JPH0698920B2 - スリツプ制御ブレーキシステム機能試験装置 - Google Patents
スリツプ制御ブレーキシステム機能試験装置Info
- Publication number
- JPH0698920B2 JPH0698920B2 JP60197862A JP19786285A JPH0698920B2 JP H0698920 B2 JPH0698920 B2 JP H0698920B2 JP 60197862 A JP60197862 A JP 60197862A JP 19786285 A JP19786285 A JP 19786285A JP H0698920 B2 JPH0698920 B2 JP H0698920B2
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- brake system
- plug
- shell
- control unit
- slip control
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T8/00—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force
- B60T8/32—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration
- B60T8/88—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means
- B60T8/885—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means using electrical circuitry
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T2270/00—Further aspects of brake control systems not otherwise provided for
- B60T2270/40—Failsafe aspects of brake control systems
- B60T2270/406—Test-mode; Self-diagnosis
Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の技術的分野］ ［産業上の利用分野］ この発明は、例えば、アンチスキッドブレーキシステム
の流体圧バルブに検査信号を送って、このシステムの機
能を試験するための装置に関する。
の流体圧バルブに検査信号を送って、このシステムの機
能を試験するための装置に関する。
［従来の技術］ 上述のタイプの試験装置は西独出願公開（DE−OS）第28
41 211号公報に公開されている。一般にはアンチス
キッドブレーキシステムは、これりバルブに接続され
た、中央電子制御装置により制御される。そして、バル
ブを試験するときには、中央電子制御装置に代えて試験
装置をバルブに接続して、この試験装置から種々の測定
信号をブレーキシステムに送っている。このために、バ
ルブのソケットと結合される中央制御装置のプラグとお
なじようなプラグが試験装置に設けられている。そし
て、上記従来の試験装置においては、試験のためにバル
ブを駆動するときには、試験装置に設けられたスイッチ
や、パルス発生器、増幅器等の電子ユニットにより、試
験装置のプラグに接続されたケーブルを介して、比較的
大きい電流（各バルブに対して約５ないし10A）をバル
ブに流す必要がある。
41 211号公報に公開されている。一般にはアンチス
キッドブレーキシステムは、これりバルブに接続され
た、中央電子制御装置により制御される。そして、バル
ブを試験するときには、中央電子制御装置に代えて試験
装置をバルブに接続して、この試験装置から種々の測定
信号をブレーキシステムに送っている。このために、バ
ルブのソケットと結合される中央制御装置のプラグとお
なじようなプラグが試験装置に設けられている。そし
て、上記従来の試験装置においては、試験のためにバル
ブを駆動するときには、試験装置に設けられたスイッチ
や、パルス発生器、増幅器等の電子ユニットにより、試
験装置のプラグに接続されたケーブルを介して、比較的
大きい電流（各バルブに対して約５ないし10A）をバル
