JPS6177555A - スリツプ制御ブレーキシステム機能試験装置 - Google Patents
スリツプ制御ブレーキシステム機能試験装置Info
- Publication number
- JPS6177555A JPS6177555A JP60197862A JP19786285A JPS6177555A JP S6177555 A JPS6177555 A JP S6177555A JP 60197862 A JP60197862 A JP 60197862A JP 19786285 A JP19786285 A JP 19786285A JP S6177555 A JPS6177555 A JP S6177555A
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- JP
- Japan
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- brake system
- control unit
- shell
- plug
- slip control
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- Granted
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T8/00—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force
- B60T8/32—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration
- B60T8/88—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means
- B60T8/885—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means using electrical circuitry
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T2270/00—Further aspects of brake control systems not otherwise provided for
- B60T2270/40—Failsafe aspects of brake control systems
- B60T2270/406—Test-mode; Self-diagnosis
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術的分野］
この発明は、スリップ制御ブレーキシステム機能試験装
置に関する。この種の試験装置は、？！数の電気的測定
信号、例えば、複数のホイール回転信号を論理的に組合
わせて処理し電気的ブレーキング圧制御信号及び監視信
号を発生させるためのブレーキシステムの中央電子制御
装置に接続されるブレーキシステムの電気的信号ライン
及び制御ラインに対し、上記中央電子制御装置と置換し
てマルチプラグにより接続されており、また、この種の
試験装置は、手動制御ユニットと、この手動制囲ユニッ
トと上記マルチプラグとを接続する導線束とを有してい
る。
置に関する。この種の試験装置は、？！数の電気的測定
信号、例えば、複数のホイール回転信号を論理的に組合
わせて処理し電気的ブレーキング圧制御信号及び監視信
号を発生させるためのブレーキシステムの中央電子制御
装置に接続されるブレーキシステムの電気的信号ライン
及び制御ラインに対し、上記中央電子制御装置と置換し
てマルチプラグにより接続されており、また、この種の
試験装置は、手動制御ユニットと、この手動制囲ユニッ
トと上記マルチプラグとを接続する導線束とを有してい
る。
［発明の従来技術］
上述のタイプの試験装置は西独出願公開（ＤＥ−ＯＳ＞
第２８ ４１ ２１１号公報に公開されている。この公
知の試験装置が用いられる場合、マルチプラグの接続の
解放によって中央電子制御装置とセンサ及びブレーキン
グ圧制御弁に接続された信号ライン若しくは制御ライン
との間の接続が切断され、そして、この試験装置は制御
装置と置換して、側聞装置とブレーキシステムの他の部
品との間の電気回路に接続されている。
第２８ ４１ ２１１号公報に公開されている。この公
知の試験装置が用いられる場合、マルチプラグの接続の
解放によって中央電子制御装置とセンサ及びブレーキン
グ圧制御弁に接続された信号ライン若しくは制御ライン
との間の接続が切断され、そして、この試験装置は制御
装置と置換して、側聞装置とブレーキシステムの他の部
品との間の電気回路に接続されている。
