幅の溝３ａが多数形成されている。更にこ
の蓋３に形成された溝は、コンタクト４を収納した時に
その接触部５が蓋３の外に出るようにその先端部分ては
上方まで取除いた形状になっている。コンタクト４は、
ヘアーピン状に曲げられた形状をなしこれによってばね
性をもたせたもので前述のように上方の先端部には接触
部５が形成され又下方には更に下にのびる配線部が設け
られている。

これら各部をまず本体２の各溝２ａ位置に形成した貫通
孔にコンタクト４の配線部６を挿入することによって本
体２の各溝位置にコンタクト４を夫々配置してからＭ３
をすることによってヘッド　−１が形成される。つまり
各コンタクト４は本体２の溝２ａと蓋３の溝３ａとにて
形成され空間内にその先端の接触部５が外に出た状態に
て収納され保持される。この場合、コンタクトの形状と
じて蓋をする前には第２図に示すよりも両端４　ａ　ｒ
　４　ｂが開いたものにし蓋をすることによってこれが
すほめられて図示する状態になるようにしてもよい。

その場合は、コンタクト４にはその両端４’ａｎ４ｂが
開こうとする力が働くので安定した状態にて収納保持さ
れることになる。又接触部５には上方へ向かう力が常に
働くので、コンタクトの接触部と液晶板等のリードとの
接触の際にこの接触部か押し下げられた時のはね圧が強
くなり十分な接触圧をもたせることが可能になる。

以上のような構造のヘッド１を第６図に示すような構造
の液晶板のリード部分の各リード１３に夫々コンタクト
４の接触部５が接するように設置してこれを押圧すれば
接触部５が押されコンタクト４のばね性によって適切な
接触圧にて接触させてテストを行なうことが出来る。そ
の場合、このヘッド１はコンタクト４の厚さとコンタク
ト間の間隔（本体２の溝間の間隔）のみによって各コン
タクト間のピッチが決まるのでピッチを小にすることが
出来、液晶板やプリント基板の測定用として十分対応さ
せることが出来る。例えばコンタクトとして薄い金属板
（ベリリウム銅板等）を図示する形状に打ち抜いて金メ
ッキしたものか使用され、その厚さは極めて薄くなし得
る。又本体２や蓋３は射出成形法等の合成樹脂の成形加
工によって幅の狭い沢山な溝を有ししかも各溝間の間隔
が極めて小であるものでも容易に形成することが出来る
。したがってリード間隔が小である液晶板やプリント基
板用に適用し得るものが出来る。

コンタクトとしてすべて同一形状のものを用いてもよい
が第２図に示すように配線部の長さおよび設置位置の異
なる数種類（図示するものはＡ。

Ｂ、Ｃの３種類）のものを作り、これを例えばＡ、Ｂ、
Ｃ，Ａ、Ｂ、Ｃ，・・・のように順に繰り返し配置する
ようにすれば配線部６からの配線７が各々比較的離れた
配置になるのでテスターへの接続を直接性なわす、に符
号８に示す部分に接続端子部を設は市販のソケットによ
る接続が可能になる。

これによりヘッドの取外しが可能となる。

第３図および第４図はコンタクトの他の変形例を示すも
のである。第３図に示すものは板はね状のコンタクトで
その根元の支持部４Ｃと先の部分のばね性をもたせた部
分４ｄとよりなっている。

第４図は屈曲部４ｅを形成したもので、この屈曲部４ｅ
より先の部分にばね性をもたせたものである。

第５図は、第２図に示す形状のコンタクトに突起９を設
けたものでこれによって配線部６を中心とした回動を防
止することが出来る。これによって第１図に示す本体２
の溝２ａ間の仕切り部分を除去することが可能になり、
本体２や蓋３の構造を簡単化することが出来る。

〔発明の効果〕

本発明の液晶板、プリント基板テスター用ヘッドは、各
コンタクトが薄いばね性を有するものでしかも本体の微
小幅の微小間隔をおいて形成された溝内に収納保持され
ているので、各コンタクトが狭いピッチで配置されてい
るから液晶板やプリント基板を直接一度に測定すること
が可能である。

又液晶板の測定の場合、例えば本発明のヘッドと上向き
と下向きに夫々配置するこみにより液晶板の両透明板の
夫々のリードに両ヘッドのコンタクトを接触せしめて一
度にクリ定することが可能である。したかって従来完成
品で行なわれていたものと同等又はそれ以上の精度にて
の測定が可能である。更に各コンタクトとして実施例の
もののように配線部の長さや設置位置の異なるｆｆｆｉ
類のものを繰返し配置したヘッドを用いればヘッドの端
子部に市販のソケットを使用し得る。又ヘッドか端子部
にて取外し可能になるので極めて便利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のヘッドの斜視図、第２図は第１図にお
ける■−■線断面図、第３図乃至第５図は夫々本発明で
用いられるコンタクトの変形例を示す図、第６図は液晶
板の斜視図、第７図は従来のヘッドの一部分を示す斜視
図、第８図は池の１忙来のヘッドの一部分を示す斜視図
である。 １・・・ヘッド、　２・・・本体、　３・・蓋、　４・
コンタクト、　　５・・・接触部、　　６・・・配線部
。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）微小幅の溝を微小間隔をおいて多数形成した本体
   と、前記本体の溝に対応する位置に夫々溝を形成した蓋
   と、前記本体に前記蓋を取付けた時に前記各溝により形
   成される空隙内に接触部が外部にあらわれるように収納
   保持されたばね性を有する薄いコンタクトとを備えた液
   晶板、プリント基板テスター用ヘッド。
2. （２）微小幅の溝を微小間隔をおいて多数形成した本体
   と、前記本体の溝に対応する位置に夫々溝を形成した蓋
   と、前記本体に前記蓋を取付けた時に前記各溝により形
   成される空隙内に接触部が外部にあらわれるように収納
   保持されたばね性を有する薄いコンタクトとを備え、前
   記コンタクトが長さおよび配置位置が異なつているテス
   ターへの配線へ接続する接続部を有する複数種類あり、
   隣接するコンタクトが種類が異なるものである液晶板、
   プリント基板テスター用ヘッド。