ブに流す必要がある。
［発明の解決しようとする課題］ このために、このケーブルは、比較的大電力用のものを
使用しなければならないので、高価であり、また取扱い
が面倒である。
使用しなければならないので、高価であり、また取扱い
が面倒である。
従って、この発明の目的は、大電力用のケーブルを必要
とせず、安価で取扱いの容易なスリップ制御ブレーキシ
ステム機能試験装置を提供することである。
とせず、安価で取扱いの容易なスリップ制御ブレーキシ
ステム機能試験装置を提供することである。
［課題を解決するための手段］ この発明のスリップ制御ブレーキシステム機能試験装置
は、複数の電気測定信号を論理的に組合わせて処理して
電気的ブレーキング圧制御信号を発生させ、スリップ制
御ブレーキシステムの電気信号ラインを介してスリップ
制御ブレーキシステムにこの制御信号を送る中央電子制
御装置に代えて、マルチプラグにより、前記ブレーキシ
ステムの電気信号ラインに電気的に接続され、手動制御
ユニットと、この手動制御ユニットと前記マルチプラグ
とを接続する導線束とを具備する、スリップ制御ブレー
キシステム機能試験装置において、 前記マルチプラグと、手動制御ユニットに接続された前
記導線束との間には、手動制御ユニットに対して機械的
に分離したシェルが設けられており、このシェル内には
複数の電気スイッチ機構が配置されており、これら電気
スイッチ機構は前記電気信号ラインと導線束との間に電
気的に接続されて、試験動作を果たすために前記手動制
御ユニットからの信号により切替作動されることを特徴
とする。
は、複数の電気測定信号を論理的に組合わせて処理して
電気的ブレーキング圧制御信号を発生させ、スリップ制
御ブレーキシステムの電気信号ラインを介してスリップ
制御ブレーキシステムにこの制御信号を送る中央電子制
御装置に代えて、マルチプラグにより、前記ブレーキシ
ステムの電気信号ラインに電気的に接続され、手動制御
ユニットと、この手動制御ユニットと前記マルチプラグ
とを接続する導線束とを具備する、スリップ制御ブレー
キシステム機能試験装置において、 前記マルチプラグと、手動制御ユニットに接続された前
記導線束との間には、手動制御ユニットに対して機械的
に分離したシェルが設けられており、このシェル内には
複数の電気スイッチ機構が配置されており、これら電気
スイッチ機構は前記電気信号ラインと導線束との間に電
気的に接続されて、試験動作を果たすために前記手動制
御ユニットからの信号により切替作動されることを特徴
とする。
［作用］ 上記構成の試験装置で、スリップ制御ブレーキシステム
を試験する場合には、まず、中央電子制御装置において
は、ブレーキシステムの電気信号ラインからこの装置制
御装置を電気的に取外し（実施例ではブレーキシステム
のソケット10から電子制御装置のプラグを外す）、代わ
って試験装置のマルチプラグをブレーキシステムの電気
信号ラインに電気的に接続する。この状態で手動制御ユ
ニットから試験動作を果たすための信号を導線束を介し
てシェル内の電気スイッチ機構に送り、このスイッチ機
構の切替えを果たす。このスイッチの切替えにより、マ
ルチプラグを介して試験信号がブレーキシステムに送ら
れて試験される。
を試験する場合には、まず、中央電子制御装置において
は、ブレーキシステムの電気信号ラインからこの装置制
御装置を電気的に取外し（実施例ではブレーキシステム
のソケット10から電子制御装置のプラグを外す）、代わ
って試験装置のマルチプラグをブレーキシステムの電気
信号ラインに電気的に接続する。この状態で手動制御ユ
ニットから試験動作を果たすための信号を導線束を介し
てシェル内の電気スイッチ機構に送り、このスイッチ機
構の切替えを果たす。このスイッチの切替えにより、マ
ルチプラグを介して試験信号がブレーキシステムに送ら
れて試験される。
好ましい実施例では、マルチプラグがシェルの一部とし
て一体的に構成されている。しかしながら、マルチプラ
グとシェルとの間の接続ケーブルを極めて短くしてマル
チプラグにすぐ隣設してシェルを配置することも可能で
ある。
て一体的に構成されている。しかしながら、マルチプラ
グとシェルとの間の接続ケーブルを極めて短くしてマル
チプラグにすぐ隣設してシェルを配置することも可能で
ある。
好ましい実施例によれば、シェル内にはスイッチ機構と
しての複数の半導体装置が設けられており、これら半導
体装置は熱伝導状態でシェルの壁部に接触している。
しての複数の半導体装置が設けられており、これら半導
体装置は熱伝導状態でシェルの壁部に接触している。
また、導線束内には、シェル内に配置されたスイッチ機
構を制御するための信号ラインと、マルチプラグの接触
ピンに直接接続された測定ラインとを含んでいることが
可能である。
構を制御するための信号ラインと、マルチプラグの接触
ピンに直接接続された測定ラインとを含んでいることが
可能である。
好適には、この発明のスリップ制御ブレーキシステム機
能試験装置における手動制御ユニットは少なくとも14の
スイッチ位置を備えた試験ステップスイッチを有してい
る。所望の試験作動の数に応じては、スイッチ位置の数
を増加できる。
能試験装置における手動制御ユニットは少なくとも14の
スイッチ位置を備えた試験ステップスイッチを有してい
る。所望の試験作動の数に応じては、スイッチ位置の数
を増加できる。
複数の電気測定器具が設けられ、これら電気測定器具は
いかなる運動時でも切換作動されたネットワーク内にお
ける内部抵抗及び／又はポテンシャル差を測定するため
の手動制御ユニットに接続されている。これら電気測定
器具はこのような運動時での試験ステップスイッチのス
イッチ位置に応じている。
いかなる運動時でも切換作動されたネットワーク内にお
ける内部抵抗及び／又はポテンシャル差を測定するため
の手動制御ユニットに接続されている。これら電気測定
器具はこのような運動時での試験ステップスイッチのス
イッチ位置に応じている。
また、この発明の実施例では、シェル内には、複数のタ
イマ及び／又は複数のパルス発生器が不可的に設けられ
ており、これらタイマ及び／又はパルス発生器は、手動
制御ユニットで発生した試験信号のパルス時間、即ち、
パルス循環周波数を決定している。さらに、電流源、電
圧源、変圧器、安定回路またはその他同様なものとして
構成された電気的エネルギ源はシェル内に取付けられて
試験作動に必要としたエネルギを供給している。
イマ及び／又は複数のパルス発生器が不可的に設けられ
ており、これらタイマ及び／又はパルス発生器は、手動
制御ユニットで発生した試験信号のパルス時間、即ち、
パルス循環周波数を決定している。さらに、電流源、電
圧源、変圧器、安定回路またはその他同様なものとして
構成された電気的エネルギ源はシェル内に取付けられて
試験作動に必要としたエネルギを供給している。
最後に、この発明による機能試験装置には、記憶回路、
比較器、視覚上若しくは聴覚上信号発生器が設けられ、
各試験作動の毎には、所定値が実測値と自動的に比較さ
れ、これらの偏差が信号化して出力されている。
比較器、視覚上若しくは聴覚上信号発生器が設けられ、
各試験作動の毎には、所定値が実測値と自動的に比較さ
れ、これらの偏差が信号化して出力されている。
この発明の提案された試験装置の構造により、回路遮断
器及び／若しくはマルチプラグにすぐ隣設して配置され
たシェルの内部に必要な他の部品を配置することによ
り、この構造は簡単にでき、また、この試験装置におけ
る重量及び容積は減少できる。接続ケーブルは比較的薄
くて柔軟なケーブルで十分であり、また、このケーブル
は比較的に長い。従って、この試験装置の取扱いはかな
り容易になる。なぜなら、この発明の提案による試験装
置のユーザーは手動制御ユニットとともにほぼ容易に移
動でき、例えば、ユーザーは試験作動を運転席からなす
ことができるからである。従って、多くの場合、第２の
者若しくはその他の者の試験作動の助けは省くことがで
きる。
器及び／若しくはマルチプラグにすぐ隣設して配置され
たシェルの内部に必要な他の部品を配置することによ
り、この構造は簡単にでき、また、この試験装置におけ
る重量及び容積は減少できる。接続ケーブルは比較的薄
くて柔軟なケーブルで十分であり、また、このケーブル
は比較的に長い。従って、この試験装置の取扱いはかな
り容易になる。なぜなら、この発明の提案による試験装
置のユーザーは手動制御ユニットとともにほぼ容易に移
動でき、例えば、ユーザーは試験作動を運転席からなす
ことができるからである。従って、多くの場合、第２の
者若しくはその他の者の試験作動の助けは省くことがで
きる。
［実施例］ 以下、第１図乃至第３図を参照しながら、この発明の一
実施例について説明する。
実施例について説明する。
第１図に示されるように、この発明によるスリップ制御
ブレーキシステム機能試験装置は、制御パネル、即ち、
手動制御ユニット１と、マルチプラグ２と、シェル３と
から実質的になっている。接続ケーブルとして機能して
いる導線束４によってシェル３は手動制御ユニット１に
接続されている。例えば、この実施例では、マルチプラ
グ２とシェル３とは１個のユニットとして構成するよう
に組立てられているので、プラグ２とシェル３との間の
接続ケーブル（この接続ケーブルを介しては全ての切換
試験電流が流れなければならない）は不要である。しか
しがら、所定の状況下では、短い接続ケーブルによって
マルチプラグ２とシェル３とは接続されてもよく、付加
的にシェル３がマルチプラグ２から分離して構成されて
もよい。
ブレーキシステム機能試験装置は、制御パネル、即ち、
手動制御ユニット１と、マルチプラグ２と、シェル３と
から実質的になっている。接続ケーブルとして機能して
いる導線束４によってシェル３は手動制御ユニット１に
接続されている。例えば、この実施例では、マルチプラ
グ２とシェル３とは１個のユニットとして構成するよう
に組立てられているので、プラグ２とシェル３との間の
接続ケーブル（この接続ケーブルを介しては全ての切換
試験電流が流れなければならない）は不要である。しか
しがら、所定の状況下では、短い接続ケーブルによって
マルチプラグ２とシェル３とは接続されてもよく、付加
的にシェル３がマルチプラグ２から分離して構成されて
もよい。
マルチプラグ２と組合わされたシェル３は複数のリレー
並びに／又は、第２図中に概略的に示される半導体スイ
ッチ５、増幅器６及びその他の電子回路７を有してお
り、これら部材は低いエネルギ制御によってスイッチオ
ンされるか、スイッチオフされるか、或は高いパワー負
荷で他のラインに切換えられる。他の電子回路７とし
て、例えば複数のタイマ及び／又は複数のパルス発生器
が付加的に設けられており、これらタイマー及び／又は
パルス発生器は、手動制御ユニットで発生した試験信号
のパルス時間、即ち、パルス循環周波数を決定してい
る。さらに、電流源、電圧源、変圧器、安定回路または
その他同様なものとして構成された電気的エネルギ源を
シェル内に設けて、試験作動に必要なエネルギを供給す
るようにしても良い。
並びに／又は、第２図中に概略的に示される半導体スイ
ッチ５、増幅器６及びその他の電子回路７を有してお
り、これら部材は低いエネルギ制御によってスイッチオ
ンされるか、スイッチオフされるか、或は高いパワー負
荷で他のラインに切換えられる。他の電子回路７とし
て、例えば複数のタイマ及び／又は複数のパルス発生器
が付加的に設けられており、これらタイマー及び／又は
パルス発生器は、手動制御ユニットで発生した試験信号
のパルス時間、即ち、パルス循環周波数を決定してい
る。さらに、電流源、電圧源、変圧器、安定回路または
その他同様なものとして構成された電気的エネルギ源を
シェル内に設けて、試験作動に必要なエネルギを供給す
るようにしても良い。
また、このような半導体回路によって制御信号は自動的
な試験作動、記録結果及び同様なものを生起さす。
な試験作動、記録結果及び同様なものを生起さす。
第２図には、マルチプラグ２の対応部、即ち、スリップ
制御ブレーキシステムの電気信号ラインに接続されたソ
ケット10が示されており、このソケット10は接続ピン８
を収納するための雌状接続部９を有している。ブレーキ
が正常な場合、ソケット10はマルチプラグ２に対応した
プラグ（図示しない）に結合され、かくしてスリップ制
御ブレーキシステムは中央電子制御装置（図示しない）
に接続されている。
制御ブレーキシステムの電気信号ラインに接続されたソ
ケット10が示されており、このソケット10は接続ピン８
を収納するための雌状接続部９を有している。ブレーキ
が正常な場合、ソケット10はマルチプラグ２に対応した
プラグ（図示しない）に結合され、かくしてスリップ制
御ブレーキシステムは中央電子制御装置（図示しない）
に接続されている。
一方、このスリップ制御ブレーキシステムの機能を検査
若しくは試験する場合には、ブレーキシステムのソケッ
トから制御装置のプラグを抜いて、制御装置の代わり
に、マルチプラグ２をソケット10に接続する。このとき
には、接続ピン８が雌状接続部９に挿入されて両者の電
気的接続がはたされる。
若しくは試験する場合には、ブレーキシステムのソケッ
トから制御装置のプラグを抜いて、制御装置の代わり
