JPS6176949A - 超音波探触子 - Google Patents
超音波探触子Info
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- JPS6176949A JPS6176949A JP59198541A JP19854184A JPS6176949A JP S6176949 A JPS6176949 A JP S6176949A JP 59198541 A JP59198541 A JP 59198541A JP 19854184 A JP19854184 A JP 19854184A JP S6176949 A JPS6176949 A JP S6176949A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/24—Probes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B06—GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS IN GENERAL
- B06B—METHODS OR APPARATUS FOR GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS OF INFRASONIC, SONIC, OR ULTRASONIC FREQUENCY, e.g. FOR PERFORMING MECHANICAL WORK IN GENERAL
- B06B1/00—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency
- B06B1/02—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy
- B06B1/06—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy operating with piezoelectric effect or with electrostriction
- B06B1/0607—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy operating with piezoelectric effect or with electrostriction using multiple elements
- B06B1/0622—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy operating with piezoelectric effect or with electrostriction using multiple elements on one surface
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は高性能超音波診断装置を実現するための探触子
に関する。
に関する。
断層面と直交する方向の超音波ビーム改善法として、Ｋ
ｏｇａｏｆｆに−よる音響レンズ（特開昭４９−１００
８８６優先権 昭４７年 ９月１２日）がある。
ｏｇａｏｆｆに−よる音響レンズ（特開昭４９−１００
８８６優先権 昭４７年 ９月１２日）がある。
これは第１図（、）に示すように、配列素子１上にカマ
ボッ形音響レンズ２を設けたものであり、短軸ビーム幅
は同図（ｂ）に示すように、収束点Ｘ０の近傍のみで狭
いけれども、それ以外の深度では広くなり、断層面３と
直交する方向の分解能が劣化することになる。
ボッ形音響レンズ２を設けたものであり、短軸ビーム幅
は同図（ｂ）に示すように、収束点Ｘ０の近傍のみで狭
いけれども、それ以外の深度では広くなり、断層面３と
直交する方向の分解能が劣化することになる。
本発明は断層面と直交する方向の超音波ビームを改善す
ることにより高性能超音波診断装置を提供することを目
的とする。
ることにより高性能超音波診断装置を提供することを目
的とする。
本発明は断層面と直交する方向に振幅重みを形成するこ
とにより、超音波ビームを改善するものであり、電極形
状または吸音材により振幅重みを実現するものである。
とにより、超音波ビームを改善するものであり、電極形
状または吸音材により振幅重みを実現するものである。
実施例の説明に先立ち、理解の容易のため、２次元超音
波ビームについて説明する。第２図において、配列振動
子１の配列方向（以下、長軸方向）はロ径ａ、素子幅Ｗ
（切断幅が狭い場合、素子幅Ｗは素子ピッチＰとほぼ等
しい）、素子厚みり。
波ビームについて説明する。第２図において、配列振動
子１の配列方向（以下、長軸方向）はロ径ａ、素子幅Ｗ
（切断幅が狭い場合、素子幅Ｗは素子ピッチＰとほぼ等
しい）、素子厚みり。
長軸と直交する方向（以下、短軸方向）の口径す。
深度Ｘ０における長軸方向超音波ビームを点線で、短軸
方向超音波ビームを実線で示す。
方向超音波ビームを実線で示す。
長軸方向超音波ビーム制御に関しては、従来。
各配列素子の振幅２位相を電子的制御することにより行
なっている。
なっている。
本発明は短軸方向超音波ビーム制御に関−するものであ
り以下、詳細に説明する。
り以下、詳細に説明する。
第３図は振幅重みをもつときのパルス波指向特性（実験
値）である。測定条件は超音波周波数２．２ＭＨｚ、口
径１６１．深度７７ａ＋ｍであり、点線は通常の矩形重
み（重みなし）、実線は三角重み、一点ｆ１１線はＨ８
ｎｎ１ｎ＠重みである。
値）である。測定条件は超音波周波数２．２ＭＨｚ、口
径１６１．深度７７ａ＋ｍであり、点線は通常の矩形重
み（重みなし）、実線は三角重み、一点ｆ１１線はＨ８
ｎｎ１ｎ＠重みである。
このように、振幅重みにより不要音響雑音が６〜ｔＯｄ
Ｂ改善されることがわかる。
Ｂ改善されることがわかる。
第４図は本発明の第１の実施例であり、（ａ）は素子ピ
ッチＰごとに圧電体のＷ棒部分（斜線部分）の面積を短
軸方向に変化させている。ここで圧電体自身は直方体で
ある。この電極下の圧電体のみが振動するため、実効的
に短軸重みが与えられる。このとき、長軸方向にも素子
ピッチＰごとに！＠重みが与えられるため、長軸ビーム
の方位λ ５ｉｎ−“ −（λ：波長） に不要音響雑音であるグ
レイティング（Ｇｒａｔ、ｉｎｇ Ｌｅｖｓｌ、Ｇ、Ｌ
、と略す）が生ずる。これを避けるためには、（ｂ）に
示すように。
ッチＰごとに圧電体のＷ棒部分（斜線部分）の面積を短
軸方向に変化させている。ここで圧電体自身は直方体で
ある。この電極下の圧電体のみが振動するため、実効的
に短軸重みが与えられる。このとき、長軸方向にも素子
ピッチＰごとに！＠重みが与えられるため、長軸ビーム
の方位λ ５ｉｎ−“ −（λ：波長） に不要音響雑音であるグ
レイティング（Ｇｒａｔ、ｉｎｇ Ｌｅｖｓｌ、Ｇ、Ｌ
、と略す）が生ずる。これを避けるためには、（ｂ）に
示すように。
例えば素子ピッチの１／２のピッチＰ、ごとに電極面積
を変化させ、グレイティングＧ、Ｌ、を視野外に配置す
ればよい。
を変化させ、グレイティングＧ、Ｌ、を視野外に配置す
ればよい。
第５図は本発明の第２の実施例であり、（、）に示すよ
うに、電極の一端は従来通り矩形とし、他端に重みを与
え、交互に配置すれば、（ｂ）に示すように、フレキシ
ブル基板４による、信号線の取出しが容易となる。
うに、電極の一端は従来通り矩形とし、他端に重みを与
え、交互に配置すれば、（ｂ）に示すように、フレキシ
ブル基板４による、信号線の取出しが容易となる。
第６図は本発明の第３の実施例であり、（ａ）は第５図
と同様、信号Ｗ１極側（ＳＩＧ）に重みを与えて重み電
ｆｌｉＡ （仮称）としたもので、（ｂ）は接地電極側
（ＧＮＤ）を重み電極としたものである。ここで符号の
ＰＥは圧電体、Ｂは従来型電極である。
と同様、信号Ｗ１極側（ＳＩＧ）に重みを与えて重み電
ｆｌｉＡ （仮称）としたもので、（ｂ）は接地電極側
