JPS6182450A - 半導体装置用パツケ−ジ - Google Patents

半導体装置用パツケ−ジ

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Publication number
JPS6182450A
JPS6182450A JP20451784A JP20451784A JPS6182450A JP S6182450 A JPS6182450 A JP S6182450A JP 20451784 A JP20451784 A JP 20451784A JP 20451784 A JP20451784 A JP 20451784A JP S6182450 A JPS6182450 A JP S6182450A
Authority
JP
Japan
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semiconductor device
package
heat
electronic cooling
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP20451784A
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English (en)
Inventor
Tsutomu Minagawa
勉 皆川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP20451784A priority Critical patent/JPS6182450A/ja
Publication of JPS6182450A publication Critical patent/JPS6182450A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/38Cooling arrangements using the Peltier effect
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野〕 本発明は半導体装置用パッケージに係り、特に半導体装
置の発熱を効果的に外部に放熱する半導体装置用パッケ
ージに関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
近年半導体装置の大規模化、高集積化が急速に進み、そ
れに伴い半導体装置で発生する熱は珊加の一途をたどっ
ている。このためこの発生した熱の効果的な放熱が重要
な課題となっている。
一般にパッケージ内の半導体装置で発生した熱は種々の
熱抵抗を経てパッケージの外部に伝導され、パッケージ
の外部において対流により自然放熱するか、パッケージ
に放熱板を取りつけて放熱するか、この放熱板を冷部フ
ァン等により強制冷却するか等の方法により大気中に放
熱される。
これら従来の方法によれば、パッケージ内の半導体装置
内の接合温度は、半導体装置で発生した熱をパッケージ
の外部に伝導するため熱抵抗が存在するため、パッケー
ジの外部の周囲温度よりも高くなる。すなわちパッケー
ジ内の半導体装置の接合温度Tj(’C)は、 T−=Ta+R−W        (1)となる。た
だしTaはパッケージの外部の周囲温度C℃)、Rは熱
抵抗(℃/W)、Wは消費電力(W)とする。この(1
)式から分るように、パッケージ内の半導体装置の接合
温度T、を低く抑えるためには、パッケージの外部の周
囲温度Taを低くするか、あるいは熱抵抗Rを小さくす
る必要があるが、従来の放熱板や冷却ファンを用いてパ
ッケージの外部から冷却する方法では、パッケージ内の
半導体装置の接合温度FJを低゛く押えるには限界を有
している。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、半導体装
置の接合部を直接冷却することができる半導体装置用パ
ッケージを提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するため本発明による半導体装置用パッ
ケージは、半導体装置をマウントするマウント部と、吸
熱部がこのマウント部に抵触している電子冷却手段とを
備えたことを特徴とする。
この電子冷却手段はベルチェ効果を利用したものであり
、パッケージ内の半導体装置の接合部を直接的に冷却す
るJ:うにしたちのである。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例による半導体装置用パンケージを第1
図、第2図に示す。パッケージ本体2のベッド9上に半
導体装置4がマウントされている。
ベッド9の下部にベルチェ効果を利用した電子冷却部7
が設けられている。電子冷却部7の吸熱部8は半導体装
置4がマウントされているベッド9に接触し、発熱部6
は放熱板5に接触している。
放熱板5はパッケージ本体2の外部に露出している。
電子冷却部7はベルチェ効果を利用した電子冷却素子1
8から構成されている。電子冷却素子18は第3図に示
すようにn型半導体30とn型半導体32を金属板34
で接続され、n型半導体30の方から電流Iを流すと、
ベルチェ効果により金属板34で吸熱が生ずる。本実施
例では複数の電子冷却素子18を第2図に示すように直
列接続する。直列接続された電子冷却素子18の列の両
端を雷′m端子11と設置端子12に接続する。
なお電源端子11と設置端子12に半導体装置4と共用
される。
次にこの半導体装置用パッケージの動作を説明する。電
源端子11に電源電圧VDDが印加され、設置端子12
が設置されると、電子冷却部7の各電子冷却素子18に
電流Iが流れる。すると吸熱部8の温度が下がり、この
吸熱部8に接触するベッド9が冷却され、このベッド9
上にマウントされた半導体装『4で発生ずる熱を吸収す
る。これにより半導体装置4の接合温度を低く抑える。
他方電子冷却部7の発熱部6は放熱板15を通してパッ
ケージ本体2の外部に放熱する。このとき、放熱板5を
冷却ファン等により強制冷却すれば電子冷却部7の吸熱