制御装置と置換してブレーキシステムに接続されたこの
公知の試験装置は、信号発生器と、ブレーキング圧制御
弁を付勢する試験礪能を有した手動操作可能なスイッチ
機構とを含んでいる。この機能は数アンペアの比較的大
きい電流を所定の十分なパルス周波数でもって供給する
必要がある。
公知の試験装置は、信号発生器と、ブレーキング圧制御
弁を付勢する試験礪能を有した手動操作可能なスイッチ
機構とを含んでいる。この機能は数アンペアの比較的大
きい電流を所定の十分なパルス周波数でもって供給する
必要がある。
不利なことには、弁機能を試験するために必要とされる
試験装置においては、接触部及び半導体スイッチを回路
の遮断器として構成されなければならず、また、接触ケ
ーブルのワイヤの断面積を比較的に大きくする必要があ
る。そして、これにより、試験装置の容易な作動が損わ
れ、比較的高い製造コストが必要とされる。
試験装置においては、接触部及び半導体スイッチを回路
の遮断器として構成されなければならず、また、接触ケ
ーブルのワイヤの断面積を比較的に大きくする必要があ
る。そして、これにより、試験装置の容易な作動が損わ
れ、比較的高い製造コストが必要とされる。
［発明の目的］
この発明の目的は、上述の欠点を解消し、好適なコスト
で製造でき、かつ特に作動容易なスリップ制御ブレーキ
システム機能試験装置を提供することにある。
で製造でき、かつ特に作動容易なスリップ制御ブレーキ
システム機能試験装置を提供することにある。
［発明の概要及びその効果］
この発明の目的は、マルチプラグと手動制郊ユニットに
接続されている導線束との間には独立したシェルが配置
されており、このシェル内にはリレー、トタンジスタ、
サイリスタ、電気的増幅回路若しくはこれらと同様なも
のから成る電気的若しくは電子的スイッチ機構が配置さ
れており、このスイッチ１１構は試験作動をなすために
手動制御ユニットの信号によって切換作動される上述の
タイプのスリップ制菌ブレーキシステムの改良により、
達成される。
接続されている導線束との間には独立したシェルが配置
されており、このシェル内にはリレー、トタンジスタ、
サイリスタ、電気的増幅回路若しくはこれらと同様なも
のから成る電気的若しくは電子的スイッチ機構が配置さ
れており、このスイッチ１１構は試験作動をなすために
手動制御ユニットの信号によって切換作動される上述の
タイプのスリップ制菌ブレーキシステムの改良により、
達成される。
有利な実施例では、マルチプラグがシェルの一部として
一体的に構成される。しかしながら、マルチプラグとシ
ェルとの間の接続ケルプルを極めて短クシてマルチプラ
グにすぐ隣接してシェルを配置することも可能である。
一体的に構成される。しかしながら、マルチプラグとシ
ェルとの間の接続ケルプルを極めて短クシてマルチプラ
グにすぐ隣接してシェルを配置することも可能である。
この発明の有利な実施例によれば、シェル内にはスイッ
チ機構としての複数の半導体装置が設けられており、こ
れら半導体装置は熱伝導状態でシェルの壁部に接触して
いる。
チ機構としての複数の半導体装置が設けられており、こ
れら半導体装置は熱伝導状態でシェルの壁部に接触して
いる。
また、導線束内には、シェル内に配置されたスイッチ機
構を制御するための信号ラインと、マルチプラグの接触
ピンに直接接続された測定ラインとを含んでいることが
可能である。
構を制御するための信号ラインと、マルチプラグの接触
ピンに直接接続された測定ラインとを含んでいることが
可能である。
好適には、この発明のスリップ副葬ブレーキシステム機
能試験装置における手動制御ユニットは少なくとも１５
箇所のスイッチ位置を備えた試験ステップスイッチを有
している。所望の試験作動の数に応じては、スイッチ位
置の数を増加でき−る。
能試験装置における手動制御ユニットは少なくとも１５
箇所のスイッチ位置を備えた試験ステップスイッチを有
している。所望の試験作動の数に応じては、スイッチ位
置の数を増加でき−る。
複数の電気測定器具が設けられ、これら電気測定器具は
いかなる運動時でも切換作動されたネットワーク内にお
ける内部抵抗及び／又はポテンシャル差を測定するため
の手動制御ユニットに接読されている。これら電気測定
器具はこのような運動時での試験ステップスイッチのス
イッチ位置に応じている。
いかなる運動時でも切換作動されたネットワーク内にお
ける内部抵抗及び／又はポテンシャル差を測定するため
の手動制御ユニットに接読されている。これら電気測定
器具はこのような運動時での試験ステップスイッチのス
イッチ位置に応じている。
また、この発明の実施例では、シェル内には、複数のタ
イマ及び／又は複数のパルス発生器が付加的に設けられ
ており、これらタイマ及び／又はパルス発生器は、手動
制御ユニットで発生した試験信号のパルス時間、即ち、
パルス循環周波数を決定している。さらに、電流源、電
圧源、変圧器、安定回路またはその他同様なものとして
構成された電気的エネルギ源はシェル内に取付けられて
試験作動に必要としたエネルギを供給している。
イマ及び／又は複数のパルス発生器が付加的に設けられ
ており、これらタイマ及び／又はパルス発生器は、手動
制御ユニットで発生した試験信号のパルス時間、即ち、
パルス循環周波数を決定している。さらに、電流源、電
圧源、変圧器、安定回路またはその他同様なものとして
構成された電気的エネルギ源はシェル内に取付けられて
試験作動に必要としたエネルギを供給している。
最後に、この発明による機能試験装置には、記憶回路、
比較器、視覚上若しくは聴覚上信号器が設けられ、各試
験作動の毎には、所定値が実際値と自動的に比較され、
これらの偏差が信号化して出力される。
比較器、視覚上若しくは聴覚上信号器が設けられ、各試
験作動の毎には、所定値が実際値と自動的に比較され、
これらの偏差が信号化して出力される。
この発明の提案された試験装置の構造により、回路′ａ
断器及び／若しくはマルチプラグにすぐ隣接して配置さ
れたシェルの内部に必要な他の部品を配置することによ
り、この構造は簡単にでき。
断器及び／若しくはマルチプラグにすぐ隣接して配置さ
れたシェルの内部に必要な他の部品を配置することによ
り、この構造は簡単にでき。
また、この試験装置における重聞及び容積は減少できる
。接続ケーブルは比較的薄くて柔軟なケーブルで十分で
あり、また、このケーブルは比較的に長い。従って、こ
の試験装置の取扱いはかなり容易になる。なぜなら、こ
の発明の提案による試験装置のユーザーは手動制御ユニ
ットとともにほぼ容易に移動でき、例えば、ユーザーは
試験作動を運転席からなすことができるからである。従
って、多くの場合、第２の者若しくはその他の者の試験
作動の助けは省くことができる。
。接続ケーブルは比較的薄くて柔軟なケーブルで十分で
あり、また、このケーブルは比較的に長い。従って、こ
の試験装置の取扱いはかなり容易になる。なぜなら、こ
の発明の提案による試験装置のユーザーは手動制御ユニ
ットとともにほぼ容易に移動でき、例えば、ユーザーは
試験作動を運転席からなすことができるからである。従
って、多くの場合、第２の者若しくはその他の者の試験
作動の助けは省くことができる。
［実施例］
以下、第１図乃至第３図を参照しながら、この発明の一
実施例について説明する。
実施例について説明する。
第１図に示されるように、この発明によるスリップ制御
ブレーキシステム線面試験装置は制御パネル、即ち、手
動制御ユニット１と、マルチプラグ２と、シェル３とか
ら実質的に成っている。接続ケーブルとして機能してい
る導線束４によってシェル３は手動制御ユニット１に接
続されている。
ブレーキシステム線面試験装置は制御パネル、即ち、手
動制御ユニット１と、マルチプラグ２と、シェル３とか
ら実質的に成っている。接続ケーブルとして機能してい
る導線束４によってシェル３は手動制御ユニット１に接
続されている。
例えば、この実施例では、マルチプラグ２とシェル３と
は１（ｌＩのユニットとして構成するように組立てられ
ているので、プラグ２とシェル３との間の接続ケーブル
（この接続ケーブルを介しては全ての切換試験電流が流
れなければならない）は不要である。しかしながら、所
定の状況下では、短い接続ケーブルによってマルチプラ
グ２とシェル３とは接続してされてもよく、付加的なシ
ェル３がマルチプラグ２から分離して構成されてもよい
。
は１（ｌＩのユニットとして構成するように組立てられ
ているので、プラグ２とシェル３との間の接続ケーブル
（この接続ケーブルを介しては全ての切換試験電流が流
れなければならない）は不要である。しかしながら、所
定の状況下では、短い接続ケーブルによってマルチプラ
グ２とシェル３とは接続してされてもよく、付加的なシ
ェル３がマルチプラグ２から分離して構成されてもよい
。
マルチプラグ２と組合わされたシェル３は複数のリレー
並びに／又は、第２図中に概略的に示される半導体スイ
ッチ５、増幅器６及びその他の電子回路７を有しており
、これら部材は低いエネルギ制御によってスイッチオン
されるか、スイッチオフされるか、或は高いパワー負荷
で他のラインに切換られる。
並びに／又は、第２図中に概略的に示される半導体スイ
ッチ５、増幅器６及びその他の電子回路７を有しており
、これら部材は低いエネルギ制御によってスイッチオン
されるか、スイッチオフされるか、或は高いパワー負荷
で他のラインに切換られる。
また、このような半導体回路によって制御信号は自動的
な試験作動、記録結果及び同様なものを生起さす。
な試験作動、記録結果及び同様なものを生起さす。
第２図には、マルチプラグ２の対応部、即ち、ソケット
１ｏが示されており、このソケット１０は接触ピン８を
収納するための雌状接続部９を有している。ブレーキが
正常な場合、ソケット１０はマルチプラグ２に対応した
プラグ（図示しない）を介してブレーキシステムの制御
１１１装置（図示しない）に接続されている。このスリ
ップ制御ブレーキシステムの機能を検査若しくは試験を
するため、ブレーキシステムと制御装置との間のプラグ
での接続が分離しており、そして、制御装置の代わりに
、マルチプラグ２が雌状接続部９に挿入される。
１ｏが示されており、このソケット１０は接触ピン８を
収納するための雌状接続部９を有している。ブレーキが
正常な場合、ソケット１０はマルチプラグ２に対応した
プラグ（図示しない）を介してブレーキシステムの制御
１１１装置（図示しない）に接続されている。このスリ
ップ制御ブレーキシステムの機能を検査若しくは試験を
するため、ブレーキシステムと制御装置との間のプラグ
での接続が分離しており、そして、制御装置の代わりに
、マルチプラグ２が雌状接続部９に挿入される。
シェル３の内部のスイッチ機構、即ち、諸口路５．６．
７に接続されてシェル３から導いかれている制御ライン
Ａ３からＡ７は信号電流を流すことのみに割当てられて
いる。これら制御ラインＡ３からＡ７はいくつかの測定
ラインく例えば、Ａ１．Ａ２．Ａ８．Ａ９）と束ねられ
、これら測定ラインはマルチプラグ２のピンに直接接続
されている。接続ケーブル、即ち、導線束４内の全ての
ラインＡ１からＡＩＯには手動制御ユニット１が整合し
て接続されている。
７に接続されてシェル３から導いかれている制御ライン
Ａ３からＡ７は信号電流を流すことのみに割当てられて
いる。これら制御ラインＡ３からＡ７はいくつかの測定
ラインく例えば、Ａ１．Ａ２．Ａ８．Ａ９）と束ねられ
、これら測定ラインはマルチプラグ２のピンに直接接続
されている。接続ケーブル、即ち、導線束４内の全ての
ラインＡ１からＡＩＯには手動制御ユニット１が整合し
て接続されている。
次に、第３図を比較しながら、第１図に示された一例と
してのこの発明の一実施例について説明する。図示され
るように、例えば、１４個のスイッチ位置く図示しない
）を有した試験ステップスイッチ１１はざらに多様な試
験位置を設定できる。
してのこの発明の一実施例について説明する。図示され
るように、例えば、１４個のスイッチ位置く図示しない
）を有した試験ステップスイッチ１１はざらに多様な試
験位置を設定できる。
接触子Ｋ１．に２．に３は３つのレベルＥ１゜Ｅ２．Ｅ
３に積層されて段階的に配置されており、これらレベル
Ｅｌ、Ｅ２．Ｅ３は第３図に回路図として示されている
。スイッチ１１のステップ毎の調整のため、制御ノブ１
２を回転させることにより、接触器に１．に２．に３は
共通の回転軸を介して異なったスイッチ位置に設定され
る。従って、接触ディスクＥ１．Ｅ２．Ｅ３のリムでの
接触の配線により決定された異なる信号路が各段階で選
定される。
３に積層されて段階的に配置されており、これらレベル
Ｅｌ、Ｅ２．Ｅ３は第３図に回路図として示されている
。スイッチ１１のステップ毎の調整のため、制御ノブ１
２を回転させることにより、接触器に１．に２．に３は
共通の回転軸を介して異なったスイッチ位置に設定され
る。従って、接触ディスクＥ１．Ｅ２．Ｅ３のリムでの
接触の配線により決定された異なる信号路が各段階で選
定される。
試験ステップスイッチ１１のスイッチ位置、接続された
ネットワークの内部抵抗又は適用電圧若しくは電圧差に
応じて検査可能な多様な測定器具への接続のため、操作
制御ユニット１の接続端子Ｍ １ 、 Ｍ ２が設けら
れている。外部エネルギ源、例えば、自動車用バッテリ
ーが接続部へ〇を介して接続されているか、または、シ
ェル３若しくは自動車内に配置されたエネルギ源が導線
束４を介して接続できるので、試験ステップスイッチ１
１が予め設定され、かつブツシュスイッチ１３が作動さ
れると、制御信号は即座に接続されたネットワークに送
出できる。このような信号により、例えば、試験作動が
生起されるか、または特定なリレーがトリップされる。
ネットワークの内部抵抗又は適用電圧若しくは電圧差に
応じて検査可能な多様な測定器具への接続のため、操作
制御ユニット１の接続端子Ｍ １ 、 Ｍ ２が設けら
れている。外部エネルギ源、例えば、自動車用バッテリ
ーが接続部へ〇を介して接続されているか、または、シ
ェル３若しくは自動車内に配置されたエネルギ源が導線
束４を介して接続できるので、試験ステップスイッチ１
１が予め設定され、かつブツシュスイッチ１３が作動さ
れると、制御信号は即座に接続されたネットワークに送
出できる。このような信号により、例えば、試験作動が
生起されるか、または特定なリレーがトリップされる。
また、第１図に示されるように、手動制御ユニット１の
フロントプレートは信号ランプ１４゜１５を有しており
、例えば、この試験装置若しくは車のイグニッションが
スイッチオンの状態にあると、制御信号の発信等を信号
ランプ１４．１５により視認できる。
フロントプレートは信号ランプ１４゜１５を有しており
、例えば、この試験装置若しくは車のイグニッションが
スイッチオンの状態にあると、制御信号の発信等を信号
ランプ１４．１５により視認できる。
このスリップ制御ブレーキシステムの機能を検査するた
め、器具を測定するが、又は接続端子Ｍ１．Ｍ２を介し
て試験ステップスイッチ１１の各々の位置に接続する範
囲を測定し、かつ完全なブレーキシステムの場合の測定
値と比較し、これにより、判定することが容易である。
め、器具を測定するが、又は接続端子Ｍ１．Ｍ２を介し
て試験ステップスイッチ１１の各々の位置に接続する範
囲を測定し、かつ完全なブレーキシステムの場合の測定
値と比較し、これにより、判定することが容易である。
この場合、試験報告も表示され、この表示位置ではブツ
シュスイッチ１３が作動され、このため、完全か若しく
は不完全かのブレーキシステムであることが表示される
。
シュスイッチ１３が作動され、このため、完全か若しく
は不完全かのブレーキシステムであることが表示される
。
さらなる試験作動の迅速化と単純化のため、この発明の
第２の実施例が提案されており、この第２の実施例では
、実際値とスイッチ１１の各々のスイッチ位置での設定
値との比較を電気的になすことができる。このため、シ
ェル３若しくは操作制御ユニット１内には、制御回路を
組合わした適正な記憶回路が制ηＤ回路を設ける必要が
ある。そして、各実際値と設定値との比較も視覚的若し
くは聴覚的に認識することができるっまた、多数の変形
例が、所望の試験範囲と、この試験装置のユーザーが所
望する要件とに応じて実現できる。
第２の実施例が提案されており、この第２の実施例では
、実際値とスイッチ１１の各々のスイッチ位置での設定
値との比較を電気的になすことができる。このため、シ
ェル３若しくは操作制御ユニット１内には、制御回路を
組合わした適正な記憶回路が制ηＤ回路を設ける必要が
ある。そして、各実際値と設定値との比較も視覚的若し
くは聴覚的に認識することができるっまた、多数の変形
例が、所望の試験範囲と、この試験装置のユーザーが所
望する要件とに応じて実現できる。
第１図は、この発明の一実施例によるスリップ列間ブレ
ーキシステム別面試験装置の概略図であり、 第２図は、第１図に示されたマルチプラグの拡大断面図
であり、 第３図は、第１図に示された手動制御ユニットのステッ
プスイッチの基本的な回路図である。 １・・・手動制御ユニット、２・・・マルチプラグ、３
・・・シェル、４・・・導線束、５・・・半導体スイッ
チ、６・・・スイッチ、７・・・電子回路、８・・・接
触ピン、９・・・雌状接続部、１０・・・ソケット、１
１・・・試験ステップスイッチ、１２・・・制御ノブ、
１３・・・プッシュスインチ、１４．１５・・・信号ラ
ンプ、Ａ１．Ａ２゜Ａ８．Ａ９・・・測定ライン、Ａ３
からＡ７・・・制御ライン、Ａ１からＡ１２・・・接続
部、Ｅｌ、Ｅ２゜Ｅ３・・・接触ディスク、Ｋ１．に２
．に３・・・接触子、Ｍｌ、Ｍ２・・・接続端子。
ーキシステム別面試験装置の概略図であり、 第２図は、第１図に示されたマルチプラグの拡大断面図
であり、 第３図は、第１図に示された手動制御ユニットのステッ
プスイッチの基本的な回路図である。 １・・・手動制御ユニット、２・・・マルチプラグ、３
・・・シェル、４・・・導線束、５・・・半導体スイッ
チ、６・・・スイッチ、７・・・電子回路、８・・・接
触ピン、９・・・雌状接続部、１０・・・ソケット、１
１・・・試験ステップスイッチ、１２・・・制御ノブ、
１３・・・プッシュスインチ、１４．１５・・・信号ラ
ンプ、Ａ１．Ａ２゜Ａ８．Ａ９・・・測定ライン、Ａ３
からＡ７・・・制御ライン、Ａ１からＡ１２・・・接続
部、Ｅｌ、Ｅ２゜Ｅ３・・・接触ディスク、Ｋ１．に２
．に３・・・接触子、Ｍｌ、Ｍ２・・・接続端子。
Claims (9)
- （１）複数の電気的測定信号、例えば、複数のホィール
回転信号を論理的に組合わせて処理し電気的ブレーキン
グ圧制御信号及び監視信号を発生させるためのブレーキ
システムの中央電子制御装置に接続されるブレーキシス
テムの電気的信号ライン及び制御ラインに対し、上記中
央電子制御装置と置換してマルチプラグにより接続され
てなり、また、手動制御ユニットと、この手動制御ユニ
ットと上記マルチプラグとを接続する導線束とを有して
なるスリップ制御ブレーキシステム機能試験装置におい
て、 上記マルチプラグと手動制御ユニットに接続されている
導線束との間には独立したシェルが配置されており、こ
のシェル内にはリレー、トタンジスタ、サイリスタ、電
気的増幅回路若しくはこれらと同様なものから成る複数
の電気的若しくは電子的なスイッチ機構が配置され、こ
のスイッチ機構は、試験作動をなすために上記手動制御
ユニットからの信号によって切換作動されることを特徴
とするスリップ制御ブレーキシステム機能試験装置。 - （２）上記マルチプラグは上記シェルの一部として一体
的に構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
１項に記載のスリップ制御ブレーキシステム機能試験装
置。 - （３）上記シェル内には、上記シェルの壁に熱伝導状態
で接触したスイッチ機構としての複数の半導体装置が設
けられていることを特徴とする特許請求の範囲第１項ま
たは第２項に記載のスリップ制御ブレーキシステム機能
試験装置。 - （４）上記導線束は、上記シェル内に配置されたスイッ
チ機構を制御するための信号ラインと、上記マルチプラ
グの接触ピンに直接接続された測定ラインとを含んでい
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第３項
のいずれかの１項に記載のスリップ制御ブレーキシステ
ム機能試験装置。 - （５）上記手動制御ユニットは、少なくとも１５箇所の
スイッチ位置を備えた試験ステップスイッチを有してい
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第４項
のいずれかの１項に記載のスリップ制御ブレーキシステ
ム機能試験装置。 - （６）上記手動制御ユニットには、１個以上の電気的測
定装置が接続して設けられており、この電気的測定装置
は上記試験ステップスイッチのスイッチ位置に応じてい
かなる運動時での切換作動されたネットワーク内の内部
抵抗及び／又はポーテンシャル差を決定できることを特
徴とする特許請求の範囲第５項に記載のスリップ制御ブ
レーキシステム機能試験装置。 - （７）上記制御シェル内には、タイマ及び／又はパルス
発生器が付加して設けられ、これらタイマ及び／又はパ
ルス発生器は手動制御ユニットで発生した試験信号のパ
ルス期間若しくはパルス循環周波数を決定していること
を特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第６項のいず
れかの１項に記載のスリップ制御ブレーキシステム機能
試験装置。 - （８）上記制御シェル内には、電流源、電圧源、変圧器
、安定回路又はその他同様なものとして構成される電気
的エネルギ源が、試験作動に必要とされるエネルギを供
給するために設けられていることを特徴とする特許請求
の範囲第１項ないし第７項のいずれかの１項に記載のス
リップ制御ブレーキシステム機能試験装置。 - （９）記憶回路、比較器、視覚上若しくは聴覚上の信号
発生器が設けられ、また、各試験作動においては、設定
値は実際値と自動的に比較され、設定値と実際値との偏
差が信号化して出力できることを特徴とする特許請求の
範囲第１項ないし第８項のいずれかの１項に記載のスリ
ップ制御ブレーキシステム機能試験装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3433254A DE3433254C2 (de) | 1984-09-11 | 1984-09-11 | Vorrichtung zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer schlupfgeregelten Bremsanlage |
| DE3433254.5 | 1984-09-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6177555A true JPS6177555A (ja) | 1986-04-21 |
| JPH0698920B2 JPH0698920B2 (ja) | 1994-12-07 |
Family
ID=6245076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60197862A Expired - Lifetime JPH0698920B2 (ja) | 1984-09-11 | 1985-09-09 | スリツプ制御ブレーキシステム機能試験装置 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4699001A (ja) |
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