（ＧＮＤ）を重み電極としたものである。ここで符号の
ＰＥは圧電体、Ｂは従来型電極である。
（ｂ）図のようにすることにより、フレキシブル基板４
による信号（Ｓ Ｉ Ｇ）取出は従来と同一で可能であ
る。
による信号（Ｓ Ｉ Ｇ）取出は従来と同一で可能であ
る。
第７図は本発明の第４の実施例であり、電極により、重
みを与えるものではなく、吸音材へ６（例えばゴム系材
料）の厚みを制御することにより、短軸方向振幅重みを
与えるものである。
みを与えるものではなく、吸音材へ６（例えばゴム系材
料）の厚みを制御することにより、短軸方向振幅重みを
与えるものである。
以上の説明において、圧電体自身の形状を第４図のよう
に形成することも考えられるが、工作精度に問題がある
。
に形成することも考えられるが、工作精度に問題がある
。
また、以上の説明において、重みの関数を三角形など特
定のものを扱かったが、種々変形が考えられることは勿
論である。
定のものを扱かったが、種々変形が考えられることは勿
論である。
このように、本発明により短軸方向に振幅重みを与える
ことにより、短軸方向超音波ビームを改善し、その結果
、高性能超音波診断装置を実現可能となり、臨界上寄与
する所が大である。
ことにより、短軸方向超音波ビームを改善し、その結果
、高性能超音波診断装置を実現可能となり、臨界上寄与
する所が大である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、配列振動子により超音波ビームを制御する超音波探
触子において、断層面と直交する方向の振幅重みを形成
する手段を有することを特徴とする超音波探触子。 ２、断層面と直交する方向に、各配列素子内の圧電変換
パワを変化させることにより、振幅重みを形成すること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の超音波探触子
。 ３、断層面と直交する方向に、各配列素子内の電極面積
を変化させることにより、振幅重みを形成する手段を有
することを特徴とする特許請求の範囲第１項、第２項記
載の超音波探触子。 ４、断層面と直交する方向に、吸音率の変化する手段を
有することにより、振幅重みを形成することを特徴とす
る特許請求の範囲第１項、第２項記載の超音波探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59198541A JPH069553B2 (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59198541A JPH069553B2 (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 超音波探触子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6176949A true JPS6176949A (ja) | 1986-04-19 |
| JPH069553B2 JPH069553B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=16392871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59198541A Expired - Lifetime JPH069553B2 (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 超音波探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH069553B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991013588A1 (en) * | 1990-03-14 | 1991-09-19 | Fujitsu Limited | Ultrasonic probe |
| WO1991015090A1 (fr) * | 1990-03-20 | 1991-10-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Sonde ultrasonique |
| JPH04352950A (ja) * | 1991-05-30 | 1992-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波探触子 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49100885A (ja) * | 1972-05-04 | 1974-09-24 | ||
| JPS5385976U (ja) * | 1976-12-16 | 1978-07-15 | ||
| JPS5434581A (en) * | 1977-08-22 | 1979-03-14 | Aloka Co Ltd | Ultrasonic wave diagnosing probe |
| JPS57196969A (en) * | 1981-05-30 | 1982-12-03 | Shimadzu Corp | Transducer array of ultrasonic diagnostic apparatus |
| JPS5920157A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-01 | アロカ株式会社 | 超音波診断装置 |
-
1984
- 1984-09-25 JP JP59198541A patent/JPH069553B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49100885A (ja) * | 1972-05-04 | 1974-09-24 | ||
| JPS5385976U (ja) * | 1976-12-16 | 1978-07-15 | ||
| JPS5434581A (en) * | 1977-08-22 | 1979-03-14 | Aloka Co Ltd | Ultrasonic wave diagnosing probe |
| JPS57196969A (en) * | 1981-05-30 | 1982-12-03 | Shimadzu Corp | Transducer array of ultrasonic diagnostic apparatus |
| JPS5920157A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-01 | アロカ株式会社 | 超音波診断装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991013588A1 (en) * | 1990-03-14 | 1991-09-19 | Fujitsu Limited | Ultrasonic probe |
| US5250869A (en) * | 1990-03-14 | 1993-10-05 | Fujitsu Limited | Ultrasonic transducer |
| WO1991015090A1 (fr) * | 1990-03-20 | 1991-10-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Sonde ultrasonique |
| JPH04352950A (ja) * | 1991-05-30 | 1992-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波探触子 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH069553B2 (ja) | 1994-02-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |