JPS61881A - 画像検査方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は印刷された画像の良否判定を行なう方法および
装置に関する。

〔技術的背景〕

従来の画像検査方法としては、良品画像と検査画像とを
各画素毎に比較しその差が許容値以内であるか否かによ
って不良画素数を求め良否判定するものがある。この方
法は比較する良品画像、検出画像間に全く位置のずれが
ないことを前提にしている。しかし、位置ずれを生じる
と対応画素が画像の同じ部分を示さなくなるため、画像
のエツジ部分での差が許容値より大きくなり屡々良を不
良と判定することになる。

これを防ぐため、エツジ部分の許容値を他の画像部分よ
り大ぎくしたり、あるいはエツジ部分は判定を行わない
ようにマスキングした許容値画像を別に持ち良品画像と
検査画像との各画素の差が対応する許容値画像の値より
大きいか小さいかを判断する方法が行なわれている。り
なわら、従来装置では、良品画像データを入力するメモ
リと、検査画像データを入力Ｊるメモリと、これらの良
品画像データと検査画像データとの差分の絶対値をとっ
た演算結果を入力するメモリ（一般に検査画像データの
メモリと兼用する）と、位置ずれ対策としてマスク処理
しさらに判定レベルを設定した許容画像メモリと、上記
演算結果と許容画像データとの差分をとった演算結果を
入力するメモリ（一般に検査画像データのメモリと兼用
する）とが必要であり、したがって３つの画像メモリが
必要である。そして、この検査は第１図に示す方法で行
なう。これを第２図を併用して以下に説明する。

まず第２図（ａ）に示すような良品Ｍ像データをメモリ
Ｍ１に入力する（Ｓｌ）。このデータを用いて画像のエ
ツジ部分を検出してエツジマスキング処理を行ない（Ｓ
２＞、第２図（ｂ）に示すように画像のエツジ部分を飽
和レベルにする。このエツジマスキング処理信号に検査
判定の許容値を加え合わせて第２図（Ｃ）に示すような
許容画像データを形成し、この許容画像データをメモリ
Ｍ２に設定記憶づる。

次に第２図（ｄ）に示すような検査画像データをメモリ
Ｍ３に入力する（Ｓ４）。この検査画像データは不良部
分を含むものとＪる。この検査画像データから良品画像
データを減算するとくＳ５）第２図（ｅ）に示すような
３つの鋭いパルスを伴う差分が得られる。この３つのパ
ルスの中、左側２つは画像の位置ずれによりエツジ部分
で差分が生じたものであり、最も右側の１つが不良に対
応する。

この演算結果は、メモリＭ３に検査画像データに代えて
回込まれる（Ｓ６）。次いでメモリＭ３の内容からメモ
リＭ２の内容を減算すると（８７）。

第２図（ｆ）に示すように不良部分のみが残る。

ここでメモリＭ３の内容で許容画像データよりも低レベ
ルの部分は負となるがこの負の部分は便宜上ゼロとして
扱う。つまり、エツジ部分の位置ずれや検査判定許容値
以下のノイズ成分は除去されてゼロとなり、不良個所だ
けを抽出することができる。このメ゛゛モリＭ３のデー
タ符号によって画像の良否判定を行なう（Ｓ８）。

ここにおいて、上記画像メモリＭ１〜Ｍ３は、それぞれ
例えば５００Ｘ５００画素で各画素を２〜１６ビツトで
構成する。したがって大容量のメモリどなり、高価であ
る。そこでメモリの数はできる限り抑えたいとの要求が
ある。

〔発明の目的〕

本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、２画面分の
画像メモリで画像の位置ずれ対策としてのエツジ部分の
マスキングを行ない画像検査する方法および装置を提供
することを目的とする。

〔発明の概要〕

この目的達成のため、本発明では、良品画像データとエ
ツジ画像データとを比較して両者の値が大きいものを取
って基準画像データを形成するようにして、この基準画
像データを記憶する画像メモリと検査画像データを記憶
する画像メモリとの画像メモリ２つを用いて画像検査し
得る方法および装置を提供するものである。

〔実施例〕

以下第３図乃至第５図を参照して本発明を実施例につき
説明する。

第３図は本発明の一実施例の構成を示したもので、１は
カメラであり原稿〈図示せず）から画像データを取込み
Ａ／Ｄ変換器２を介してディジタル変換し、切換回路Ｓ
Ｗ１を介してメモリＭ１またはＭ２に与える。メモリＭ
１は良品画像データもしくは基準画像データを記憶する
ためのもの、Ｍ２は検査画像データを記憶するためのも
のであり、メモリＭ１に入力された良品画像データがエ
ツジマスキング処理５回路３を介してエツジマスキング
処理されメモリＭ２に入力される。また両メモリＭ１．
Ｍ２の記憶データは各画素Ｓ度値比較回路４により比較
されて値の大きなものがメモリＭ１に記憶され、ざらに
各画素淵痕値演算回路５により差分が検出されてメモリ
Ｍ２に記憶される。

メモリＭ２の出力はまた画素数検出回路６に与えられ、
判定レベル設定回路７からの判定レベル信号に応じて画
素数が検出され、この検出結果が切換回路ＳＷ２を介し
て基準データ記憶回路８または検査データ記憶回路９に
記憶され、自記憶回路８．９の記憶内容が判定回路１０
に与えられて良否判定される。

第４図および第５図は第３図の実施例の動作を説明する
ためのフローチャートおよび各部データを示す波形図で
あり、これら両図に基き本発明による画像処理を説明す
る。

まず切換回路ＳＷ１．３Ｗ２を設定側とし良品画像デー
タを第１画像メモリＭ１に入力する（Ｓ１１）。このと
きの画像は第５図（ａ＞に示すようなものとする。この
メモリＭ１に記憶された良品画像データを用いてエツジ
マスキング処理回路によりエツジ画像データを作成する
。

これは次のように行なう。良品画像データをＸ軸方向、
Ｙ軸方向、Ｘ軸に対し＋４５°方向および一４５°方向
の４方向につき任意に設定した画素数分だけシフトさせ
、画像の濃度変化が予め設定したレベル以上になったら
エツジと判断する。

そして別の予め設定した画素数分だけエツジ付近の許容
値を、良品画像データの最大レベルに検査判定のための
許容値を加えたレベル以上のレベル（以下マスキングレ
ベルと呼ぶ）まで吊上げてエツジ部分のマスキングを行
い他の部分は零にする。

この画像をエツジ画像と呼び第２画像メモリＭ２に格納
する。この格納データは第５図（ｂ）に示すようなもの
である。

このメモリＭ２に格納されたエツジ画像データを用い画
素数検出回路６が１ツジマスキング領域の画素数へを求
める（３１３）。つまりエツジ画像内での零でない部分
の画素数を求め、これを基準データ記憶回路８に記憶し
、後に検査画像データから検出した画素数との比較に用
いる。このとき画素数検出回路６に対し判定レベル設定
回路７からは基準データ用の判定レベルが与えられる。

次に各画素数検出回路４がメモリＭ１に格納されている
良品画像データ（第５図（ａ）図示）とメモリＭ２に格
納されているエツジ画像データ（第５図（ｂ）図示）と
を画素毎に濃度比較し、大ぎい値の方をとってメモリＭ
１に格納する。つまりメモリＭ１のデータ値が小さいと
きにはメモリＭ２のデータ値に変更する。これにより作
成されたものが基準画像データであり、第５図（Ｃ）に
示づようなものである。

この基準画像データは、良品画像のエツジ部分がマスキ
ングレベルまで吊り上げられるのに対し他の部分は良品
画像のままにしてあり、位置ずれによるエツジ部分での
誤判定を防止づるマスクを含んだ形である。マスキング
レベルを上記のように、良品画像データの最大レベルに
検査判定用許容値を加えたレベル以上に設定したことに
より、基準画像データと良品画像データとの差の絶対値
をとったとき検査判定許容値以上のレベルを持つ画素数
がエツジマスキング領域の画素数と等しくなる。したが
って後述するように、基準画像データと検査画像データ
との差をとったとき、検査画像データの位置ずれがエツ
ジマスクの幅内におさまるＰｉ！　Ｉｉであれば、検査
画像に不良がないときの検査判定許容値以上のレベルを
持つ画素数はエツジマスキング領域の画素数と等しくな
る。また検査画像に不良があるとその不良部分の画素数
だ（）検査判定許容値以上の画素数が増える。

基準画像データをメモリＭ１に格納したら、次に切換回
路ＳＷＩ、ＳＷ２を検査側にして検査すべき画像データ
を前記エツジマスクデータに代えてメモリＭ２に格納す
る（８１５）。この検査画像データは第５図（ｄ）に示
すように不良部分を含むものとする。

そして画素数１１ＦＩ値演篩回路５によりメモリＭ２の
検査画像データとメモリＭ１の基準画像データとの差の
絶対値をとり、その結果をメモリＭ２に入力する（８１
６）。この差の絶対値は第５図（ｅ）に示す通りである
。

このメモリＭ２の格納データを画素数検出回路６が判定
レベル設定回路７からの検査データ用レベルによって判
定して、検査判定許容値以上の画素数Ｂを検出する（Ｓ
１７）。この検出値は切換回路ＳＷ２を介して検査デー
タ記憶回路９に記憶される。

この記憶により判定回路１０には、基準データ記憶回路
８からエツジマスキング領域画素数Ａが、また検査デー
タ記憶回路９から検査判定許容値以上の画素数Ｂが与え
られ、画素数比較を行なう。

そして、 Ｂ−Ａ歳Ｃのとき　　良 Ｂ−Ａ＞Ｃのとき　　不良 ただし、Ｃは不良画素数許容値。

と判定する。これにより画像検査が終了づる訳であり、
以後同様に他の画像についても検査する。

〔発明の効采〕

本発明は上述のように、良品画像データとエツジ画像デ
ータとを組合わせた基準画像データを検査画像データと
比較するようにしたため、従来のように良品画像データ
をそのまま記憶する場合に比べ画像メモリを１つ減らし
て２つの画像メモリで構成することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の画像検査方法を説明するだめのフローチ
ャート、第２図は第１図の方法におけるいくつかのステ
ップで扱うデータを波形によって示した説明図、第３図
は本発明に係る装置の一実施例を示づ゛ブロック線図、
第４図は本発明に係る方法を示すフローチャート、第５
図（ａ）〜（ｅ）は第４図の方法のいくつかのステップ
で扱うデータを波形によって示した説明図である。 ＳＷ・・・切換回路。 出願人代理人　　猪　　股　　　　清 第１図 り♂悟δ ％４図 手続補正書 昭和６０年６月−より日

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、画像を複数の画素に分割し各画素毎に濃度判定して
   濃度異常の画素数の大小により画像の良否判定を行う方
   法において、 良品画像データを取込んで記憶し、 この良品画像データから画像のエッジ部分をマスキング
   処理してエッジマスクデータを形成し、このエッジマス
   クデータにおけるエッジマスクされた領域の画素数を検
   出し、 前記良品画像データと前記エッジマスクデータとを画素
   毎に対比して濃度の高い方のデータをとって基準画像デ
   ータを形成し、 検査画像データを取込んで記憶し、 前記基準画像データと前記検査画像データとを比較して
   両者の差の絶対値のデータを形成し、この差の絶対値の
   データのレベルを予め設定された検査判定許容値と画素
   単位で比較して該許容値以上の画素数を検出し、 前記エッジマスクされた領域の画素数が所定値以下であ
   れば良、所定値を超えれば不良と判定するようにした画
   像検査方法。 ２、画像を複数の画素に分割し各画素毎に濃度判定し濃
   度異常の画素数の大小によって画像の良否判定を行なう
   装置において、 良品画像データを格納する第１画像メモリと、前記良品
   画像データから画像のエッジ部分についてマスキング処
   理したエッジマスクデータを形成する回路と、 前記エッジマスクデータからエッジマスクされた領域の
   画素数を検出する第１の画素数検出回路と、 前記エッジマスクデータを記憶する第２画像メモリと、 前記良品画像データと前記エッジマスクデータとを対比
   して濃度の高い方のデータをとって基準画像データを形
   成し、前記第１画像メモリに良品画像データに代えて格
   納する回路と、 検査すべき画像データを前記第２メモリに前記エッジマ
   スクデータに代えて格納する回路と、前記基準画像デー
   タと前記検査画像データとの差の絶対値を演算して得た
   差の絶対値データを前記第２画像メモリに格納する回路
   と、 前記差の絶対値データのレベルが予め定められた検査判
   定許容値以上であるか否かを画素単位で判定し、該許容
   値以上の画素数を検出する第２の画素数検出回路と、 前記第１および第２の画素数検出回路の出力を比較しそ
   の差が所定値以上であるか否かにより良否判定する回路
   とをそなえたことを特徴とする画像判定装置。