JPS6183983A - ポジトロンｃｔの補正方法 - Google Patents
ポジトロンｃｔの補正方法Info
- Publication number
- JPS6183983A JPS6183983A JP20494684A JP20494684A JPS6183983A JP S6183983 A JPS6183983 A JP S6183983A JP 20494684 A JP20494684 A JP 20494684A JP 20494684 A JP20494684 A JP 20494684A JP S6183983 A JPS6183983 A JP S6183983A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- scattering
- positron
- simultaneous counting
- coincidence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、放射性核種としてポジトロン放出性核種を
用いたＣＴ（コンピュータ・トモグラフィ）において散
乱線による誤差を補正する方法に関する。
用いたＣＴ（コンピュータ・トモグラフィ）において散
乱線による誤差を補正する方法に関する。
（ロ）従来技術
ポジトロンＣＴの特長の１つとして吸収補正等を精度良
く実行できるので画像の定量性が高いという点をあげる
ことができる。しかし、被検体内で散乱した放射線によ
る同時計数（以下散乱同時計数という）を精度良く補正
する方法が現在のところ確立していないため、上記の画
像の定量性も散乱同時計数による誤差を含んだものとな
らざるを得ない。
く実行できるので画像の定量性が高いという点をあげる
ことができる。しかし、被検体内で散乱した放射線によ
る同時計数（以下散乱同時計数という）を精度良く補正
する方法が現在のところ確立していないため、上記の画
像の定量性も散乱同時計数による誤差を含んだものとな
らざるを得ない。
図面を用いて説明すると、第６図に示すように、１つの
平面（ここでは紙面）上に多数の放射線検出器１がリン
グ型に配列されており、このリング型配列の中に被検体
２が置かれる。被検体２の体内には予めポジトロン放出
性核種を含む薬物が投与されており、このポジトロンが
消滅するときに１８００方向に２本のγ線を放射する。
平面（ここでは紙面）上に多数の放射線検出器１がリン
グ型に配列されており、このリング型配列の中に被検体
２が置かれる。被検体２の体内には予めポジトロン放出
性核種を含む薬物が投与されており、このポジトロンが
消滅するときに１８００方向に２本のγ線を放射する。
今、点Ｐでポジトロンが消滅し、直線Ｂ上に２本のγ線
が１８０’方向に放出されたとする。すると、この２本
のγ線は直線Ｂ上に存在する２つの検出器ｌに同時に入
射する筈であり、もしそうなればこの直線Ｂ上の２個の
検出器ｌでの同時計数により直線Ｂ上に核種が存在して
いたことが分る筈である。ところが、被検体内の点Ｑで
一方のγ線がコンプトン散乱により方向が変化し、直線
Ａ上にある検出器１に入射してしまったとすると、直線
Ａ上の２個の検出器ｌで同時計数が検出されて。
が１８０’方向に放出されたとする。すると、この２本
のγ線は直線Ｂ上に存在する２つの検出器ｌに同時に入
射する筈であり、もしそうなればこの直線Ｂ上の２個の
検出器ｌでの同時計数により直線Ｂ上に核種が存在して
いたことが分る筈である。ところが、被検体内の点Ｑで
一方のγ線がコンプトン散乱により方向が変化し、直線
Ａ上にある検出器１に入射してしまったとすると、直線
Ａ上の２個の検出器ｌで同時計数が検出されて。
直線Ａ上に核種が存在していたものとして、この直線Ａ
について１つ計数されることになってしまう、この他、
２本のγ線の両方がコンプトン散乱により方向変化する
場合や一方のγ線が多重散乱により方向変化を起す場合
に同様の誤計数が生じ−る。
について１つ計数されることになってしまう、この他、
２本のγ線の両方がコンプトン散乱により方向変化する
場合や一方のγ線が多重散乱により方向変化を起す場合
に同様の誤計数が生じ−る。
ポジトロンＣＴでは、一定時間の間、２個の検出器ｌの
種々の組合せにおける同時計数を検出して、それら各組
の２個の検出器１を結ぶ各直線についてその直線の上で
ポジトロン消滅が起きたと判断される回数の計数を行な
ってデータを得、これら各直線に関するデータを、その
直線の方向が同じもの同士を集めて１つのプロファイル
データとし、こうして各方向のプロファイルデータを形
成し、これらのプロファイルデータに補正フィルタをか
けた上で逆投影するなどの、画像再構成アルゴリズムで
処理することによって、上記の平面（紙面）における放
射性核種の濃度分布画像を再構成するのであるが、各デ
ータには上記のような散乱同時計数に基づく誤差が含ま
れることになり、その結果、再構成画像の定量性に誤差
が含まれる。
種々の組合せにおける同時計数を検出して、それら各組
の２個の検出器１を結ぶ各直線についてその直線の上で
ポジトロン消滅が起きたと判断される回数の計数を行な