に、マルチプラグ２をソケット10に接続する。このとき
には、接続ピン８が雌状接続部９に挿入されて両者の電
気的接続がはたされる。
前記導線束４は、この実施例では12本の制御ラインA1〜
A12により構成されている。シェル３の内部のスイッチ
機構、即ち、諸回路5,6,7に接続されてシェル３から導
びかれている制御ラインA3〜A7は信号電流を流すことの
みに割当てられている。これら制御ラインA3〜A7はいく
つかの測定ライン（例えば、A1,A2,A8,A9）と束ねら
れ、これら測定ラインはマルチプラグ２のピンに直接接
続されている。接続ケーブル、即ち、導線束４内の全て
のラインA1からA12の一端は手動制御ユニット１の所定
の端子（第３図で、ラインA1〜A12と同じ符号を付して
ある所の端子）に夫々接続されている。
A12により構成されている。シェル３の内部のスイッチ
機構、即ち、諸回路5,6,7に接続されてシェル３から導
びかれている制御ラインA3〜A7は信号電流を流すことの
みに割当てられている。これら制御ラインA3〜A7はいく
つかの測定ライン（例えば、A1,A2,A8,A9）と束ねら
れ、これら測定ラインはマルチプラグ２のピンに直接接
続されている。接続ケーブル、即ち、導線束４内の全て
のラインA1からA12の一端は手動制御ユニット１の所定
の端子（第３図で、ラインA1〜A12と同じ符号を付して
ある所の端子）に夫々接続されている。
次に、第３図を比較しながら、第１図に示された一例と
してのこの発明の一実施例について説明する。図示され
るように、例えば、14のスイッチ位置（図示しない）を
有した試験ステップスイッチ11は種々の試験位置を設定
するのに適している。
してのこの発明の一実施例について説明する。図示され
るように、例えば、14のスイッチ位置（図示しない）を
有した試験ステップスイッチ11は種々の試験位置を設定
するのに適している。
スイッチ11を順次調節するための制御ノブ12を所定の位
置に回転させることにより、３つの接触円板E1,E2,E3内
で、互いに上下するように配設された接触子K1,K2,K3
（第３図では、解り易くするために上下ではなく紙面に
沿って並べられている）は、共通の回転シャフトを介し
て、異なるスイッチ位置に設定される。この結果、接触
円板E1,E2,E3のリムでの接続により決定される異なる信
号路（配線）が制御ノブの各回転位置により設定され
る。
置に回転させることにより、３つの接触円板E1,E2,E3内
で、互いに上下するように配設された接触子K1,K2,K3
（第３図では、解り易くするために上下ではなく紙面に
沿って並べられている）は、共通の回転シャフトを介し
て、異なるスイッチ位置に設定される。この結果、接触
円板E1,E2,E3のリムでの接続により決定される異なる信
号路（配線）が制御ノブの各回転位置により設定され
る。
このような試験ステップスイッチ11のスイッチ位置に応
じて、接続されたネットワークの内部抵抗又は適用電圧
若しくは電圧差を検査可能な種々の測定器具を接続する
ために、操作制御ユニット１の接続端子M1,M2が設けら
れている。また、外部エネルギ源、例えば、自動車用バ
ッテリーが接続部A9に接続されるか、または、シェル３
若しくは自動車内に配置されたエネルギ源が導線束４を
介して接続される。この結果、試験ステップスイッチ11
を所定の位置に設定し、かつプッシュスイッチ13を駆動
すると、制御信号は即座に接続されたネットワークに送
られ得る。このような信号により、例えば、試験動作が
始動されたり、特定のリレーが駆動される。
じて、接続されたネットワークの内部抵抗又は適用電圧
若しくは電圧差を検査可能な種々の測定器具を接続する
ために、操作制御ユニット１の接続端子M1,M2が設けら
れている。また、外部エネルギ源、例えば、自動車用バ
ッテリーが接続部A9に接続されるか、または、シェル３
若しくは自動車内に配置されたエネルギ源が導線束４を
介して接続される。この結果、試験ステップスイッチ11
を所定の位置に設定し、かつプッシュスイッチ13を駆動
すると、制御信号は即座に接続されたネットワークに送
られ得る。このような信号により、例えば、試験動作が
始動されたり、特定のリレーが駆動される。
また、第１図に示されるように、手動制御ユニット１の
フロントプレートには信号ランプ14,15が設けられてお
り、例えば、この試験装置若しくは車のイグニッション
がスイッチオンの状態にあると、制御信号の発信等を信
号ランプ14,15により視認できる。
フロントプレートには信号ランプ14,15が設けられてお
り、例えば、この試験装置若しくは車のイグニッション
がスイッチオンの状態にあると、制御信号の発信等を信
号ランプ14,15により視認できる。
この試験装置でスリップ制御ブレーキシステムの機能を
検査する場合には、例えば、まず測定器具を接続続端子
M1,M2に接続し、スイッチ11を操作して（制御ノブ12を
所定の位置に回動させて）所定の回路を設定し、最後に
プッシュスイッチ13を押す。この結果、設定された回路
に従った信号がシエル３内の電気スイッチ機構に供給さ
れ、このスイッチ機構を駆動し、このスイッチ機構を介
して測定信号がブレーキシステムの測定部材、例えば流
体圧バルブに送られる。そして、測定結果は、測定装置
に示されるので、示された結果にもとずいて測定部材に
欠陥があるかないかが判断される。この測定結果を欠陥
のないブレーキシステムの場合の測定値（参照データ）
と比較し、これにより、欠陥の有無を判定することもで
きる。
検査する場合には、例えば、まず測定器具を接続続端子
M1,M2に接続し、スイッチ11を操作して（制御ノブ12を
所定の位置に回動させて）所定の回路を設定し、最後に
プッシュスイッチ13を押す。この結果、設定された回路
に従った信号がシエル３内の電気スイッチ機構に供給さ
れ、このスイッチ機構を駆動し、このスイッチ機構を介
して測定信号がブレーキシステムの測定部材、例えば流
体圧バルブに送られる。そして、測定結果は、測定装置
に示されるので、示された結果にもとずいて測定部材に
欠陥があるかないかが判断される。この測定結果を欠陥
のないブレーキシステムの場合の測定値（参照データ）
と比較し、これにより、欠陥の有無を判定することもで
きる。
上記実施例においては、測定結果と参照データとの比較
を目視によりおこなっているが、これを電気的に行うよ
うにしても良い。これは、例えばスイッチ11の夫々の設
定位置での参照データを全て予め記憶した記憶回路をユ
ニット１内に設けておき、スイッチの位置に応じて制御
回路により記憶回路から参照データを取出して実際の測
定値と比較することにより達成できる。この場合でも、
実際の測定値と参照データとの比較を視覚的若しくは聴
覚的に認識させることもできる。また、多数の変形例
が、所望の試験範囲と、この試験装置のユーザーが所望
する要件とに応じて実現できる。
を目視によりおこなっているが、これを電気的に行うよ
うにしても良い。これは、例えばスイッチ11の夫々の設
定位置での参照データを全て予め記憶した記憶回路をユ
ニット１内に設けておき、スイッチの位置に応じて制御
回路により記憶回路から参照データを取出して実際の測
定値と比較することにより達成できる。この場合でも、
実際の測定値と参照データとの比較を視覚的若しくは聴
覚的に認識させることもできる。また、多数の変形例
が、所望の試験範囲と、この試験装置のユーザーが所望
する要件とに応じて実現できる。
［発明の効果］ 本発明の試験装置においては、手動制御ユニットに対し
て機械的に分離したシェル内に電気スイッチ機構が設け
られており、手動制御ユニットからの信号は、このスイ
ッチ機構を制御するための信号で良いので、大電流を導
線束に流す必要がない。このために、大電流用の導線束
を使用をしなくても良いので、細いかつ安価な導線束を
使用できる。また、スイッチ機構をシェルに設けること
により、手動制御ユニットをコンパクトに設計すること
ができ、例えば、自動車内にのドライバーの席から試験
をすることができる。
て機械的に分離したシェル内に電気スイッチ機構が設け
られており、手動制御ユニットからの信号は、このスイ
ッチ機構を制御するための信号で良いので、大電流を導
線束に流す必要がない。このために、大電流用の導線束
を使用をしなくても良いので、細いかつ安価な導線束を
使用できる。また、スイッチ機構をシェルに設けること
により、手動制御ユニットをコンパクトに設計すること
ができ、例えば、自動車内にのドライバーの席から試験
をすることができる。
第１図は、この発明の一実施例によるスリップ制御ブレ
ーキシステム機能試験装置の概略図であり、 第２図は、第１図に示されたマルチプラグの拡大断面図
であり、 第３図は、第１図に示された手動制御ユニットのステッ
プスイッチの基本的な回路図である。 １……手動制御ユニット、２……マルチプラグ、３……
シェル、４……導線束、５……半導体スイッチ、６……
スイッチ、７……電子回路、８……接触ピン、９……雌
状接続部、10……ソケット、11……試験ステップスイッ
チ、12……制御ノブ、13……プッシュスイッチ、14,15
……信号ランプ、A1,A2,A8,A9……測定ライン、A3からA
7……制御ライン、A1からA12……接続部、E1,E2,E3……
接触円板、K1,K2,K3……接触子、M1,M2……接続端子。
ーキシステム機能試験装置の概略図であり、 第２図は、第１図に示されたマルチプラグの拡大断面図
であり、 第３図は、第１図に示された手動制御ユニットのステッ
プスイッチの基本的な回路図である。 １……手動制御ユニット、２……マルチプラグ、３……
シェル、４……導線束、５……半導体スイッチ、６……
スイッチ、７……電子回路、８……接触ピン、９……雌
状接続部、10……ソケット、11……試験ステップスイッ
チ、12……制御ノブ、13……プッシュスイッチ、14,15
……信号ランプ、A1,A2,A8,A9……測定ライン、A3からA
7……制御ライン、A1からA12……接続部、E1,E2,E3……
接触円板、K1,K2,K3……接触子、M1,M2……接続端子。
Claims (4)
- 【請求項１】複数の電気測定信号を論理的に組合わせて
処理して電気的ブレーキング圧制御信号を発生させ、ス
リップ制御ブレーキシステムの電気信号ラインを介して
スリップ制御ブレーキシステムにこの制御信号を送る中
央電子制御装置に代えて、マルチプラグにより、前記ブ
レーキシステムの電気信号ラインに電気的に接続され、
手動制御ユニットと、この手動制御ユニットと前記マル
チプラグとを接続する導線束とを具備する、スリップ制
御ブレーキシステム機能試験装置において、 前記マルチプラグと、手動制御ユニットに接続された前
記導線束との間には、手動制御ユニットに対して機械的
に分離したシェルが設けられており、このシェル内には
複数の電気スイッチ機構が配置されており、これら電気
スイッチ機構は前記電気信号ラインと導線束との間に電
気的に接続されて、試験動作を果たすために前記手動制
御ユニットからの信号により切替作動されることを特徴
とするスリップ制御ブレーキシステム機能試験装置。 - 【請求項２】前記マルチプラグは、前記シェルと一体的
なユニットとして組立てられていることを特徴とする特
許請求の範囲第１項に記載のスリップ制御ブレーキシス
テム機能試験装置。 - 【請求項３】前記電気スイッチ機構は、シェルの壁に熱
伝導状態で接触した半導体スイッチを有することを特徴
とする特許請求の範囲第１項もしくは２項に記載のスリ
ップ制御ブレーキシステム機能試験装置。 - 【請求項４】前記導線束は、前記シェル内に配置された
電気スイッチ機構を制御するための信号を供給する信号
ラインと、前記マルチプラグの接触ピンに直接接続され
た測定ラインとを有することを特徴とする特許請求の範
囲第1,2もしくは３項に記載のスリップ制御ブレーキシ
ステム機能試験装置。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| DE3433254A DE3433254C2 (de) | 1984-09-11 | 1984-09-11 | Vorrichtung zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer schlupfgeregelten Bremsanlage |
| DE3433254.5 | 1984-09-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6177555A JPS6177555A (ja) | 1986-04-21 |
| JPH0698920B2 true JPH0698920B2 (ja) | 1994-12-07 |
Family
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Family Applications (1)
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Country Status (8)
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