部8における吸熱効率がざらに高くなる。
この電子冷却部7の吸熱部8によって冷却される半導体
装置4の接合温度下・(’C)は、T−= (Ta+R
−W)+T  −(2)J             
           Cとなる。ただしTcは吸熱部
8の温度(’C)である。したがって半導体装置4の接
合温度T は、電子冷却部7の吸熱部8の温度T。によ
り低く抑えられることになる。
ところでここにいうベルチェ効果とは2種類の金属の接
点に電流IS流れた場合この接点においてジュール熱以
外の熱ff1Qが電流Iに比例して発生しまたは吸収さ
れる現象である。
すなわち、熱量Qは Q=π・I となる。ただし比例数πはペルチェ係数といい、π=η
・Δ丁 と表わされる。ただしηは1℃当りの熱起電力(μV)
、Δ■は、両接点の温度差(’C)である。
また材料の冷却能力の良さZは一般に と表わされる。ただしλ(よ材料の熱伝導率、ρは材料
の電気抵抗率、σは材料の電気伝導率とする。
半導体材料9よ比σ/λが金属のそれより小さいが、熱
起電力ηが金属のそれより大きく、また熱起電力ηの符
号がn型半導体とn型半導体とで正負逆になるため、電
流Iの方向によって吸熱と発熱とが逆に起こることによ
り、吸熱接点と発熱接点の組合せが容易に得られる利点
がある。
次に本発明の他の実施例による半導体装置用パッケージ
を第4図に示す、このパッケージは、第1図、第2図に
示すものと電子冷却部7の構成が異なる。すなわち本実
施例の場合の電子冷却部7は各電子冷却素子18を並列
接続する。これにより各電子冷却素子18に流れる電流
が大きくなり、冷却能力がさらに上昇する。
また先の実施例の電子冷却部7を2段以上積みあげるよ
うにすれば、冷却能力はさらに向上する。
さらに、先の実施例では電子冷却素子の材料としてn型
半導体およびn型半導体を用いたが、ベルチェ効果を生
ずる他の材料でもよい。たとえばV−V1強化合物半導
体Bi 2Te3. Sb2Te3゜B I 2 Se
 2や、これらの同容体も利用できる。
(発明の効果〕 以上の通り本発明によれば半導体装置の大規模化、烏集
積化に伴なう発熱量の増大に対してより効果的にパッケ
ージ内で半導体装置で発生する熱を吸収することができ
る。特に本発明は半導体装置の接合部を直接冷却するよ
うにしているため効率的である。本発明は高速演算素子
等の極めて大きな熱はを発生する半導体装置のパッケー
ジとして特に有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はそれぞれ本発明の一実施例による半導
体装置用パッケージの斜視図および平面図、第3図は同
半導体装置用パッケージに用いられる電子冷却素子の斜
視図、第4図は本発明の他の実施例による半導体装置用
パッケージの平面図である。 2・・・パッケージ本体、4・・・半導体装置、5・・
・放熱板、6・・・発熱部、7・・・電子冷却部、8・
・・吸熱部、9・・・ベッド、11・・・電源端子、1
2・・・設置端子、18・・・電子冷却素子、30・・
・n型半導体、32・・・n型半導体、34・・・吸熱
板。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体装置をマウントするマウント部と、吸熱部が
    このマウント部に接触している電子冷却手段とを備えた
    ことを特徴とする半導体装置用パッケージ。 2、半導体チップをマウントするマウント部と、吸熱部
    がこのマウント部に接触している電子冷却手段と、この
    電子冷却手段の放熱部に接触している放熱板とを備えた
    ことを特徴とする半導体装置用パッケージ。
JP20451784A 1984-09-29 1984-09-29 半導体装置用パツケ−ジ Pending JPS6182450A (ja)

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JP20451784A JPS6182450A (ja) 1984-09-29 1984-09-29 半導体装置用パツケ−ジ

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JP20451784A JPS6182450A (ja) 1984-09-29 1984-09-29 半導体装置用パツケ−ジ

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JPS6182450A true JPS6182450A (ja) 1986-04-26

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ID=16491841

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JP20451784A Pending JPS6182450A (ja) 1984-09-29 1984-09-29 半導体装置用パツケ−ジ

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JP (1) JPS6182450A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4855810A (en) * 1987-06-02 1989-08-08 Gelb Allan S Thermoelectric heat pump
JP2007198718A (ja) * 2005-12-27 2007-08-09 Toppan Printing Co Ltd 温度制御方法
JP2009231729A (ja) * 2008-03-25 2009-10-08 Nec Corp 半導体装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007198718A (ja) * 2005-12-27 2007-08-09 Toppan Printing Co Ltd 温度制御方法
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