ってデータを得、これら各直線に関するデータを、その
直線の方向が同じもの同士を集めて１つのプロファイル
データとし、こうして各方向のプロファイルデータを形
成し、これらのプロファイルデータに補正フィルタをか
けた上で逆投影するなどの、画像再構成アルゴリズムで
処理することによって、上記の平面（紙面）における放
射性核種の濃度分布画像を再構成するのであるが、各デ
ータには上記のような散乱同時計数に基づく誤差が含ま
れることになり、その結果、再構成画像の定量性に誤差
が含まれる。
（ハ）目的
この発明は、散乱同時計数による誤差を精度良く除去し
、ポジトロ７０７画像の定量性を向上させるポジトロン
ＣＴの補正方法を提供することを目的とする。
、ポジトロ７０７画像の定量性を向上させるポジトロン
ＣＴの補正方法を提供することを目的とする。
（ニ）構成
この発明によれば、ポジトロンＣＴにおいて、多数の放
射線検出器のリング型配列内部のいろいろな位置に放射
線吸収体を置いて、その位置を通る各直線上での同時計
数に関するデｉりを求め、このデータを用いて散乱同時
計数の補正を行なう。
射線検出器のリング型配列内部のいろいろな位置に放射
線吸収体を置いて、その位置を通る各直線上での同時計
数に関するデｉりを求め、このデータを用いて散乱同時
計数の補正を行なう。
（ホ）実施例
第１図に示すように、放射線検出器ｌが多数リング型に
配列されている平面（紙面）上において、γ線吸収体３
をまず直ＭＡ上の点３１に置く、すると、Ａ線上の真の
同時計数は、このγ線吸収体３がγ線を完全に吸収する
ものであるなら、全く検出されない筈である。ところが
、Ｂ線上の点Ｐでポジトロン消滅し一方のγ線が点Ｑで
コンプトン散乱により方向転換させられたり、Ｃ線上の
点Ｒでポジトロン消滅し一方のγ線が点Ｓでコンプトン
散乱により方向転換させられたりして、入線上の２つの
検出器ｌに同時にγ線が入射することがあり、これによ
り、同時計数が検出される。つまり、入線上のものとし
て検出される同時計数は散乱同時計数のみと考えること
ができる。
配列されている平面（紙面）上において、γ線吸収体３
をまず直ＭＡ上の点３１に置く、すると、Ａ線上の真の
同時計数は、このγ線吸収体３がγ線を完全に吸収する
ものであるなら、全く検出されない筈である。ところが
、Ｂ線上の点Ｐでポジトロン消滅し一方のγ線が点Ｑで
コンプトン散乱により方向転換させられたり、Ｃ線上の
点Ｒでポジトロン消滅し一方のγ線が点Ｓでコンプトン
散乱により方向転換させられたりして、入線上の２つの
検出器ｌに同時にγ線が入射することがあり、これによ
り、同時計数が検出される。つまり、入線上のものとし
て検出される同時計数は散乱同時計数のみと考えること
ができる。
こうして、点３１上にγ線吸収体３が置かれているとき
のサイノブラム（生データ）を得ると第２図のようなグ
ラフが得られる。なおこのサイ７グラムはプロファイル
データの集合とも言うべきもので、第４図に示すように
、角度θに平行な直線上の同時計数に関するデータをそ
の直線の位置（ｒで表わす）毎に得、これらのデータを
横方向をｒとし縦方向を角度θとして並べたものである
。・この第２図のサイノブラムで、曲線４１の部分はγ
線吸収体３を通る直線上でのデータであり、本来は零に
なる筈のところが散乱同時計数のみを表わしているため
、被検体２の中の核種の分布に対応するデータを表わす
他の部分に比べて、低い値となっている。
のサイノブラム（生データ）を得ると第２図のようなグ
ラフが得られる。なおこのサイ７グラムはプロファイル
データの集合とも言うべきもので、第４図に示すように
、角度θに平行な直線上の同時計数に関するデータをそ
の直線の位置（ｒで表わす）毎に得、これらのデータを
横方向をｒとし縦方向を角度θとして並べたものである
。・この第２図のサイノブラムで、曲線４１の部分はγ
線吸収体３を通る直線上でのデータであり、本来は零に
なる筈のところが散乱同時計数のみを表わしているため
、被検体２の中の核種の分布に対応するデータを表わす
他の部分に比べて、低い値となっている。
また、第３図は、γ線吸収体３を位置３２に移動させた
ときのサイノブラムを示し、曲線４２が同様にこの位置
にあるγ線吸収体３を通る直線上での同時計数のデータ
を表わす、このようにγ線吸収体３を、被検体２の周囲
の種々の位置３１．３２．３３．３４．・・・に置くこ
とによって、生データにおける散乱同時計数の分布を種
々の位置で知ることができる。この場合γ線吸収体３を
細かい間隔で移動させれば全ての生データでの散乱同時
計数を得ることができ、粗い間隔で移動させる場合でも
、主な点での散乱同時計数分布を得ることができるので
補間計算により余生データでの散乱同時計数分布を求め
ることができる。
ときのサイノブラムを示し、曲線４２が同様にこの位置
にあるγ線吸収体３を通る直線上での同時計数のデータ
を表わす、このようにγ線吸収体３を、被検体２の周囲
の種々の位置３１．３２．３３．３４．・・・に置くこ
とによって、生データにおける散乱同時計数の分布を種
々の位置で知ることができる。この場合γ線吸収体３を
細かい間隔で移動させれば全ての生データでの散乱同時
計数を得ることができ、粗い間隔で移動させる場合でも
、主な点での散乱同時計数分布を得ることができるので
補間計算により余生データでの散乱同時計数分布を求め
ることができる。
そして、被検体２の生データから上記の散乱同時計数の
生データを引算すれば、散乱同時計数の影響が除去され
たことになり、この引算後のデータを用いて画像再構成
することによって散乱同時計数が補正された最終画像が
得られる。
生データを引算すれば、散乱同時計数の影響が除去され
たことになり、この引算後のデータを用いて画像再構成
することによって散乱同時計数が補正された最終画像が
得られる。
なお、γ線吸収体３を置いた状態で散乱同時計数の生デ
ータを収集する場合、γ線吸収体３を置かない状態での
被検体２のみのデータ収集は別に行なうものとして、散
乱同時計数のみのデータ収集として収集するようにして
もよいし、または。
ータを収集する場合、γ線吸収体３を置かない状態での
被検体２のみのデータ収集は別に行なうものとして、散
乱同時計数のみのデータ収集として収集するようにして
もよいし、または。
γ線吸収体３を置いた状態で被検体２のデータ収集を行
なうとともに同時に散乱同時計数の生データを収集する
ようにしてもよい、後者の場合、被検体２の生データに
γ線吸収体３の部分だけデータの欠損が生じるので、補
間計算によりこの欠けたデータを再生する必要がある。
なうとともに同時に散乱同時計数の生データを収集する
ようにしてもよい、後者の場合、被検体２の生データに
γ線吸収体３の部分だけデータの欠損が生じるので、補
間計算によりこの欠けたデータを再生する必要がある。
また、上記のように被検体２の工、ミッシ頂ンデータ収
集の際だけでなく、被検体２の周囲にポジトロン放出性
核種からなるリング型線源を配置して被検体２のトラン
スミッションデータを収集することにより吸収補正用デ
ータ収集する際であっても、同様にγ線吸収体３を置き
、散乱同時計数のデータを収集することができる。
集の際だけでなく、被検体２の周囲にポジトロン放出性
核種からなるリング型線源を配置して被検体２のトラン
スミッションデータを収集することにより吸収補正用デ
ータ収集する際であっても、同様にγ線吸収体３を置き
、散乱同時計数のデータを収集することができる。
さらに、第５図のように、被検体２の周囲の各位置に多
数のγ線吸収体５１〜５８を同時に置いて、一度に多数
の散乱同時計数を測定するようにしてもよい、この場合
は、その後にγ線吸収体５１〜５８を全て取り除いて被
検体２のみのエミッションデータや吸収補正用のトラン
スミッションデータを収集する。
数のγ線吸収体５１〜５８を同時に置いて、一度に多数
の散乱同時計数を測定するようにしてもよい、この場合
は、その後にγ線吸収体５１〜５８を全て取り除いて被
検体２のみのエミッションデータや吸収補正用のトラン
スミッションデータを収集する。
（へ）効果
この発明によれば、散乱同時計数を実測してその誤差を
補正するため、散乱同時計数の影響を精度良く除去する
ことができ、ポジトロンＣＴ画像の定量性を向上させる
ことができる。
補正するため、散乱同時計数の影響を精度良く除去する
ことができ、ポジトロンＣＴ画像の定量性を向上させる
ことができる。
第１図はこの発明の二実施例を説明するための概念図、
第２図および第３図はそれぞれサイノブラムを示すグラ
フ、第４図はサイノブラムを説明するための概念図、第
５図は他の実施例を説明するための概念図、第６図は従
来での問題を説明するための概念図である。 ｌ・・・放射線検出器 ２・・・被検体
第２図および第３図はそれぞれサイノブラムを示すグラ
フ、第４図はサイノブラムを説明するための概念図、第
５図は他の実施例を説明するための概念図、第６図は従
来での問題を説明するための概念図である。 ｌ・・・放射線検出器 ２・・・被検体
Claims (1)
- （１）１つの平面内において多数の放射線検出器をリン
グ型に配列し、このリング型配列の内部でポジトロンが
消滅するときに１８０°方向に放射される放射線が上記
検出器のうちの２個に同時に入射することを利用して、
この同時計数によりどの直線上でポジトロンが消滅した
かを求めるようにし、上記平面内でのあらゆる直線の各
々についての同時計数に関するデータから、画像再構成
法により上記平面内におけるポジトロン放出性核種の濃
度分布画像を再構成するポジトロンＣＴにおいて、上記
平面内のリング型配列内部の種々の位置に放射線吸収体
を置いて、その位置を通る各直線上での同時計数に関す
るデータを求め、このデータを上記データから差し引い
て散乱同時計数の補正を行なうことを特徴とするポジト
ロンＣＴの補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20494684A JPS6183983A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | ポジトロンｃｔの補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20494684A JPS6183983A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | ポジトロンｃｔの補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6183983A true JPS6183983A (ja) | 1986-04-28 |
| JPH0552471B2 JPH0552471B2 (ja) | 1993-08-05 |
Family
ID=16498949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20494684A Granted JPS6183983A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | ポジトロンｃｔの補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6183983A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4839808A (en) * | 1987-05-22 | 1989-06-13 | The University Of Michigan | Correction for compton scattering by analysis of energy spectra |
| US5081581A (en) * | 1987-05-22 | 1992-01-14 | The University Of Michigan | Correction for Compton scattering by analysis of energy spectra |
| JPH07104070A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Shimadzu Corp | ポジトロンｅｃｔ装置 |
| JPH07113873A (ja) * | 1993-10-14 | 1995-05-02 | Univ Tohoku | 陽電子断層撮影装置におけるγ線吸収体による散乱同時計数測定法及び陽電子断層撮影装置 |
| US20110164722A1 (en) * | 2008-09-16 | 2011-07-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Imaging apparatus including correction unit for scattered radiation |
-
1984
- 1984-09-29 JP JP20494684A patent/JPS6183983A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4839808A (en) * | 1987-05-22 | 1989-06-13 | The University Of Michigan | Correction for compton scattering by analysis of energy spectra |
| US5081581A (en) * | 1987-05-22 | 1992-01-14 | The University Of Michigan | Correction for Compton scattering by analysis of energy spectra |
| JPH07104070A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Shimadzu Corp | ポジトロンｅｃｔ装置 |
| JPH07113873A (ja) * | 1993-10-14 | 1995-05-02 | Univ Tohoku | 陽電子断層撮影装置におけるγ線吸収体による散乱同時計数測定法及び陽電子断層撮影装置 |
| US20110164722A1 (en) * | 2008-09-16 | 2011-07-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Imaging apparatus including correction unit for scattered radiation |
| US8290116B2 (en) * | 2008-09-16 | 2012-10-16 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Imaging apparatus including correction unit for scattered radiation |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0552471B2 (ja) | 1993-08-05 |
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